Ispitivanje bez razaranja zavarenih spojeva – Ultrazvučno ispitivanje zavarenih spojeva

EVROPSKI STANDARD EB 1714

Avgust 1997_____________________________________________________________________________________

ICS 25.160.40

Ključne riječi: zavareni spojevi, zavarivanje topljenjem, metali, ispitivanja bez razaranja, kontrola kvaliteta, greške u zavarenim spojevima, ultrazvučna ispitivanja, uslovi ispitivanja, obrada površine

Ispitivanje bez razaranja zavarenih spojeva – Ultrazvučno ispitivanje zavarenih spojeva

CEN je ovaj evropski standard odobrio 14. oktobra 1998. Članice CEN-a su obavezne da se pridržavaju Internih propisa CEN/CENELEC-a koji propisuju uvjete za davanje ovom evropskom standardu statusa nacionalnog standarda bez bilo kakvih promjena.

Najnovije liste i bibliografske reference, koje se odnose na sve nacionalne standarde mogu se dobiti na zahtjev u Centralnom sekretarijatu ili kod bilo koje članice CEN-a.

Ovaj evropski standard postoji u tri zvanične verzije (verzija na engleskom, francuskom i njemačkom jeziku). Verzija na bilo kom drugom jeziku, urađena uz odgovornost članice CEN-a provođenjem na njen vlastiti jezik i prijavljena Centralnom sekretarijatu, ima isti status kao i zvanične verzije.

Članice CEN-a su nacionalne institucije za standarde iz Austrije, Belgije, Češke Republike, Danske, Finske, Francuske, Njemačke, Grčke, Islanda, Irske, Italije, Luksemburga, Holandije, Norveške, Portugalije, Španije, Švedske, Švajcarske i Velike Britanije.

CENEvropski komitet za standardizaciju

(Evropean Committee for Standardization)Centralni sekretarijat: Rue de Stassart, 36 B-1050 Brussels

_____________________________________________________________________________________ 1997 CEN - Sva prava korištenja u bilo kom vidu i na bilo kiji način zadržavaju, širom svijeta, članice CEN-a

Ref. No. EN1714:1997 E

Strana 2EN 1714:1997

Predgovor

Ovaj Evropski standard izradio je Tehnički komitet CEN/TC 121 "Zavarivanje" čiji sekretarijat drži DS.

Ovaj Evropski standard će dobiti status nacionalnog standarda, bilo objavljivanjem identičnog teksta ili putem priznavanja najkasnije do februara 1998 godine a nacionalni standardi koji su s ovim u koliziji biće povučeni najkasnije do februara 1998 godine.

Prema CEN/CENELEC-ovim Međunarodnim propisima, nacionalne organizacije za standarde slijedećih zemalja obavezne su da primjene ovaj Evropski standard: Austrija, Belgija, Češka Republika, Danska, Finska, Francuska, Njemačka, Grčka, Island, Irska, Italija, Luksemburg, Nizozemska, Norveška, Portugal, Španija, Švedska, Švicarska i Ujedinjeno Kraljevstvo.

Strana 3EN 1714: 1997

1 Područje primjene

Ovaj evropski standard specificira metode za ručno ultrazvučno ispitivanje spojeva zavarenih topljenjem u metalnim materijalima debljine 8 mm ili više koji ispoljavaju nisko ultrazvučno slabljenje (naročito ono prouzrokovano rasipanjem). On je prvenstveno namjenjen za upotrebu kod zavarenih spojeva s punom penetracijom gdje su i zavareni i osnovni materijal feritni.

Kad je specificirano i pogodno, mogu se također primjeniti ove tehnike:

- na drugim materijalima osim onih gore spomenutih;

- na zavarenim spojevima s parcijalnom penetracijom;

- sa automatiziranom opremom,

po sporazumu između ugovornih strana.

Kada su u ovom standardu specificirane ultrazvučne vrijednosti koje zavise od materijala one se zasnivaju na čelicima koji imaju brzinu ultrazvuka od 5920 ± 50 m/s za longitudinalne talase, i 3255 ± 30 m/s za tranverzalne talase. Ovo treba uzeti u obzir kada se ispituju materijali s različitom brzinom.

Standard specificira četiri nivoa ispitivanja, a svaki od njih odgovara različitoj vjerovatnoći detekcije nedostataka. Uputstvo za izbor nivoa ispitivanja A, B i C je dato u prilogu A. Zahtjevi četvrtog niova ispitivanja, koji su namjenjeni za specijalne primjene, su u skaldu sa opštim zahtjevima ovog standarda i kako je dogovoreno između ugovornih strana.

Ovaj standard, po sporazumu između ugovornih strana, dozvoljava ocjenu indikacija, u cilju prihvatanja, jednom od slijedećih metoda:

1) Ocjenjivanje zasnovano prvenstveno na dužini i amplitudi ehoa signalne indikacije;

2) Ocjenjivanje zasnovano na karakterizaciji i dimenzioniranju indikacije pomoću metoda kretanja glave.

2 Normativne reference

Ovaj evropski standard inkorporira odredbe datiranih ili nedatiranih referenci iz drugih publikacija. Ove normativne refrence su citirane na odgovarjućim mjestima u tekstu a publikacije se navedene kako slijedi. Kod datiranih referenci, naredni amandmani ili revizije bilo koje od ovih publikacija se primjenjuju na ovaj evropski standard samo kada su ugrađene u njega amandmanom ili revizijom. Kod nedatiranih referenci primjenjuje se posljednja edicija publikacije o kojoj je riječ.

EN 473

prEN 583-1

Kvalifikacija i certifikacija IBR osoblja - Opšti principi

Ispitivanje bez razaranja - Ultrazvučno ispitivanje - Dio I: Opšti principi


prEN 583-2

prEN 1330-4

prEN 1712

prEN 1713

prEN 12062

EN 25817

Ispitivanje bez razaranja - Ultrazvučno ispitivanje - Dio 2 : Regulacija osjetljivosti i ospega.

