Principios de la Microscopía Electrónica de Transmisión (Transmission Electron Microscopy, TEM)

Se ilumina una sección transparente a los electrones del espécimen, esdecir, una zona muy delgada de éste con un haz de electrones.

El voltaje de aceleración de los electrones es generalmente 100-400 kV.

Estos electrones al atravesar el espécimen dan lugar al diagrama dedifracción en el plano focal de la lente objetivo.

La imagen del objeto se produce como segunda transformada de Fouriersobre la pantalla de observación.

Diferentes modos de trabajo permiten obtener imágenes de altaresolución (HRTEM), imágenes de campo claro (BF) o de campo oscuro(DF), imágenes de barrido de transmisión (STEM), imágenes de haz débil(weak beam), filtrado de energías (EFTEM), diagramas de difracción deselección de área (SAED), diagramas de microdifracción de electrones yhaz convergente (CBED), etc.

La posibilidad de enfocar el haz en nanométricas ondas (0.1 Å – 1 nm)permiten operar en barrido-transmisión (STEM) y proporcionarinformación en varios modos microanalíticos: XEDS, EELS, etc.

200 nm Pseudobrookita

Ti2VO5 Ti4VO9

<

Morfología

Tomografía electrónica

Alta Resolución (HRTEM)

Espacio real

Difracción de electrones

Espacio recíproco

Microscopía

Analítica

Interacción del haz de electrones con la

muestra

Nanoesferas huecas de carbono.

Defectos en pseudobrookita (Ti2VO

5)

Diagrama de difracción de

electrones (SAED) de

pseudobrookita.

Microanálisis de Rayos X de

una aleación.

Análisis de pérdida de energía

de electrones (EELS) de una

partícula hueca de carbono

sobre la pared (línea negra) y

el centro (gris) de ésta.

FeCl2 encapsulado

en carbón amorfo

nanobolsa vacía de carbón

amorfo

núcleo esférico con

Fe, Cl y C

~13 nm

Esferas amorfas y vesículas de

carbono rellenas en algún

caso de FeCl2.

Imagen HRTEM de Bi4Cu1/3W2/3O7.8Cl procesada

a partir de 20 imágenes a distintos focos

alcanzando 1..1 Å de resolución y permitiendo

identificar vacantes de oxígeno en las

posiciones apicales de los octaedros {MO6}.

SAED en 4 orientaciones de

un cristal de Mg1-x

YbxS

mostrando intensidad difusa

provocada por orden a corto

alcance.

20 nm

Mapa químico con resolución

<1nm realizado por filtrado de

energías (EFTEM). Las líneas

blancas indican defectos ricos

en magnesio.

Servicio de MicroscopíaElectrónica de Transmisión

Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid