45
MENA3100 Sveipelektronmikroskop i = Scanning Electron Microscopy (SEM) Anders Werner Bredvei Skilbred Harald Fjeld

Sveipelektronmikroskopi = Scanning Electron Microscopy (SEM)

  • Upload
    traci

  • View
    85

  • Download
    0

Embed Size (px)

DESCRIPTION

Sveipelektronmikroskopi = Scanning Electron Microscopy (SEM). Anders Werner Bredvei Skilbred Harald Fjeld. Meny. Hva kan vi bruke SEM til? Hvordan dannes bildet i SEM? Vekselvirkninger mellom prøven og elektronstrålen - PowerPoint PPT Presentation

Citation preview

Page 1: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Sveipelektronmikroskopi = Scanning Electron Microscopy

(SEM)

Anders Werner Bredvei Skilbred Harald Fjeld

Page 2: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Meny• Hva kan vi bruke SEM til?• Hvordan dannes bildet i SEM?• Vekselvirkninger mellom prøven og elektronstrålen• Signaler som vi kan bruke for å karakterisere

mikrostrukturen til en prøve– Sekundærelektroner– Tilbakespredte elektroner– Røntgen

• Oppbygning av et SEM• Oppløsning: noen kommentarer• Sammendrag

Page 3: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Det mest allsidige instrumentet for en materialviter?

Hva kan vi studere i et sveipelektronmikroskop?• Topografi and morfologi• Kjemi• Krystallografi• Orientering av korn• In-situ eksperimenter:

– Reaksjoner med atmosfære– Temperatureffekter

“Enkel” prøve-preparering!

“Store” prøver!

Page 4: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Topografi og morfologi• Stor dybdeskarphet

(depth of focus)

Bilde: Camilla Kongshaug, UiOBilde: Christian Kjølseth, UiO

Page 5: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Dybdeskarphet

Optisk mikroskopi vs SEM

• I SEM har vi flere størrelsesordner større dybdeskarphet enn i et optisk mikroskop• SEM passer utmerket til å studere røffe overflater

• Desto større forstørrelse, desto lavere dybdeskarphet

Lengde på skrua ~ 0,6 cm

Bilder: the A to Z of Materials

Page 6: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Ce

Fe Sr

KjemiBilder: Harald Fjeld

Page 7: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

In-situ eksperimenter• Vi kan oppgradere et SEM slik at vi f.eks. kan ta

bilder ved høy temperatur

Page 8: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Bilder under forsøk: oksidasjon av stål ved høy temperatur

• 800 °C, pH2O = 667 Pa• Dannelse av Cr2O3

Bilder: Anders W. B. Skilbred

2 min 10 min 90 min

Page 9: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Hvordan dannes bildet?

• I enkelhet: vi skyter høy-energi elektroner på prøva, og analyserer elektronene/fotonene som kommer tilbake

Elektroner innElektroner tilbake

eller: fotoner tilbake

Page 10: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Mikroskopet

(Objective lens = probe lens)

Vi kommer tilbake til de forskjellige komponentene etter hvert

Page 11: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Hvordan dannes bildet?

156 elektroner!

Bilde

Detektor

Elektronkanon 288 elektroner!

Page 12: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Vekselvirkninger mellom prøven og elektronstrålen• Den innkommende elektronstrålen spres i prøven; elastisk og

uelastisk– Dette gir oss mange forskjellige signaler som vi kan måle (mer om det på neste

lysark!)

• Vekselvirkningsvolumet (interaction volume) øker med økende akselerasjonsspenning og avtar med økende atomnummer

Images: Smith College Northampton, Massachusetts

Page 13: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Signaler fra prøvenFra elektronkanonen

Sekundærelektroner

Tilbakespredte elektroner

Auger elektroner

Røntgen

Katodo-luminescens (lys)

Sample

Page 14: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Se figur læreboka, side 281.

Page 15: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Bilde: Department of Geology and Geophysics, Louisiana State University

Hvor i prøven kommer signalene fra?

• Diameteren til vekselvirknings-volumet er større enn elektron-strålen

oppløsningen er lavere enn diameteren til elektronstrålen

Page 16: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Sekundærelektroner (SE)• Dannes når høyenergetiske elektroner

kolliderer med løst bundne ytre elektroner på prøveoverflaten

• SE er lavenergielektroner (~10-50 eV)

• Bare SE som dannes nær overflaten klarer å unnslippe (1 – 20 nm)– Vi får topografisk informasjon

• Antallet SE er mye større enn antallet innkommende elektroner

• Vi skiller mellom SE1 og SE2

Page 17: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

SE1• Sekundærelektroner som utelukkende er dannet

av de innkommende elektronene fra elektronstrålen

• Med SE1 kan vi oppnå bilder hvor oppløsningen kun er begrenset av elektronstrålediameteren

