4
NAPONSKI KONTROLISANA LINIJA ZA KAŠNJENJE DIGITALNIH SIGNALA Goran Jovanović, Mile Stojčev, Elektronski fakultet u Nišu Sadržaj – U ovom radu opisana je arhitektura i date su performanse linije za kašnjenje visoke rezolucije koja se koristi kao osnovni gradivni blok u test i mernoj opremi. Linija za kašnjenje se implementira kao dvostruka DLL petlja, pri čemu se prva petlja realizuje kao digitalna a druga kao analogna. 1. UVOD Mogućnost da se kod visoko performansnih analognih i digitalnih elektronskih sistema manipuliše sa impulsima koje karakteriše veoma fina vremenska rezolucija predstavlja značajan projektantski izazov. Testna i merna instrumentacija su tipične aplikacije kod kojih se u procesima uzorkovanja i generisanja signala javlja potreba za korišćenjem veoma fine vremenske rezolucije. Obično kod ovakvih sistema, frekvencija uzorkovanja je značajno veća od maksimalne učestanosti sa kojom se prihvataju podaci, tako da tajming podataka mora biti dobro kontrolisan i održavan sa velikom preciznošću. Tipične aplikacije kod kojih se zahteva precizno održavanje i generisanje signala sa finom vremenskom rezolucijom su ultrazvučni merači protoka fluida [1], VLSI automatska testna oprema [2], logički analizatori [3], itd. Kod ovih sistema, rezolucioni interval pojavljivanja usponskih i opadajućih ivica impulsa je reda od 25ps – 1ns. DLL (Delay Locked Loops) i PLL (Phase Locked Loops) se često koriste u elektronskim sistemima kao osnovni gradivni blokovi koji obezbeđuju generisanje i distribuciju impulsa sa strogo kontrolisanim kašnjenjem i finom rezolucijom. Sa aspekta upravljanja DLL je jednostavnije kolo u odnosu na PLL, ali se karakteriše ograničenim opsegom regulacije kašnjenja (<2π radijana). Ovo ograni- čenje može projektantima sistema da stvori veliki broj problema kod generisanja impulsa sa fino kontrolisanim vremenskom rezolucijom kašnjenja (<1ns) u celom opsegu regulacije, a posebno na nižim frekvencijama koje su reda nekoliko MHz. U ovom radu razmatran je problem realizacije naponski kontrolisane linije za kašnjenje digitalnih signala, koja je sastavni deo DLL-a, namenjena za generisanje preciznog pomeranja ivice impulsa na relativno niskim frekvencijama, do 10MHz u opsegu od 0–2π radijana sa rezolucijom od <1ns. 2. ARHITEKTURA DLL PETLJE Blok šema DLL petlje (M-DLL) koja se koristi za podešavanje kašnjenja između signala CLK in i CLK out u opsegu od 0 do 2π prikazana je na slici 1. M-DLL se sastoji od dve petlje označene kao DLL 1 i DLL 2 . DLL 1 je digitalna petlja [4] koja se koristi za grubo podešavanje kašnjenja u koracima od (kT CLK )/n, k=1,2,...n, a DLL 2 je analogna petlja i koristi se za fino podešavanje kašnjenja u opsegu od 0 do T CLK / n. Ključni gradivni blokovi M-DLL sa slike 1 su linije za kašnjenje DL 1 i DL 2 . Princip rada digitalne linije za kašnjenje DL 1 objašnjen je u [4]. Zbog toga u detaljnu analizu DL 1 nećemo ulaziti. Specifičnost ovog rešenja se odnosi na DL 2 . DL 2 u povratnoj grani ima slično rešenje kao i DL 1 ali je karakteristično po tome što je DL 2 realizovana kao analogno kolo i predstavlja originalno rešenje. Zbog toga, u daljem tekstu ovog rada ograničićemo se na izbor arhitekture i performanse koje se tom arhitekturom mogu postići. DLL 1 up down CLK in FSM MUX Digitalni Fazni Detektor Analogni Fazni Detektor strujna pumpa NF filtar fazni detektor strujna pumpa NF filter up down V C CLK out DC 1 DC 2 DC 3 DC n DLL 2 CLK 1 DL 1 DL 2 M-DDL Slika 1. Arhitektura DLL petlje 3. ARHITEKTURA LINIJE ZA KAŠNJENJE Usvojićemo da je arhitektura linije za kašnjenje data na slici 2. Kao što se vidi sa slike, arhitekturu čine dva identična strujna izvora I 1 i I 2 , komutator SW, integracioni kondenzator C i komparator K. Taktnim signalom CLK 1 upravlja se radom komutatora SW. U toku pozitivnog poluperioda SW je u položaju 1 pa se kondenzator C puni konstantnom strujom I 1 , a za vreme negativne periode SW je u položaju 2 i kondenzator C se prazni konstantnom strujom I 2 . I 1 I 2 C SW V +V CLK 1 CLK out V L V H+ V H- V H 1 2 +V V K Slika 2. Arhitektura linije za kašnjenje Na slici 3 prikazani su talasni dijagrami ulaznog signala CLK 1 , napona V L na kondenzatoru C, i izlaznog signala linije za kašnjenje CLK out . Radi pojednostavljenja analize uzećemo da su ulazni i izlazni signali idealni impulsi i da su kašnjenja prednje i zadnje ivice signala, t dLH i t dHL respektivno, jednaka. Kašnjenje komparatora K i komutatora SW je fiksno i Zbornik radova XLVI Konf za ETRAN, Banja Vrućica – Teslić, 4-7 juna 2002, tom I Proc. XLVI ETRAN Conference, Banja Vrućica – Teslić, June 4-7, 2002, Vol. I 39

