93
VIK Lezing: Sensortechnologie Detecteren wordt meten

Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Embed Size (px)

Citation preview

Page 1: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

VIK Lezing: SensortechnologieDetecteren wordt meten

Page 2: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 2

Overzicht

1. Inleiding2. Materiaaldetectie3. Voor veraf en kortbij4. Rotatiesnelheid en hoekverdraaiing.5. Helling en versnelling6. De link naar buiten.7. Vragen & bedenkingen

Page 3: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 3

1. Een korte historiek

1958 : De eerste contactloze sensor

Page 4: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 4

1. Toepassingsdomeinen voor sensoren

Fabrieksautomatisering- stukgoedbehandeling, material handling- automobielindustrie- mobile equipement- verpakkingindustrie & druknijverheid- ...

Procesautomatisering- chemie- farmaceutica / life science- voedingsnijverheid- ...

Page 5: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 5

1. Sensortechnologie in moderne machines:

Rendenmentsverbetering

Flexibiliteit

Nieuwe trends:

Steeds meer sensoren met meer mogelijkheden.

Hogere automatiseringsgraad

Page 6: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 6

1. Welke principes voor welke toepassingen.

Inductieve sensoren

Magnetische sensoren

Capacitieve sensoren

Optische sensoren

Ultrasoon-sensoren

Draaiimpuls-gevers

Materiaal Enkel metalen Enkel magneten

Geleidende en niet geleidende producten

Reflecterende doorzichtige tot transparante objecten

Reflecterende objecten

-

Schakelafstand Kort(0,6 tot 75mm)

Kort(20 tot 60 mm)

Kort (4 tot 20 mm)

Groot (van 4mm tot 250m)

Middelgroot (van 100mm tot 10m)

Omgevings-factoren

Magnetische velden

Magnetische velden

Elektrische velden

Omgevingslicht & vervuiling

Ultrasoon geluid

Trillingen

Schakel- frequentie

Hoog Hoog Hoog Zeer hoog Laag Zeer hoog

Bouwvorm Standaard en fabricant specifiek

Standaard en fabricant specifiek

Standaard en fabricant specifiek

Fabricant specifiek

Fabricant specifieke

Standaard en fabricant specifiek

Andere Prijsgunstig - - Hoge precisie All round sensor

-

Page 7: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 7

2. Materiaaldetectie

Inductieve koppeling

Magnetische velden

Elektrische velden

Magnetische permeabiliteit

Magnetische flux

Diëlektricum

Oscillerende RLC-keten

Relatief kort bereik

Page 8: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 8

2. Werkingsprincipe inductieve sensoren

L

Rv

C

Veréénvoudigd schema RLC-keten.

V

2V

V

2V

R1

CLQ is R

CL voor ,

R

RCL

LC Qfactor Kwaliteits

Q

f

Geen bedempingsvaanIjzer-houdende bedempingsvaanNon ferro metalen

Schakelpunt

ZR Rev

Page 9: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 9

2. Blokschema inductieve sensoren

Onbedempt Bedempt

Page 10: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 10

2. Schakelafstanden en reductiefactoren

Su min. Su min. + HysteresisSr min.

Object

Sn

Sr max.

Su max.

Sr min. + Hysteresis

Sn + HysteresisSr max. + HysteresisSu max. + Hysteresis

Sa

Steel Fe 360 (St37) (1)

Stainless steel V2A (0.65 ... 0.85)

Bronze (0.25 ... 0.55)

Aluminium (0.2 ... 0.5)Copper (0.15 ... 0.45)

sa

Page 11: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 11

2. Toepassing: standmelding grijper

Page 12: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 12

2. Toepassing: standmelding kleppen

Klepstanddetectie

Open-oplossing

Page 13: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 13

2. De aanloop naar inductieve positiebepaling.

V

2V

R

RCL

LC Q

Page 14: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 14

2. Inductieve positiebepaling

Target

U[V]

Page 15: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 15

2. Opbouw inductieve positiesensor

Page 16: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 16

2. Werking inductieve positiesensor

Elektrisch signaal

I/U

x

transfertfunctie

Fysische opname

Positiedetectievaan

Analoge uitgang

Page 17: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 17

2. Analoog signaal: inductieve positiesensor

4.0mA

20.0mA

meetbereik (80mm)

