10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

Embed Size (px)

Citation preview

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    1/56

    6/17/2011

    1

    1

    Testiranjeelektronskihsistema (2)

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    2/56

    6/17/2011

    2

    Timski rad je ključ uspeha!!!

    2

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    3/56

    6/17/2011

    3

    Testiranje mikroračunarskih sistema

    • Izuzev grubih grešaka - otkaza kao što su gubitak

    napajanja ili takta, operacioni status (stanje) sistemazasnovanog na mikroprocesoru ne može se jasnoodrediti tradicionalnim sredstvima.

    • Sistemi bazirani na mikroprocesorima se karakterišu,

    odnosima i još i softverski zavisnim funkcionisanjem.Takve karakteristike mogu da prikriju, odnosno učinenesagledivim izvor greške i dijagnostičku proceduručine komplikovanom. Kako sistem izvršava operacijepod kontrolom softvera, ne postoji prost odnos između

    hardverskih elemenata i logičkih signala. To sveukazuje na činjenicu da je teško lokalizovati otkaz naosnovu radnih simptoma - ponašanja sistema.

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    4/56

    6/17/2011

    4

    Teškoće:• U lokalizaciji otkaza radi otklanjanja, detektovane greške suposledica najpre nepoznavanja gde je problem:u hardveru, u softveru, ili i u softveru i u hardveru.

    • U nekim slučajevima se lako i jasno može odrediti u kojojoblasti je otkaz, ali u većini slučajeva to nije jednostavnoodrediti jer hardverski otkazi mogu ponekad biti maskirani kaosoftverski otkazi i obrnuto.

    N r. nekorektan rad neko I/O orta ne mora da znači da e

    sam port defektan. Problem može biti u grešci u softveru ili uotkazu u nekom drugom delu hardvera. Ili na primer, logičkikorektan softver i ispravan logički kontroler mogu se ponašatikao neispravni (u jednom trenutku kao da je kontrolerneispravan, a u drugom kao da je softverska sekvencainstrukcija nekorektna) jer nisu ispoštovana vremenska

    ograničenja koja nameće na primer kontroler. Recimo,neposredno posle upisa komande u kontroler čitanje statusakontrolera može da idicira neadekvatno stanje kontrolera jer

     je njemu potrebno "neko vreme" da promeni status.)

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    5/56

    6/17/2011

    5

    • Lokalizaciju uzroka greške komplikuju

    električni otkazi (najčešće prolazni) logičkihsignala. Naime, sistem može da otkaže zbogelektričnih problema kao što su granična

     

    Teškoće, nastavak:

      ,ekscesni šum velike amplitude, itd. Takviotkazi su mogući i u sistemu čiji je projekatlogički potpuno korektan i kod kojih se nije

    desio otkaz u nekoj samoj komponenti, to jestsve komponente sistema su ispravne.

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    6/56

    6/17/2011

    6

    Projektovanje za testabilnost• Kompleksnost i obimnost današnjih mikroračunarskih

    sistema i samih integrisanih kola nameću i potreburazmišljanja o otkrivanju i otklanjanju otkaza sistema,odnosno testiranju još u fazi razvoja specifikacijasistema.

    nedopustivo dugo vreme za otkrivanje i lokalizacijuotkaza, ako se o tom problemu na vreme nije posvetilapotrebna pažnja.

    • Projektovanje sistema podrazumeva korišćenjespecijalizovanih metoda projektovanja za ostvarivanjemogućnosti sigurnog i efikasnog testiranja (Design forTestability - DFT).

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    7/56

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    8/56

    6/17/2011

    8

    Osnovni modeli testiranjaMODEL OSNOVNI CILJ

    • FAZNI MODELDemonstracija :  Utvrđ ivanje da softver

     

    8

     Destrukcija:  Otkrivanje grešaka implementacije

    • MODEL ŽIVOTNOG CIKLUSA

    Evaluacija:  Otkrivanje grešaka u zahtevima,projektu i implementaciji

    Prevencija:  Prevencija grešaka u zahtevima,projektu i implementaciji

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    9/56

    6/17/2011

    9

    Fazni modeli i modeli životnogciklusa

    • Fazni modeli polaze od pretpostavke da jeizvršenje programa osnovna aktivnost testiranjakroz koju se otkrivaju greške.

    9

    • o e votnog c usa pomera u a t vnosttestiranja sa kraja projekta na početak, uvodećikao objekte testiranja, pored implementacije,zahtev i projekat. Testiranje se posmatra kao

    proces koji je u jakoj interakciji sa aktivnostimarazvoja od samog početka projekta.

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    10/56

    6/17/2011

    10

    Demonstracija: prečišćavanje itestiranje

    • Razdvajanje pojmova pre č iš ć avanja (debugging)

    i testiranja .• Obe ove faze testiranja obuhvataju

    detekciju, lociranje, identifikovanje i korekciju

     

    10

    gre a a, s m a se raz u u c ev o ma seteži pri odvijanju svake od aktivnosti.• Cilj faze prečišćavanja softvera je obezbediti da

    se program odvija na računaru, dok je cilj faze

    testiranja obezbediti da softver rešava zadatiproblem.

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    11/56

    6/17/2011

    11

    Destrukcija

    • Definicija testiranja“Testiranje je proces demonstracije dagreške nisu prisutne.”

    11

    • menja se u sledeću:“Testiranje je proces izvršenja programa s

    namerom da se nađu greške”

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    12/56

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    13/56

    13

    Evaluacija

    • Period orijentacije na evaluaciju dolazi sauvođenjem standarda u oblasti testiranjasoftvera.

    13

     analizu, pregled i testiranje za vreme svihfaza životnog ciklusa softvera.

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    14/56

    14

    Prevencija

    • Period orijentacije na prevenciju uvodikoriš ć enje i poboljšanje specifikacija softvera zavreme analize i projektovanja testova kao i

    14

     testova.

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    15/56

    15

    Prevencija vs. evaluacija

    • Model prevencije razlikuje se od modela

    evaluacije više po mehanizmu nego po cilju.• Oba modela usmerena su na zahteve i projekat

    u cilju eliminisanja problema u implementaciji, ali

    15

     planiranja, analize i projektovanja testova, zarazliku od modela evaluacije koji se oslanja naanalizu softvera i tehnike pregleda koje suodvojene od samog testiranja.

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    16/56

    16

    Evolucija testiranja

    VREMENSKI PERIOD MODEL TESTIRANJA

    - 1956 Prečišćavanje

    16

    -1979 - 1982 Destrukcija1983 - 1987 Potvrđ ivanje1988 - Prevencija

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    17/56

    17

    Razvoj softvera

    • definisanje zahteva i ciljeva• izrada specifikacija softvera• projektovanje sistema

    17

    • projektovanje strukture programa• specificiranje interfejsa modula• kodiranje

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    18/56

    18

    PrevencijaTri komplementarna prilaza prevenciji i/ili otkrivanju

    grešaka koje se potencijalno akumuliraju prolaskom krozsve faze:1. Prvi prilaz je uvođ enje preciznosti u razvoju kako bi se

    sprečilo nastajanje grešaka.

    19

    .

    koraka nakon svake faze razvoja, imajući za ciljotkrivanje što više grešaka pre no što se pređ e nanarednu fazu.

    3. Treći prilaz predstavlja razdvajanje procesa testiranjapo fazama, tako da se posebno testira svaka fazarazvoja, čime se postiže fokusiranje na posebne klasegrešaka.

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    19/56

    19

    Tri faze testiranja

    Proces testiranja prolazi kroz tri faze:

    • Testiranje modula • Testiranje integracij 

    20

     

    • Testiranje sistema 

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    20/56

    20

    Testiranje modula 

    • Testiranje modula proverava da li sesoftverski modul ponaša shodno

    21

     detaljnog projektovanja.

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    21/56

    21

    Testiranje integracije 

    • Testiranje integracije : povezuju se grupeprethodno testiranih modula i proveravada li se ponašaju onako kako su se

    22

     

    testiranja. Svrha testiranja integracije je dautvrdi da li se svaka ugrađenakomponenta ponaša shodno

    specifikacijama dobijenim u faziarhitekturnog projektovanja.

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    22/56

    22

    Testiranje sistema 

    • Testiranje sistema : proverava da li se softverski

    sistem ugrađ en u stvarno hardversko okruženjeponaša u skladu sa specifikacijama softverskihzahteva. U slučaju velikih i složenih sistema, koji

    23

    uključ

    uju više specifikacija softverskih zahteva,svaka glavna softverska komponenta testira se uodnosu na svoju specifikaciju, zatim se oneintegrišu i proverava se njihovo kombinovano

    ponašanje na nivou sistemskih zahteva.

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    23/56

    23

    Dvodimenzionalni model vodopadarazvojnog ciklusa softvera

    24

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    24/56

    24

    Relativna cena ispravke greške pofazamaFAZA RELATIVNA CENA ISPRAVKE

    Zahtevi 0.1 - 0.2Projektovanje 0.5

    25

    Kodiranje 1Testiranje modula 2

    Testiranje

    prihvatljivosti 5Održavanje 20

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    25/56

    25

    Osnovna klasifikacija metodatestiranja

    BLACK-BOX metode WHITE-BOX metode

    Podela na klase ekvivalencije Pokrivanje naredbiAnaliza raničnih vrednosti Pokrivan e odluka

    26

     

    Analiza uzročno-posledičnih Pokrivanje uslovagrafova Pokrivanje odluka/uslovaPogađ anje grešaka Pokrivanje višestrukih

    uslova

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    26/56

    26

    WHITE-BOX testiranje bazira se naizvršenju programa, odnosno napokrivanju logike (izvornog koda)

    -

    27

    ,tehnike najčešće nazivaju tehnikamabaziranim na implementaciji za razlikuod BLACK-BOX tehika koje se nazivajutehnikama baziranim naspecifikacijama .

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    27/56

    27

    Tehnike testiranja bazirane naimplementaciji

    Tehnike bazirane na implementaciji mogu segeneralno svrstati u dve kategorije:tehnike usmerene na programske puteve

     

    28

    pat se ect on tec n ques ,tehnike usmerene na podatke (test data

    selection techniques).

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    28/56

    28

    Tehnike usmerene naprogramske puteve

    • Tehnikama usmerenim na programske

    puteve polaznu osnovu predstavljareprezentacija programa u obliku

    29

     

    upravljanja (control flow diagram),odnosno tok podataka u programu (dataflow diagram).

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    29/56

    29

    Tehnike usmerene naprogramske puteve, nastavak

    Tehnike usmerene na programske puteve mogu se podeliti na:• tehnike koje pokrivaju tok upravljanja

     

    30

    contro ow coverage ,• tehnike koje pokrivaju tok podataka (dataflow coverage).

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    30/56

    30

    Tehnike usmerene na podatke

    Tehnike usmerene na podatke mogu sepodeliti na:•

    31

     

    (fault-based),• tehnike bazirane na greškama (error-

    based).

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    31/56

    31

    Tehnike usmerene na podatke• Tehnike bazirane na neispravnostima

    selektuju testne podatke tako da otkrijuodređ ene klase neispravnosti, gde se podneispravnošću podrazumeva pogreška uizvornom kodu, koja dovodi do nemogućnosti

    32

    zv u• Tehnike bazirane na greškama usmerene su

    na otkrivanje specifičnih tipova grešaka, pričemu se pod greškom podrazumeva aktivnostprogramera koja dovodi do softvera koji sadrži

    grešku, a koja prilikom izvršenja programadovodi do razmimoilaženja izmeđ u dobijenihrezultata i pravih, odnosno očekivanih rezultata.

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    32/56

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    33/56

    33

    Tehnike testiranja bazirane naspecifikacijama

    • Tehnike bazirane na specifikacijama mogu

    usmeriti pažnju na one aspekte problema koji sunekorektno implementirani i koji se tehnikamabaziranim isključivo na implementaciji mogu

    34

    otkriti samo slučajno. Zato po mišljenju većineautora koji se bave teorijom testiranja, pristupitestiranju bazirani na specifikaciji i pristupibazirani na implementaciji treba da se koriste

    tako da nadopunjuju jedni druge i da prednosti jedne tehnike pokrivaju mane druge tehnike.