Ispitivanje bez razaranja - Terminologija - Dio 4: Termini koji se koriste u ultrazvučnom ispitivanju

Ispitivanje bez razaranja zavarenih spojeva - Ultrazvučno ispitivanje zavarenih spojeva - Nivoi prihvatanja

Ispitivanje bez razaranja zavarenih spojeva - Ultrazvučno ispitivanje - Karaketrizacija nedostataka u zavarenim spojevima.

Ispitivanje bez razaranja zavarenih spojeva - Opšta pravila za metalne materijale

Elektrolučno zavareni spojevi u čeliku - Smjernice o nivoima kvaliteta za nedostatke (ISO 5817: 1992)

3 Definicije i simboli

Za potrebe ovog standarda primjenjuju se defincije date u prEN 12062 i prEN 1330-4.

Za nazive veličina i simbole pogledati tabelu 1.

Smatra se da će indikacije biti ili lognitudinalne ili transverzalne, zavisno od pravca njihove glavne dimenzije u odnosu na osu zavarenog spoja, x, u skladu s sa slikom 2.

Tabela 1: Nazivi veličina i simboli

Simbol Naziv veličine Jedinica

t

DDSR

DSDH

l

h

x

y

z

lz

lx

ly

p

Debljina osnovnog materijala (najtanji dio)

Prečnik reflektora u obliku diska

Prečnik poprečno bušene rupe

Dužina indikacije

Pružanje indikacije u pravcu dubine

Položaj indikacije u longitudinalnom pravcu

Položaj indikacije u transverzalnom pravcu

Položaj indikacije po dubini

Projektovana dužina indikacije po dubini

Projektovana dužina indikacije u x pravcu

Projektovana dužina indikacije u y pravcu

Rastojanje punog skoka

mm

mm

mm

mm

mm

mm

mm

mm

mm

mm

mm

mm

Strana 5EN 1714: 1997

5 Opšte postavke

Namjena ovog standarda je da opiše opšte metode ultrazvučnog ispitivanja, koristeći standardne kriterijume, za najčešće korištene zavarene spojeve. Konkretni zahtjevi specificirani u ovom standardu obuhvataju opremu, pripremu, izvođenje ispitivanja i izvještavanje. Specificirani parametri, naročito oni za ispitne glave, kompatibilni su sa zahtjevima iz prEN 1712 i prEN 1713, a također su pogodni za korištenje sa drugim standardima za kriterijume prihvatanja. Tehnike preporučene u ovom standardu su pogodne za detekciju onih nedostataka zavarenog spoja koji su specificirani u tipičnim standardima prihvatanja zavarenog spoja. Metode koje se koriste za ultrazvučnu ocjenu indikacija i kriterijumi prihvatanja će biti usaglašeni između ugovornih strana.

Ako usaglašeni kriterijumi prihvatanja zahtjevaju preciznije određivanje visine i prirode defekta, na pr. kada su primjenjini u kriterijumima koji odgovaraju namjeni, ovo može zahtjevati korištenje tehnika ili metoda koje su izvan područja primjene ovog standarda.

5 Informacije potrebne prije ispitivanja

5.1 Pitanja koja su predmet usaglašavanja između ugovornih strana

Sljedeća pitanja će biti usaglašena:

- metod uspostavljanja referentnog nivoa;

- metod koji će se koristiti za ocjenu indikacija;

- nivoi prihvatanja;

- nivo ispitivanja;

- proizvodna i radna faza(e) u kojoj će ispitivanje biti obavljeno;

- kvalifikacija osoblja;

- obim ispitivanja za detekciju transverzalnih indikacija;

- zahtjevi za ispitivanje tandem tehnikom;

- ispitivanje osnovnog metala prije i/ili nakon zavarivanja;

- da li se zahtjeva ili ne pisana procedura ispitivanja;

- zahtjevi za pisane procedure ispitivanja.

5.2 Konkretne informacije koje se traže prije ispitivanja

Prije nego što bilo kakvo ispitivanje zavarenog spoja može da počne, operator će imati pristup slijedećim bitnim informacijama:

- pisana procedura ispitivanja , ako se zahtjeva (vidjeti 5.3);

- vrsta(e) osnovnog materijala i forma proizvoda (t.j. liven, kovan, valjan)


- proizvodna ili radna faza u kojoj se ispitivanje vrši uključujući termičku obradu ako je ima;

- vrijeme i trajanje bilo kakve termičke obrade nakon zavarivanja;

- priprema spoja i dimenzije;

- zahtjevi koji se odnose na stanje površine;

- procedura zavarivanja ili relevantne informacije o procesu zavrivanja;

- zahtjevi izvješatavanja;

- nivoi prihvatanja;

- obim ispitivanja uključujući zahtjeve za detekciju transverzalnih indikacija, ako ima značaja;

- nivo ispitivanja;

- nivo kvalifikacije osoblja;

- procedure o korektivnim aktivnostima u slučaju otkrivanja neprihvatljivih indikacija.

5.3 Pisana procedura ispitivanja

Definicije i zahtjevi u ovom standardu će normalno zadovoljiti potrebu za pisanom procedurom. Kada to nije slučaj ili kad tehnike opisane u ovom standardu nisu primjenjive na zavareni spoj koji se ispituje, koristiće se dodatne pisane procedure, po sporazumu između ugovornih strana.

6 Zahtjevi za osoblje i opremu

6.1 Kvalifikacije osoblja

Osoblje koje izvodi ispitivanja u skladu s ovim standardom će biti kvalifikovano za odgovarajući nivo u skladu sa EN 473 ili njegovim ekvivalentom u relevantnom industrijskom sektoru.

