68
TECHNICKÁ UNIVERZITA V KOŠICIACH STROJNÍCKA FAKULTA ANALÝZA PÓROVITOSTI MATERIÁLOV POMOCOU METROTOMOGRAFIE Diplomová práca 2014 Bc. Darina GLITTOVÁ

TECHNICKÁ UNIVERZITA V KOŠICIACH - diplomovka.sme.skdiplomovka.sme.sk/zdroj/3814.pdf · Predhovor Počítačová tomografia je účinná metóda, ako neinvazívne detekovať pórovitosť

  • Upload
    buinhu

  • View
    224

  • Download
    0

Embed Size (px)

Citation preview

TECHNICKÁ UNIVERZITA V KOŠICIACH

STROJNÍCKA FAKULTA

ANALÝZA PÓROVITOSTI MATERIÁLOV POMOCOU

METROTOMOGRAFIE

Diplomová práca

2014 Bc. Darina GLITTOVÁ

TECHNICKÁ UNIVERZITA V KOŠICIACH

STROJNÍCKA FAKULTA

ANALÝZA PÓROVITOSTI MATERIÁLOV POMOCOU

METROTOMOGRAFIE

Diplomová práca

Študijný program: Biomedicínske inžinierstvo

Študijný odbor: 5.2.47 Biomedicínske inžinierstvo

Školiace pracovisko: Katedra biomedicínskeho inžinierstva a merania (KBIaM)

Školiteľ: Dr.h.c. prof. Ing. Jozef Živčák, PhD.

Konzultant: Ing. Teodor Tóth,PhD.

2014 Košice Bc. Darina GLITTOVÁ

Abstrakt v SJ

Cieľom tejto práce bolo analyzovať pórovitosť, resp. inklúzie vzoriek z vybraných

materiálov pomocou metrotomografie. Hlavnou zložkou prob lému bola správna

metodika softvérového spracovania nameraných údajov získaných počítačovou

tomografiou na zariadení Carl Zeiss Metrotom 1500. Pri rôznych nastaveniach

vstupných parametrov sa zisťoval predpokladaný výstup na známom súbore defektov.

Porovnanie vplyvov nastavení na výsledkov vyhodnotenia má pomôcť pri nastavovaní

parametrov pre vyhodnotenie defektov v priemyselných aplikáciách.

Kľúčové slová

Defektoskopia, pórovitosť, počítačová tomografia

Abstrakt v AJ

The aim of this work was to analyze the porosity or inclusions samples from

selected materials using metrotomografie. The main component of the problem was

correct methodology of software processing of the measured data acquired by computed

tomography equipment Carl Zeiss METROTEL 1500. For various settings of the input

parameters was investigated expected output to a known set of defects. Comparison of

the effects of setting on results of the assessment should help in setting parameters for

evaluation of defects in industrial applications.

Kľúčové slová v AJ

Defectoscopy, porosity, computed tomography

Čestné vyhlásenie

Vyhlasujem, že som túto diplomovú prácu napísala samostatne pod odborným

vedením a použila som iba uvedenú literatúru.

Košice, 9. máj 2014 ..........................................

vlastnoručný podpis

Poďakovanie

Moje poďakovanie patrí predovšetkým konzultantovi práce, Ing. Teodorovi

Tóthovi PhD, za jeho rady, pomoc a hlavne trpezlivosť pri častých konzultáciách.

Taktiež Ing. Monike Michalíkovej PhD- vedúcej Diplomového projektu, za jej rady

ohľadom formy práce a p. Ferdinandovi Filickému za pomoc pri výrobe vzoriek. Moje

poďakovanie patrí aj doc. Ing. Jánovi Slotovi, PhD. a Ing.Ivanovi Gajdošovi, PhD. z

Katedry technológií a materiálov za poskytnutú pomoc pri výrobe vzoriek.

Predhovor

Počítačová tomografia je účinná metóda, ako neinvazívne detekovať pórovitosť

a iné defekty nielen v konštrukčných materiáloch, ale aj v biomedicínskych vzorkách.

Jeden z hlavných dôvodov, prečo som si vybrala túto tému je reálna potreba vyriešiť

otázku ako veľmi ovplyvňuje softvérové nastavenie a následné spracovanie výsledný

obraz defektoskopickej skúšky.

Táto problematika bola, okrem iného, podrobnejšie prediskutovaná aj v práci

„Vplyv skenovacích parametrov počítačovej tomografie na odhadovanú pórovitosť

penových vzoriek“.

Cieľom bolo detailne preskúmať ponúkané nastavenia skenovacích parametrov

a následne zvoliť ich najoptimálnejšie hodnoty pre každé skenovanie daného problému.

Obsah

Zoznam obrázkov ............................................................................................................ 9

Zoznam tabuliek............................................................................................................ 11

Úvod................................................................................................................................ 12

1 Defektoskopia .......................................................................................................... 13

1.1 Ultrazvuková defektoskopia ................................................................................ 15

1.2 Prežarovacie metódy – RTG defektoskopia ........................................................ 16

1.3 Magnetická defektoskopia ................................................................................... 17

1.4 Kapilárne metódy................................................................................................. 19

1.5 Metóda akustickej emisie a holografické metódy ............................................... 20

1.6 Analýza chemického zloženia ............................................................................. 21

1.7 Pórovitosť a mikročistota materiálu .................................................................... 22

1.7.1 Pórovitosť materiálov .................................................................................. 22

1.7.2 Mikročistota materiálu a inklúzie ................................................................ 24

2 Návrh a výroba vzoriek na snímanie ..................................................................... 25

2.1 Rapid prototyping ................................................................................................ 25

2.1.1 Využitie metód Rapid Prototyping .............................................................. 25

2.1.2 RP technológia FusedDeposition Modeling ................................................ 25

2.1.3 Technické údaje použitého RP ..................................................................... 26

2.2 Laserové spekanie................................................................................................ 27

2.2.1 Technické údaje použitého SLS prístroja .................................................... 29

2.3 Návrh testovaných vzoriek .................................................................................. 30

2.3.1 Dizajn vzoriek pre plast ............................................................................... 30

2.3.2 Dizajn vzoriek pre keramiku........................................................................ 32

2.3.3 Dizajn vzoriek z epoxidu na testovanie inklúzií .......................................... 33

3 Návrh metodiky snímania ...................................................................................... 36

3.1 Metrotomografia .................................................................................................. 36

3.1.1 Počítačová tomografia v priemysle .............................................................. 36

3.1.2 Spôsob získavania dát .................................................................................. 36

3.1.3 Možnosti využitia metrotomografie............................................................. 37

3.1.4 Metrotom OS................................................................................................ 39

3.1.5 Nastavenie parametrov samotného snímania ............................................... 40

4 Softvérové spracovanie ........................................................................................... 42

4.1 VGStudio MAX ................................................................................................... 42

4.2 Analýza pórovitosti/inklúzií ................................................................................ 43

4.3 Nastavované parametre........................................................................................ 45

5 Vyhodnotenie ........................................................................................................... 47

5.1 Vzorky získané metódou Rapid Prototyping z plastu.......................................... 47

5.2 Vzorky získané metódou laserovým sinterovaním z keramiky ........................... 49

5.3 Vzorky z epoxidu na testovanie inklúzií ............................................................. 49

5.3.1 Spracovanie surových výsledkov defektoskopie ......................................... 51

5.3.2 Spracovanie upravených výsledkov defektoskopie ..................................... 59

6 Záver......................................................................................................................... 64

Zoznam použitej literatúry .......................................................................................... 65

Prílohy ............................................................................................................................ 67

SjF KBIaM

9

Zoznam obrázkov

Obr. 1 RTG snímka zvarového spoja [4] ................................................................... 17

Obr. 2 Test súčiastky „Koliesko“ magnetickou indukčnou metódou [4] ................... 18

Obr. 3 Povrch súčiastky po skúške kapilárnou metódou [4] ...................................... 19

Obr. 4 Princíp holografickej metódy [4] .................................................................... 21

Obr. 5 Diamant s inklúziou fialovočerveného granátu [19] ....................................... 24

Obr. 6 Schéma technológie FDM [6] ......................................................................... 26

Obr. 7 Popis princípu SLS [13] .................................................................................. 27

Obr. 8 3D model vyrobených vzoriek ........................................................................ 30

Obr. 9 Prierez vzorkou ............................................................................................... 30

Obr. 10 Schéma usporiadania defektov vo vzorke ....................................................... 31

Obr. 11 Vzorky vytvorené na prístroji Rapid Prototyping ........................................... 31

Obr. 12 Model vzorky pre keramiku ............................................................................ 32

Obr. 13 Znázornenie vrstiev defektov v objeme vzorky .............................................. 32

Obr. 14 Vrstvy defektov v objeme vzorky ................................................................... 33

Obr. 15 Schéma epoxidovej vzorky ............................................................................. 33

Obr. 16 Znázornenie inklúzií v objeme vzorky............................................................ 34

Obr. 17 Epoxidová vzorka s duroplastovými inklúziami............................................. 35

Obr. 18 Epoxidová vzorka s inklúziami sekaného oceľového drôtu ........................... 35

Obr. 19 Epoxidová vzorka s inklúziami oceľového granulátu.................................... 35

Obr. 20 Epoxidová vzorka s inklúziami sklenených guľôčiek .................................... 35

Obr. 21 Porovnanie používateľského prostredia softvérov Calypso a VGStudio

Max [14][15] ................................................................................................... 38

Obr. 22 Vlastné vzorky umiestnené v prípravku, pripravené na snímanie .................. 40

Obr. 23 Pracovné prostredie VGStudio Max [2] ......................................................... 42

Obr. 24 Príklad vyhodnotenia inklúzií v softvéri VGStudio Max[18]......................... 44

Obr. 25 Inšpekčná správa defektoskopickej analýzy ................................................... 44

Obr. 26 Používateľské rozhranie defektoskopickej analýzy, program VGStudio

Max ................................................................................................................. 46

Obr. 27 Vzorka zosnímaná Metrotomom 1500 ............................................................ 47

Obr. 28 Vzorky vytvorené technológiou Rapid Prototyping bez namodelovaných

pórov ............................................................................................................... 47

Obr. 29 Stratégia výroby „D“....................................................................................... 48

Obr. 30 Stratégia výroby „M“ ...................................................................................... 48

Obr. 31 Stratégia výroby „04“...................................................................................... 49

SjF KBIaM

10

Obr. 32 Porovnanie kombinácií parametrov pre vzorku s inklúziami veľkosti

0,3-0,5 mm ...................................................................................................... 54

Obr. 33 Porovnanie kombinácií parametrov pre vzorku s inklúziami veľkosti

0,4-0,6 mm ...................................................................................................... 55

Obr. 34 Porovnanie kombinácií parametrov pre vzorku s inklúziami veľkosti

0,4-0,8 mm ...................................................................................................... 56

Obr. 35 Porovnanie kombinácií parametrov pre vzorku s inklúziami veľkosti

0,6- 1mm ......................................................................................................... 57

Obr. 36 Graf korelácie medzi výstupnými parametrami inšpekčnej správy ................ 58

Obr. 37 Vizuálne porovnanie rôznych kritérií pravdepodobnosti pri rovnakom

filtri redukcii šumu na jednej vzorke (1-Vzorka pred analýzou

defektoskopie, 2-HC, 3-HG, 4-HP,5-HS) ....................................................... 59

Obr. 38 Vizuálne porovnanie rôznych filtrov redukcii šumu pri rovnakých

kritériách pravdepodobnosti jednej vzorky (1-Vzorka pred analýzou

defektoskopie, 2-HC, 3-LC, 4- MC) ............................................................... 60

Obr. 39 Histogram pre hodnoty pravdepodobnosti vzorky po odstránení

falošných potvrdení......................................................................................... 62

Obr. 40 Histogram pre hodnoty pravdepodobnosti vzorky po odstránení

falošných potvrdení......................................................................................... 62