Page 18: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 18

2. Digitaal signaal: inductieve positiesensor

0V / 4mA 10V / 20mA

0V

Ub (-0,7)

S1 S2

0mm x-positie (S1)

x-positie (S2)

Absolute X – positie [mm]

schakelvensterX-positie ± 1mm, hysteresis ± 0.4mm

venster ± 1mm

hystresis 0.4mm

target

Page 19: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 19

2. Alternatief voor de nokkenschakelaar

Page 20: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 20

2. Gecodeerde inductieve positiebepaling

Page 21: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 21

2. Magnetische sensoren

KernAmorf metaal

Behuizing Aansluitkabel

Page 22: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 22

2. Toepassing magnetische sensoren

Formatering cylinderwand

Veldrichting zonder magneet

Veldrichting met magneet

Page 23: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 23

2. Capacitieve sensoren

s

Sensor elektroden

AfschermingObject

C = f(0, r, A, s-1)

Page 24: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 24

2. Selectieve detectie met capacitieve sensoren

Page 25: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 25

3. Voor veraf en kortbij

Fotocellen

Ultrasone sensoren

Kortbij & veraf

Hoge schakelfrequenties

Ongevoelig voor vuile & stoffige omgeving

Uitgebreide functionaliteit

Ruim detectiegebied

Licht

Geluid

Page 26: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 26

3. Blokschema fotocellen

Zender

Ontvanger

Signaal-omvormer

Eindtrap

LED, IRED, Laser diode

Fotodiode, fototransistor, CCD, PSD

Page 27: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 27

3. Gescheiden zender en ontvanger

Zender Ontvanger

Object

Page 28: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 28

3. Reflector fotocellen.

zender

ontvanger

object

refector

Page 29: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 29

3. Reflector fotocellen, polarisatiefilter

Page 30: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 30

3. Directe reflectie

zender

ontvangerObject

Detectiebereik

Page 31: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 31

3. Diffuse reflectie, energetische taster.

Page 32: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 32

3. Directe reflectie, achtergrond onderdrukking

NF

T

detectie onderdrukking

Page 33: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 33

3. Optische afstandsmeting

Faseverschuiving Looptijdmeting

Triangulatie

Page 34: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 34

3. Triangulatie

Triangulatie hoek

OntvangerZender

Page 35: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 35

3. Faseverschuiving

t

t

t

UEXO

R

Ulim

Uemit

Ureceiv

e

t~

Output signal of the limiting amplifier

Ud

Emitter and receiver signal

nfcsm

4

Meetprincipe• Het uitgezonden licht wordt frequentie-

gemodulleerd. (MHz)• Het licht dat door het object wordt weerkaatst

komt terug bij de ontvanger en is in fase verschoven.

• De hoek van de faseverschuiving wordt gebruikt om de afstand te bepalen.Met φmax = 360° of 2π

Eigenschappen• Mogelijk ontstaan foutdetecties (na 360°

faseverschuiving) • Afstanden groter dan 200 meter kunnen enkel

met complexe frequentie modulatie bereikt worden

• Laser wordt constant belast.

Page 36: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 36

3. Pulse ranging technology

ncts

2

c = lichtsnelheidn = refractie indexs = afstand∆t = tijdsverschil

t

t

Δt

Verzonden signaal

Ontvangen signaal

Page 37: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 37

3. Opbouw optische afstandsmeting met PRT

Object

Interface

Ontvangen

Zender

Timer

startsstops

Oscillator

Page 38: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 38

3. Toepassingen optische afstandsmeting

Page 39: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 39

3. Metende fotocellen

Diffuse sensor in combinatie met het triangulatieprincipe:• Ontvanger is een rij van fotodiodes• µ-processor en software sturen de zender aan en verwerken de

informatie van de ontvanger.

Page 40: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 40

Position sensitive device. Zwart/wit verschil is niet helemaal

uitgesloten

Beperkte bereik: de lichtspot moet altijd op het near/far-element vallen.

Minder geschikt voor elektronische afregeling.

Photo diode array Geen zwart/wit verschil

Grotere schakelhysteresis

Ideaal voor elektronische afregeling

Verschillende schakelpunten mogelijk.

