Upload
others
View
3
Download
0
Embed Size (px)
Citation preview
2010-10-28
1
1
CHROMATOGRAFIA GAZOWA –– analiza ilościowa- walidacja
Katedra Chemii AnalitycznejWydział Chemiczny
Dr hab. inż. Piotr KONIECZKA
y yPolitechnika Gdańska
ul. G. Narutowicza 11/1280-233 GDAŃSK
e-mail: [email protected]
2
Sw
Sx
Cw
Cx - ?
2010-10-28
2
Sygnał wyjściowy detektora – funkcja zawartości analitu(pomiar pośredni);
Wyznaczenie zależności funkcyjnej – kalibracja;
Sposób przeprowadzania kalibracji zależy od:
3
• rodzaju przyrządu pomiarowego;• ilości próbek;• możliwości przygotowywania próbek wzorcowych w szerokim
zakresie stężeń analitu (w celu sprawdzenia całego zakresu pomiarowego przyrządu kontrolno-pomiarowego);
• wymaganej dokładności oznaczenia;• składu matrycy próbki;• możliwości zmiany składu próbki w trakcie procesu
analitycznego.
4Metoda jednego wzorca
Przeprowadza się dwa pomiary:
dla próbki wzorca dla badanej próbki
Sw Sx
CwCx
2010-10-28
3
Zawartość analitu w próbce oblicza się wg wzoru:
W
XWX S
SCC
Metoda jednego wzorca 5
gdzie:
Cx - zawartość analitu w próbce;
Cw - zawartość analitu w próbce wzorca;
Sx - sygnał urządzenia pomiarowego dla próbki;
Sw - sygnał urządzenia pomiarowego dla próbki wzorca.
Wynik końcowy jest tym dokładniejszy, im zawartość analitu w badanejpróbce mniej różni się od zawartości analitu w próbce wzorcowej.Im węższy jest zakres stężeń (niewielka różnica poziomów stężeń analitu),tym bardziej możliwe jest przybliżenie nawet nieliniowej zależności wiążącejsygnał wyjściowy z zawartością analitu za pomocą odcinka prostoliniowego.
6
Przeprowadza się pomiary dla próbek wzorcowych o różnejzawartości analitu:
Metoda krzywej wzorcowej (kalibracja wielopunktowa)-metoda wzorca zewnętrznego.
Cw5
Sw5
Cw4
Sw4
Cw3
Sw3
Cw2
Sw2
Cw1
Sw1
2010-10-28
4
Wyznacza się zależność S = f(C) za pomocą prostej postaci:
Sw = b·Cw+a
Metoda krzywej wzorcowej (kalibracja wielopunktowa)- metoda wzorca zewnętrznego.
7
Po uzyskaniu sygnału dla analitu obecnego w próbce i przekształceniu równania, wynik oznaczenia można obliczyć korzystając ze wzoru:
baSC X
X
1000
1200
500
600
Metoda krzywej wzorcowej (kalibracja wielopunktowa)- metoda wzorca zewnętrznego.
8
400
600
800
1000
200
300
400
500
Sw
0
200
0 2 4 6 8 10 12 14 16
0
100
0 2 4 6 8 10 12
Cw
2010-10-28
5
500
600
Metoda krzywej wzorcowej (kalibracja wielopunktowa)- metoda wzorca zewnętrznego.
9
200
300
400
500
Sw
0
100
0 2 4 6 8 10 12
Cw
900
1000
Metoda krzywej wzorcowej (kalibracja wielopunktowa)- metoda wzorca zewnętrznego.
10
300
400
500
600
700
800
Sw
0
100
200
0 2 4 6 8 10 12 14 16
Cw
2010-10-28
6
350
400
Metoda krzywej wzorcowej (kalibracja wielopunktowa)- metoda wzorca zewnętrznego.
11
100
150
200
250
300
Sw
0
50
100
0 1 2 3 4 5 6 7 8
Cw
1200
1400
1200
1400
Metoda krzywej wzorcowej (kalibracja wielopunktowa)- metoda wzorca zewnętrznego.
12
400
600
800
1000
1200
400
600
800
1000
1200
0
200
0 2 4 6 8 10
0
200
0 2 4 6 8 10
2010-10-28
7
1000
1200
Metoda krzywej wzorcowej (kalibracja wielopunktowa)- metoda wzorca zewnętrznego.