Obr. 41 Histogram pre hodnoty pravdepodobnosti vzorky po odstránení

falošných potvrdení......................................................................................... 63

Obr. 42 Histogram pre hodnoty pravdepodobnosti vzorky po odstránení

falošných potvrdení......................................................................................... 63

SjF KBIaM

11

Zoznam tabuliek

Tab. 1 Technické vlastnosti použitého prístroja Fortus 400 MC [11] ....................... 27

Tab. 2 Technické vlastnosti prístroja CeraFab 7500 [10] .......................................... 29

Tab. 3 Porovnanie merných hmotností jednotlivých zložiek vzoriek ........................ 34

Tab. 4 Technické vlastnosti Metrotomu 1500 ............................................................ 39

Tab. 5 Nastavované parametre snímania jednotlivých vzoriek .................................. 41

Tab. 6 Legenda pre nadchádzajúce grafy porovnaní parametrov .............................. 50

Tab. 7 Popisné štatistiky vzorky s inklúziou o veľkosti 0,3-0,5mm .......................... 52

Tab. 9 Popisné štatistiky vzorky s inklúziou o veľkosti 0,4-0,6 ................................ 52

Tab. 8 Popisné štatistiky vzorky s inklúziou o veľkosti 0,4-0,8mm .......................... 52

Tab. 10 Popisné štatistiky vzorky s inklúziou o veľkosti 0,6-1mm ............................. 53

Tab. 11 Zdrojová tabuľka údajov pre histogramy č 38 až 41 ...................................... 61

SjF KBIaM

12

Úvod

Úlohou tejto diplomovej práce bolo hlbšie sa zoznámiť s algoritmami

a skenovacími nastaveniami Metrotomu CZ1500, rovnako ako aj následnými

vyhodnocovacími parametrami a charakteristikami. Keďže už existuje vedecká štúdia

[20] zaoberajúca sa vplyvom hardvéru na získane výsledky, táto práca je smerovaná

viacej na nastavenie a určovanie hodnôt v softvéri VGStudio Max, ktoré vykonáva

dátovú analýzu skenovaného materiá lu.

Začiatok práce je venovaný teoretickému úvodu do problematiky defektoskopie ,

jej foriem a metód používaných v praxi.

Druhá kapitola popisuje návrh a postup výroby 3 skupín vzoriek, na snímkach

ktorých bude defektoskopia vykonávaná. Každý typ vzoriek je navrhovaný na výrobu

inou technologickou cestou.

V tretej kapitole je podrobnejšie popísaný snímací systém Carl Zeiss Metrotom

1500 a jeho softvér- Metrotom OS. Táto časť je dôležitá z hľadiska určenia presných

snímacích hodnôt, ktoré majú vplyv na následnú analýzu defektov.

Štvrtá kapitola sa zaoberá softvérom VGStudio Max a jeho parametrami

a nastaveniami. Popis jednotlivých funkcií dokáže pomôcť pri výbere nastavovaných

parametrov, ktorých vplyv na výsledok samotnej defektoskopie je najviac poznačený.

Vo vyhodnotení je slovne aj graficky popísaný výsledok tejto práce, ktorý je

záverom zhrnutý.

SjF KBIaM

13

1 Defektoskopia

„Defektoskopia je vedný odbor, ktorý skúma nedeštruktívnymi spôsobmi defekty

v materiáloch a výrobkoch, resp. predpovedá vznik možností materiálových porúch v

prevádzke. V praxi nie je možné vytvoriť ideálne dokonalý materiál a z neho dokonalý

výrobok. V celom výrobnom procese sa môžu v materiáloch a výrobkoch vyskytovať

poruchy, ktoré vznikajú vo výrobnom procese alebo počas prevádzky.

Defekt je také porušenie materiálu alebo výrobku, ktorého povaha, tvar, rozmery a

priestorová orientácia môžu pôsobiť negatívne pri jeho využívaní.

Defektoskopia sa stáva v súčasnosti nástrojom kvality výrobku. Niektoré bežné

výrobky vyžadujú len čiastočnú kontrolu, iné dôležité, až 100% kontrolu. Podmienka

kvality výrobkov je základným predpokladom úspešnosti ich predaja, pričom účinným

nástrojom na kontrolu kvality sú i nedeštruktívne metódy skúšania materiálov. Ich

aplikácia umožňuje zavedenie 100% kontroly kvality materiálov vstupujúcich do

výrobného procesu, tak výrobkov po vybraných technologických operáciách.

Spoločným znakom všetkých metód využívaných defektoskopiou je aplikácia

takých fyzikálnych princípov, ktoré skúšaný objekt mechanicky ani tepelne nepoškodia.

Tieto metóda sa nazývajú nedeštruktívne defektoskopické skúšky.

Nedeštruktívne defektoskopické skúšky umožňujú:

- Zistiť viditeľné povrchové i skryté povrchové a vnútorné chyby, ktoré porušujú

celistvosť alebo menia vlastnosti materiálu

- Včasným zistením chybných polovýrobkov a výrobkov v procese výroby ich

vyradiť z ďalšieho výrobného procesu, čím sa ušetria náklady na ich ďalšie

spracovanie

- Vyradením chybných častí sa zabráni poruche celého zariadenia, a tým predísť

väčšej škode

- Odhaliť skryté defekty nadkritickej veľkosti, ktoré môžu vyvolať náhle

porušenie zariadenia, predchádzať tak vzniku havárií

- Defektoskopia umožňuje používať výpočtové metódy v konštrukcii založené

na existencii defektov, a tak dosiahnuť optimálne využitie materiálu“ [7]

„Mechanická vlastnosť je správanie sa materiálu telesa za pôsobenia vonkajších

mechanických síl. Toto správanie výrazne závisí od typu materiálu telesa, jeho

SjF KBIaM

14

rozmerov a tvaru a tiež od prítomnosti či neprítomnosti chýb v telese. Inak sa bude

správať pri rovnakých podmienkach plast, kaučuk, kovový materiál, sklo, keramika,

zložený materiál atď. Z toho dôvodu sa pri stanovovaní mechanických vlastností musí

brať na tieto okolnosti zreteľ, takže v konečnom dôsledku budú vytvárané rozdielne

podmienky pre rozličné typy materiálov včítane tvaru a rozmerov skúšobných vzoriek.

Často sa pri jednom type materiálu zisťuje vlastnosť, ktorá pri inom type materiálu

prakticky neexistuje, iné vlastnosti sú univerzálne pre takmer všetky typy materiálov.

Prítomnosť defektov výrazne vplýva na vlastnosti materiálu, predovšetkým v

oblasti odolnosti proti krehkému lomu. Z toho dôvodu je potrebné detekovať

prítomnosť trhlín v materiáli, vedieť určiť ich lokalizáciu a veľkosť. Na to slúžia

nedeštruktívne defektoskopické skúšky. Používajú sa na všetky typy materiálov, pričom

nie je možné použiť každú metódu na ľubovoľný materiál, nakoľko niektoré metódy

vyžadujú určité vlastnosti materiálu.

Určenie mechanických vlastností pomocou mechanických skúšok a zistenie

prítomnosti porúch defektoskopiou umožňuje bezpečné a ekonomické využívanie

technických materiálov na výrobu strojov, prístrojov, konštrukcií a iných zariadení.“ [7]

Fyzikálne princípy defektoskopických metód

„ V súčasnosti sa v defektoskopii používajú najmä tieto fyzikálne princípy :

- Princíp kapilarity a zmáčanie skúšaného predmetu polárne aktívnou kvapalinou

- Magnetická indukcia vo feromagnetických materiáloch

- Akustické princípy (šírenie mechanického vlnenia telesom)

Všeobecný princíp každej defektoskopickej metódy spočíva v indikácii skúšaného

predmetu príslušným fyzikálnym médiom a v registrácii výsledku pôsobenia média na

predmet. Podľa uvedených princípov rozlišujeme :

- Kapilárne

- Magnetoinduktívne

- Ultrazvukové

- Prežarovacie skúšobné metódy

- Chemické skúšky.“ [7]

SjF KBIaM

15

1.1 Ultrazvuková defektoskopia

Definícia a vlastnosti ultrazvuku

„Ultrazvuk je pružné mechanické vlnenie hmotného prostredia s vyššou

frekvenciou ako je frekvencia zvuku počuteľného ľudským uchom. Hraničná frekvencia

ľudskej počuteľnosti je 16 kHz. Ultrazvukové vlny možno vytvoriť mechanicky,

tepelne, piezoelektricky alebo magnetostrikčne.

V defektoskopii sa používa piezoelektrický spôsob, ktorý sa zakladá na princípe

rozkmitania kremíkovej platničky vysokofrekvenčným prúdom. Platnička je vyrobená z

kryštálu kremeňa, turmalínu alebo zo Seignetovej soli takým spôsobom, aby jej dve

plochy boli kolmé na elektrickú os kryštálu. Mriežka kremeňa sa skladá z molekúl SiO2.

Každý atóm kremíka má 4 pozitívne a atóm kyslíka 2 negatívne elektrické náboje. Ak je

kryštál stlačený v smere polárnych osí (X1, X2, X3), rovnováha nábojov sa navonok

poruší a na oboch povrchoch kryštálu vznikne voľný náboj opačného znamienka. Ťah

vyvolá náboje opačnej polarity než tlak. Tento piezoelektrický jav je vratný, tzn., že

keď sa privedie na povrch kryštálu elektrický náboj, nastane jeho deformácia podľa

veľkosti a polarity privedeného náboja. Aby sa elektrické náboje rozdelili rovnomerne

po celom povrchu kryštálov, pokrýva sa povrch vrstvou katódovo rozprášeného striebra.

Privedením striedavého napätia vysokej frekvencie sa platnička mechanicky rozkmitá s

totožnou frekvenciou. Keď sa zhoduje frekvencia striedavého prúdu s vlastnou

frekvenciou platničky, nastáva rezonancia, pričom pružné kmity dosahujú najväčšiu

amplitúdu.

V defektoskopii sa využívajú tieto základné vlastnosti ultrazvuku :

- schopnosť priamočiareho prenikaniami tuhými látkami

- schopnosť odrážať sa na rozhraní dvoch prostredí

Prechodom a odrazom ultrazvukových vĺn na rozhraní dvoch hmotných prostredí

je napr. skúšaný materiál a trhlina. Charakteristickou vlastnosťou prostredia pre prechod

ultrazvuku je akustický vlnový odpor.“ [1]

Metódy ultrazvukovej defektoskopie

„Pri prechode tuhým prostredím sa ultrazvukové vlny odrážajú na prekážkach

(defektoch) alebo sa ohýbajú, rozptyľujú a tým čiastočne tlmia. Z hľadiska

defektoskopie je potrebné voliť také podmienky skúšky, aby sa dali zistiť defekty

SjF KBIaM

16

nadkritickej veľkosti. Ak je veľkosť defektu v rovine kolmej na smer šírenia

ultrazvukových vĺn, nastáva odraz vĺn od defektu. Hodnota λ je vlnová dĺžka vlnenia

určená vzťahom, pričom c je rýchlosť ultrazvuku a f jeho frekvencia.“ [1]

„Vysielanie a prijímanie ultrazvukovej energie sa robí sondami, ktoré pomocou

elektroakustického meniča premieňajú elektrickú energiu na ultrazvukové vlnenie a

opačne.

Podľa tvaru elektroakustického meniča môžu byť sondy :

- kruhové

- polkruhové

- pravouhlé

Podľa konštrukcie sa sondy rozdeľujú na :

- priame- vysielajú vlny kolmo na skúšaný povrch

- uhlové- vysielajúce vlny šikmo k povrchu

- dvojité- obsahujúce 2 elektroakustické meniče - vysielací a prijímací

Ultrazvuková elektroskopia sa uskutočňuje viacerými skúšobnými metódami.

Najviac sa používajú odrazové a prechodové metódy.

Prechodová metóda sa zakladá na princípe vysielania ultrazvukových vĺn do jednej

strany skúšaného predmetu a zachytávania úbytku ultrazvukovej energie na druhej

strane.

Ultrazvuk sa najčastejšie používa pri kontrole veľkých rotorov parných turbín,

elektrických generátorov, hriadeľov, valcov valcových stolíc, výkovkov, odliatkov,

zvarov, a pod. “[1]

1.2 Prežarovacie metódy – RTG defektoskopia

„Využívajú sa najmä pre kontrolu a zisťovanie vnútorných chýb zvarov a

odliatkov. Princíp metódy je známy najmä z oblasti zdravotníctva, kde sa využíva pre

detekciu chorobných stavov kostí a orgánov.

Röntgenové žiarenie (röntgenové lúče, X lúče) je elektromagnetické žiarenie v

rozsahu vlnových dĺžok od 1 nanometra do 100 pikometrov. Vzniká prudkým

SjF KBIaM

17

zabrzdením urýchlených elektrónov (brzdné žiarenie) alebo prechodom elektrónov na

nižšie energetické hladiny v atóme (charakteristické žiarenie). „[4]

„Prežarovanie umožňuje detekciu vnútorných nehomogenít materiálu pomocou

interferencie neviditeľného γ-žiarenia s hmotou. Rozdielne zoslabenie intenzity žiarenia

vplyvom vnútorných nehomogenít spôsobí zobrazenie diverzít na RTG film. Pri

prežarovaní je potrebný prístup ku kontrolovanej časti z dvoch protiľahlých strán. Film

sa fotochemický spracuje mokrou cestou, a preto treba počítať s časovou rezervou na

vyvolanie a usušenie snímku a následné vyhodnotenie prežarovanej oblasti (obr.č.1).

Využívané γ-žiarenie má ionizačný charakter, ide vlastne o formu rádioaktívneho

žiarenia, preto pre prácu s ním platia prísne bezpečnostné predpisy a pri práci sa vo

vytýčenej oblasti nesmie nachádzať žiadny personál.„[4]

Obr. 1 RTG snímka zvarového s poja [4]

1.3 Magnetická defektoskopia

„Magnetická defektoskopia využíva zmeny intenzity alebo rozptylu magnetického

poľa v mieste nehomogenity (chyby alebo defekty). Metóda je vhodná pre skúšanie

povrchu skúšaného materiálu alebo vrstiev ležiacich tesne pod povrchom skúšaného

materiálu. Keďže metóda využíva magnetické vlastnosti materiálov, je pomocou nej

možné testovať iba feromagnetické látky, t.j. železo, ocele (okrem austenitických),

nikel, kobalt a gadolínium (gadolínium - Gd je kujný a ohybný kov vzácnych zemín).

Princíp všetkých magnetoinduktívnych metód sa zakladá na zisťovaní rozptylu

magnetického poľa v mieste defektov nachádzajúcich sa na povrchu alebo tesne pod

povrchom skúšaného predmetu. „[4]

SjF KBIaM

18

„Skúšaný predmet sa vystaví účinku magnetického poľa. Homogenita

magnetických siločiar v objeme predmetu závisí od homogenity jeho magnetickej

vodivosti. Ak sú v ceste magnetického toku nejaké prekážky, ktoré majú inú

permeabilitu ako základný materiál, vzniká v mieste prekážky rozptylové magnetické

pole.

Magnetická defektoskopia používa prakticky dve metódy:

- skúška magnetickým práškom,

- indukčná metóda.

Pri skúške magnetickým práškom mokrou metódou sa na povrch skúšaného

materiálu nanesie suspenzia, tvorená jemne rozomletým práškom Fe3O4, olejom a

petrolejom. Pri pôsobení magnetického poľa sa zrniečka suspenzie Fe3O4 preskupia do

tvaru magnetických siločiar, ktoré sú od seba rovnako vzdialené rovnobežné priamky

alebo sústredné kružnice. V mieste výskytu chyby dôjde k zhusteniu siločiar a tým k

„zviditeľneniu“ chyby v skúšanom materiáli. Poloha, veľkosť a tvar chyby však nie sú

známe. Ak má byť táto kontrola dokonalá je potrebné skúšaný predmet zmagnetizovať v

dvoch na seba kolmých smeroch. To sa dosiahne pomocou prístrojov, ktoré umožňujú

magnetizáciu medzi pólmi tzv. pozdĺžnu a priečnu magnetizáciu.

Pri indukčnej metóde sa pohybujúcou sondou (prípadne cievkou) zisťuje rozptyl

magnetického poľa, ktorý vzniká nad miestom chyby. Výhodou tejto metódy je veľká

citlivosť indikácie chýb. Jej nevýhodou je pomerne úzka možnosť použitia. Možno ju

použiť iba na skúšanie predmetov konštantného prierezu. Na obr.č.2 je ako príklad

zobrazený test súčiastky magnetickou indukčnou metódou.„[4]

Obr. 2 Test súčiastky „Koliesko“ magnetickou indukčnou metódou [4]

SjF KBIaM

19

„Nevýhodou magnetických metód je, že v skúšanom predmete ostáva určitý

permanentný magnetizmus, ktorý je v niektorých prípadoch nežiaduci. Tieto časti preto

treba odmagnetovať, čo sa robí v demagnetizátoroch. Najčastejšie sa demagnetizuje

prechodom zmagnetovaného predmetu cez otvorenú cievku napájanú striedavým

prúdom. Zmenšovaním amplitúdy striedavého prúdu sa zmenšuje aj amplitúda

magnetického toku a predmet sa v cievke zbavuje remanentného magnetizmu. „ [4]

1.4 Kapilárne metódy

„Kapilárne metódy využívajú principiálne vzlínavosť a zmáčavosť vhodných

kvapalín (penetrantov), ktorými sa pokryje povrch skúšaných materiálov. Ako

penetranty sa používajú kvapaliny s nízkym povrchovým napätím (oleje, petroleje).

Detekčná kvapalina (penetrant) vzlína (vniká) do necelistvostí vychádzajúcich na

skúšaný povrch. Po ukončení vnikania do chýb sa z povrchu odstráni prebytočný

penetrant. Na takto vyčistený povrch sa nanesie vývojka, ktorá zabezpečí vyvzlínanie

penetrantu z chyby na povrch. Takto je vytvorená na skúšanom povrchu stopa (farebná

príp. florescenčná) chyby, ktorá je hodnotená vizuálne. Na obr.č.3 je povrch súčiastky

po kapilárnej skúške s povrchovou chybou, ktorá je viditeľná až vďaka aplikácii

detekčnej kvapaliny. „[4]

Obr. 3 Povrch súčiastky po skúške kapilárnou metódou [4]

„Kapilárne metódy sa najlepšie osvedčujú pri plošných chybách typu trhlín,

studených spojov, zdvojenín a podobne.

SjF KBIaM

20

Kapilárnymi metódami možno skúšať:

- kovové materiály - austenitické ocele, farebné, ľahké kovy a ich zliatiny a iné,

- nekovové materiály - plastické hmoty, glazovaná keramika, sklo a iné.

Pre kapilárne metódy nie sú vhodné pórovité materiály. „ [4]

1.5 Metóda akustickej emisie a holografické metódy

„Metóda akustickej emisie patrí medzi najmodernejšie defektoskopické metódy

testovania materiálov a konštrukcií. Je založená na snímaní elastického vlnenia, ktoré

vzniká v dôsledku dynamických procesov objavujúcich sa v materiáli pri jeho

zaťažovaní vnútornými alebo vonkajšími silami. Môže sa realizovať buď počas

tlakových skúšok, alebo aj priamo pri reálnej prevádzke testovanej súčasti. Metóda

akustickej emisie umožňuje sledovať kumuláciu poškodenia, priebeh plastickej

deformácie, iniciáciu a šírenie trhliny, rôzne fázové transformácie, korózne deje, ale i

napr. prúdenie tekutín apod.

Vzniknuté vlnenie je sledované na povrchu skúšaného materiálu prostredníctvom

snímačov, ktoré ju transformujú na elektrický signál. Bežné zariadenia pre metódu

akustickej emisie využívajú piezoelektrické snímače pracujúce v oblasti 100 kHz až do

cca 2 MHz. Takto vytvorený signál je spracovávaný a vyhodnocovaný pomocou

výpočtovej techniky.

Metóda akustickej emisie je vhodná najmä pre netradičné materiály, kde iné

metódy neprinášajú uspokojivé výsledky, ako napr. pre duplexné a austenitické ocele,

zhúževnatené keramické materiály, polymérne kompozity a podobne. Akustická emisia

umožňuje sledovanie defektov s citlivosťou takmer nedosiahnuteľnou inými metódami.

Za dolnú hranicu veľkosti detekovanej poruchy sa obvykle považujú parametre

kryštálovej mriežky skúšaného materiálu.

Holografické metódy využívajú schopnosti interferencie koherentného svetelného

toku s fázovo posunutým odrazom tej istej vlnovej dĺžky. Metóda využíva ako zdroj

svetelnej energie laser.“[4] Princíp je zobrazený na obr.č.4.

SjF KBIaM

21

Obr. 4 Princíp holografickej metódy [4 ]

„Zväzok laserových lúčov je rozdelený tak, že jedna časť smeruje k skúmanému

predmetu, od ktorého sa odráža a dopadá na fotografickú dosku, a druhá časť dopadá na

fotografickú dosku priamo. Vzápätí je skúmaný predmet podrobený deformácii

pôsobiacej veľmi malé zmeny na jeho povrchu a rovnakým systémom je odraz

zachytený na tej istej fotografickej doske. Po vyvolaní dosky sa získa hologram s

dvoma signálmi odpovedajúcimi dvom fyzikálnym stavom skúmanej súčiastky. Po

rekonštrukcii hologramu možno buď kvalitatívne vizuálne alebo kvantitatívne pomocou

výpočtovej techniky vyhodnotiť povrchové zmeny sledovaného predmetu a odhaliť

rôzne nekvalitné spoje, vnútorné napätia, mechanické a štruktúrne vruby a únavu

materiálu súčiastky. Deformácia predmetu je docielená jednoduchým ohybom,

krútením, zmenou tlaku vnútornej náplne, ohrevom, vibráciou a pod. Nevýhodou

holografickej metódy je, že skúšaná plocha musí byť vizuálne prístupná, inak sa metóda

nedá aplikovať.“ [4]

1.6 Analýza chemického zloženia

„Pre zisťovanie chemického zloženia konštrukčných materiálov existuje celý rad

spektroskopických metód. Pre kovy a ich zliatiny je najvhodnejšia atómová emisná

spektrometria. Chemické zloženie sa zisťuje na povrchu skúšaného materiálu (alebo

vzorky), ktorý musí byť elektricky vodivý. V princípe ide tiež o nedeštruktívnu metódu,

pretože proces analýzy zanechá na testovanom povrchu iba nepatrnú stopu, ktorá môže

byť problematická iba pri funkčných plochách s predpísanou malou drsnosťou alebo pri

plochách, kde sú dôležité aj estetické kritériá.[4]

SjF KBIaM

22

„Medzi testovanou plochou a elektródou analyzátora horí elektrický oblúk, ktorý

pohltí malú časť objemu skúšaného materiálu. Elektróny skúšaného materiálu sa

dostanú vďaka energii elektrického oblúka do tzv. excitovaného stavu, t.j. vysunú sa zo

svojich pôvodných valenčných vrstiev do vyšších vrstiev. Pri návrate na pôvodné vrstvy

vyžiaria tieto elektróny svetelnú energiu so špecifickou vlnovou dĺžkou, ktorá je meraná

spektrálnym analyzátorom. Podľa nameraných vlnových dĺžok (tzv. spektrálnych čiar)

je možné zistiť percentuálny podiel chemických prvkov, vyskytujúcich sa v testovanej

vzorke.