Pored opšteg znanja o ultrazvučnom ispitivanju zavarenih spojeva, oni će također biti upoznati sa problemima ispitivanja koji su u konkretnoj vezi sa tipom zavarenog spoja koji se ispituje.

6.2 Oprema

Bilo kakva oprema koja se koristi u vezi sa ovim standardom odgovaraće zahtjevima relevantnih evropskih standarda. Prije objavljivanja EN standarda u vezi s ovim predmetom mogu se koristiti odgovarajući nacionalni standardi.

Strana 7EN 1714: 1997

6.3 Parametri ispitnih glava

6.3.1. Frekvencija

Frekvencija će biti u opsegu 2 MHz do 5 MHz, i biće odabrana da odgovara specificiranim nivoima prihvatanja.

Za početno ispitivanje, frekvencija će biti što je moguće niža, u gore datom opsegu, kada se ocjenjivanje izvodi u skladu sa nivoima prihvatanja zasnovanim da dužini i amplitudi na pr: prEN 1712. Više frekvencije se mogu koristiti da se poboljša rezolucija opsega ako je ovo neophodno kada se koriste standardi za nivoe prihvatanja koji su zasnovani na karakterizaciji nedostataka na pr. prEN 1713.

Frekvencije od približno 1 MHz mogu se koristiti za ispitivanje kod dugih puteva zvuka kada materijal pokazuje nadprosječno slabljenje.

6.3.2 Upadni uglovi (uglovi ulaska zvuka)

Kada se ispitivanje izvodi sa transferzalnim talasima i tehnikama koje zahtjevaju da se ultrazvučni snop reflektuje sa suprotne površine, treba voditi računa da se osigura da upadni ugao snopa, sa suprotnom reflektujućom površinom, nije manji od 35° i po mogućnosti ne veći od 70°. Kada se koristi više od jednog ugla ispitne glave, najmanje jedna od korištenih kosih glava će odgovarati ovom zahtjevu. Jedan od korištenih uglova glave će osigurati da se površine spajanja zavarenog spoja ispitaju pod, ili što je moguće bliže, pravim uglom. Ako je specificirano korištenje dva ili više uglova ispitnih glava, razlika između nominalnih uglova snopa će biti 10° ili više.

Uglovi ulaska zvuka na ispitnoj glavi i suprotnoj reflektujućoj površini, kada je zakrivljena, mogu biti određeni crtanjem poprečnog presjeka zavarenog spoja ili u skladu sa metodama datim u pr EN 583-2. Kad upadni uglovi ne mogu da se odrede kako je specificrano u ovom standardu izvještaj o ispitivanju će sadržavati iscrpan opis korištenih skeniranja i obim prouzrokovanog bilo kakvog nepotpunog pokrivanja zajedno sa objašnjenjem teškoća na koje se naišlo.

6.3.3 Prilagođavanje ispitnih glava zakrivljenim ispitnim površinama

Zazor između ispitne površine i dna podložnog klina glave neće biti veći od 0,5 mm. Kod cilinidričnih ili sfernih površina ovaj zahtjev će obično biti ispunjen kada je zadovoljena sljedeća jednačina:

D ≥ 15a

gdje je:

D - prečnik komponente u milimetrima;

a - dimenzija u milimetrima podložnog klina u pravcu ispitivanja.

Ako ovaj zahtjev ne može da se ispuni podložni klin ispitne glave će se prilagoditi površini i prema tome će se podesiti osjetljivost i opseg.


7 Zapremina koja se ispituje

Zapremina koja se ispituje (vidjeti sliku 1) se definiše kao zona koja uključuje zavar i osnovni materijal od najmanje 10 mm sa svake strane zavara, ili širinu zone uticaja toplote, ono što je veće.

U svim slučajevima skeniranje će pokriti čitavu zapreminu koja se ispituje. Ako pojedine sekcije ove zapremine ne mogu biti pokrivene u bar jednom pravcu skeniranja, ili ako uglovi ulaska zvuka sa suprotnom površinom ne ispunjavaju zahtjeve tačke 6.3.2, usaglasiće se alternativne ili dopunske ultrazvučne tehnike ili druge metode ispitivanja bez razaranja. U nekim slučajevima ovo može zahtjevati uklanjanje nadvišenja vara.

Dopunske metode mogu zahtjevati ispitivanje koristeći kose ispitne glave sa dvostrukim kristalom, glave za puzajuće talase, druge ultrazvučne tehnike ili bilo koju drugu pogodnu metodu, na pr. ispitivanje tečnim penetrantima, magnetnim prahom ili radiografsko ispitivanje. Pri izboru alternativnih ili dopunskih metoda, dužnu pažnju treba posvetiti tipu zavarenog spoja i vjerovatnoj orjentaciji bilo kog nedostatka koji će biti detektovan.

8 Priprema površina za skeniranje

Površine za skeniranje će biti dovoljno široke da dozvole da se zapremina koja se ispituje(vidjeti sliku 1) u potpunosti pokrije. Alternativno, širina površina za skeniranje može biti manja ako se može postići ekvivalentno pokrivanje zapemine koja se ispituje skeniranjem i sa gornje i sa donje površine spoja.

Površine za skeniranje će biti glatke i bez stranih materija za koje je vjerovatno da će ometati sprezanje ispitne glave (na pr. hrđa, cunder, kapljice metala, zarezi, žlijebovi). Valovitost ispitne površine neće rezultirati u stvaranju zazora između glave i ispitnih površina većem od 0,5 mm. Ako je neophodno ovi zahtjevi će biti osigurani ravnanjem. Lokalne varijacije konture površine, na pr. duž ivice zavarenog spoja, čiji je rezultat zazor ispod ispitne glave od sve do 1 mm, mogu samo biti dozvoljene ako je najmanje jedan dodatni ugao glave primjenjen sa napadnute strane zavara. Ovo dodatno skeniranje je neophodno da se kompenzira redukovano pokrivanje zavara koje će se dogoditi sa zazorom ove dimenzije.