13
400
600
800
1000
0
200
0 2 4 6 8 10 12 14 16
Tabela. Wyniki pomiarów uzyskane w przypadku oznaczenia zawartości C2Cl4 w próbkach roztworów wzorcowych z wykorzystaniem metodyki HS-SPME-GC-ECD.
Stężenie C2Cl4
[mg/kg]
Średnia wartość pola powierzchni piku chromatograficznego
[u.j.p.]
Metoda krzywej wzorcowej (kalibracja wielopunktowa)- metoda wzorca zewnętrznego.
14
[mg/kg] [u.j.p.]8 3566475 6 2700855 4 1838644 2 858210 1 426133 0,5 206942 0,25 95455 0,125 49488 0 0625 232520,0625 232520,03125 12893 0,01563 6613 0,00781 3238 0,00391 1810 0,00195 1182 0,00098 602 0,00049 329
2010-10-28
8
3500000
4000000
rafic
znego
Metoda krzywej wzorcowej (kalibracja wielopunktowa)- metoda wzorca zewnętrznego.
15
500000
1000000
1500000
2000000
2500000
3000000
y = 449000x - 5480 r = 0,9999
wie
rzch
ni p
iku
chro
mat
ogr
[u.j.
p.]
0
0 2 4 6 8 10
stężenie C Cl [mg/kg]2 4
pole
pow
Tabela. Porównanie wyjściowych wartości stężeń C2Cl4 w próbkach roztworów wzorcowych z wartościami obliczonymi na podstawie krzywej kalibracyjnej.
Stężenie C2Cl4 [mg/kg]
w stosowanych obliczone na podstawie
*
[%]
Metoda krzywej wzorcowej (kalibracja wielopunktowa)- metoda wzorca zewnętrznego.
16
roztworach wzorcowych
krzywej kalibracyjnej [%]
8 7,95 0,58 6 6,03 0,44 4 4,11 2,7 2 1,92 3,8 1 0,961 3,9 0,5 0,473 5,4 0,25 0,225 10 0 125 0 122 2 10,125 0,122 2,10,0625 0,0640 2,4 0,0312 0,0409 31 0,0156 0,0269 72 0,00781 0,0194 149 0,00391 0,0162 316 0,00195 0,0148 660 0,00098 0,0136 1290 0,00049 0,0129 2550
2010-10-28
9
17
Przeprowadza się trzy pomiary:
dla dwóch próbek roztworów wzorcowych(w których zawartość analitu jest odpowiednio)
wyższa i niższa
dla próbki rzeczywistej
Metoda roztworów ograniczających
wyższa niższayod zawartości analitu w badanej próbce
y
Cx
Sx
Cw1
Sw1
Cw2
Sw2
Metoda roztworów ograniczających
120
140
160Sw1
Sx
18
0
20
40
60
80
100Sw2
0
1 1,5 2 2,5 3 3,5
Cw2 Cw1Cx
2010-10-28
10
0
20
40
60
80
100
120
140
160
1 1,5 2 2,5 3 3,5
Sw2
Sw1
Sx
0
20
40
60
80
100
120
140
160
1 1,5 2 2,5 3 3,5
Sw2
Sw1
Sx
Metoda roztworów ograniczających
Wynik oblicza się po przekształceniu zależności:
19
Cw2 Cw1CxCw2Cw2 Cw1Cw1CxCx
21
1
21
1
ww
xw
ww
xw
CCCC
SSSS
21
1211
ww
xwwwwx SS
SSCCCC
lub
21
2
21
2
ww
wx
ww
wx
CCCC
SSSS
21
2212
ww
wxwwwx SS
SSCCCC
Wynik końcowy jest tym dokładniejszy, im różnica stężeń analitu w próbkach wzorcowych jest mniejsza.
20
Polega na dodaniu do próbki znanej ilości składnika (wzorzec wewnętrzny – IST – ang. internal standard) różnego od substancji oznaczanych, nieobecnego w analizowanych próbkach.
Najczęściej dodatek wzorca wewnętrznego jest realizowany w taki
Metoda wzorca wewnętrznego
Najczęściej dodatek wzorca wewnętrznego jest realizowany w takisposób, że jego jednakową ilość dodaje się do roztworów wzorcowycho różnej zawartości analitu.