Analýza chemického zloženia je východiskom pri riešení väčšiny technických a

technologických problémov súvisiacich s materiálom a používa sa najmú ak:

- je potrebné identifikovať a prípadne aj klasifikovať materiál podľa existujúcich

materiálových noriem,

- je potrebné skontrolovať, či nedošlo k zámene materiálu,

- je potrebné skontrolovať kvalitu aplikácie určitej technológie (tepelné a

chemicko-tepelné spracovanie, odlievanie a pod.),

- je potrebné preveriť, či materiál je vhodný pre spracovanie určitou technológiou

(či je zvariteľný, či sa dá tepelne spracovať a pod.).“ [4]

1.7 Pórovitosť a mikročistota materiálu

1.7.1 Pórovitosť materiálov

Testy pórovitosti pre priemysel sú zadefinované v podnikovej norme VW50097,

podľa ktorej budú definované parametre v nasledujúcej časti.

Vysvetlenie systému označenia

Systém označenia sa skladá z nasledujúcich parametrov:

- Triedy pórovitosti

o S pre komponenty zaťažované prevažne statickým namáhaním

o D pre komponenty zaťažované prevažne dynamickým namáhaním

o F pre komponenty so špecifickými požiadavkami na funkčné plochy

o G pre komponenty s bližšie nešpecifikovanými požiadavkami

SjF KBIaM

23

- Pórovitosť je definovaná ako:

o maximálna prípustná pórovitosť v percentách pre triedy pórov S, D a G

o maximálny prípustný počet definovaných pórov na referenčnom

povrchu pre triedu pórov F

- Priemer

o maximálny prípustný porovnávací priemer jednotlivých pórov

- Ďalšia poznámka

Prezentácia zápisu:

(trieda pórovitosti)(pórovitosť)/[priemer]/[ďalšia poznámka]/... /[ďalšia poznámka]

Skúšobné postupy

Testovacia metóda závisí na špecifikáciách z výkresu.

- Trieda pórovitosti S: test mikrosekcii s kvalitou povrchu Rz ≤ 25

- Trieda pórovitosti D: test na mikrosekciu metalurgických povlakov

- Trieda pórovitosti F: test funkčného povrchu podľa výkresu

- Trieda pórovitosti G: rádiografický test RTG žiarením

Selekcia a veľkosť referenčnej plochy

Pre hodnotenie dosadacej plochy je referenčná plocha vybraná v závislosti na

lokálnej šírke použitého tesnenia popísaného vo výkresoch.

Oblasti so špecifickou pórovitosťou sa vyhodnocujú na fotofilm, video alebo RTG

systémom. Kombinácia trubíc, detektorov a/alebo filmu, radiačných parametrov a

zobrazovacej jednotky, by mala vždy zaručiť kontrastné rozlíšenie aspoň 6% ožarovanej

celkovej hrúbky steny telesa. RTG systém musí byť schopný detekovať pórovitosť

aspoň o 15% menšiu, ako je maximálna dovolená pórovitosť zapísaná na výkrese. Ak

maximálna prípustná pórovitosť nie je definovaná na výkrese, dá sa použiť nasledujúci

systém vzťahov:

Maximálny rozmer póru = 1mm

Maximálna pórovitá oblasť = 0,8 mm2

SjF KBIaM

24

1.7.2 Mikročistota materiálu a inklúzie

„Pod pojmom mikročistota materiálu rozumieme obsah iného typu materiálu v

jeho štruktúre. Inklúzie v rôznej miere ovplyvňujú mechanické a technologické

vlastnosti materiálu. Ich vplyv je vždy nežiaduci. Kontrola mikročistoty

východiskového materiálu je dôležitou časťou hodnotenia metalografického výbrusu.

Pri určovaní mikročistoty materiálu z metalografického hľadiska je potrebnú použiť tú

časť výbrusu, ktorá zachytáva priemerné znečistenie materiálu (na obr.č.5 je príklad

inklúzie cudzieho materiálu v diamante), resp. nedeštruktívne presvecovanie

techniky.“[4]

Obr. 5 Diamant s inklúziou fialovočerveného granátu [19]

SjF KBIaM

25

2 Návrh a výroba vzoriek na snímanie

2.1 Rapid prototyping

„Rapid Prototyping slúži na automatizovanú výrobu fyzických modelov pomocou

tzv. Pridávacích výrobných technológií. Prvé techniky pre Rapid Prototyping sa začali

využívať koncom 80.rokov najmä na výrobu modelov a prototypov súčiastok. V

súčasnosti sa používajú pre široké spektrum aplikácií a využívajú sa aj na výrobu

finálnych súčiastok v menších množstvách.

Technológie Rapid Prototyping využívajú virtuálne modely vytvorené pomocou

systémov počítačom podporovaného navrhovania CAD, transformujú ich do virtuálnych

tenkých horizontálnych častí a potom vytvárajú po sebe idúce vrstvy až do ukončenia

výroby modelu. Využívaním prídavnej technológie výrobný stroj načítava dáta z CAD

systému a následne vytvára vrstvy z kvapaliny, prášku alebo tenkého voskového

materiálu a takto tvorí model z množiny prierezov. Tieto vrstvy, ktoré zodpovedajú

virtuálnym prierezom CAD modelu, sa automaticky spájajú do finálnej podoby.

Základnou výhodou technológií Rapid Prototyping je ich schopnosť vytvoriť takmer

akýkoľvek tvar alebo geometrický útvar.“ [5]

2.1.1 Využitie metód Rapid Prototyping

„Súčasná počítačová podpora výroby a aplikácia CA systémov je charakteristická

tým, že výrobky ktoré sú pomocou nich navrhované a majú sa vo veľkej miere uplatniť

na trhu, musia sa nevyhnutne vyznačovať nasledujúcimi vlastnosťami:

- dostatočná funkčnosť a komplexnosť,

- dostupná cena,

- používateľská prístupnosť a ľahká ovládateľnosť.“ [5]

2.1.2 RP technológia FusedDeposition Modeling

„Pri zariadeniach využívajúcich technológiu tvorby modelov pomocou

usadzovania a vytvrdzovania taveniny – FusedDeposition Modeling – sa z

vyhrievaného hrotu riadenej vytláčacej hlavy, ktorá sa pohybuje v rovine v smere osi x

a osi y, vytláča vlákno z nataveného termoplastu vo forme tenkých nití na základňu

SjF KBIaM

26

zariadenia, kde sa vytvára prvá vrstva prototypu. Nižšia teplota základne spôsobuje

rýchle stuhnutie a stvrdnutie roztaveného materiálu termoplastu. V ďalšom kroku

dochádza k zníženiu polohy základne o predpísanú hodnotu, čo umožní vytláčacej hlave

ukladať druhú vrstvu prototypu na stuhnutú prvú vrstvu (obr.č.6). Na spevnenie a

ustavenie súčiastky sa využívajú podpory z menej pevného materiálu, alebo z

rovnakého materiálu, ale v perforovanom vyhotovení. „[5]

Obr. 6 Schéma technológie FDM [6]

„Ako materiál sa v týchto prototypovacích zariadeniach najčastejšie využíva ABS–

Acrylonitrilebutadienestyrene (štandardné, alebo zdravotne neškodné vyhotovenia),

elastomer (96 durometer), polykarbonát, polyfenolsulfon a liaty vosk.“ [5]

2.1.3 Technické údaje použitého RP

Na výrobu vzoriek so zadefinovaným tvarom bol použitý prístroj Fortus 400 MC,

nachádzajúci sa v Laboratóriu Rapid Prototyping na Katedre technológií a materiálov

(tab.č.1).

SjF KBIaM

27

Tab. 1 Technické vlastnosti použitého prístroja Fortus 400 MC [11]

Použitý materiál Polycarbonate

Maximálny rozmer výrobku (XYZ) 355 x 254 x 254 mm

Hrúbka vrstvy 0,178mm

2.2 Laserové spekanie

„Selective Laser Sintering (SLS) je označenie procesu aditívnej výroby alebo 3D

tlače. Technológiu vyvinuli v polovici osemdesiatych rokov vedci na texaskej univerzite

v Austine, ktorí následne založili spoločnosť DTM zameranú na výrobu SLS strojov.

Výrobok vzniká tavením práškového materiálu (tým môže byť napr. plast, kov,

keramika alebo sklo), ktorý je po tenkých vrstvách spekaný po ploche rezov podľa

digitálneho modelu vysoko výkonným laserom. Najprv je nanesená vrstva prášku v

celej ploche platformy. Následne stroj tento materiál predhreje na teplotu blízku jeho

bodu topenia, aby laseru umožnil využiť všetku jeho energiu ku spečeniu materiálu na

ploche vytváraného modelu. Akonáhle laser ožiari príslušnú plochu, klesne staviaca

platforma o hrúbku jednej stavebnej vrstvy nižšie, nanesie sa ďalšia vrstva materiálu a

takto sa celý proces opakuje až do dokončenia výrobku. Výhodou tohto postupu, kedy

je vytváraný model neustále obklopený zvyškovým práškovým materiálom, je

eliminácia potreby dočasnej podpory (obr.č.7).“[8]

Obr. 7 Popis princípu SLS [13]

SjF KBIaM

28

„SLS technológia dokáže poskytnúť výrobky porovnateľných kvalít ako

konvenčné výrobné metódy - na rozdiel od nich však môže z kovu, keramiky alebo

ďalších materiálov vytvárať i veľmi zložité štruktúry.“ [8]

Oxid Al2O3

„Korundová keramika, alebo keramika na báze Al2O3 je čo do objemu výroby

najrozšírenejším materiálom spomedzi oxidovej konštrukčnej keramiky. Je široko

využívaná v aplikáciách, ktoré vyžadujú vysokú tvrdosť, oteruvzdornosť, chemickú

odolnosť (veľmi dobrá odolnosť voči kyselinám a zásadám), možnosť použitia pri

vysokých teplotách. Nevýhodou je jej slabšia odolnosť voči teplotným šokom a

relatívne vysoká krehkosť. Korund je lacná, ľahko vyrobiteľná keramika. Vyrábajú sa z

neho zapaľovacie sviečky, elektrické izolátory a keramické substráty pre mikroobvody.

Obyčajne sa vyrába lisovaním a spekaním prášku. Čistý korund je biely a s nečistotami

môže byť ružový alebo zelený. Maximálna pracovná teplota sa zvyšuje s narastajúcim

obsahom korundu. Korund je dobrý elektrický izolant, má vysokú mechanickú pevnosť,

dobrú odolnosť voči abrázii a teplote do 1650 °C, výbornú chemickú stabilitu a dobrú

tepelnú vodivosť, ale limitovanú odolnosť voči tepelným rázom. Oxid chrómu sa

pridáva na zvýšenie odolnosti voči abrázii, kremičitan sodný na zlepšenie spracovania.

Konkurenčné materiály sú MgO, SiO2 a bórokremičitánové sklo.“[9]

Vlastnosti Al2O3

„V súčasnosti sa na získavanie oxidu hlinitého a medziproduktu pre elektrolytickú

výrobu hliníka z bauxitov používa takmer výlučne tzv. Bayerov proces. Po úprave

bauxitovej suroviny nasleduje lúženie:

Al2O3 + 3H2O + 2NaOH + teplo → 2NaAl(OH)4

Železo, kremík a titán z bauxitu ostávajú v nerozpustnom podiele a oddeľujú sa

usadzovaním a filtráciou ako červený kal. Vyčírený roztok hlinitanu sodného sa zriedi,

ochladí na 50 až 70°C a mieša s veľkým množstvom jemných zŕn gibbsitu - Al(OH)3. V

styku so zárodkovými kryštálmi s veľkou plochou povrchu vykryštalizuje vo forme

gibbsitu asi polovica hliníka z celkového množstva, ktoré roztok obsahuje. Po kalcinácii

vzniká Al2O3.“ [9]

SjF KBIaM

29

Materiálové výhody Al2O3

„Korund je jedným z najdôležitejších oxidových keramických materiálov. Pri

čistote 99,9%, má vynikajúce mechanické, chemické a elektrické vlastnosti, ktoré sú

vhodné pre široký rozsah aplikácií.