U svim slučajevima, maksimalni dozvoljeni zazor na područjima ispitne površine sa kojih se izvodi ocjena indikacija će biti 0,5 mm. Može se pretpostaviti da će površine za skeniranje i površine sa kojih se zvučni snop reflektuje biti zadovoljavajuće ako hrapavost površine, Ra, nije veća od 6,3 μm za mašinski obrađene površine, ili nije veća od 12,5 μm za površine bombardovane sačmom.

9 Ispitivanje osnovnog materijala

Osnovni metal, u području zone skeniranja, će se ispitati normalnim glavama prije ili nakon zavarivanja, osim ako se može demonstrirati (na pr. prethodna ispitivanja u toku procesa proizvodnje) da na ispitivanje zavarenog spoja kosom glavom neće uticati prisustvo nedostataka ili visoko slabljenje.

Gdje su nedostaci nađeni, njihov uticaj na predloženo ispitivanje kosom glavom će se procjeniti i, ako je neophodno, tehnike će se podesiti na odgovarajući način. Kada je zadovoljavajuće pokrivanje ultrazvučnim ispitivanjem ozbiljno ugroženo, onda će se po sporazumu, razmotriti druge metode ispitivanja (na pr. radiografija ).

Strana 9EN 1714: 1997

1 Širina zapremine koja se ispituje2 Površina za skeniranje

Slika 1: Primjer zapremine koja se ispituje i koja treba da se pokrije pri skeniranju radi longitudinalnih indikacija

10 Regulacija opsega i osjetljivosti

10.1 Opšte

Podešavanje opsega i osjetljivosti će se izvršiti prije svakog ispitivanja u skladu sa ovim standardom i prEN 583-2. Provjere radi potvrđivanja ovih podešavanja će biti izvedene najmanje svakih 4 sata i nakon završetka ispitivanja. Provjere će također biti izvršene uvijek kada se parametar sistema mjenja ili kada se sumnja na promjene u ekvivalentnim podešavanjima. Ako se nađu odstupanja u toku ovih provjera izvešće se korekcije date u tabeli 2.

Strana 10EN 1714:1997

Tabela 2 Korekcije osjetljivosti i opsega

Osjetljivost

1 Odstupanja ≤ 4 dB Podešavanje će se korigovati prije nego što se ispitivanje nastavi.

2 Smanjenje osjetljivosti > 4 dB Podešavanje će biti korigovano i sva ispitivanja izvedena sa ovom opremom u toku prethodnog perioda će biti ponovljena.

3 Povećanje osjetljivosti > 4 dB Podešavanje će biti korigovano i sve registrovane indikacije će biti ponovo ispitane.

Opseg

1 Odstupanja ≤ 2% opsega Podešavanje će se korigovati prije nego što se ispitivanje nastavi

2 Odstupanja > 2% opsega Podešavanje će biti korigovano i sva ispitivanja izvedena sa ovom opremom u toku prethodnog perioda će biti ponovljena

10.2 Referentni nivo

Koristiće se jedna od sljedećih metoda za postavljanje referentnih nivoa :

- Metoda 1: Referentni nivo je kriva rastojanje-amplituda (DAC kriva) za poprečno bušenu rupu prečnika Ø 3 mm;

- Metoda 2: Referentni nivoi za transverzalne i longitudinalne talase koji koriste rastojanje-pojačanje-dimenzija (AVG) sistem zasnovan na reflektoru oblika diska (DSR) su dati u tabelama 3 odnosno 4.

- Metoda 3: Referentni nivo je jednak DAC krivoj za pravougaoni žlijeb dubine 1 mm.

- Tandem ispitivanje: DDSR = 6 mm (za sve debljine).

Tabela 3 Referentni nivoi za skeniranje kosim snopom sa transverzalnimtalasima za metodu 2 (AVG)

Nominalna frekvencija ispitne

glave (MHz)

Debljina osnovnog materijala (mm)

8 ≤ t <15 15 ≤ t < 40 40 ≤ t ≤ 100

1,5 do 2,5 - DDSR = 2 mm DDSR = 3 mm

3 do 5 DDSR = 1 mm DDSR = 1,5 mm -

Strana 11EN 1714: 1997

Tabela 4: Referentni nivoi za longitudinalnetalase za metodu 2 (AVG)

Nominalna frekvencija ispitne

glave (MHz)

Debljina osnovnog materijala (mm)

8 ≤ t <15 15 ≤ t < 40 40 ≤ t ≤ 100

1,5 do 2,5 - DDSR = 2 mm DDSR = 3 mm

3 do 5 DDSR = 2 mm DDSR = 2 mm DDSR = 3 mm

10.3 Nivoi ocjenjivanja

Sve indikacije jednake ili veće od slijedećih će se ocjenjivati:

- Metode 1 i 3: Referentni nivo - 10 dB (33% DAC);

- Metoda 2: Referentni nivo - 4 dB, u skladu sa tabelama 3 odnosno 4;

- Tandem ispitivanje: DDSR = 6 mm (za sve debljine).

10.4 Korekcija prenosa

Kada se posebni blokovi koriste za utvrđivanje referentnih nivoa izvršiće se mjerenje razlika prenosa između predmeta ispitivanja i bloka, na reprezentativnom broju lokacija. Odgovarajuće tehnike su opisane u prEN 583-2.

Ako su razlike manje od 2 dB korekcija se zahtjeva.

Ako su razlike veće od 2 dB ali manje od 12 dB one će biti kompenzirane.

Ako gubici prenosa prelaze 12 dB, razmotriće se razlog i dalja priprema površine za skeniranje će biti izvršeno, ako je to primjenjivo.

Kada nema očitih razloga za visoke korekcione vrijednosti, slabljenje, na različitim lokacijama na predmetu ispitivanja će se izmjeriti i, ako se utvrdi da varira značajno, razmotriće se korektivne radnje.