3. PSD versus diode array

Page 41: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 41

3. Opbouw metende fotocel

Photo diode array

Zender

PCB met- µProcessor- IO-Link interface

Page 42: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 42

3. Reflectorfotocellen met meervoudige zender

Page 43: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 43

Betrouwbare en consistente detectie van de voorzijde van het object, onafhankelijk van vorm, textuur of ligging!

3. Voordurend visueel contact

Page 44: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 44

3. Karakteristieken

Page 45: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 45

3. Industriëele beeldverwerking

Flexibiliteit/performantie

Inte

grat

ie/k

ostp

rijs

- Smart sensor, intelligenter sensor- Complexere sensor/fotocel

Vision Sensor• Toepassingsgerichte sensoren• Instelbaar

Smart Camera /Compact Vision System

- Intelligente cameras- Compacte visie systemen

• Toepassingsgerichte sensoren• Instelbaar / programmeerbaar

Vision System

- Vrij toepasbaar, polyvalent- PCgebaseerde systemen

• vrij instelbaar• programmeerbaar

Page 46: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 46

3. Visiesensoren: toepassingsbereik

Volledigheidscontrole Objectherkenning Positiebepaling

Instelbare Visie sensorvoor het uitvoeren van volgende controles:

Page 47: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 47

3. Visiesensoren met geïntegreerde belichting

Page 48: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 48

3. Visiesensoren met geïntegreerde belichting

Page 49: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 49

3. Visiesensoren met geïntegreerde belichting

Page 50: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 50

3. Visiesensoren met externe belichting

Page 51: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 51

3. Visiesensoren met externe belichting

Page 52: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 52

3. Verwerkingsalgoritmes voor visiesensoren

Page 53: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 53

3. Visiesensoren voor positionering

Vervuild oppervlak Zuiver oppervlak

Zwak contrast Sterk contrast

Page 54: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 54

3. 3D Visiesensoren

Page 55: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 55

3. Ultrasone sensoren, werkingsprincipe

Transducer

Ontkoppellaag

PUR schuim Piëzokristal

Ultrasone-transducer

Signaal-omvormer

Eindtrap

Page 56: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 56

3. Ultrasone transducer

Opgewekt signaal

Weerkaatst signaal

Verzondensignaal

Page 57: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 57

3. Ultrasone sensoren: Frequentiespectrum

Page 58: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 58

3. Directe reflectie bij ultrasone sensoren.

Single head type

Zender en ontvanger zitten in dezelfde behuizing (transceiver). Het object wordt als reflector gebruikt.

Eigenschappen:

Schakelbereik is afhankelijk van de vorm, grootte, opvlakte ruwheid en richting van het object.

Page 59: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 59

3. Directe reflectie bij ultrasone sensoren.

Double head type

Zender en ontvanger zitten in verschillende behuizingen. Objectenkunnen enkel gedetecteerd worden op het snijpunt (gebied) van de aslijnen van zender en ontvanger. Het object wordt als reflector gebruikt.

Eigenschappen:

• Schakelbereik is afhankelijk van de vorm, grootte, opvlakte ruwheid en richting van het object.

• Detectie van kleine objecten• Achtergrond onderdrukking• Geen dode zone

Page 60: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 60

3. Ultrasone looptijdmeting

2cts

object

Afstand van het object s

Sensortheen

tterug

)( terugheen ttt

)))(((

Ultrasone impuls

C = 344 m/s geluidssnelheid in lucht bij 20°C

tcs

Page 61: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 61

3. Oscillogram looptijdmeting

1) Verzonden signaal

2) Echo

3) Schakelniveau

Page 62: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 62

3. Detectiecurve

Page 63: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 63

3. Storende echo’s

Object

Storend object

Sensor

Page 64: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 64

3. Oscillogram storende echo

1) Echo afkomstig van het object

2) Storende echo

3) Schakelniveau

Page 65: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 65

3. Oscillogram: adaptief schakelniveau

1) Echo afkomstig van het object

2) Storende echo

3) Schakelniveau

Page 66: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 66

3. Ultrasone zender/ontvanger barrière

Zender en ontvanger worden tegenover elkaar opgesteld. Het object onderbreekt hetuitgezonden ultrasone signaal.

Eigenschappen:

• Groot bereik• Zeer bedrijfszeker• Hogere installatiekost

Page 67: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 67

3. Ultrasone reflector

Zender en ontvanger zitten in dezelfde behuizing.Het ultrasone geluid wordtgereflecteerd door een vaste achtergrond die gebruikt wordt alsreflector.Het object wordt gedetecteerd dooreen gewijzigde afstand of het verlies van signaal door absorptie of afbuiging.