- Vysoká tvrdosť a pevnosť

- Teplotná odolnosť

- Vysoká odolnosť proti oteru

- Odolnosť proti korózii “ [10]

2.2.1 Technické údaje použitého SLS prístroja

„Softvér, ktorý bol navrhnutý firmou LITHOZ, začína demontážou CAD modelu

na jednotlivé vrstvy. Informácie sú potom odovzdávané do stroja, ktorý stavia na diely

vrstvu po vrstve.

CeraFab 7500 je navrhnutý takým spôsobom, že v závislosti na požiadavkách

konštrukcie, je možné vybrať hrúbku vrstvy medzi 25 µm a 100 µm. S CeraFab 7500 je

možné realizovať veľmi jemnej vrstvy o hrúbke 25 µm vo veľmi dobrej kvalite. Systém

môže vytvoriť 100 vrstiev za hodinu. Pri hrúbke vrstvy 50 µm je možné dosiahnuť

rýchlosť budovania 5 mm/h (tab.č.2). „[10]

Tab. 2 Technické vlastnosti prístroja CeraFab 7500 [10]

Materiál Vysoko špecializovaný oxid hliníka

Hustota ˃ 3,96 g/cm3 (99,4% T.D.)

Bočné rozlíšenie 40 μm (635 dpi)

Rýchlosť vytvárania Maximálne 100 vrstiev za hodinu

Hrúbka rezu 25 – 100 μm

Počet pixelov (X,Y) 1920 x 1080

Maximálny rozmer výrobku (X,Y,Z) 76 mm x 43 mm x 150 mm

Formát dát .stl (binary)

Zdroj svetla LED

SjF KBIaM

30

2.3 Návrh testovaných vzoriek

Testované vzorky boli dimenzované v softvéri Solid Works tak, aby vyhovovali

požiadavkám experimentu. Prvotné vzorky mali detekovať rozlišovaciu schopnosť

použitého metrotomu. Na následne navrhované vzorky boli kladené požiadavky:

- Čo najmenší obsah materiálu (ekonomické hľadisko)

- Defekty vyrobiteľné na dostupnom prístroji

2.3.1 Dizajn vzoriek pre plast

Vzorky mali tvar kvádra s rozmermi 14x3,2x5mm (obr.8, obr.č.11).

Obr. 8 3D model vyrobených vzoriek

Defekty (valce) boli umiestnené v objeme vzorky a to všetky v jednej rovine,

približne v polovici šírky vzorky (obr.9).

Obr. 9 Prierez vzorkou

Šírka valcov sa rovná hrúbke jednej vrstvy použitého materiálu, t.j. 0,178mm.

Priemery valcov sú odlišné- od 0,1 až 1,2 mm (obr.10).

SjF KBIaM

31

Obr. 10 Schéma us poriadania defektov vo vzorke

Veľkosť priemeru poslúži ako referenčný parameter výrobného prístroja, t.z. aké

najmenšie priemery valcov sú vyrobiteľné na konkrétnom dostupnom Fortus 400 MC a

súčasne aj zosnímateľné Metrotomom.

Tento tvar bol použitý z dôvodov:

- Otestovanie vyrobiteľnosti vzorky na danom prístroji Fortus 400 MC podľa

STL modelu

- Porovnanie STL modelu s výstupom z Metrotomografu

Následne sa vzorky zosnímajú metrotomom tak, aby bolo možné vykonať

softvérové spracovanie programom VGStudio MAX.

Obr. 11 Vzorky vytvorené na prístroji Rapid Prototyping

SjF KBIaM

32

2.3.2 Dizajn vzoriek pre keramiku

Tvar vzorky vytvorenej z hliníkovej keramiky sa líši od vzorky vyrobenej metódou

Rapid Prototyping. Hlavným dôvodom je veľkosť vrstvy vyrobiteľnej laserovým

sinterovaním príslušným prístrojom. Vzorka má tvar zrezaného ihlana (obr. 12). Na

vrchole je kváder s valcom z dôvodu určenia polohy po nasnímaní.

Obr. 12 Model vzorky pre keramiku

Vzorka má v objeme 4 druhy defektov, ktoré sú rozmiestené po jednotlivých

vrstvách (obr. 13). Vrstvy sú od seba vzájomne vzdialené 3,5mm. Miery na

nasledujúcich obrázkoch sú mm.

Obr. 13 Znázornenie vrstiev defektov v objeme vzorky

SjF KBIaM

33

Na každej vrstve v objeme je namodelovaný iný typ defektov (obr.14). Na prvej

vrstve A-A sa nachádzajú valce s rôznym priemerom a výškou 0,2mm. Na druhej vrstve

B-B sa nachádzajú rovnostranné trojuholníky o rovnakej výške 0,2mm. Na tretej vrstve

C-C sú štvorce o výške 0,2mm a na poslednej vrstve sú gule s rôznym priemerom.

Obr. 14 Vrstvy defektov v objeme vzorky

2.3.3 Dizajn vzoriek z epoxidu na testovanie inklúzií

Na defektoskopiu, metódou inklúzií, boli namodelované vzorky z epoxidu a

dentacrylu. Porovnaním mernej hmotnosti týchto dvoch materiálov neboli zistené

markantné rozdiely. Preto pri rozhodovaní, ktorý materiál použiť, sa vybral epoxid,

vďaka jeho transparentnosti. Tá umožňuje vizuálnu kontrolu inklúzií aj počas procesu

vytvárania vzoriek.

„Dentacryl je dvojzložková metylmetakrylátová živica na odlievanie určená na

technické použitie. Podľa druhu použitej tekutiny tuhne samovoľne a prechádza do

hmoty podobnej organickému sklu.“[16]

„Epoxidová živica alebo polyepoxid je živica, z chemického hľadiska polymér z

trojčlenných cyklov dvomi atómami uhlíka a jedným atómom kyslíka. Vyrába sa

polykondenzáciou viacsýtnych fenolov s epoxidovou skupinou. Používa sa vďaka svojej

dobrej priľnavosti a tvrdosti na výrobu lepidiel a epoxidových lakov.“ [17]

Vzorka má tvar kvádra s rozmermi 20mmx10mmx20mm (obr.č.15).

Obr. 15 Schéma epoxidovej vzorky

SjF KBIaM

34

V objeme vzorky, približne na ploche v polovici šírky, boli umiestnené inklúzie.

(obr.č.16). Inklúzny materiál bol zvolený tak, aby bol rozdiel mernej hmotnosti epoxidu

s materiálom čo možno najväčší, a zároveň, aby bol skúmaný rozdielny rozmer zrna

(tab.č.3).

Obr. 16 Znázornenie inklúzií v objeme vzorky

Tab. 3 Porovnanie merných hmotností jednotlivých zložiek vzoriek

Materiál Merná hmotnosť [g/cm3]

Veľkosť zrna [mm]

Epoxid 1,15 (základný materiál)

Dentacryl 1,2 (základný materiál)

Duroplast (obr.č.17) 1,3-1,4 0,6 – 1

Sekaný oceľový drôt (obr.č.18)

7 0,4 - 0,6

Oceľový granulát (obr.č.19)

7 0,4 – 0,8

Sklenené guľôčky

(obr.č.20)

2,4-2,8 0,3- 0,5

SjF KBIaM

35

Obr. 17 Epoxidová vzorka s duroplastovými inklúziami

Obr. 18 Epoxidová vzorka s inklúziami sekaného oceľového drôtu

Obr. 19 Epoxidová vzorka s inklúziami oceľového granulátu

Obr. 20 Epoxidová vzorka s inklúziami sklenených guľôčiek

SjF KBIaM

36

3 Návrh metodiky snímania

3.1 Metrotomografia

„Počítačová tomografia (CT) je pojem známy najmä v oblasti medicíny.

Počítačová tomografia sa však v posledných rokoch dostala aj do oblasti priemyselnej.

Donedávna bolo využitie počítačovej tomografie v priemysle obmedzené väčšinou na

kontrolu materiálu, z dôvodu nedostatočnej presnosti. Moderné meracie stroje zlučujúce

metrológiu a tomografiu, dokážu nedeštruktívnym spôsobom snímania získať z jediného

skenovania informácie o vonkajšej geometrii aj objemu súčiastky s vysokou

presnosťou. Kombináciou presných polohovacích mechanizmov, odmeriavací

systémov, röntgenového detektora s vysokým rozlíšením a výkonnej výpočtovej

techniky je možné získať vysoko presné dáta o meranej súčiastke počas krátkej doby, a

to aj bez jej porušenia.“[3]

3.1.1 Počítačová tomografia v priemysle

„Metrotomografia nachádza uplatnenie najmä v oblasti testovania nových

výrobkov, prototypov a súčiastok, ktoré nie je možné iným spôsobom kontrolovať.

Medzi hlavné oblasti využitia metrotomografie patrí :

- testovanie :

o kvalita spojov v zostavách

o analýza pórovitosti

o analýza porúch a defektov

o inšpekcia materiálu

- meranie vonkajších i vnútorných prvkov

- reverzné inžinierstvo

- porovnávanie celkovej geometrie nominálnej s aktuálnou.“[3]

3.1.2 Spôsob získavania dát

„Na rozdiel od medicínskych počítačových tomografov v Metrotome nerotuje

snímací systém, ale otáča sa meraný objekt. Ten je polohovaný s vysokou presnosťou v

troch kolmých osiach tak, aby jeho obraz zabral čo najväčšie pole v oblasti detektora,

SjF KBIaM

37

pri dodržaní parametrov potrebných na snímanie. Počas snímania je meraný objekt

natočený o 360° okolo zvislej osi a v jednotlivých krokoch (napr. 1000 krokov na

otáčku) sú nasnímané 2D- röntgenogramy. Všetkých 1000 röntgenogramov s rozlíšením

1024 x 1024 pixelov je počítačovo spracovaných. Röntgenové žiarenie prechádzajúce

vzduchom stráca iba minimálnu intenzitu, preto je snímaný bod svetlý. Ak je v ceste

žiarenia objekt z materiálu s vyššou hustotou, stráca lúč intenzitu, k detektoru sa

dostane žiarenie s výrazne nižšou energiou a snímaný bod je tmavý. Kumulovaná

hrúbka materiálu, ktorou musí lúč preniknúť, má tiež vplyv na znižovanie intenzity

žiarenia vystupujúceho za objektom. Výstupom zo snímania a následnej rekonštrukcie

je mračno bodov, tzv. voxelov (voxel = volume pixel), ktorých umiestnenie v priestore

a intenzita udaná v 16 bitoch sivej farby zodpovedajú reálnym bodom v priestore

súčiastky a jej okolí a ich priepustnosti.“[3]

Presnosť lineárneho vedenia v prípade Metrotomu sa zabezpečuje pomocou CAA

(ComputerAidedAccuracy) opravy chýb. Otočný stôl, ktorý je uložený na vzduchových

ložiskách, má extrémne vysoké rozlíšenie až 0,036 uhlovej sekundy. Vďaka vysoko

presným komponentom a korekciu všetkých systematických chýb je možné získať

maximálnu povolenú chybu merania na Metrotomu MPEE v rozmedzí ± ( 9 + L/50 )

mikrometrov, čo je v strojárskom a automobilovom priemysle často vysoko dostačujúca

hranica.“[3]

3.1.3 Možnosti využitia metrotomografie

„Využitie Metrotomu 1500 je široké. Oproti konvenčným meracím metódam má

mnoho výhod, ale aj niekoľko limitujúcich hraníc. K limitujúcim vlastnostiam patrí

maximálny rozmer snímanej súčiastky, ktorí je možné premerať. Ten je

350x350x350mm, a je limitovaný výkonom zariadenia, citlivosťou a rozlíšením

detektora. Ďalším limitom je materiál súčiastok, Metrotom 1500 je ideálny na snímanie

plastových a hliníkových dielov. Čím väčšiu hustotu však materiál má, tým viac sa

úmerne zmenšuje kumulovaná hrúbka materiálu, ktorú RTG žiarenia presvieti. Pri

určitej hrúbke je však možné vyhodnocovať aj súčiastky z ocele, medi a ďalších zliatin s

vysokou hustotou.