10.5 Odnos signal-šum

U toku ispitivanja zavarenog spoja nivo šuma koji prelazi parazitne površinske indikacije će ostati najmanje 12 dB ispod nivoa ocjenjivanja. Ovaj zahtjev može biti jednostavan predmet sporazuma između ugovornih strana.

Strana 12EN 1714:1997

11 Nivoi ispitivanja

Zahtjevi kvaliteta za zavarene spojeve su uglavnom povezani sa materijalom, zavarivačkim procesom i uslovima rada. Da bi se prilagodio svim ovim zahtjevima ovaj standard specificira četiri nivoa ispitivanja (A, B, C i D) .

Od nivoa ispitivanja A do nivoa ispitivanja C rastuća vjerovatnoća detekcije će se postići povećanim ispitnim pokrivanjem na pr. brojem skeniranja, ravnanjem površine. Nivo ispitivanja D može se usaglasiti za specijane primjene koristeći pisanu proceduru koja će uzeti u obzir opšte zahtjeve ovog standarda .

Općenito nivoi ispitivanja su povezani sa nivoima kvaliteta (na pr. EN 25817). Odgovarajući nivo ispitivanja može se specificirati standardima za ispitivanje zavarenih spojeva (na pr. prEN 12062)., standardima proizvoda ili drugim dokumentima.

Kada je prEN 12062 specificiran preporučeni nivoi ispitivanja su kako je dato u tabeli 5.

Tabela 5 Preporučeni nivoi kvaliteta

Nivo ispitivanja Nivo kvaliteta u EN 25817

A C

B B

C prema sporazumu

D specijalna primjena

Konkretni zahtjevi za nivoe ispitivanja A do C su dati, za različite vrste spojeva u prilogu A.Treba napomenuti da su pokazani tipovi spojeva samo idealni primjeri i gdje aktuelni uslovi zavarenog spoja ili pristupačnost ne odgovaraju u potpunosti onim pokazanim, tehnika ispitivanja će se modificirati da zadovolji opšte zahtjeve ovog standarda i konkretnog nivoa ispitivanja. Za ove slučajeve pripremiće se pisana procedura ispitivanja.

12 Tehnika ispitivanja

12.1 Opšte

Ultrazvučna ispitivanja će biti izvedena u skladu sa prEN 583-1 sa dodatkom sledećih klauzula.

12.2 Putanja ručnog skeniranja

U toku skeniranja kosom glavom blago zakretanje do ugla od 10° na obje strane nominalnog pravca snopa se može primjeniti na ispitnu glavu.

Strana 13EN 1714: 1997

12.3 Ispitivanje za detekciju nedostataka okomitih na ispitnu površinu

Podpovršinske planarne nedostatke okomite na ispitnu površinu je teško detektovati tehnikama jedne kose glave. Za takve nedostatke treba razmotriti specifične tehnike ispitivanja, posebno za zavarene spojeve u debljim materijalima. Ove ispitne tehnike će se koristiti po sporazumu između ugovornih strana.

12.4 Lociranje indikacija

Lociranje svih indikacija će se definisati u odnosu na koordinatni sistem na pr. kako je pokazano na slici 2. Neka tačka na ispitnoj površini će biti odabrana kao koordinatni početak za ova mjerenja.

Gdje se ispitivanje vrši sa više od jedne površine refrentne tačke će biti utvrđene na svakoj površini. U ovom slučaju treba voditi računa da se uspostavi poziciona zavisnost između svih korištenih referentnih tačaka, tako da apsolutno lociranje svih indikacija može da se utvrdi od bilo koje imenovane referentne tačke.

U slučaju kružnih zavarenih spojeva ovo može da zahtjeva utvrđivanje unutrašnje i spoljašnje referentne tačke prije montaže za zavarivanje.

1 Koordinatni početak

Slika 2: Koordinatni sistem za definisanje lokacije indikacija

Strana 14EN 1714:1997

12.5 Ocjena indikacija

12.5.1 Opšte

Sve relevantne indikacije iznad nivoa ocjenjivanja će se ocjenjivati u skladu sa klauzulama 12.5.2 do 12.5.4.

12.5.2 Maksimalna amplituda ehoa

Amplituda ehoa će se maksimizirati kretanjem glave i registrovati u zavisnosti od usaglašenog referentnog nivoa.

12.5.3 Dužina indikacije

Dužina indikacije, bilo u longitudinalnom ili transverzalnom pravcu će, gdje je moguće, biti određena koristeći tehniku specificiranu u standardu nivoa prihvatanja ili tehniku lociranja sa 6 dB-skim padom vrha, ako drugačije nije dogovoreno.

12.5.4 Visina indikacije

Mjerenje visine indikacije će se izvoditi samo prema sporazumu. Ako je to primjenjivo sljedeća metoda će se koristiti:

Gdje je to moguće, za nedostatke koji generišu više od jednog uočljivog pika u primljenom signalu kad se skenira po debljini, visina (h) će se mjeriti tehnikom pomjeranja ispitne glave. Preporučuje se da se visina indikacije registruje kada indikacija ima izmjerenu visinu od 3 mm i više. Međutim, drugi viši prag za registrovanje visina može biti dogovoren.

12.5.5 Karakterizacija nedostataka

Nedostaci će biti karakterizirani samo ako su se tako sporazumjele ugovorne strane, ili kada je neophodno da se ispune zahtjevi specificiranih nivoa prihvatanja.