Cw1
Sw1
CIST1
SIST1
Cw2
Sw2
CIST2
SIST2
Cw3
Sw3
CIST3
SIST3
Cw4
Sw4
CIST4
SIST4
Cw5
Sw5
CIST5
SIST5
2010-10-28
11
Metoda wzorca wewnętrznego
Wykreślenie zależności (wykres kalibracyjny) postaci:
IST
ww S
SfC
21
Jeśli ilość dodawanego wzorca wewnętrznego nie jest jednakowa wykreśla się zależność postaci:
IST
IST
w
IST
w
SSf
CC
ISTIST
Technika ID jest specyficzną odmianą techniki wzorcawewnętrznego Specyficzność ta polega na tym iż w tym przypadku
Technika rozcieńczenia izotopowego – ang. isotope dilution - ID
Metoda wzorca wewnętrznegoTechnika ID
22
wewnętrznego. Specyficzność ta polega na tym, iż w tym przypadkudodawaną substancją jest znana ilość związku, który różni się odanalitu jedynie składem izotopowym.
W trakcie analizy ilościowej wyznaczane są stosunki sygnałów dlaodpowiednich jonów analitycznych (co najmniej dwóch) uzyskanych
k i li óbki i j óbki óbkiw trakcie analizy próbki rzeczywistej, próbki wzorca oraz próbkirzeczywistej z dodatkiem wzorca.
2010-10-28
12
Do określenia zawartości analitu w badanej próbce potrzebnajest jedynie znajomość ilości izotopowo znaczonego analitu
Metoda wzorca wewnętrznegoTechnika ID
23
dodanego do próbki.
Ponieważ ilość dodanego wzorca można określić stosując jedną zmetod pierwotnych (grawimetria lub wolumetria) stanowi topodstawę do zaliczenia techniki ID do grupy metod pierwotnych.
W przypadku oznaczania zawartości składników nieorganicznych
Oznaczanie składników nieorganicznych
Metoda wzorca wewnętrznegoTechnika ID
24
W przypadku oznaczania zawartości składników nieorganicznychjako wzorce stosowane są analogi analitu wzbogacone izotopowo(ang. isotopically enriched analogues). np. w przypadkuoznaczania zawartości analitów zawierających w cząsteczce atomycyny, dla której „naturalnym” podstawowym izotopem jest 120Snstosuje się wzorce wzbogacone w izotop 117Sn lub 118Snstosuje się wzorce wzbogacone w izotop Sn lub Sn.
2010-10-28
13
2
1
j
jwz M
MR
Metoda wzorca wewnętrznegoTechnika ID
25
Mj1 Mj2
WZORZEC(wzbogacony izotopowo)
2
1
j
jp M
MR
j
2
1
j
jwzp M
MR &
Mj1 Mj2
Mj1 Mj2
PRÓBKA PRÓBKA Z DODATKIEM
WZORCA
RR
26Metoda wzorca wewnętrznegoTechnika ID
wz
wzpp
wzwzpp n
RRRR
n
gdzie:np – ilość analitu w badanej próbce;n – ilość izotopowo znaczonego wzorca dodanego do próbki;nwz ilość izotopowo znaczonego wzorca dodanego do próbki;Rp – stosunek sygnałów jonów masowych w badanej próbce;Rwz – stosunek sygnałów jonów masowych w próbce wzorca;Rp&wz – stosunek sygnałów jonów masowych w próbce z dodatkiem wzorca;
2010-10-28
14
85
90
95
100302
TBT*85
90
95
100305
TBTTBT90
95
100302
27Metoda wzorca wewnętrznegoTechnika ID
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
30320
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
302
303TBTTBT
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
305
303
TBT* & TBT
296 298 300 302 304 306 308 310 312 314
m/z
0
5
10
15303 305
296 298 300 302 304 306 308 310 312 314
m/z
0
5
10
15
296 298 300 302 304 306 308 310 312 314
m/z
0
5
10
15
W przypadku oznaczania zawartości związków organicznychstosowane są odpowiednio izotopowo znaczone analogi (ang
Oznaczanie związków organicznych
28Metoda wzorca wewnętrznegoTechnika ID
stosowane są odpowiednio izotopowo znaczone analogi (ang.isotopically labelled analogues) zawierające najczęściej atomydeuteru zamiast wodoru czy też atomy 13C zamiast atomów 12C.
