2
TOM 57 l NR 12 (GRUDZIEÑ) l 2009 Cena 12,00 z³ (w tym0% VAT) Indeks 370908 ISSN-0033-2151 X KONFERENCJA ANALITYKA W S£U¯BIE HYDROGEOLOGII, GEOLOGII I OCHRONY ŒRODOWISKA Warszawa, 21–22.10.2009

X KONFERENCJA ANALITYKA W S£U¯BIE HYDROGEOLOGII, … · X KONFERENCJA ANALITYKA W S£U¯BIE HYDROGEOLOGII, GEOLOGII I OCHRONY ŒRODOWISKA Warszawa, 21–22.10.2009. Zdjêcie na

  • Upload
    others

  • View
    2

  • Download
    0

Embed Size (px)

Citation preview

Page 1: X KONFERENCJA ANALITYKA W S£U¯BIE HYDROGEOLOGII, … · X KONFERENCJA ANALITYKA W S£U¯BIE HYDROGEOLOGII, GEOLOGII I OCHRONY ŒRODOWISKA Warszawa, 21–22.10.2009. Zdjêcie na

TOM 57 � NR 12 (GRUDZIEÑ) � 2009

Cena 12,00 z³(w tym 0% VAT)

Indeks 370908ISSN-0033-2151

X KONFERENCJAANALITYKA W S£U¯BIE HYDROGEOLOGII,

GEOLOGII I OCHRONY ŒRODOWISKAWarszawa, 21–22.10.2009

Page 2: X KONFERENCJA ANALITYKA W S£U¯BIE HYDROGEOLOGII, … · X KONFERENCJA ANALITYKA W S£U¯BIE HYDROGEOLOGII, GEOLOGII I OCHRONY ŒRODOWISKA Warszawa, 21–22.10.2009. Zdjêcie na

Zdjêcie na ok³adce: Œlady po analizie chemicznej metod¹ ablacji laserowej po³¹czonej ze spektrometri¹ mas z plazm¹ indukcyjniesprzê¿on¹ (LA-ICP-MS) w obrazie mikroskopu elektronowego (BSE). Zdjêcia po prawej stronie przedstawiaj¹ powiêkszone obrazyskaningowe kraterów powsta³ych po zastosowaniu wi¹zki lasera (Nd:YAG 266 nm) o œrednicy jedynie 25 µm (g³êbokoœæ krateru 100 µm).Za pomoc¹ metody LA-ICP-MS mo¿na in situ okreœliæ sk³ad chemiczny próbki geologicznej i oznaczyæ zawartoœæ pierwiastkówœladowych. Fot. L. Giro (patrz str. 1067)Cover photo: Backscattered Electron (BSE) image featuring traces resulting from chemical analysis carried out by laser ablationinductively coupled plasma mass spectrometry (LA-ICP-MS). Photos in the right show enlarged BSE images of craters 100 µm indepth, formed by ablation with laser beam (Nd:YAG 266 nm) only 25 µm in diameter. The LA-ICP-MS method makes possibledeterminations of chemical composition of geological samples and content of trace elements. Photo by L. Giro (see page 1067)