Naopak značnou výhodou je kontrola v neprístupných oblastiach pre konvenčnú

3D súradnicovú meraciu techniku, či už dotykovo-optickú, kamerovú alebo laserovú.

Dnes sa vyskytujúce, tvarovo veľmi zložité diely, vyrábané vstrekovaním alebo

SjF KBIaM

38

odlievaním do viacdielnych foriem, ktoré často nie je možné kontrolovať inou metódou.

Röntgenovým snímaním dostávame informáciu o celom objeme súčiastky nezávisle od

jej zložitosti.“[3]

„Výraznou výhodou metrotomografie je analýza vnútornej štruktúry a

defektoskopia, keďže výstupom snímania je mračno bodov nielen povrchu, ale aj vnútra

súčiastky. Mračno bodov je následne možné vyhodnocovať vo viacerých softvéroch,

primárne však vo VGStudio Max a Calypso (obr.č.21). Následne virtuálne prechádzať

ľubovoľným smerom bez porušenia reálnej súčiastky. „[3]

Obr. 21 Porovnanie používateľského prostredia softvérov Calypso a VGStudio Max [14][15]

„Vďaka automatickej detekcii vzduchových bublín je možné vytvoriť histogram so

zoznamom všetkých bublín (lunkrov) v objeme súčiastky s popisom ich veľkosti a

presných súradníc polohy.

Ďalšou funkciou je kontrola zostáv. Pri zložených alebo montovaných dielov

zvyčajne už nie je možné skontrolovať zostavu vo vnútorných oblastiach. V zostavách

často nastávajú problémy pri montáži, kde jazýčkové spoje nezapadnú do finálnej

polohy alebo elektrické kontakty nedoliehajú správne, alebo vplyvom zlého procesu

zostavení dochádza k výrazným priehybom alebo ulomenie niektorých častí. Vďaka CT

technológii sa dá celá zostava skontrolovať buď virtuálnymi rezy skrz mračno bodov,

alebo separáciou materiálov rôznej hustoty. U dielov, ktoré sú zložené z rôznych

materiálov, ako kov a plast, je možné určiť, aby plastová časť, ktorej prislúchajú body s

určitým stupňom šedej farby, nebola zobrazená.

Ďalšou možnosťou využitia Metrotomu je rozmerová analýza. Podľa výrobnej

dokumentácie je možné vyhodnocovať dĺžkové aj uhlové rozmery, odchýlky tvaru a

SjF KBIaM

39

polohy a orientácie v prostredí programu Calypso. Tento softvér je používaný pri

všetkých zariadeniach typu CMM spoločnosti Carl ZEISS, čím sa umožňuje získať

údaje pomocou jedného programu na dvoch zariadeniach. Okrem vyhodnotenia

rozmerov je navyše v CT module programu Calypso možné stotožňovať nominálnej

CAD model s mračnom bodov, teda modelom reálne súčiastky. Takto je možné získať

rýchly pohľad na tvarové odchýlky a následne sa zamerať na identifikáciu rozmerov v

konkrétnom mieste súčiastky. Táto funkcia umožňuje podať rýchlu informáciu o

problémovom stave v prototypovej výrobe.

Technológia metrotomografie ponúka aj ďalšie možnosti využitia, ako je napríklad

reverzné inžinierstvo, teda získanie CAD modelu z reálneho objektu. Tento proces

obsahuje niekoľko krokov. Prvým je nasnímaní súčiastky a transformácia na mračno

bodov. Ďalším krokom je vytvorenie povrchovej siete bodov, ktorá je najčastejšie

exportovaná do STL formátu. Následne je však v externom programe nutné vytvoriť z

povrchových bodov elementy (napr. valec, rovinu, kužeľ, atď., resp. spline krivky),

ktoré budú vo finále tvoriť CAD model. Ten je možné modifikovať a vytvoriť novú

upravenú výrobnú dokumentáciu alebo technologický postup.“[3]

V tab.č.4 sú uvedené technické parametre konkrétneho Metrotomu 1500.

Tab. 4 Technické vlastnosti Metrotomu 1500

Merací rozsah XYZ [mm] 350x 350x 350

RTG lampa

Napätie [kV] 30- 225

Prúd [µA] 10 - 1000

Cieľový výkon [W] Max. 225

RTG detektor Rozlíšenie Max. 1024x1024

Veľkosť pixela[µm] Max. 400x400

3.1.4 Metrotom OS

Metrotom OS je postavený na open source knižnicu FreeImage.

Metrotom OS slúži na zapnutie / vypnutie snímania, nastavení vlastnosti snímania

ako je prúd a napätie. Napätie sa dá navoliť v rozsahu 60 až 225 kV, prúd sa dá navoliť

v rozsahu 0 až 1000µA.

SjF KBIaM

40

Následne je potrebné zvoliť hodnotu integračného času v ms, a zosilnenie z

fotodiód.

3.1.5 Nastavenie parametrov samotného snímania

Pred začatím samotného snímania, bol Metrotom kalibrovaný podľa príslušného

kalibračného protokolu. Následne boli jednotlivé vzorky založené do polystyrénu

v najvhodnejšej polohe na snímanie. Takto ukotvené vzorky boli naložené na podstavec,

na ktorom bolo snímanie vykonané (obr.č.22).

Obr. 22 Vlastné vzorky umiestnené v prípravku, pripravené na snímanie

Nastavené parametre snímania boli zvolené tak, aby (tab.č.5):

- Vzorky boli na podstavci čo možno najbližšie k vysielaču

- Použitý bol čo najväčší prúd vysielača a tým sa dosiahla čím menšia veľkosť

jedného voxelu. Táto veľkosť má za následok detailnejšie, resp. menej detailné

rozlíšenie a výpočet následných charakteristík vzorky.

SjF KBIaM

41

Tab. 5 Nastavované parametre snímania jednotlivých vzoriek

Prúd [µA]

Napätie [kV]

Zosilnenie fotodiód

Integračný čas [ms]

Filter Veľkosť voxelu

[µm]

Poloha

XxYxZ [mm]

Sklo 155 250 8x 2000 - 40,25 150x0,65x30

Duroplast 160 300 8x 1500 - 48,21 140x0,65x30

Oceľový drôt

185 200 16x 2000 Cu

0,5mm 37,59 140x0,65x30

Oceľový granulát

185 200 16x 2000 Cu

0,5mm 37,59 140x0,65x30

V prípade oceľových inklúzií bol použitý filter Cu 0,5mm, aby sa predišlo

neželaným artefaktom na výslednom zobrazení skenovania. Tieto vzorky boli

umiestnené do prípravu na stojane po jednom kuse, zatiaľ čo zvyšné vzorky (s

neoceľovými inklúziami) mohli byť skenované v páre, aby sa znížil čas potrebný na

jednotlivé merania.

SjF KBIaM

42

4 Softvérové spracovanie

4.1 VGStudio MAX

„VGStudio MAX je softvér dodávaný k zariadeniam pre priemyselnú CT analýzu

a následnú vizualizáciu. Umožňuje užívateľovi spravovať získané mračno bodov

(obr.č.23) a vykonať na ňom rozmerovú analýzu.

VGStudio MAX je softvérový balík pre vizualizáciu a analýzu voxel dát. Používa

sa v rôznych aplikačných oblastiach, ako je priemyselný CT, lekársky výskum, vedy o

živej prírode, animácie a mnoho ďalších.

VGStudio MAX je produkt pre vizualizáciu a analýzu dát CT v kombinácii

s voliteľnými doplnkovými modulmi:

- Súradnicové meranie

- Porovnanie nominálnych hodnôt a aktuálnych

- Analýza pórovitosti/ inklúzií

- Hrúbka steny

- Analýza materiálu

- CAD import „[2]

Obr. 23 Pracovné prostredie VGStudio Max [2]

SjF KBIaM

43

„VGStudio MAX ponúka funkciu pre presné a rýchle analýzy voxel dát. Modul

súradnicového merania poskytuje veľmi presné meranie povrchu o presnosti 1/10

veľkosti voxelu.

Možnosť súčasne zobrazovať a analyzovať objem dát eliminuje potrebu

vykonávať časovo náročné a na straty náchylné konverzie objemových dát do

povrchových dát. Možnosť spracovania makrá a vytváranie animácií a povrchových

modelov dopĺňa funkčnosť VGStudio MAX.

Po kalibrácií dát z CT, sú následne tieto dáta okamžite k dispozícii v CAD

formáte. Prezeranie a hodnotenie CT snímok je uľahčené tým, že tieto môžu byť

zobrazené súbežne s osami súradníc. Každý individuálny rez vzorky možno presne

zobraziť a hodnotiť na základe svojej polohy. Chyby v skutočnom komponente môžu

byť ľahšie priradené a lokalizované. Je tiež možné prekryť CAD dáta z CT dátami a to

ako v trojrozmernom režime tak aj v dvojrozmernom. “[2]

4.2 Analýza pórovitosti/inklúzií

„Modul analýzy pórovitosti, resp. inklúzii ponúka rad algoritmov umožňujúcich

detekciu pórovitosti/ inklúzií, ktoré majú byť umiestnené vo vnútri objektu a poskytuje

podrobné informácie o týchto defektoch .

3D Modul analýzy pórovitosti/ inklúzií obsahuje niekoľko rôznych algoritmov a

režimov, ktoré umožňujú nastaviť jednoúčelové parametre konkrétne a tak pozorovať

póry a defekty s vysokým, resp. nízkym kontrastom- podľa potreby. Analýzou sa

vypočítajú rôzne parametre, napr. vzdialenosť pórov navzájom, guľovitosť, vzdialenosť

pórov od povrchu vzorky alebo užívateľsky definovaného povrchu. Táto funkcia

umožňuje spustiť testovanie, ktoré pomôže technikovi posúdiť, či sa defekty nachádzajú

vo vnútri, vonku alebo na povrchu objektu.

Podrobné informácie o každom defekte, ako jeho objem, predpokladaná veľkosť a

umiestnenie sú uvedené vo výslednej tabuľke, resp. zobrazené graficky (obr.č.24). „[18]

SjF KBIaM

44

Obr. 24 Príklad vyhodnotenia inklúzií v softvéri VGStudio Max[18]

Výsledky analýzy defektoskopie môžu byť zoradené tak, aby vytvorili inšpekčnú

správu (obr.č.25), prípadne vrátane automaticky generované alebo jednotlivo vybrané

obrázky.

Obr. 25 Inšpekčná s práva defektoskopickej analýzy

SjF KBIaM

45

„ Vlastnosti:

- objem, poloha, veľkosť a povrch sú určené pre každý jednotlivý defekt

- farebné kódovanie pórov alebo inklúzií v závislosti na objeme

- štatistické prevedenie veľkosti defektu, celkové percento

pórovitosti/inklúzií a objem pórov/inklúzií

- analýza celého objektu alebo iba oblastí záujmu

- užívateľom definované správy z výsledkov analýzy“[18]

4.3 Nastavované parametre

Používateľské okno defektoskopie sa skladá z nasledujúcich častí (obr.č.26):

i. Voľba algoritmu: z ponúkaných možností bol vybratý algoritmus VGDefX

(v2.2). Používa sa pre variáciu a redukciu hodnoty sivej farby, detekuje

defekty, ktoré sú pripojené k okolitému vzduchu.

ii. Mód analýzy: voľba typu defektov. Šedé hodnoty Pórov sú nižšie ako

okolitý materiál, zatiaľ čo šedé hodnoty Inklúzií sú vyššie ako okolitý

materiál.

iii. Materiálové parametre: Voľba medzi Determinovaným povrchom

a Manuálne definovaným povrchom.

iv. Parametre analýzy:

a. Redukcia šumu: Je možné zvoliť režim redukcie šumu a tým

filtrovať dáta. Je k dispozícii niekoľko Gausových filtrov (Nízky,

Nízky adaptívny, Stredný, Stredný adaptívne, Vysoký, Vysoká

adaptívne) spolu s Mediánovým filtrom.

b. Kritérium pravdepodobnosti: Výber sa uskutočňuje podľa kritériá,

ktoré defekty budú sledované a ich pravdepodobnosť vypočítavaná.

