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Estudios de Habilidad en la medición con CMM
Ing. Alfonso Cotera Flores
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores Tema: Estudios de Habilidad en CMM Dpto:Sala de Medición Fina PPC Fecha:2010/10/26 2
USUARIO según (RAE):
• adj. Que usa ordinariamente algo.• der. Dicho de una persona: Que tiene derecho de usar de una cosa ajena con cierta limitación.
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores Tema: Estudios de Habilidad en CMM Dpto:Sala de Medición Fina PPC Fecha:2010/10/26 3
TIPOS DE USUARIOS DE CMM:
• PROVEEDOR DE SERVICIOS.- Persona que opera una CMM para evaluarla, calibrarla, verificarla y ajustarla.
• CLIENTE/OPERADOR.- Persona que opera una CMM para la Medición y/o calibración de piezas ó patrones.
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores Tema: Estudios de Habilidad en CMM Dpto:Sala de Medición Fina PPC Fecha:2010/10/26 4
MAPEO DEL
PROCESO:
PIEZASPRODUCIDAS
PIEZASMEDIDAS
PIEZASVENDIDAS
PIEZASUTILIZADAS
TOLERANCIADE
FABRICACIÓN
PATRONES PRIMARIOS
VERIFICACIÓNINTERMEDIA
CALIBRACIÓNY AJUSTE
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores Tema: Estudios de Habilidad en CMM Dpto:Sala de Medición Fina PPC Fecha:2010/10/26 5
MAPEO DEL
PROCESO:
PIEZASPRODUCIDAS
PIEZASMEDIDAS
PIEZASVENDIDAS
PIEZASUTILIZADAS
TOLERANCIADE
FABRICACIÓN
PATRONES PRIMARIOS
VERIFICACIÓNINTERMEDIA
CALIBRACIÓNY AJUSTE
ESTUDIOSDE
HABILIDAD
Cg&Cgk
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores Tema: Estudios de Habilidad en CMM Dpto:Sala de Medición Fina PPC Fecha:2010/10/26 6
ESTUDIOS DE HABILIDAD Cg&Cgk
Cg (Capability Gages).- Índice de Capacidad Potencial de sistemas de medición.
Cgk (Capability Gages katayori) .- Índice de la capacidad real de los sistemas de medición.
gsBiTCgk
21,0
gg s
TC
42,0
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores Tema: Estudios de Habilidad en CMM Dpto:Sala de Medición Fina PPC Fecha:2010/10/26 7
T= Tolerancia de fabricación
Sg= Desviación Estándar de medición de una serie de mediciones a un patrón ó máster.
Bi= Bías, Desviación sistemática de medición
Promedio de una serie de valores del patrón usando un medio de medición.
Valor de referencia del patrón.
Donde:
mg xxBi
gx
mx
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores Tema: Estudios de Habilidad en CMM Dpto:Sala de Medición Fina PPC Fecha:2010/10/26 8
Condición de aceptación:
• Indice de capacidad Cg > 1,33
• Indice de Habilida Cgk > 1,33
• Sistema de tolerancia Minia de evaluación
ig BST 10380
min
ciónEspecificaT min
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores Tema: Estudios de Habilidad en CMM Dpto:Sala de Medición Fina PPC Fecha:2010/10/26 9
Patrones de referencia utilizados en un CMM:
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores Tema: Estudios de Habilidad en CMM Dpto:Sala de Medición Fina PPC Fecha:2010/10/26 10
Artefacto diseñado para evaluar elementos geométricos:
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores Tema: Estudios de Habilidad en CMM Dpto:Sala de Medición Fina PPC Fecha:2010/10/26 11
Anillo patrón Diámetro 50,0007 mm
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores Tema: Estudios de Habilidad en CMM Dpto:Sala de Medición Fina PPC Fecha:2010/10/26 12
Anillo patrón Diámetro 50,0007 mm
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores Tema: Estudios de Habilidad en CMM Dpto:Sala de Medición Fina PPC Fecha:2010/10/26 13
Bloque patrón Distancia 50,000 mm
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores Tema: Estudios de Habilidad en CMM Dpto:Sala de Medición Fina PPC Fecha:2010/10/26 14
Bloque patrón Distancia 50,000 mm
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores Tema: Estudios de Habilidad en CMM Dpto:Sala de Medición Fina PPC Fecha:2010/10/26 15
Bloque patrón Distancia 400,000 mm
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores Tema: Estudios de Habilidad en CMM Dpto:Sala de Medición Fina PPC Fecha:2010/10/26 16
Bloque patrón Distancia 400,000 mm