To sprawia, że sposób przeprowadzenia analizy w przypadkuoznaczania składników nieorganicznych jest inny niż dlaprzypadku oznaczania zawartości związków organicznych wpróbce.
2010-10-28
15
Metoda wzorca wewnętrznegoTechnika ID
29
Mj1 Mj2
Mj1 Mj2
M M
WZORZEC(znaczony izotopowo)
Mj1 Mj2
PRÓBKA PRÓBKA Z DODATKIEM
WZORCA
izotopnat
AcA
RF
Metoda wzorca wewnętrznegoTechnika ID
30
natizotop cA
gdzie:
RF – współczynnik odpowiedzi;Aizotop – pole powierzchni piku jonu masowego dla izotopowo
znaczonego analitu obecnego we wzorcu;Anat – pole powierzchni piku jonu masowego dla naturalnie
występującego analitu obecnego we wzorcu;cizotop – stężenie izotopowo znaczonego analitu we wzorcu;cnat – stężenie „naturalnie” występującego analitu we wzorcu;
2010-10-28
16
RT: 17.60 - 35.40
50
60
70
80
90
100 32.58 NL:
3.92E6 m/z= 255.5-256.5+ 325.5-326.5+ 359.5-360.5+ 393.5-394.5 MS A07-1-1
Metoda wzorca wewnętrznegoTechnika ID
31
70
80
90
100 0
10
20
30
40
50
19.41
26.66
NL:9.20E6 m/z= 267.5-268.5+ 337.5-338.5+ 371.5-372.5+ 405 5-406 5
PCB-28*
18 20 22 24 26 28 30 32 34Time (min)
0
10
20
30
40
50
60
29.24 32.5627.2623.87 31.70
34.37
405.5 406.5 MS A07-1-1
PCB-101* PCB-153*
PCB-170*
RT: 17.64 - 35.44
50
60
70
80
90
100 19.43 NL:
9.95E6 m/z= 255.5-256.5+ 325.5-326.5+ 359.5-360.5+ 393.5-394.5 MS st2-3
PCB-28
RT: 17.64 - 35.44
50
60
70
80
90
100 19.43
Metoda wzorca wewnętrznegoTechnika ID
32
70
80
90
100 0
10
20
30
40
50 23.89
27.27
34.39
19.41 NL:8.52E6 m/z= 267.5-268.5+ 337.5-338.5+ 371.5-372.5+ 405 5-406 5
PCB-101
PCB-153
PCB-170
PCB-28*
70
80
90
100 0
10
20
30
40
50 23.89
27.27
34.39
18 20 22 24 26 28 30 32 34Time (min)
0
10
20
30
40
50
60 26.66
23.87 27.26 32.5631.7029.25
34.37
405.5 406.5 MS st2-3
PCB-101* PCB-153*
PCB-170*
18 20 22 24 26 28 30 32 34Time (min)
0
10
20
30
40
50
60
2010-10-28
17
RT: 17.60 - 35.40
50
60
70
80
90
100 19.45
19.36
NL:2.56E7 m/z= 255.5-256.5+ 325.5-326.5+ 359.5-360.5+ 393.5-394.5 MS A11-1-1
PCB-28
Metoda wzorca wewnętrznegoTechnika ID
33
70
80
90
100 0
10
20
30
40
50 23.94 27.34
18.03 21.96 32.6620.63 31.7829.3123.72
29.4428.6618.93
34.46
19.44
26.78
NL:1.71E7 m/z= 267.5-268.5+ 337.5-338.5+ 371.5-372.5+ 405 5-406 5
PCB-101 PCB-153
PCB-170
PCB-28*
18 20 22 24 26 28 30 32 34Time (min)
0
10
20
30
40
50
60 29.29 31.76 32.6427.33
23.93
34.42
405.5 406.5 MS A11-1-1
PCB-101*PCB-153*
PCB-170*
Polega na dodaniu do próbki znanych ilości składnika oznaczanego.
Wykreślenie zależności (wykres kalibracyjny) postaci:
wwx CfS
Metoda dodatku wzorca 34
50
100
150
200
250
300
0
-2 -1,5 -1 -0,5 0 0,5 1 1,5 2 2,5VwVW
x
wwx V
VCC
2010-10-28
18
Metoda prostej normalizacji
Nie jest to metoda kalibracyjna – nie stosuje się próbekwzorca.