13 Izvještaj o ispitivanju

13.1 Opšte

Izvještaj o ispitivanju će uključiti pozivanje na ovaj standard i dati, kao minimum, slijedeće informacije:

Strana 15EN 1714: 1997

13.2 Opšti podaci

a). Identifikacija predmeta koji se ispituje:

- materijal i forma proizvoda;- dimenzije;- lokacija zavara/zavarenog spoja koji se ispituje;- skica koja pokazuje geometrijsku konfiguraciju (ako je neophodno);- pozivanje na proceduru zavarivanja, specifikaciju i termičku obradu;- stanje proizvodnje;- uslovi na površini;- temperatura predmeta, ako je izvan opsega 0 °C do 40 °C ;

b) zahtjevi ugovora na pr. specifikacije, smjernice, specijalni sporazumi itd.;

c) mjesto i datum ispitivanja

d) identifikacija ispitnih organizacija i identifikacija i certifikacija operatora;

e) identifikacija inspekcionog organa.

13.3 Informacije u vezi s opremom

a) proizvođač i tip ultrazvučnog uređaja sa identifikacionim brojem ako se zahtjeva;

b) proizvođač, tip, nominalna frekvencija i aktuelni upadni ugao korištenih ispitnih glava sa identifikacionim brojem ako se zahtjeva;

c) identifikacija korištenih referentnih blokova sa skicom, ako je neophodna;

d) kontaktno sredstvo

13.4 Informacije u vezi s tehnikom ispitivanja

a) nivo(i) ispitivanja i pozivanje na pisanu proceduru kada se koristi;

b) obim ispitivanja;

c) lokacija područja skeniranja;

d) referentne tačke i detalji o korištenom koordinatnom sistemu kako je specificirano u 12.4;

e) identifikacija pozicija ispitnih glava kako je specificirano u prilogu A ili korištenjem skice;

f) opseg vremenske baze ;

g) metod i vrijednosti korištene za podešavanje osjetljivosti ( podeševanje pojačanja za referentne nivoe i vrijednosti koje su korištene za korekcije prenosa);

h) referentni nivoi;

i) rezultat ispitivanja osnovnog materijala;

Strana 16EN 1714:1997

j) standard za nivoe prihvatanja;

k) odstupanje od ovog standarda, ili zahtjevi ugovora.

13.5 Rezultati ispitivanja

Tabelarni rezime (ili skice) koji daje slijedeće informacije za registrovane indikacije:

a) koordinate indikacije, kako je specificirano u 12.4 sa detaljima u vezi ispitnih glava i odgovarajućim položajima ispitne glave;

b) maksimalna amplituda ehoa kako je specificirano u 12.5.2 i informacije, ako se zahtjeva, o tipu i veličini indikacije;

c) dužine indikacija kako je specificirano u 12.5.3;

d) rezultati ocjene u skladu sa specificiranim nivoima prihvatanja

Strana 17EN 1714: 1997

Prilog A (normativan)

Nivoi ispitivanja za različite vrste zavarenih spojeva

Vidjeti slike A.l do A.7 i tabele A.1 do A.7

Legenda za tabele:

L- skeniranje: skeniranje za detekciju longitudinalnih indikacija koristeći kose ispitne glave.

N- skeniranje: skeniranje koristeći normalne ispitne glave

T- skeniranje: skeniranje za detekciju transverzalnih indikacija koristeći kose ispitne glave

p: puno rastojanje skoka

SZW : širina zone skeniranja

Strana 18EN 1714:1997

1 Strana 12 Pogled odozgo3 Strana 24 Pogled sa strane5 Širina zone skenirnja (SZW) u zavisnosti od rastojanja skoka

Kad god je moguće sva skeniranja će se izvoditi sa obje strane (1 i 2)

Slika A.1 Sučeoni spojevi u plačama i cijevima

Strana 19EN 1714: 1997

Tabela A.1 : Sučeoni spojevi u pločama i cijevima

Nivo ispiti-vanja

Debljina osnovnog materijala

mm

Longitudinalne indikacije Transverzalne indikacijeZahtjevani broj:

Ukupan broj

skeniranja

Napo-mene

Zahtjevani broj:Ukupan

broj skeniranja

Napo-mene

uglova glave

pozicija glave

SZW pozicija glave

uglova glave

pozicija glave

L-skeniranje N-skeniranje T-skeniranje

A8 ≤ t < 15 1 A ili B 1,25 p - 2 1) 1 (X i Y) ili (W i Z) 2 3)

15 ≤ t < 40 1 A ili B 1,25 p - 2 1) 1 (X i Y) ili (W i Z) 4 3)

B


15 ≤ t < 40 2 6) A ili B 1,25 p - 4 2),5) 1 (X i Y) ili (W i Z) 4 3)


60 ≤ t ≤ 100 2 A ili B 1,25 p - 4 2) 2 (C i D) ili (E i F) 4 3),4)

C8 ≤ t < 15 1 A ili B 1,25 p G ili H 3 4) 1 (C i D) ili (E i F) 2 4)

15 ≤ t < 40 2 A ili B 1,25 p G ili H 5 2),4) 2 (C i D) ili (E i F) 8 4)

> 40 2 A i B 1,25 p G i H 10 2),4) 2 (C i D) ili (E i F) 8 4)

1) Može biti ograničeno sporazumom na jedno skeniranje sa jedne strane2) Dodatno ispitivanje tandem tehnikom po specijalnom sporazumu3) Zahtjeva se samo po specijalnom sporazumu4) Površina pokrivnog sloja zavara će odgovarati zahtjevima u klauzuli 8. Ovo može da zahtjeva ravnanje pokrivnog sloja zavara. Međutim, kod kružnih spojeva cijevi zavarenih sa jedne strane samo se ravna spoljašnji pokrivni sloj.5) Ako je dostupno samo s jedne strane koristiće se 2 ugla.6) U opsegu od 15 < t ≤ 25 jedan ugao je dovoljan pod uslovom da je frekvencija ispod 3 MHz.