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    34/56

    34

    Selekcija testnih primera krozživotni ciklus softveraAnaliza i

    specifikacija

    zahteva

    Arhitekturno

    projektovanje

    Sistemski

    zahtevi

    Specifikacija

    sprege modula

    Selekcija od

    korisnika

    Selekcija test pri-

    mera iz specifi-

    kacije sprege

    Plan testiranja

    sistema

    Plan testiranja

    integracije

    35

    Detaljno

    projektovanje

    Implementacija/ 

    transformacija

    Izvr{enje

    testova

    Specifikacija

    projekta modula

    Realizacija

    modula

    Selekcija test pri-

    mera iz speci-

    fikacije projekta

    Selekcija test

    primera iz koda

    Plan testiranja

    modula

    Plan testiranja

    modula

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    35/56

    35

    36

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    36/56

    36

    TESTIRANJE HARDVERA

    37

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    37/56

    37

    Struktura otkaza

    38

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    38/56

    38

    Postavljanje izlaznog kriterijuma:• neotkriveni prekidi

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    39/56

    39

    Razmotriti testni alat tima

    41

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    40/56

    40

    Alat za testiranje sistemaKorišćenje instrumentacije opšte namene

    ne daje potrebnu dijagnostičku moć.Zato su razvijeni specijalizovani alati zaotkrivanje i lokalizaciju otkaza u

    42

     

    • emulatori u kolu(prvenstveno mikroprocesora) i

    • logički analizatori.

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    41/56

    41

    Upotrebiti projektne alate

    43

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    42/56

    42

    Trend kod veza na štampanoj ploči

    Veličina isnaga veze

    44

    broj veza

    godina

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    43/56

    43

    Uzroci otkazatemperatura

    45

    Source: U.S. Air ForceAvionics Integrity Program

    vlažnost

    prašina vibracije

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    44/56

    44

    Moguć

    i uzroci otkaza – promenetemperaturehladno

    46

    toplo

    Naprezanje termičkim širenjem

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    45/56

    45

    Mogući uzroci otkaza – vibracije

    krivljenje zbognaprezanja

    47

    Kidanje zbognaprezanja

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    46/56

    46

    Postupci pri testiranju sistema:• Vizuelna inspekcija.

    • Provera izvora napajanja i razvoda napajanja.• Provera statusa CPU-a, odnosno stanja mikroprocesora.• Provera basa i signala na njemu.

     

    48

     

    • Provera I/O kontrolera - najpre kontrolera za konzolniuređ aj• Startovanje ugrađ enih procedura samotestiranja• Provera kontrolera spoljašnje masovne memorije

    • Startovanje procedura samotestiranja i testiranja• Provera ostalih kontrolera u mikroračunarskom sistemu

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    47/56

    47

    Vizuelna inspekcija

    • Provera lemnih tačaka pomoću lupe,mikroskopa, termovizijske kamere, ...

    49

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    48/56

    48

    Provera izvora napajanja i razvodanapajanja

    • Provera izvora kao modula• Provera razvoda napajanja

     

    50

    • Provera da li svaki čip ima pravilnonapajanje

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    49/56

    49

    Provera statusa CPU-a, odnosnostanja mikroprocesora

    • Provera takta• Provera reseta

    51

    • Provera samog procesora• Upotreba emulatora

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    50/56

    50

    Provera bus-a i signala na njemu

    • Pojave na dugim vezama• Prelazne otpornosti

    52

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    51/56

    51

    Provera operativne memorije

    • Provera adresiranja• Provera vremena zapisa i čitanja

     

    53

      ,

    višestruki upis, greška oporavka,spavajuća bolest, ...)

    6/17/2011

    P

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    52/56

    52

    Provera

    ROM-a

    54

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    53/56

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    54/56

    54

    Na kraju ...

    56

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    55/56

    55

    57

    6/17/2011

  • 8/18/2019 10 (PES) Testiranje Elektronskih Sistema - Deo 2

    56/56

    56

    58