Sú dostupné preddefinované kritériá: Všeobecné, Všeobecné (V2.2.2

a starší model), Veľkosť(celková), Dutina (pór) a Kontrast.

v. Výsledkové filtre: Tieto parametre ovplyvňujú druhú fázu postupu

detekcie defektov.

a. Prahová hodnota pravdepodobnosti: Všetky možné defekty oblasti,

ktoré prechádzajú kontrolou veľkosti, budú ďalej spracovávané v

SjF KBIaM

46

niekoľkých fázach analýzy. Tieto etapy sa snažia rozlišovať medzi

skutočnými defektmi a artefaktmi využitím algoritmov pre

spracovanie obrazu. Každý zistený defekt je označený hodnotou

udávajúcou pravdepodobnosť, či sa jedná o skutočný defekt.

Určením prahu pravdepodobnosti sa zahrnú do zoznamu iba

defekty prevyšujúce túto prahovú hodnotu.

b. Minimálna/ maximálna veľkosť : Špecifikuje sa minimálna a

maximálna veľkosť defektu, pričom sa môže definovať, či sa

veľkosť vzťahuje k Objemu, Polomeru alebo Priemeru defektu.

Vzhľadom na povahu CT údajov, hodnota min. veľkosti by nemala

byť menšia ako 8 voxelov (tj. oblasť o 2x2x2 voxel).

Obr. 26 Používateľské rozhranie defektoskopickej analýzy, program VGStudio Max

SjF KBIaM

47

5 Vyhodnotenie

5.1 Vzorky získané metódou Rapid Prototyping z plastu

Vzorka podľa modelu (obr.6) bola vyhotovená v Laboratóriu Rapid Prototyping na

Katedre technológií a materiálov. Výsledný kus bol zosnímaný Metrotomom 1500

(obr.27).

Obr. 27 Vzorka zosnímaná Metrotomom 1500

Výsledný obraz po zosnímaní ukázal možný problém s hustotou a plnosťou

vyrobených vzoriek. Preto boli vykonané doplnkové merania so vzorkami bez pórov-

aby sa určilo či daný postup výroby je vhodný alebo nie (obr.č.28).

Obr. 28 Vzorky vytvorené technológiou Rapid Prototyping bez namodelovaných pórov

SjF KBIaM

48

Vzhľadom k tomu boli namodelované 3 vzorky s rozdielnymi rozmermi, no boli

použité iné stratégie výroby s interným pomenovaním „D“ , „M“ a „04“. Po zosnímaní

(obr. 29,30,31) bol úplne vylúčený Rapid Prototyping ako spôsob výroby vzoriek na

testovanie. Ako je možné vidieť na obrázkoch, vrstva materiálu, ktorý bol tryskou

postupne ukladaný, nevypĺňa vrstvu na 100%. Tým vznikajú defekty, ktoré by mohli

skresľovať výsledky testov.

Obr. 29 Stratégia výroby „D“

Obr. 30 Stratégia výroby „M“

SjF KBIaM

49

Obr. 31 Stratégia výroby „04“

5.2 Vzorky získané metódou laserovým sinterovaním

z keramiky

Jedným zo spôsobov vytvorenia pórov je použitie laserového sinterovania. Na

vzorkách vyrobených z titanu Ti64 na zariadení EOS 280 bolo možné identifikovať

navrhnuté póry. Vzhľadom na technológiu výroby boli vyplnené nespečeným titanovým

práškom, ktorý ma nižšiu hustotu ako sinterovaný materiál. Problémom bola hustota

materiálu, ktorá obmedzovala využitie vzoriek pre praktické vyhodnocovanie.

Riešením je výroba vzorky z materiálu s nižšou hustotou napr. keramika. Výrobu

namodelovaných vzoriek, však nebolo možné realizovať z dôvodu neodladenej

technológii a potrebnému finálnemu spekaniu.

5.3 Vzorky z epoxidu na testovanie inklúzií

Vzorky s inklúziami boli podrobené snímaniu a následnej defektoskopickej

analýze. Zmenou niektorých nastavení sa dosiahol rozdielny výsledok v inšpekčnej

správe, pričom zvyšné parametre boli pre všetky kombinácie totožné a to:

- Voľba algoritmu- VGDefX (v2.2)

- Mód analýzy- Inklúzie

- Materiálové parametre- Determinovaný povrch

- Prahová hodnota pravdepodobnosti- hodnota 1 a vyššie

- Minimálna/ maximálna veľkosť- min=0,3mm, max=3,0mm

SjF KBIaM

50

Kombinácie vznikali tak, že sa párovali tieto parametre:

- Redukcia šumu

o Nízky filter

o Vysoký filter

o Mediánový filter

- Kritérium pravdepodobnosti

o Všeobecné

o Veľkosť (celková)

o Dutina (pór)

o Kontrast.

Týmto kombinovaním vzniklo 12 párov, ktorých výsledky sa medzi sebou

porovnávali (tab.č.6). Tieto parametre dolaďujú finálny výsledok tak, aby čo najlepšie

odpovedal na konkrétny prípad z praxe.

Tab. 6 Legenda pre nadchádzajúce grafy porovnaní parametrov

Poradové

číslo

Kombinácia parametrov

Redukcia šumu Kritérium

pravdepodobnosti

Používaná

skratka

1 Nízky filter Kontrast LC

2 Nízky filter Všeobecné LG

3 Nízky filter Dutina LP

4 Nízky filter Veľkosť LS

5 Vysoký filter Kontrast HC

6 Vysoký filter Všeobecné HG

7 Vysoký filter Dutina HP

8 Vysoký filter Veľkosť HS

9 Mediánový

filter Kontrast MC

SjF KBIaM

51

10 Mediánový

filter Všeobecné MG

11 Mediánový

filter Dutina MP

12 Mediánový

filter Veľkosť MS

5.3.1 Spracovanie surových výsledkov defektoskopie

Dáta boli spracované v programe Microsoft Excel a Statistica (kompletné tabuľky

sa nachádzajú v prílohe). Ako prvé sa porovnávali pravdepodobnosti (či daný bod je

naozaj inklúziou) jednotlivých kombinácií (obr.č.32-35).

Z týchto grafov vyplýva nasledujúce informácie:

- Maximálna hodnota pravdepodobnosti je pre každý filter rozdielna, avšak

pre kritérium pravdepodobnosti jednej vzorky sú hodnoty podobné

- Veľký rozptyl minimálnej na maximálnej hodnoty pravdepodobnosti

výskytu inklúzie môže poslúžiť pri presnom oddelení falošne potvrdených

inklúzií od tých pravdivo potvrdených

- Počet hodnôt (N) je pre jednotlivé kritéria pravdepodobnosti veľmi

rozdielny, zatiaľ čo pri zmene filtra redukcie šumu nedochádza k zmene

veľkosti súboru dát.

- Voči skutočnému počtu inklúzií v jednotlivých vzorkách, počet vypísaných

možných výsledkov je v niektorých prípadoch extrémne zveličený,

a naopak v niektorých prípadoch extrémne nízky.

Tabuľky 7 až 10 uvádzajú základnú popisnú štatistiku pre jednotlivé typy vzoriek

vzhľadom ku kombinácií nastavení. Pre každú vzorku sú vypočítané a/alebo uvedené

tieto štatistické charakteristiky:

- Priemer

- Medián

- Modus

SjF KBIaM

52

- Početnosť modulu

- Minimum a maximum

- Variačné rozpätie hodnôt

- Smerodajná odchýlka

Tab. 7 Popisné štatistiky vzorky s inklúziou o veľkosti 0,3-0,5mm

Tab. 8 Popisné štatistiky vzorky s inklúziou o veľkosti 0,4-0,6

Tab. 9 Popisné štatistiky vzorky s inklúziou o veľkosti 0,4-0,8mm

SjF KBIaM

53

Tab. 10 Popisné štatistiky vzorky s inklúziou o veľkosti 0,6-1mm

Ako je možné vidieť v predchádzajúcich tabuľkách, hodnoty štatistických

charakteristík sa menia v závislosti od veľkosti zrna inklúzie. V prípade tabuľky č.7 je

posledná pravdepodobnosť nevypočítaná, keďže dáta tejto kombinácii boli natoľko

veľké, že nebolo možné ich softvérovo spracovať.

V tabuľke č.10 bola kombináciou použitia mediánového filtra a kontrastného

kritéria pravdepodobnosti získaná iba jedna hodnota, preto nebolo možné vyrátať

rozptyl ani smerodajnú odchýlku.

SjF KBIaM

54

Obr. 32 Porovnanie kombinácií parametrov pre vzorku s inklúziami veľkosti 0,3-0,5 mm

1,00

51,00

101,00

151,00

201,00

251,00

301,00

351,00

401,00

451,00

501,00

551,00

601,00

651,00

701,00

751,00

801,00

851,00

901,00

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Ho

dn

oty

Pra

vde

po

do

bn

ost

i

Poradové číslo skupiny

Sklenené guľočky

SjF KBIaM

55

Obr. 33 Porovnanie kombinácií parametrov pre vzorku s inklúziami veľkosti 0,4-0,6 mm

1,00

26,00

51,00

76,00

101,00

126,00

151,00

176,00

201,00

226,00

251,00

276,00

301,00

326,00

351,00

376,00

401,00

426,00

451,00

476,00

501,00

526,00

551,00

576,00

601,00

626,00

651,00

676,00

701,00

726,00

751,00

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Ho

dn

oty

Pra

vde

po

do

bn

ost

i

Poradové číslo skupiny

Sekaný oceľový drôt

SjF KBIaM

56

Obr. 34 Porovnanie kombinácií parametrov pre vzorku s inklúziami veľkosti 0,4-0,8 mm

1,00

201,00

401,00

601,00

801,00

1001,00

1201,00

1401,00

1601,00

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Ho

dn

ota

Pra

vde

po

do

bn

ost

i

Poradové číslo skupiny

Oceľový granulát

SjF KBIaM

57

Obr. 35 Porovnanie kombinácií parametrov pre vzorku s inklúziami veľkosti 0,6- 1mm

1,00

3,00

5,00

7,00

9,00

11,00

13,00

15,00

17,00

19,00

21,00

23,00

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Ho

dn

oty

Pra

vde

po

do

bn

ost

i

Poradové číslo skupiny

Duroplast

SjF KBIaM

58

Ako ďalšia štatistická charakteristika bola vyhodnocovaná korelácia medzi

výstupnými parametrami inšpekčnej správy pre jednotlivé vzorky a jednotlivé

kombinácie parametrov:

- Hodnota pravdepodobnosti

- Priemer

- Objem

- Veľkosť voxelu

- Veľkosť povrchu

Obrázok č.38 slúži ako názorný príklad jedného konkrétneho grafu pre

kombináciu:

- Vzorka s inklúziami veľkosti 0,3-0,5mm

- Redukcia šumu: Vysoká

- Kritérium pravdepodobnosti: Kontrast

Obr. 36 Graf korelácie medzi výstupnými parametrami inšpekčnej s právy

Korelace (sklo_porozita_1_redukcia_high_pravdepodobnost_contrast 5s*28ř)

Probability

Diameter [mm]

Volume [mm3]

Voxel

Surface [mm2]

SjF KBIaM

59

Ako vidieť z tohto grafu, aproximácia medzi jednotlivými parametrami nie sú

jasne lineárne. Hodnota korelácie medzi nimi sa pohybuje v celom rozsahu- od

prakticky žiadnej korelácie r=±0,01 až ±0,29, až po veľmi tesnú koreláciu r=±0,90

až ±0,99.

