BME Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék 12008. február 20.

Jelfeldolgozás:elmélet vagy szakácskönyv?

Kollár István

BME Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék 22008. február 20.

Nem önálló tudomány

JelfeldolgozásMéréselméletRendszeridentifikáció

Alkalmazással együtt: „mérjük meg a rádióadás forrásának helyét és az adás erejét”

BME Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék 32008. február 20.

Szinte mindenhol felbukkan

Általános feladat: információ kinyerése digitális számítógéppel

„Mindenki ért hozzá”

Mögötte elmélet: információ leírása, jelelmélet, becsléselmélet, paraméter-identifikáció

BME Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék 42008. február 20.

Mérnöki hozzáállásTávolról minden pontszerű, közelről minden lineárisZaj kezelése: legkisebb négyzetek módszere (Gauss 1794,

Legendre 1806)LS: maximum likelihood HA független normális eloszlású

additív megfigyelési zaj van jelenAdaptív módszerek: lineáris/nemlineáris LS

Közvélekedés: ami lineáris, az ismert, ami nemlineáris az gyakran nem is megoldható

A számítógép szerepe

BME Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék 52008. február 20.

Egyszerű feladat: átviteli fv mérése

0 100 200 300 400 500 600-1

-0.8

-0.6

-0.4

-0.2

0

0.2

0.4

0.6

0.8

1Koherens mintav ételezés

BME Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék 62008. február 20.

A DFT eredménye, koherens eset

0 0.01 0.02 0.03 0.04 0.05 0.06 0.07 0.08 0.09 0.10

50

100

150

200

250

300Spektrum sziv árgás nélkül

BME Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék 72008. február 20.

Nem koherens mintavétel

0 100 200 300 400 500 600-1

-0.8

-0.6

-0.4

-0.2

0

0.2

0.4

0.6

0.8

1Inkoherens mintav ételezés

BME Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék 82008. február 20.

Nem koherens mintavétel eredménye

0 0.01 0.02 0.03 0.04 0.05 0.06 0.07 0.08 0.09 0.10

50

100

150

200

250Spektrum sziv árgással

BME Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék 92008. február 20.

A torzítás oka

0 0.005 0.01 0.015 0.02 0.025 0.030

50

100

150

200

250

300A sziv árgás és picket f ence hatás keletkezése

picket fenceszivárgás

BME Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék 102008. február 20.

Második példa

• A teszteléshez ajánlott mérési elrendezés:

• Nem „férünk hozzá” a bemenethez

A/D

fs

in outPC~

BME Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék 112008. február 20.

Az A/D hibája elvileg

BME Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék 122008. február 20.

Az effektív bitszám hibája

BME Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék 132008. február 20.

Az effektív bitszám korrigált becslője

BME Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék 142008. február 20.

Zajos becslő hibája