Strana 20EN 1714:1997

1 Komponenta 12 Komponenta 23 Pogled s kraja4 Pogled sa strane

Širine zona skeniranja su označene slovima: a,b,c,d,e,f i g

Slika A.2 Konstrukcioni T-spojevi

Strana 21EN 1714: 1997

Tabela A.2 Konstrukcioni T-spojevi

Nivo ispiti-vanja


mm

Longitudinalne indikacije Transverzalne indikacije Zahtjevani broj:

SZWUkupan

broj skeniranja

Zahtjevani broj: Ukupan

broj skeniranja

Napo-mene

uglova glave

pozicija glave

SZWpozicija glave

uglova glave

pozicija glaveSZW


A8 ≤ t < 15 1 A ili B 1,25 p ili C 3) - 1 - - - - 1)

15 ≤ t < 40 1 A ili B 1,25 p C 3) c 2 - - - - 1)

B

8 ≤ t < 15 1 A ili B 1,25 p C 3) - 2 1 F i G c 2 2)

15 ≤ t < 40 1 A i B 1,25 p C 3) c 3 1 (F i G) c 6 2)

1 (X i Y) ili (W i Z) f + g40 ≤ t < 100 2 A i B 0,75 p C 3) c 5 1 (F i G) c 6 2)

1 (X i Y) ili (W i Z) f + g

C

8 ≤ t < 15 1 A i B 1,25 p C 3) c 3 2 F i G c 4 2)

15 ≤ t < 40 2 (A i B) 1,25 p C 3) c 7 1 (F i G) c 6 2)

1 (D i E) d + e 1 (X i Y) ili (W i Z) f + g40 ≤ t ≤ 100 2 (A i B) 0,75 p C 3) c 7 2 (F i G) c 12 2)

1 (D i E) d + e 2 (X i Y) ili (W i Z) f + g> 100 3 A i B 0,75 p C 3) c 9 2 (F i G) c 12 2)

1 D i E d + e 2 (X i Y) ili (W i Z) f + g

1) Nije primjenjivo2) Izvodiće se samo po specijalnom sporazumu3) Biće zamjenjeno tandem tehnikom iz A ili B ako C nije moguće.

Strana 22EN 1714:1997

1 Poprečni presjek2 Pogled odozgo3 Komponenta 1 = cilindrični plašt/ ravna ploča4 Komponenta 2 = priključak (mlaznica)

Širine zona skeniranja su označene slovima: a,b,c,d i e.

Slika A.3: Spojevi priključka ugrađenog kroz plašt

Strana 23EN 1714: 1997

Tabela A.3 Spojevi priključka ugrađenog kroz plašt

Nivo ispiti-vanja


mm


SZWUkupan

broj skeniranja


broj skeniranja

Napo-mene

uglova glave

pozicija glave

SZWpozicija glave

uglova glave

pozicija glave


A8 ≤ t < 15 1 A 1,25 p ili C c 1 - - - 1)

15 ≤ t ≤ 40 1(A ili F) ili 1,25 p

C c 2 - - - 1)

D d

B

8 ≤ t < 15 1A ili 1,25 p

C c 2 1(U i V) ili (X i Y) ili

(W i Z)2 2)

D d

15 ≤ t < 40 1A ili 1,25 p

C c 2 ili 3 1(U i V) ili (X i Y) ili

(W i Z)2 2)

(D i E) d + e

40 ≤ t < 60 1(A ili B) 1,25 p

C c 4 1 (X i Y) i (W i Z) 4 2)

(D i E) d+e

60 ≤ t ≤ 1002 (A i B) 0,5 p

C c 7 2 (X i Y) i (W i Z) 8 2)

1 (D i E) d + e

C

8 ≤ t < 151 (A ili B) 1,25 p

C c 3 1(U i V) ili

(X i Y i W i Z)2 ili 4 2)

1 (D ili E) d ili e

15 ≤ t ≤ 402 (A ili B) 0,5 p

C c 5 2 (X i Y) i (W i Z) 8 2)

2 (D ili E) d ili e

> 402 (A i B) 0,5 p

C c 9 2 (X i Y) i (W i Z) 8 2)

2 (D i E) d + e

1) Nije primjenjivo2) izvodiće se samo po specijanom sporazumu

Strana 24EN 1714:1997

Strana 26EN 1714:1997

1 Poprečni presjek2 Pogled s kraja 3 Komponenta 14 Komponenta 2

Širine zona skeniranja su označene slovima a,b i c

Slika A.4: Konstrukcini L spojevi

Strana 27EN 1714: 1997

Tabela A.4: Konstrukcioni L spojevi

Nivo ispiti-vanja


mm


SZWUkupan

broj skeniranja


broj skeniranja

Napo-mene

uglova glave

pozicija glave

SZWpozicija glave

uglova glave

pozicija glave


A8 ≤ t < 15 1 A ili B ili H 1,25 p ili C c 1 - - - 1)

15 ≤ t ≤ 40 1 A ili B ili H 1,25 p C c 2 - - - 1)

B8 ≤ t < 15 1 A ili B ili H 1,25 p ili C c 1 1 (F i G) ili (X i Y) 2 2)

15 ≤ t < 40 2 A ili B ili H 1,25 p C c 3 2 (F i G) ili (X i Y) 4 2)

40 ≤ t ≤ 100 2 (H ili A) i B 0,75 p C c 5 2 D i E 4 2), 3)

C

8 ≤ t < 15 1 (H ili A) i B 1,25 p C c 3 1 D i E 2 2), 3)

15 ≤ t < 40 2 (H ili A) i B 1,25 p C c 5 1 D i E 2 2), 3)

40 ≤ t ≤ 100 3 (H ili A) i B 0,75 p C c 7 2 D i E 4 2), 3)

> 100 3 (H ili A) i B 0,5 p C c 7 2 D i E 4 2), 3)

1) Nije primjenjivo2) Biće izvedeno po specijalnom sporazumu3) Površina pokrivnog sloja zavara će odgovarati zahtjevima u Članu 8. Ovo može zahtjevati ravnanje pokrivnog sloja zavara.