Avšak pre každú kombináciu je zjavná tesná korelácia medzi parametrami Objem

s Veľkosťou voxelu. Zvyšné kombinácie parametrov a vzoriek sa nachádzajú v prílohe.

5.3.2 Spracovanie upravených výsledkov defektoskopie

Po získaní finálnych inšpekčných správ bolo pozorované falošné potvrdenie

inklúzie, resp. nesprávne označenie miesta bez inklúzie ako inklúziu materiálu. Preto

bolo potrebné zo získaných dát tieto falošné potvrdenia vylúčiť. Následne sa stanovil

podiel pravdivo potvrdených a falošne potvrdených inklúzií, ktorý podal informáciu

o relevantnosti či vierohodnosti danej kombinácií nastavení.

Obr. 37 Vizuálne porovnanie rôznych kritérií pravdepodobnosti pri rovnakom filtri redukcii šumu

na jednej vzorke (1-Vzorka pred analýzou defektoskopie, 2-HC, 3-HG, 4-HP,5-HS )

Na základe vizuálnej kontroly je možné prehlásiť, že kombinácia nastaviteľných

parametrov Kritérium pravdepodobnosti Veľkosť so všetkými Redukciami šumu nie je

SjF KBIaM

60

vhodná pre tento typ analýzy defektoskopie . Ako je zreteľne vidieť na poslednom

segmente obrázku č.36.,namiesto možných inklúzií softvér detekovať falošne pozitívne

výsledky a úplne vylúčil správne riešenia.

Obr. 38 Vizuálne porovnanie rôznych filtrov redukcii šumu pri rovnakých kritériách

pravdepodobnosti jednej vzorky (1-Vzorka pred analýzou defektoskopie, 2-HC, 3-LC, 4- MC)

Vizuálnym porovnaním vzoriek s rôznymi redukciami šumu bolo preukázané

(obr.č.37), že táto funkcia má pre tento typ analýzy inklúzií iba minimálny, či takmer

zanedbateľný podiel pri výpočte pravdepodobnosti správneho odhalenia inklúzií.

Pri porovnaní počtu detekovaných prípadov so skutočným počtom inklúzií

a následne správne potvrdenými prípadmi, je možné vidieť, že zadávaný parameter

Prahovej hodnoty pravdepodobnosti v používateľskom rozhraní je špecifický pre

každú kombináciu parametrov zvlášť. Tým pádom nie je možné zadefinovať, resp.

odporučiť univerzálnu hodnotu Prahovej hodnoty pravdepodobnosti pre každé

meranie takéhoto typu (tab.č.11, obr.č.39, 40, 41,42). Zadefinovanie tejto hodnoty

závisí od skúseností a znalostí obsluhujúceho technického personálu.

SjF KBIaM

61

Tab. 11 Zdrojová tabuľka údajov pre histogramy č 38 až 41

SjF KBIaM

62

Obr. 39 Histogram pre hodnoty pravdepodobnosti vzorky po odstránení falošných potvrdení

Obr. 40 Histogram pre hodnoty pravdepodobnosti vzorky po odstránení falošných potvrdení

0

500

1000

1500

2000

2500

3000

3500

4000

HC HG HP HS LC LG LP LS MC MG MP MS

Ho

dn

oty

Pra

vde

po

do

bn

ost

i

Kombinácie nastavení

0,3-0,5mm

Nájdené prípady Pravdivo potvrdené prípady Skutočný počet inklúzií

0

200

400

600

800

1000

1200

HC HG HP HS LC LG LP LS MC MG MP MS

Ho

dn

oty

Pra

vde

po

do

bn

ost

i

Kombinácie nastavení

0,4- 0,6mm

Nájdené prípady Pravdivo potvrdené prípady Skutočný počet inklúzií

SjF KBIaM

63

Obr. 41 Histogram pre hodnoty pravdepodobnosti vzorky po odstránení falošných potvrdení

Obr. 42 Histogram pre hodnoty pravdepodobnosti vzorky po odstránení falošných potvrdení

0

100

200

300

400

500

600

700

800

HC HG HP HS LC LG LP LS MC MG MP MS

Ho

dn

oty

Pra

vde

po

do

bn

ost

i

Kombinácie nastavení

0,4- 0,8mm

Nájdené prípady Pravdivo potvrdené prípady Skutočný počet inklúzií

0

100

200

300

400

500

600

700

800

900

1000

HC HG HP HS LC LG LP LS MC MG MP MS

Ho

dn

oty

pra

vde

po

do

bn

ost

i

Kombinácie nastavení

0,6- 1mm

Nájdené prípady Pravdivo potvrdené prípady Skutočný počet inklúzií

SjF KBIaM

64

6 Záver

Z troch typov namodelovaných vzoriek bola nakoniec podrobená skúšaniu iba

vzorka z kde nosný materiál bol tvorený epoxidom. Tá bola následne podrobená analýze

inklúzií. Inklúziu v epoxidovom základe tvorili zrná s rôznou veľkosťou od 0,3mm po

1mm.

Priame a jednoznačné výsledky získané touto prácou by sa dali zhrnúť do týchto

bodov:

- Kritérium pravdepodobnosti Veľkosť so všetkými Redukciami šumu nie je

vhodná pre tento typ analýzy defektoskopie .

- Funkcia redukcie šumu má iba minimálny, či takmer zanedbateľný

podiel pri výpočte pravdepodobnosti správneho odhalenia inklúzií.

- Nie je možné zadefinovať, resp. odporučiť univerzálnu hodnotu

Prahovej hodnoty pravdepodobnosti pre každé meranie takéhoto typu

Zadefinovanie tejto hodnoty závisí od skúseností a znalostí obsluhujúceho

technického personálu.

- Zmenou softvérových nastavení analýzy defektoskopie je možné dosiahnuť

zvýšenie relevantnosti vykonanej analýzy. Avšak je potrebné ovládať aký

účinok majú jednotlivé nastavenia.

Začlenením ďalších parametrov a ich nastavení by bolo možné detailnejšie skúmať

ich vplyvy na jednotlivé typy problémov technickej praxe. Avšak by bolo potrebné

použiť vzorky, ktoré by čo najviac zjednodušili a sprehľadnili prácu s veľkým

množstvom dát, ktoré sa pri analýze vytvára.

Výhodou tohto spôsobu overovania inklúzií bolo, že nosný materiál (epoxid) mal

homogénnu štruktúru. V praxi je tento stav menej častí a pred aplikovaním testu na

porozitu / inklúzie je potrebné použiť softvérové úpravy získaného mračna – beam

hardening a scattering.

SjF KBIaM

65

Zoznam použitej literatúry

[1] Defektoskopia (príspevok do databázy článkov) [online] [citované 2013-09-04]

Dostupné na internete: http://referaty.atlas.sk/prirodne-vedy/fyzika-a-

astronomia/35733/defektoskopia

[2] Popis produktu firmy Volume Graphics, [online] [citované 2013-10-15]

Dostupné na internete: http://www.volumegraphics.com/en/products/vgstudio-

max.html

[3] Počítačová tomografie pro přesné měření defektoskopii i reverzní inženýrství

(Popis technológie) online] [citované 2014-05-05] Dostupné na internete:

http://www.cad.cz/strojirenstvi/38-strojirenstvi/2114-pocitacova-tomografie-pro-

presne-mereni-defektoskopii- i-reverzni- inzenyrstvi.html

[4] LIČKOVÁ, M., BARÉNYI, I.; Náuka o materiáloch I., Trenčín 2009.

[5] NOVÁKOVÁ- MARCINČINOVÁ,Ľ.,: Využitie technológie Rapid Prototyping

[online] [citované 2014-03-05] Dostupné na internete:

http://www.engineering.sk/index.php/clanky2/informacne-technologie/1561-

vyuivanie-technologie-rapid-prototyping

[6] 3D tlačiarne (obrázok) [online] [citované 2014-02-25] Dostupné na internete

http://www.sjf.tuke.sk/ktam/lab-rp.htm

[7] MARTINKOVIČ,M.; ŽÚBOR,P.: Mechanické skúšky a defektoskopia

materiálov; STU 2005; Bratislava

[8] HOMOLA,J.: Selective Laser Sintering [online] [citované 2014-03-03] Dostupné

na internete: http://www.3d-tisk.cz/selective-laser-sintering/

[9] JERZ,J.: Oxid hliníka (korund - Al2O3) online] [citované 2014-03-03] Dostupné

na internete: http://www.matnet.sav.sk/index.php?ID=292

[10] Propagačný materiál firmy na webovej stránke, [online] [citované 2013-12-12]

Dostupné na internete: http://www.lithoz.com/en/

[11] Propagačný materiál prístroja na webovej stránke, [online] [citované 2013-12-12]

Dostupné na internete:

http://www.stratasys.com/~/media/Main/Secure/System_Spec_Sheets-SS/Fortus-

Product-Specs/Fortus-SS-400mc-01-13-web.pdf

[12] Fused deposition modeling (obrázok) [online] [citované 2013-12-09] Dostupné na

internete

http://www.designerdata.nl/productietechnieken/fused_deposition_modeling.php

[13] Selective laser melting system schematic (obrázok) [online]

[citované 2013-11-11] Dostupné na internete

http://commons.wikimedia.org/wiki/File:Selective_laser_melting_system_schema

tic.jpg

SjF KBIaM

66

[14] Užívateľské prostredie softvéru (obrázok) [online] [citované 2013-12-09]

Dostupné na internete http://3.bp.blogspot.com/_BlPNCkbJv8o/S-

HhpMkzQCI/AAAAAAAAAWU/TL-3GACuHjE/s1600/PI_0067-2010_eng.jpg

[15] Užívateľské prostredie softvéru (obrázok) [online] [citované 2013-12-09]

Dostupné na internete http://www.cad.cz/images/stories/clanky/2009/06/06-

tomografie-02.jpg

[16] Technický DENTACRYL prach (propagačný materiál) [online]

[citované 2013-08-08] Dostupné na internete: http://www.swt.sk/katalog/chemia-

a-drogeria/zivice/technicky-dentacryl-prach.html

[17] Epoxidová živica (príspevok do databázy článkov) [online] [citované 2014-02-02]

Dostupné na internete:

http://sk.wikipedia.org/wiki/Epoxidov%C3%A1_%C5%BEivica

[18] Porosity/inclusion analysis (propagačný materiál softvéru) [online] [citované

2014-03-02] Dostupné na internete:

http://www.volumegraphics.com/en/products/vgstudio-max/porosityinclusion-

analysis/

[19] How old are diamonds (obrázok) online] [citované 2014-04-02] Dostupné na

internete : http://www.nhm.ac.uk/nature-online/earth/rock-

minerals/diamonds/age-of-diamonds/

[20] KUMAR ,A- WILLIAMS,M. : Effect of X-Ray Computed Tomography Scanning

Parameters on the Estimated Porosity of Foam Specimens [online] [citované

2014-02-02] Dostupné na internete:

http://people.bath.ac.uk/ahgha20/PDF%20doc/AA(C_12).pdf

SjF KBIaM

67

Prílohy

Príloha A: CD médium – diplomová práca v elektronickej podobe

Príloha B: Winzip excel súborov surových dát defektoskopickej analýzy vzoriek–

elektronická podoba

Príloha C: Grafy korelácií medzi výstupnými parametrami inšpekčnej správy pre

všetky vzorky- elektronická podoba

Príloha D: Vizuálne porovnanie rôznych kritérií pravdepodobnosti pri rovnakom

filtri redukcii šumu na jednotlivých vzorkách- elektronická podoba