NAPONSKI KONTROLISANA LINIJA ZA KAŠNJENJE …R)AN_195… · značajan projektantski izazov. Testna i merna instrumentacija su tipične aplikacije kod kojih se u procesima uzorkovanja

  • Upload
    others

  • View
    1

  • Download
    0

Embed Size (px)

Citation preview

  • NAPONSKI KONTROLISANA LINIJA ZA KAŠNJENJE DIGITALNIH SIGNALAGoran Jovanović, Mile Stojčev, Elektronski fakultet u Nišu

    Sadržaj – U ovom radu opisana je arhitektura i date superformanse linije za kašnjenje visoke rezolucije koja sekoristi kao osnovni gradivni blok u test i mernoj opremi.Linija za kašnjenje se implementira kao dvostruka DLLpetlja, pri čemu se prva petlja realizuje kao digitalna a drugakao analogna.1. UVOD

    Mogućnost da se kod visoko performansnih analognih idigitalnih elektronskih sistema manipuliše sa impulsima kojekarakteriše veoma fina vremenska rezolucija predstavljaznačajan projektantski izazov. Testna i merna instrumentacijasu tipične aplikacije kod kojih se u procesima uzorkovanja igenerisanja signala javlja potreba za korišćenjem veoma finevremenske rezolucije. Obično kod ovakvih sistema,frekvencija uzorkovanja je značajno veća od maksimalneučestanosti sa kojom se prihvataju podaci, tako da tajmingpodataka mora biti dobro kontrolisan i održavan sa velikompreciznošću. Tipične aplikacije kod kojih se zahteva preciznoodržavanje i generisanje signala sa finom vremenskomrezolucijom su ultrazvučni merači protoka fluida [1], VLSIautomatska testna oprema [2], logički analizatori [3], itd.Kod ovih sistema, rezolucioni interval pojavljivanjausponskih i opadajućih ivica impulsa je reda od 25ps – 1ns.

    DLL (Delay Locked Loops) i PLL (Phase Locked Loops)se često koriste u elektronskim sistemima kao osnovnigradivni blokovi koji obezbeđuju generisanje i distribucijuimpulsa sa strogo kontrolisanim kašnjenjem i finomrezolucijom. Sa aspekta upravljanja DLL je jednostavnijekolo u odnosu na PLL, ali se karakteriše ograničenimopsegom regulacije kašnjenja (

  • poznato, i za red veličine je manje od željenog kašnjenja, paga zbog toga nećemo razmatrati.