Page 18: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

SE2• Sekundærelektroner som er dannet av tilbakespredte elektroner

som har returnert til overflaten etter mange kollisjoner• SE2 kommer fra et eksitasjonsvolum som er større enn de for de

innkommende elektronene dårligere oppløsning enn for kun SE1

Prøveoverflate

Innkommende elektroner SE2

Page 19: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Faktorer som påvirker dannelsen av SE 1. Arbeidsfunksjonen til prøveoverflaten

2. Energien (E) og strømtettheten (i) til elektronstrålen• Desto høyere E, desto flere SE dannes. Men: desto høyere E,

desto lenger inn i prøven dannes SE unnslipper ikke• Desto høyere i, desto flere SE dannes • Antallet SE som dannes går gjennom et maksimum ved noen kV

akselerasjonsspenning for å deretter avta

Akselerasjonsspenning/ kV

Ant

all S

E

Page 20: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Faktorer som påvirker dannelsen av SE

3. Atomnummer (Z)• Flere SE2 dannes med økende Z

• Større Z-avhengighet ved lave akselrasjonsspenninger

4. Den lokale krummingen på overflaten (dette er den viktigste faktoren)

Bilde: Smith College Northampton, Massachusetts

Page 21: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Oppsett med høy oppløsning

• Ved å plassere detektoren for sekundærelektronene i objektivlinsa, så detekterer vi hovedsaklig SE1

• Oppløsning på 1 – 2 nm er mulig

Se figur fra læreboka (side 286)

Page 22: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Tilbakespredte elektroner (backscattered electrons = BSE)

• En del av de innkommende elektronene som bremses av det elektromagnetiske feltet rundt atomkjernene i prøven med en spredningsvinkelen som er større enn 180 ° unnslipper overflaten

BSE

Page 23: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Tilbakespredte elektroner(BSE)• Høy-energetiske elektroner (nesten elastisk spredning)• Vi får færre BSE enn SE• Vi skiller mellom BSE1 og BSE2

Se figur læreboka, side 281.

Page 24: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

BSE2

PrøveoverflateInnkommende elektroner

BSE2

• De fleste tilbakespredte elektroner er av typen BSE2

Page 25: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Andel BSE som funksjon av atomnummer

Bilde: University of Cape Town

• For faser som inneholder mer enn et grunsstoff er det det gjenomsnittlige atomnummeret som bestemmer tilbakespredningskoeffisienten h

Page 26: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Faktorer som påvirker emisjon av BSE

• Orienteringen på den bestrålte overflaten

– Flere elektroner vil treffe BSE-detektoren når overflaten peker mot detektoren

• Det gjennomsnittlige atomnummeret

• Hvis du ønsker å studere kjemi ved å bruke BSE må prøven din være så flat som mulig– Prøvepreparing er viktig!

Page 27: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

BSE vs SE

Bilder: Greg Meeker, USGS

Page 28: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Røntgen (x-rays)• Fotoner, ikke elektroner• Hvert grunnstoff har sitt eget

fingeravtrykk• Vi kan identifisere fra Z = 6 (C)• Lavere oppløsning enn for BSE

og SE• Det emitteres relativt få

røntgenstråler • Røntgendetektoren er lite

effektiv vi må bruke ganske lang tid for å få et tilstrekkelig godt resultat

Page 29: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Røntgenspekter

Page 30: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Røntgen• Mest vanlig: EDS (energidispersivt spektrometer)• Med EDS kan overlapp mellom forskjellige

grunnstoffer være et problem– WDS (bølgelengdedispersiv spektrometer) har bedre

energioppløsning • Vi kan analysere prøven på forskjellige måter:

– Punktanalyse– Langs en linje (line scan)– ”Konsentrasjonskart”

Page 31: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Faktorer som bør tas hensyn til når vi bruker EDS

• Død-tid (dead-time): detektoren klarer ikke mer enn 106 fotoner s-1 – Død-tid omkring 20-30 % er ok

• Tilstrekkelig med telletid– For å identifisere konsentrasjoner på ~ 1% må vi måle i

omtrent 100 s• Drift in elektronstrålen med tid• Dannelse av en tynn karbonholdig film på prøven

etter lang tids eksponering med elektronstrålen– Ugunstig, fordi dette forandrer målebetingelsene etter

hvert som vi samler data.

Page 32: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Mer om instrumentets oppbygning

• elektronkanon (filament)

• elektromagnetiske linser

• scan coils• prøvebord• detektorer• vakuumsystem• maskinvare and

programvare til PC (ikke triviellt!!)