Polega na obliczaniu procentowego udziału powierzchni dlakażdego z oznaczanych związków w stosunku do sumarycznej
35
każdego z oznaczanych związków w stosunku do sumarycznejpowierzchni wszystkich pików.
%100
1
n
ix
xx
i
i
i
S
SC
składnik A B C D sumapole powierzchni 850 1210 780 1780 4620Ci 18,4% 26,2% 16,9% 38,5% 100,0%
1i
Metoda normalizacji ze współczynnikami korekcyjnymi
%100
1
n
ixi
xix
i
i
i
SRF
SRFC
36
kł d ik A B C D
)(
)(
obliczonex
znanex
ii
i
S
SRF
składnik A B C D sumapole powierzchni 850 1210 780 1780 4620współczynniki korekcyjne 1 1,25 1,3 1,1 5334,5
C i 15,9% 28,4% 19,0% 36,7% 100,0%18,4% 26,2% 16,9% 38,5%
2010-10-28
19
Wynik oznaczenia albo jest miarodajny, albo można
37
równie dobrze przyjąć jako jego wartość liczbę losową.
38
JAKOŚĆ WYNIKÓWPOMIARÓW
ANALITYCZNYCH
WALIDACJAPROCEDUR
ANALITYCZNYCH
MATERIAŁYODNIESIENIA
BADANIAMIĘDZYLABORATORYJNE
2010-10-28
20
DEFINICJAWalidacja metodyki (ang. method validation) – procesoceny metodyki analitycznej prowadzony w celu zapewnieniazgodności ze stawianymi tej metodyce wymogami,umożliwiający opis tej metodyki oraz pozwalający określić jej
39
umożliwiający opis tej metodyki oraz pozwalający określić jejprzydatność. Walidacja metodyki analitycznej obejmujesprawdzanie ważnych cech charakterystycznych metodyki.
Ostatecznym jej celem jest pewność, iż proces analizyprzebiega w sposób rzetelny i precyzyjny oraz daje miarodajnewyniki.
• Ocena• Zgodność z wymogami• Definicja• Przydatność
Metodyka może zostać poddana procesowi walidacji jedynie wówczas, gdy wcześniej została zoptymalizowana.
40
Najpierw optymalizacja metodyki
Dopiero potem jej walidacjap p j j j
2010-10-28
21
Parametr ICH USP - powtarzalność + + - precyzja pośrednia +
Precyzja
- odtwarzalność +
Zestawienie parametrów metodyki analitycznej podlegającychprocesowi walidacji zalecane przez ICH i USP
41
odtwarzalność +Dokładność + + Granica wykrywalności + + Granica oznaczalności + + Specyficzność/selektywność + + Liniowość + + Zakres pomiarowy + + Odporność +Odporność +Trwałość (ruggedness)/Elastyczność
+
ICH – The International Conference on HarmonizationUSP – The United States Pharmacopoeia
Proces walidacji metodyki analitycznej może byćprzeprowadzony właściwie w dowolnej kolejności (jeśli braćpod uwagę kolejność określania badanych parametrów),jednak najbardziej logicznym wydaje się jej przeprowadzeniezgodnie z poniższym schematem:
określenie selektywności w oparciu o analizę roztworów
42
określenie selektywności w oparciu o analizę roztworówwzorcowych;
wyznaczenie liniowości, granic wykrywalności i oznaczalności,zakresu pomiarowego;
określenie powtarzalności;wyznaczenie precyzji pośredniej;określenie selektywności w oparciu o wyniki uzyskane w trakciey p y y
analiz próbek rzeczywistych;wyznaczenie dokładności na podstawie analizy materiałów
odniesienia na różnych poziomach zawartości;określenie odporności metody – np. na podstawie wyników
porównań międzylaboratoryjnych;
2010-10-28
22
• Dokładność (ang. accuracy) – zgodność pomiędzyuzyskanym wynikiem pomiaru a wartością rzeczywistą
43
uzyskanym wynikiem pomiaru a wartością rzeczywistą(oczekiwaną).
• Poprawność (ang. trueness) – zgodność wyniku oznaczenia(obliczonego na podstawie serii pomiarów) a wartościąoczekiwaną.
• Precyzja (ang. precision) – zgodność pomiędzy niezależnymiwynikami uzyskanymi w trakcie analizy danej próbki zzastosowaniem danej procedury analitycznej.