    VH+

    VH−

    V L

    CLK

    in

    V+

    V-

    Vm

    td HLtd LH

    tCLK

    out

    T/2 T/2

    Slika 3. Talasni oblik napona u liniji za kašnjenjeAnalizom slike 3, dobijena su vremena kašnjenja prednje

    i zadnje ivice koja su data izrazima

    )(1

    −+ −= VVICt HLHd (1)

    i

    )(2

    −+ −= HHLd VVICt (2)

    ako je tdLH=tdHL=τ tada imamo

    τ = VIC ∆ (3)

    gde je ∆V=VH+−V−= V+−VH−.Kod realizacije DL2 cilj nam je da ostvarimo linearnu

    kontrolu kašnjenja a da se pri tome držimo sledeće ideje:promenu svakog od parametara treba vršiti individualno i bezefekta na druge parametre, ili vršiti istovremeno promenudva ili tri parametra uz postizanje odgovarajućegkompromisa. U opštem slučaju kada se posmatra izlaznaveličina (u našem slučaju kašnjenje) tada treba težiti tome dapromena nekog parametra treba da bude ortogonalna uodnosu na promenu drugih parametara.

    Kao što se vidi iz jednačine (3) kašnjenje τ se možeregulisati promenom parametara C, I i ∆V. Kašnjenje jeproporcionalno kapacitivnosti kondenzatora C i naponu ∆V, aobrnuto proporcionalno struji I. Treba naglasiti da se konde-zator može integrisati i izvesti kao varikap dioda ali se njenakapacitivnost nelinearno menja od napona polarizacije diodeVd, tako da će u konačnom kašnjenje biti nelinearna funkcija,pa zbog toga ovo rešenje nećemo usvojiti.

    Talasni oblik napona u funkciji promene struje I kao iodgovarajuća promena kašnjenja prikazane su na slici 4. Kaošto se vidi sa slike 4, i pored toga što se promena struje vršilinearno, efekat koji se odnosi na postignuto kašnjenje jenelinearan. Ovakav rezultat je bilo realno očekivati s obziromna oblik jednačine (3). Ponovo, izbor parametra I nijepogodan kao rešenje za regulaciju kašnjenja.

    Treći parametar koji možemo menjati je napon ∆V. Ovose može postići promenom praga histerezis napona VH+ i VH−u toku pozitivne i negativne poluperiode taktnog signala,respektivno. Efekti promene pragova histerezis napona suprikazani na slici 5. Sa slike 5 se vidi da je promena

    kašnjenja linearna pa smo zbog toga odlučili da predložimorešenje analogne linije za kašnjenje koja će biti zasnovano napromeni napona ∆V.

    t

    hysteresis+VH-VH

    T/2 tdHL T/2 ttdLH

    V L

    CLK1

    CLKout

    I2,i i=1,..,5

    I1,i i=1,..,5

    Slika 4. Talasni oblik napona u liniji za kašnjenje pripromeni struje I

    t

    +VH

    -VH

    T/2tdLH T/2 ttdHL

    CLK

    out

    CLK1

    V L

    Slika 5. Talasni oblik napona u liniji za kašnjenje pripromeni napona ∆V

    4. REALIZACIJA ANALOGNE LINIJE ZAKAŠNJENJA

    Na slici 6 prikazana je principijelna blok šema linije zakašnjenje. Liniju za kašnjenje čine tri celine: integrator INčija struktura je identična kao na slici 2, generator pragovahisterezis napona GH i komparator K. Na izlazu integratoradobija se trapezni talasni napona VL, kao onaj na slici 3.Gradivni blok GH čine komutator SW2 i dva izvorareferentnih napona VH+ i VH−. U toku pozitivne poluperiodesignala CLK1 na izlazu GH se generiše napon VH+, a u tokunegativne poluperiode napon VH−. Komparator K upoređujeamplitude signala na neinvertujućem i invertujućem ulazu, iu zavisnosti od njihove vrednosti generiše na svom izlazupravougaone impulse kod kojih se kašnjenje menja kao naslici 5.