Page 33: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Elektronkanonen• Vi ønsker så mange elektroner per

tidsenhet og så liten elektronstråle som mulig

• Tradisjonelle kanoner: termionisk elektronkanon (elektroner emitteres ved å varme opp et fast stoff)– W-tråd, LaB6-krystall

• Moderne: feltemisjonskanoner (FEG) (kald kanon, et sterkt elektrisk felt trekker ut elektroner)– En-krystall av W, som etses til en tynn

spiss

Page 34: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Elektronkanoner• Med feltemisjonskanoner får vi en mindre elektronstråle

og høyere strømtetthet sammenlignet med termioniske kanoner

• Vi må ha bedre vakuum når vi bruker en feltemisjonskanon

En-krystall av LaB6Wolframtråd Feltemisjons-spiss

Page 35: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Detektorer

Page 36: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

De tradisjonelle detektorene i vår SEM

• Sekundærelektroner: Everhart-Thornley detektor

• Tilbakespredte elektroner: Fast-stoff detektor

(Solid State Detector)

• Røntgen: Energidispersiv spektrometer (EDS)

Page 37: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Hvorfor trenger vi vakuum?• Kjemisk (korrosjon) og termisk stabilitet er

nødvendig for at elektronkanonen skal fungere bra (kanontrykket)– En feltemisjonskanon trenger ~ 10-10 Torr– LaB6: ~ 10-6 Torr

• Signalelektronene må passere fra prøven til detektoren (kammertrykket)– Vi har forskjellige krav til ulike detektorer

Page 38: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Environmental SEM: ESEM

• Tradisjonelt er kammertrykket ~ 10-6 Torr

• ESEM: 0,08 – 30 Torr• Forskjellig gasser kan brukes• Vi trenger en annen SE detektor

Page 39: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Hvorfor vil vi bruke ESEM?• For å avbilde utfordrende prøver som:

– Isolatorer (pga oppladning)

– prøver som er følsomme for vakuum (f.eks. biologiske prøver)

– prøver som er følsomme for stråling (f.eks. tynne organiske filmer)

– “fuktige” prøver (oljete, skitne, fettete)

• For å studere og avbilde kjemiske og fysiske prosesser in-situ:– Mekaniske tester (f.eks. deformasjon)

– Oksidasjon av metaller

– Hydratisering/dehydratisering (f.eks. se på maling som tørker)

Page 40: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Vårt instrument: Quanta 200, FEI

• Feltemisjonskanon, men vi har ikke SE detektor i objektivlinsa

• ESEM• Kan utstyres med en mye forskjellig

tilleggsutstyr for å avbilde eksperimenter in-situ

Page 41: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Accessories on our Quanta 200:

◦ GAD – Gaseous Analytical Detector → for X-ray analysis in gaseous environments

◦ GSED – Gaseous Secondary Electron Detector→ 500 μm aperture, allowing 20 Torr

chamber pressure◦ Hot stage GSED

→ Must be used at temperatures above 500°C◦ EBSD – Electron Backscatter Diffraction

→ Grain orientation, grain and subgrain structures, phase identification, micro textures ◦ Hot stages – 1000°C and 1500°C

▪ ETD – Everhart-Thornley Detector→ Secondary electron detector

▪ LFD – Large Field Detector → used in low vacuum and ESEM mode (SE)

▪ SSD-BSD – Solid State Backscattered Detector→ Backscatter electrons

▪ EDS – Energy dispersive spectroscopy→ X-ray analysis

Page 42: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Oppløsning: noen kommentarer• Den beste oppløsninga vi kan få er begrenset av

diameteren av elektronstrålen på prøveoverflaten– Bruken av FEG har forbedret oppløsninga dramatisk

• Men: eksitasjonsvolumet til signalelektronene bestemmer oppløsninga som vi faktisk oppnår– SE-bilder har høyere oppløsning enn BSE-bilder

• Sveiphastighet: – Hvis vi har et svakt signal må vi sveipe sakte for å øke

signal-til-støy forholdet– Et treigt sveip gir drift i elektronstrålen, som igjen

påvirker nøyaktigheten til det vi analyserer Vi må gjøre en avveining

Page 43: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Hva har vi ikke snakka om i denne presentasjonen?

• Prøvepreparering• Det elektromagnetiske optiske systemet• Alternative avbildningsmetoder:

– Katodoluminescens– Elektronstråleindusert strøm– Orientation imaging microscopy (tilgjenglig på

UiO)• Focused ion beam microscopy

Page 44: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Sammendrag• Sveipelektronmikroskopet er et meget

anvendelig instrument som kan utstyres med et stort utvalg av tilleggsutstyr

• En elektronstråle sveipes over prøveoverflaten og detektorene avleser signalet som funksjon av tid

• Det er mulig å oppnå en oppløsning på 1 – 2 nm • Bruk av ESEM og feltemisjonskanon har gjort

det enklere å avbilde utfordrene prøver

Page 45: Sveipelektronmikroskopi  =  Scanning  Electron Microscopy (SEM)

MENA3100

Sammendrag• Signaler:

– Sekundærelektroner (SE): hoved-saklig topografi• Lav-energetiske elektroner, høy

oppløsning• Overflatesignalet avhenger av krumming

– Tilbakespredte elektroner (BSE): hovedsaklig kjemi• Høy-energetiske elektroner• Signalet er avhengig av atomnummer

– Røntgen: kjemi• Må bruke mer tid for å ta opp signal