Eigenschappen:• Slechts 1 aansluiting• Betrouwbare detectie van zelfs

grillige objecten.• Zeer bedrijfszeker

Page 68: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 68

3. Dubbele laagdetectie

De dubbele laagdetectie is gebaseerd op de configuratie van gescheiden zender en ontvanger.

De verzwakking van het ultrasone signaal wordt gemeten. Een verschil kan gemaakt worden tussen geen, één enkele en een dubbele laag.

Een microprocessor verwerkt het signaal en stuurt de overéénkomstige uitgang.

Page 69: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 69

Niveaudetectie vultrechter verwerkingsinstallatie steenafval. (breker)

3. Toepassingen ultrasone sensoren

Page 70: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 70

3. Toepassingen ultrasone sensoren

Page 71: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 71

4. Rotatiesnelheid en hoekverdraaing

Page 72: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 72

4. Draaiimpulsgevers

Lichtbron

Schijf met openingen

Opname element

Lichtstraal

Page 73: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 73

4. Incrementeel

Page 74: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 74

4. Magnetische incrementeel impulsgever

Poolwiel

Opnemer

Page 75: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 75

4. Absoluut; singleturn - multiturn

Photodiode

Gecodeerdeschijf

LED

As

Reductor

tastvenster

Photodiode

Gecodeerdeschijf

LEDAs

Page 76: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 76

4. Bouwvormen voor impulsgevers

Page 77: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 77

A: Massa-veersysteem B: thermische opnemer C: vloeistofsysteem

5. Inclinatiemeting

Page 78: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 78

5. Vergelijking meetprincipes voor inclinatiemeting

Technologie Voordeel NadeelMEMS - groot aanbod

- snel <1000Hz- Lage schokweerstand- Eigenfrequentie typisch tussen 1,5k-6kHz

Thermische opnemer

- Hoge schokweerstand- Geen oscillatie- Trillingsongevoelig

- klein aanbod- traag <20Hz

Vloeistof- systeem

- Hoge resolutie- Trillingsongevoelig

- duur- groot- 360° onmogelijk

Page 79: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 79

5. MEMS technologie – veréénvoudige voorstelling

Page 80: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 80

FN FN = m x g

9,81 m/s2

m

5. MEMS technologie – veréénvoudige voorstelling

Page 81: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 81

FN

5. MEMS technologie – veréénvoudige voorstelling

Page 82: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 82

FN

5. MEMS technologie – veréénvoudige voorstelling

Page 83: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 83

5. MEMS technologie - grootte

~ 2mm

~ 2mm

Page 84: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 84

5. MEMS technologie - grootte

Page 85: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 85

5. Toepassing als accelerometer, trillingsopnemer

FN

m

Page 86: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 86

6. Signaalsoorten voor sensoren

pnp type

Uitgang

last

BN/3

BU/4

+ 24 VDC

Load

Page 87: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 87

6. Signaalsoorten voor sensoren in ATEX bereik

Page 88: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 88

6. Aansluittechniek

Ventielstekkers M12-multiports

M8 Multiports

InbouwadaptersY- / T-aftakkingen M23 en 7/8“ aansluitingen

Buskabel

Confectioneerbare aansluitingen

Aangegoten stekkerskabels M12

Page 89: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 89

6. AS-interface

Page 90: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 90

6. Inzetbaarheid AS-interface

Geïntegreerde oplossingAS Interface Safety

Bekabeling metAS Interface

Conventionelebekabeling

AS Interface MasterNaar

PLC

AS Interface MasterNaar

PLCI/O

I/O

NaarPLC

Page 91: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 91

6. IO link

Page 92: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 92

7. Vragen & bedenkingen.

Uw kontakt:Luc BervoetsPepperl+Fuchs N.V.Metropoolstraat 11B-2900 Schoten (Belgium) Tel. +32 (0)3 641 85 74Fax +32 (0)3 644 24 41Mob. +32 (0)496 268 999Email : [email protected] www.pepperl-fuchs.be

Page 93: Sensortechnologie detecteren wordt meten (NL)

Maart 2011 L.Bervoets pagina 93

Hartelijk dank!