µ µ
PO
PR
AW
NOŚ
CI
44
ZW
IĘK
SZ
EN
IE P
ZWIĘKSZENIEDOKŁADNOŚCI
µ µ
ZWIĘKSZENIE PRECYZJI
2010-10-28
23
• Zakres pomiarowy (ang. range) – zakres wartości (stężeńanalitu), w którym błąd urządzenia pomiarowego jest poniżej
45
założonego. Coraz częściej jednak określa się go jako zakreswartości stężeń wyznaczonych z założoną precyzją, dokładnościąi niepewnością;
• Liniowość (ang. linearity) – przedział zakresu pomiarowegometodyki analitycznej, w którym sygnał wyjściowy jesty y j, y yg yj y jproporcjonalny do oznaczanego stężenia analitu.
sygnał
46
liniowość???
zawartość
2010-10-28
24
Liniowość wcale nie oznacza, iż w całym zakresie stężeńfunkcja opisująca zależność sygnału wyjściowego od
47
j p ją yg yj gzawartości analitu przyjmuje jedną postać (takie samewartości współczynników krzywej kalibracyjnej).
Liniowość to cecha mówiąca o proporcjonalnej zależnościsygnału od wielkości oznaczanej i może być ona, dladanego zakresu, opisywana kilkoma równaniamidanego zakresu, opisywana kilkoma równaniamiuzależnionymi od poziomu stężeń analitu.
Stosunek sygnału do szumu (ang. Signal to Noise Ratio – S/N):wielkość bezwymiarowa, która określa stosunek sygnałuanalitycznego do średniego poziomu szumów tła dla określonej
48
próbki.
• jego wartość może służyć do określania wpływu poziomu szumuna względny błąd pomiaru;
• najbardziej praktyczną metodą jego wyznaczenia jest stosunekś d i j t t j ii i ó dl ób k śl h (b dźśredniej arytmetycznej serii pomiarów dla próbek ślepych (bądźzawierających analit na bardzo niskim poziomie) do wartościodchylenia standardowego uzyskanego dla tej serii pomiarów;
2010-10-28
25
Granica wykrywalności (ang. Limit of Detection - LOD):najmniejsza ilość lub najmniejsze stężenie substancji (pierwiastka,jonu, związku) możliwe do wykrycia za pomocą danej metodyki czyteż techniki analitycznej z określonym prawdopodobieństwem.
• związana ściśle z określoną procedurą analityczną (jej wartość
49
związana ściśle z określoną procedurą analityczną (jej wartośćliczbowa zależy nie tylko od poziomu zawartości oznaczanegoskładnika, ale również od obecności innych składnikówwystępujących w analizowanej próbce);
• jest najmniejszym stężeniem analitu, przy którym istniejepewność jego obecności w próbce;
ść h k ś• jej wartość charakteryzuje się wymiarem zawartości czy stężenia(takim jak oznaczany analit czyli np. µg/dm3);
• ściśle związana z poziomem szumów stosowanego urządzeniapomiarowego (przyjmuje się, że jej wartość to trzykrotność tegopoziomu szumów);
Granica oznaczalności (ang. Limit of Quantification - LOQ):najmniejsza ilość lub najmniejsze stężenie substancji, możliwe doilościowego oznaczenia daną metodyką analityczną z założonądokładnością i precyzją.
50
• jej wartość jest zawsze wielokrotnością wyznaczonej wartościgranicy wykrywalności – najczęściej: LOQ = 3 · LOD;
• chociaż znane są takie definicje granicy oznaczalności, wktórych jej wartość jest równa 2 · LOD czy też 6 · LOD;których jej wartość jest równa 2 LOD czy też 6 LOD;
2010-10-28
26
Granica wykrywalności stosowanego instrumentupomiarowego (np. detektora) (ang. Instrument Detection Limit -IDL): najmniejsza zawartość oznaczanego analitu jaka może zostać
k t (b il ś i j j i ) d
51
wykryta (bez ilościowego jej oznaczenia) przy pomocy danegourządzenia pomiarowego.
