MICROSCOPIA

PAOLA ANDREA SANCHES GARCIA

DUMAR JHONATAN GONZALES

EDISSON LEONARDO OCHOA

UNIVERSIDAD PEDAGOGICA Y TECNOLOGICA DE COLOMBIA

FACULTAD DE INGENIERIA

ESCUELA INGENIERIA METALURGICA

TUNJA

2015

INTRODUCCION

En diferentes aspectos de los materiales, es necesario determinar y poder observar

los diferentes tamaos y fases que este presenta, debido a esto a lo largo del

tiempo, se vinieron creando alternativas para poder evaluar cada una de estas

caractersticas, y es ah donde el microscopio electrnico presenta una gran

importancia, pues gracias a este podemos ver imgenes, que a ojo humano no es

posible observar, y as tener un control y seguimiento al proceso o ensayo a realizar.

OBJETIVOS

Comprender las diferentes caractersticas del microscopio ptico

Poder definir el concepto de microscopia electrnica de barrido

Familiarizarse con la tcnica microscopia y sus principales usos

Observar las componentes del microscopio y su fin en la universidad

MARCO TEORICO EXPERIMENTAL

Podemos determinar las diferencias entre la microscopia ptica y electrnica

mediante la siguiente tabla:

Las principales caractersticas de la SEM es que es utilizada en la franja ms gruesa

de la regin visible, radica en que los electrones emitidos por un ctodo de

tungsteno pasan a travs de una columna en la que se ha hecho un vaco. En ella,

el haz inicial es concentrado por una serie de lentes electromagnticas.

Las ventajas que podemos observar en la microscopia ptica es que esta es de un

manejo fcil y sencillo, observando a su vez materiales de cualquier tipo, pero tiene

limitancias al presentarse los objetos gruesos estos son desenfocados, y la

resolucin limite es del orden de los 0.1 mm, por otra parte en el microscopio

electrnico, presenta al igual que la ptica un fcil manejo, pero tambin posee una

elevada resolucin, o tambin la posibilidad de combinar microscopia con anlisis

espectroscpico. Pero tambin nos posee unas desventajas pues las muestras

tienen que ser metlicas o recubiertas en oro, presenta un alto costo, y el material

tiene que estar al vaco. A su vez los microscopios se clasifican en simples y

compuestos, los ms usados por metalrgicos son los microscopios electrnicos,

pues favorecen un mejor tratamiento y proceso en la muestra, a su vez la mayora

de microscopios presentados o que tenemos en nuestra universidad, son todos

SEM.

Los reactivos ms utilizados para el ataque qumico en materiales metlicos puede

ser NITAL o acido etlico, por otra parte los reactivos usados para el ataque qumico

en materiales no metlicos pueden ser cido hidrofluorico, persulfato de amonio, o

cloruro frrico.

La imagen SEM se forma por barrido. El haz incide sobre un punto y produce un

nmero de electrones secundarios. El nmero de electrones producidos en el

proceso de interaccin depende tanto del material (cuanto mayor es el nmero

atmico mayor es la emisin: contraste por diferente elemento qumico) como de su

forma.

Existen unos soportes especiales de superficie circular donde se colocan las

muestras.

stas deben estar convenientemente adheridas a dicho soporte, para ello se suele

emplear una cinta de carbono (para hacerla conductora) con doble cara adhesiva.

Si se utiliza otro tipo de adhesivo, ste debe ser: conductor, no gasificar en vaco,

de fcil uso y rpido secado. Una vez colocada la muestra, si no es conductora ser

necesario recubrirla con una capa conductora.

Casi todas las muestras de materiales cermicos y de polmeros suelen ser no

conductoras, por lo que su observacin con electrones secundarios es difcil o

imposible debido a la acumulacin de carga que se produce en su superficie. La

acumulacin de carga produce una zona de carga espacial que deflecta el haz

incidente produciendo zonas blancas excesivamente brillantes durante la

observacin. Sin embargo, en otros materiales cermicos o vidrios, tales como:

vidrios y vitrocermicos de basalto, ferritas, arcillas o productos cermicos

tradicionales ricos en hierro, la conduccin de la muestra es tal que su observacin

por SEM no requiere ms que una buena adhesin entre la muestra y el porta

muestras.

En el caso de muestras en polvo se suele emplear cinta de doble cara adhesiva.

En el caso de muestras fibrosas se suele recurrir a la observacin directa o bien a

embuticiones de las fibras en polimetacrilato o en resinas termoplsticas.

En cualquier caso, las muestras deben de estar bien desengrasadas previamente a

su recubrimiento con una pelcula conductora, para evitar contaminacin superficial

por hidrocarburos, ya que el craqueo de las mismas puede producir carbono en la

superficie alterando la emisin de electrones secundarios en zonas localizadas.

Este efecto aparece en pantalla dejando un marco ms oscuro al cambiar de

mayores a menores aumentos.

Existen fundamentalmente dos mtodos para evitar la acumulacin de carga

superficial en muestras aislantes:

a) Aplicar una pelcula conductora a la superficie de la muestra

b) Operar con el SEM a bajas tensiones de aceleracin (voltaje)

Con este ensayo SEM podemos obtener diferentes caractersticas como pueden ser:

Observar la textura

Realizar microanlisis

Discutir resultados

PROCEDIMIENTO

Nos dirigimos a el laboratorio de ingeniera ubicado en la universidad, para as poder

observar el microscopio, recibiendo el funcionamiento, y las principales

caractersticas de este, el ingeniero a cargo, nos ayud a observar y poder mirar las

grficas arrojadas, nos mostr en que elementos utilizaba el microscopio y que

lograron determinar con esas vistas a diferentes aumentos, explicando como en las

muestras pequeas podemos emplear grafitos, en el equipo caben 6 a 8 muestras,

en la altura nos da de 0,5 cm de alto, la muestra es difcil ver, porque la muestra del

foco es de 19 mm, se ve el espectro blanco, si estas son pequeas, se montan

sobre un pin, al explicarnos la tcnica, es una tcnica de lluvia de electrones sobre

la muestras, desde el can de electrones, partiendo desde una base de tungsteno,

pasando por una parte ancha, y luego disminuye hasta una parte casi cerrada, al

caer sobre la muestra el detector, en este caso de retro dispersados, y este captura

la imgenes capturadas en el equipo.

CONCLUSIONES

La microscopia nos ayuda a determinar los diferentes tamaos de grano en

los materiales, tambin sus segregaciones y con esto podemos poder realizar

o saber que procedimiento podemos seguir a nuestra muestra.

La microscopia es una tcnica de complemento a los rayos x pues nos ayuda

a determinar un espectro, por esto es necesario sobre atacar la muestra.

El microscopio electrnico y ptico viene ligado de la mano con los ingenieros

metalrgicos.

ANEXOS

IMAGEN DEL MICROSCOPIO OBSERVADO, APLICADO.

TAMAO DE GRANO VISTO DESDE EL MICROSCOPIO VISTO A 200X

MICROSCOPIO QUE TENEMOS EN MICROSCOPIA.

BIBLIOGRAFIA E INFOGRAFIA

Ciencia e Ingeniera De Los Materiales - Callister - 7ed

NORMA ASTM E 407

http://www.iestiemposmodernos.com/depart/dtec/Recursos/metalesnoferros

os

http://www.quiminet.com/articulos/novedades-en-microscopia-metalurgica-

3576210.htmL