    Osnovni problem koji se u ovom slučaju javlja odnosi sena stabilno i tačno generisanje granica histerezisa. U konkre-tnom slučaju predloženo je rešenje koje je prikazano na slici7. Kolo čine tri tranzistora M1, M2 i M3. Tranzistori M1 i M3su povezani kao dinamičke otpornosti, a na ulaz tranzistoraM2 dovodi se napon VC kojim se određuje iznos kašnjenja.Izlazi kola sa slike 7 su VH+ i VH−.

    Zavisnost napona VH+ i VH− u funkciji kontrolnog naponaVC prikazana je na slici 8. Kao što se vidi sa slike 8, za opsegnapona od 1V do 4V pri naponu napajanja Vdd =5V dobijajuse prave i inverzne linearno balansirane vrednosti napona VH+i VH−.

    40

  • CLK1

    I1

    I2

    Vb+

    Vb-

    C

    VH+

    VH-

    CLKoutVC VH

    VLSW1

    SW2

    V+

    V+

    IN

    K

    GH

    Slika 6. Principijelna šema linije za kašnjenje

    VC

    VH-

    VH+

    M1

    M2

    M3

    V+Vgs3

    Vgs2

    Vgs1

    Slika 7. Šema kola za linearnu regulaciju histerzis naponaVH+ i VH−

    0.5V 1.0V 2.0V 3.0V 4.0V 4.5V0V

    2.0V

    4.0V

    6.0V

    VH+

    VH-

    VcSlika 8. Promena napona VH+ i VH− u funkciji napona VCŠema bloka GH prikazana je na slici 9, a kompletna šema

    analogne linije za kašnjenje na slici 10. Blok IN sa slike 10 jemodifikovana verzija bloka IN sa slike 6. Upotrebljeni sutranzistori M1, M4 i M5, M6, M7. Tranzistori M1 i M4 se koristekao strujni generatori a tranzistori M5, M6, M7 obezbeđujukorektnu polarizaciju strujnih generatora. Veličina struja I1 iI2 određena je naponom VB (bias napon).

    VC

    VH+

    VH-

    VH

    CLK1

    M1

    M2

    M3

    M4

    M5

    SW2

    V+

    Slika 9. Šema kola za generisanje histerezis napona VH

    VC

    VH+

    VH-

    CLK1

    M8

    M9

    M10

    M12

    M11

    Vbp+

    Vbn-

    VB

    C=1pF

    M1

    M2

    M4

    M3

    M6

    M5

    M7

    VH

    VL

    CLKout

    V+V+

    V+

    I1

    I2

    SW1

    SW2 VH

    Slika 10. Kompletna šema linije za kašnjenje

    0V

    2.0V

    4.0V

    6.0V

    0s 0.2us 0.4us 0.6us 0.8us 1.0us

    VH+ VH-3.6V

    3.4V

    3.2V

    3.0V

    1.4V

    1.6V

    1.8V

    2.0V

    VH+

    VH-

    CLK1

    CLK

    out

    t

    30ns 60ns0V

    2.0V

    4.0V

    5.0V

    530ns 560ns0V

    2.0V

    4.0V

    5.0V

    Slika 11. Talasni oblik napona u liniji za kašnjenje dobijenisimulacijom

    41

  • 5. SIMULACIJARezultati Spice simulacije naponski kontrolisane linije za

    kašnjenje, sa slike 10, pri frekvenciji taktne pobudefCLK=1MHz (najnepovoljniji slučaj) i naponu napajanjaVdd=5V dati su na slici 11. Simulacija je izvršena samodelima 1.2µm CMOS tehno-logije (double metal - doublepoly). Na slici 11 prikazan je oblik ulaznog takta CLK1,trapezoidnog napona VL, histerezis napona VH i zakašnjeniizlazni signal CLKout. Pri simulaciji su zadavane različitevrednosti kontrolnog napona VC (2.8V, 3.2V, 3.6V, 4V) štoje izazivalo promene histerezis napona VH+ (3.6V, 3.4V,3.2V, 3V) i VH− (1.4V, 1.6V, 1.8V, 2V).

