ESPECTROSCOPÍA DE SUPERFICIES SÓLIDAS Técnicas de análisis de superficies sólidas. Técnicas de caracterización óptica y estructural. Microscopía electrónica de barrido, MEB. Microscopía electrónica de transmisión, TEM. Difracción de rayos X Técnicas espectroscópicas de caracterización. Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X (ESCA) Espectroscopía de electrones Auger (AES) Espectroscopía de masas con iones secundarios (SIMS) Bibliografía P. J. Goodhew and F.J. Humphreys, Electron Microscopy and Analysis, Taylor & Francis, 1992. B.D. Cullity, Elements of X-ray Diffraction, Addison Wesley, 1978. A.W. Czanderna, Methods of Surface Analysis, Elsevier, vol 1, 1975.

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ESPECTROSCOPA DE SUPERFICIES SLIDAS Tcnicas de anlisis de superficies slidas.

Tcnicas de caracterizacin ptica y estructural.

Microscopa electrnica de barrido, MEB.

Microscopa electrnica de transmisin, TEM.

Difraccin de rayos X

Tcnicas espectroscpicas de caracterizacin.

Espectroscopa fotoelectrnica de rayos X (ESCA)

Espectroscopa de electrones Auger (AES)

Espectroscopa de masas con iones secundarios (SIMS)

Bibliografa

P. J. Goodhew and F.J. Humphreys, Electron Microscopy and Analysis, Taylor & Francis, 1992.

B.D. Cullity, Elements of X-ray Diffraction, Addison Wesley, 1978. A.W. Czanderna, Methods of Surface Analysis, Elsevier, vol 1, 1975.