Strana 28EN 1714:1997

1 Poprečni presjek2 Pogled odozgo3 Komponenta 1 = priključak (mlaznica)4 Komponenta 2 = plašt5 Normalna ispitna glava

Širine zona skeniranja su označene slovima: a,b,c, d i x

Slika A.5: Spojevi priključka (mlaznice) ugrađenog na plašt

Strana 29EN 1714: 1997

Tabela A.5: Spojevi priključka (mlaznice) ugrađenog na plašt

Nivo ispiti-vanja


mm


SZWUkupan

broj skeniranja


broj skeniranja

Napo-mene

uglova glave

pozicija glave

SZWpozicija glave

uglova glave

pozicija glave


A8 ≤ t < 15 1

A ili 1,25 p- - 1 - - - 1)

B 0,50 p

15 ≤ t ≤ 40 1A ili 1,25 p

C c 2 - - - 1)

B 0,50 p

B

8 ≤ t < 15 2A ili 1,25 p

- - 2 1 X i Y 2 2), 3)

B 0,50 p

15 ≤ t < 40 2A ili 1,25 p

C c 3 1 X i Y 2 2), 3)

B 0,50 p

40 ≤ t < 60 2A 1,25 p

C c 5 2 X i Y 4 2), 3)

(B ili D) 0,50 p

60 ≤ t ≤ 100 2A 1,25 p

C c 5 2 X i Y 4 2), 3)

(B ili D) 0,5 p

C

8 ≤ t < 15 3A ili 1,25 p

C c 4 1 X i Y 2 2), 3)

B 0,5 p

15 ≤ t < 40 3A ili 1,25 p

C c 4 1 X i Y 2 2), 3)

B 0,5 p

40 ≤ t < 60 3A 1,25 p

C c 7 2 X i Y 4 2), 3)

B 0,5 p

60 ≤ t ≤ 100 3A 1,25 p

C c 7 2 X i Y 4 2), 3)

B 0,5 p

1) Nije primjenjivo2) Biće izvedeno samo po specijalnom sporazumu3) Površina pokrivnog sloja zavara će odgovarati zahtjevu u Članu 8. Ovo može zahtjevati ravnanje pokrivnog sloja zavara.

Strana 30EN 1714:1997

1 Pogled s kraja2 Pogled sa strane3 Komponenta 14 Komponenta 25 Komponenta 3

Širine zona skeniranja su označene slovima: a,b,c,d,e,f,g i h.

Slika A.6:. Krstasti spojevi

Strana 31EN 1714: 1997

Tabela A.6:. Krstasti spojevi

Nivo ispiti-vanja


mm


Ukupan broj

skeniranja

Napo-mene

Zahtjevani broj:

Ukupan broj

skeniranja

Napo-mene

uglova glave

pozicija glave SZWuglova glave

pozicija glave

L-skeniranje T-skeniranje

A8 ≤ t < 15 1 (A i C) ili (B i D) 1,25 p 2 - - - - 1)

15 ≤ t < 40 1 A i B i C i D 0,75 p 4 3) - - - 1)

40 ≤ t ≤ 100 2 A i B i C i D 0,75 p 8 3) - - - 1)

B

8 ≤ t < 15 1 A i B i C i D 1,25 p 4 1(X1 i Y1 i W1 i Z1)

i(X2 i Y2 i W2 i Z2)

8 2)

15 ≤ t < 40 2 A i B i C i D 0,75 p 8 3) 1(X1 i Y1 i W1 i Z1)


8 2)

40 ≤ t ≤ 1002 A i B i C i D 0,75 p

123), 4)

2(X1 i Y1 i W1 i Z1)


16 2)

1 E i F i G i H e - h 3), 4)

C 40 ≤ t ≤ 100

2A i B

i C i D

i tandem (A ili B)

i (C ili D)

0,75 p

12 2(X1 i Y1 i W1 i Z1)


16 2)

1E i F

i G i H

e - h

1) Nije primjenjivo2) Izvodiće se samo po specijalnom sporazumu 3) Ako se zahtjeva osjetljiviji nivo, primjenicće se tandem tehnika4) Ali tada E i F i G i H će biti izostavljeni.

Strana 32EN 1714:1997

Strana 34EN 1714:1997

1 Komponenta 1 = glavna cijev2 Komponenta 2 = cijevni ogranak

Širine zona skeniranja su označene slovima : d,e,f,g i h

Slika A.7: Čvorni spojevi u cijevnim konstrukcijama

Strana 35EN 1714: 1997

Tabela A.7: Čvorni spojevi u cijevnim konstrukcijama

Nivo ispiti-vanja


mm


SZWUkupan

broj skeniranja


broj skeniranja

Napo-mene

uglova glave

pozicija glave

SZWpozicija glave

uglova glave

pozicija glave


A8 ≤ t < 15 2 F i G i H 1,25 p - - 6 - - - 1), 2)

15 ≤ t ≤ 40 3 F i G i H 1,25 p - - 9 - - - 1), 2)

40 ≤ t ≤ 100 3 F i G i H 1,25 p - - 9 - - - 1), 2)

B

8 ≤ t < 15 2 F i G i H 1,25 p D d 7 1 X i Y 2 1), 3)

15 ≤ t < 40 3 F i G i H 1,25 p D d 10 2 X i Y 4 1), 3)

40 ≤ t ≤ 1003 F i G i H 1,25 p

D d 11 2 X i Y 4 1), 3)

1 E eC Nije primjenjivo

1) Ispitivanje čvornih spojeva će obično biti nivoa D, koje zahtjeva specijalni sporazum2) Nije primjenjivo3) Ako provrt komponente 1 nije pristupačan (položaj glave D i E) nivo ispitivanja 2 se ne može postići

Documents

Ispitivanje bez razaranja zavarenih spojeva – Ultrazvučno ispitivanje zavarenih spojeva