    Na slici 12 prikazano je kašnjenje prednje i zadnje ivicesignala u opsegu od 39 do 51ns (obeleženo kružićima), kojese može regulisati promenom kontrolnog napona VC ugranicama od 2.8V do 4V. Punom linijom je označenaidealno linearna karakteristika kašnjenja (teorijska prava).

    2.6 2.8 3 3.2 3.4 3.6 3.8 438

    40

    42

    44

    46

    48

    50

    52

    VC [V]

    τ [n

    s]

    1 V

    10 n

    s

    Slika 12. Kašnjenje u funkciji kontrolnog napona VC

    2.6 2.8 3 3.2 3.4 3.6 3.8 4-1

    -0.5

    0

    0.5

    1

    1.5 x 10-3

    VC [V]

    ττd

    Slika 13. Relativno odstupanje karakteristike kašnjenja odlinearnog

    Kao što se vidi sa slike 12, opseg regulacije DL2 iznosi10ns, a to znači da je DLL1 u ovom slučaju realizovana san=128 ćelija za kašnjenje, kako bi se pokrio ceo opsegregulacije kašnjenja od 0 do 2π radijana. Za rad u jednomizabranom opsegu TCLK / n iznosi 1000ns/128=7.8125ns. Priovome treba imati u vidu da sredina opsega treba da bude prinaponu VC=3.4V, a maksimalne promene VC budu ugranicama od 2.9V do 3.9V.

    Relativna greška kašnjenja u funkciji kontrolnog naponaVC za usponsku i opadajuću ivicu signala prikazana je na slici13. Kao što se vidi sa slike 13, maksimalna relativna greška uopsegu regulacije ∆τ/τ je manja od 0.05% što odgovaravremenu ∆τ =25ps.

    6. ZAKLJUČAK

    U radu je opisano jedno rešenje DLL petlje koja se koristiza precizno i tačno generisanje impulsa u okviru mernoginstrumenta. Petlju čine dve petlje: prva je digitalna a drugaanalogna. Digitalnom petljom se generišu signali sa grubomvremenskom rezolucijom, a analognom signali sa finomrezolucijom. Rezultati simulacije pokazuju da se prifrekvenciji od 1MHz i pri promeni kontrolnog napona VC od2.9V do 3.9V može ostvariti kontinualna promena kašnjenjasa greškom manjom od 25ps. Ovakva linija za kašnjenje semože implementirati u CMOS tehnologiji.

    LITERATURA

    [1] V. Pavlović, et all, “Realization of the Ultrasonic LiquidFlowmeter Based on the Pulse-Phase Method,”Ultrasonics 35 (1997) 87-102.

    [2] S. Taylor, “A High Performance GaAs Pin ElectronicsCircuit for Automatic Test Measurement,” IEEE J. ofSSC, vol. 28, pp. 1023-1029, October 1993.

    [3] Tektronix, “Introduction to Logic Analysis: A HardwareDebug Tutorial,” Beaverton, Oregon, USA, 2000.

    [4] Y.Moon, J.Choi, K.Lee, et all, “An All-AnalogMultiphase Delay-Locked Loop Using a Replica DelayLine for Wide-Range Operation and Low-JitterPerformance,” IEEE J. of SSC, vol.35, No.3, pp. 377-384, March 2000

    Abstract – This paper describes the architecture andperformance of high-resolution delay line used as a basicbuilding block in test and measuring equipment. The delayline is implemented as a dual delay locked loops, the first isdigital, and the second one is analog.

    VOLTAGE CONTROLLED DELAY LINE FORDIGITAL SIGNAL

    Goran Jovanović, Mile Stojčev

    42

    NAPONSKI KONTROLISANA LINIJA ZA KAŠNJENJE DIGITALNIH SIGNALA1. UVODLITERATURA