• wartość ta jest z reguły niższa niż wartość granicywykrywalności całej procedury analitycznej i jest wyznaczanana podstawie oznaczania zawartości analitu w sporządzonychroztworach wzorcowych (ślepe próby), bez poddawania tychroztworów całej procedurze analitycznej.
poza zakresem liniowym
wysoka pewność
LOQ101112
52
niska niepewność
LOD23456789
wysoka niepewność
szumy
MB
-3
0
-2-1
12
2010-10-28
27
Obliczanie wartości LOD na podstawie wartości odchyleniastandardowego zbioru sygnałów i kąta nachylenia krzywejkalibracyjnejNajczęściej, wykorzystywana procedura analityczna oparta jest, na etapieoznaczenia końcowego, o zasadę pomiaru pośredniego, czyli takiego dla
53
którego wymagany jest dodatkowy etap procedury analitycznej –kalibracja. W takim przypadku także i ten etap będzie miał wpływ nawartość granicy wykrywalności.
Obliczenie granicy wykrywalności oparte jest w tym przypadku onastępującą zależność:
33
b
sLOD
3,3
gdzie:
b – współczynnik kierunkowy prostej kalibracyjnej;
Wartość odchylenia standardowego - s - można w tym przypadku wyznaczyć wtrojaki sposób:
1. odchylenie standardowe wyników uzyskanych dla serii próbek ślepych;
2. resztkowe odchylenie standardowe krzywej kalibracyjnej, opisywane przezzależność:
2n
54
21
,
n
Yys i
ii
yx
gdzie:sx,y – resztkowe odchylenie standardowe;yi – wartości sygnałów dla danych zawartości analitu, na podstawie
których wyznaczano krzywą kalibracyjną;Yi – wartości sygnałów dla danych zawartości analitu, obliczone na
3. odchylenie standardowe wyrazu wolnego uzyskanej krzywej kalibracyjnej;
i a tośc syg a ó d a da yc a a tośc a a tu, ob c o e apodstawie uzyskanej krzywej kalibracyjnej;
n – ilość roztworów wzorcowych poddawanych oznaczeniu w celu wyznaczenia krzywej kalibracyjnej;
2010-10-28
28
Czułość (ang. sensitivity) –1) stosunek zmiany sygnału wyjściowego urządzenia
pomiarowego do wywołującej ją zmiany stężenia analitu;
55
p g y ją j ją y ę ;2) pojęcie określające, jaka najmniejsza różnica zawartości analitu
może być stwierdzona za pomocą konkretnej metodyki (jestto nachylenie wykresu kalibracyjnego: sygnał w funkcjistężenia);
3) zdolność do wykrywania (analiza jakościowa) i oznaczaniaś ś ń ó(analiza ilościowa) małych ilości (stężeń) analitu w próbce;
56
ał
zakres
liniowość
syg
na
nachylenieczułość
liniowość
zawartość analitu
wyraz wolny
LOD LOQ
2010-10-28
29
Precyzja, powtarzalność, precyzja pośrednia, odtwarzalność
• Precyzja (ang. precision) – zgodność pomiędzy niezależnymiwynikami uzyskanymi w trakcie analizy danej próbki zzastosowaniem danej procedury analitycznej.
• Powtarzalność (ang repeatability) – precyzja wyników
57
• Powtarzalność (ang. repeatability) precyzja wynikówuzyskanych w tych samych warunkach pomiarowych (danelaboratorium, analityk, instrument pomiarowy, odczynniki).
• Precyzja pośrednia (ang. intermediate precision) –długoterminowe odchylenie procesu pomiarowego, do któregowyznaczenia wykorzystuje się odchylenie standardowe seriipomiarów uzyskanych w danym laboratorium w kilkutygodniowympomiarów uzyskanych w danym laboratorium w kilkutygodniowymokresie czasu. Precyzja pośrednia jest pojęciem szerszym odpowtarzalności.
• Odtwarzalność (ang. reproducibility) – precyzja wynikówuzyskanych w różnych laboratoriach z zastosowaniem danejmetody pomiarowej.
Warunki prowadzenia pomiarów analitycznych jakie muszą byćzachowane w trakcie wyznaczania powtarzalności, precyzjipośredniej i odtwarzalności
Warunek Powtarzalność Precyzja pośrednia
Odtwarzalność
Aparatura S Z Z
58
pPartia akcesoriów S Z ZAnalityk S Z ZSkład matrycy Z Z ZStężenie Z Z ZPartia odczynników S Z ZWarunki laboratoryjne S Z ZWarunki laboratoryjne (temperatura wilgotność)
S Z Z
Laboratorium S S Z
S – konieczność zachowania stałości parametruZ – możliwość zmiany danego parametru