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SScanning
EElectron
MMicroscopy
Interazione fascio-campioneRivelatori per elettroni secondari e retrodiffusi
Effetti delle variazioni dei principali parametri strumentali
Corso di Microscopia Elettronica a Scansione e Microanalisi EDSP.L. Fabbri – M. Tonelli
Corso di Microscopia Elettronica a Scansione e Microanalisi EDSP.L. Fabbri – M. Tonelli
Interazioni elettrone materiaInterazioni elettrone materia
Scattering Elastico
L’elettrone del fascio primario interagisce con il campo elettrico di un nucleo di un atomo del campione. Il risultato è un cambio di direzione senza una variazione significativa dell’energia dell’elettrone primario. La deflessione o le successive deflessioni subite possono comportare anche l’uscita dal compione. In questo caso si parla di elettrone retrodiffuso (BSE )
50 eV < E <= Ep
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Interazioni elettrone materiaInterazioni elettrone materia
Gli elettroni primari del fascio collimato colpiscono la superficie del campione e interagiscono con gli atomi del materiale del quale è composto.
L’elettrone del fascio primario interagisce con il campo elettrico di un elettrone di un atomo del campione. Il risultato è un trasferimento di energia all’atomo ed a una potenziale espulsione di un elettrone dall’atomo stesso. (Elettrone Secondario ) SE
E < 50 eV
Scattering Anelastico
Se l’elettrone rimosso viene rimpiazzato da un elettrone più esterno, si puo avere emissione di un fotone X caratteristico con energia uguale alla differenza ΔE dei due livelli energetici conivolti.
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Interazioni elettrone materiaInterazioni elettrone materia
Effetti misurabili delle interazioni elettrone - materia Effetti misurabili delle interazioni elettrone - materia
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Interazioni elettrone materiaInterazioni elettrone materia
~ 1 m
e- AugerE ~ 1-10 eV
e- secondari (SE)E ~ 10-100 eV
e- retrodiffusi(BSE) E ~10 keV
raggi X caratteristici
raggi X spettro continuo
superficie
Fascio incidente
SEM~0.5-50keV
Volume di interazioneVolume di interazioneProfonditProfonditá di provenienza dei vari prodotti delle interazioni elettrone materiaá di provenienza dei vari prodotti delle interazioni elettrone materia
Volume di interazioneVolume di interazione
Fe – campione spesso
d= 10 nm.
E= 15 KvE= 5 KvE= 1 Kv
Corso di Microscopia Elettronica a Scansione e Microanalisi EDSP.L. Fabbri – M. Tonelli
Volume di interazioneVolume di interazione
Fe – campione spesso
d= 10nm.
E= 15 KvE= 5 KvE= 1 Kv
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E = 5 Kvd = 10 nm
C Fe Au
Volume di interazioneVolume di interazione
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E = 5 Kvd = 10 nm
C Fe Au
Volume di interazioneVolume di interazione
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Elettroni secondariElettroni secondari
• maggiore per angoli grandi tra fascio e superficie Contrasto topografico
• scarsa dipendenza da Z
•maggiore per E minore (a causa della minor penetrazione)
Efficenza (intensità) = SE/ in
SE= n. elettroni secondari
in= n.elettroni incidenti
Rivelatore
Bassa energia piccola profondità di uscita
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Corso di Microscopia Elettronica a Scansione e Microanalisi EDSP.L. Fabbri – M. Tonelli
Elettroni secondari Elettroni secondari
SEI
SEIII
SEII
Elettroni retrodiffusi (backscattered BS)Elettroni retrodiffusi (backscattered BS) Dipendenza del volume di provenienza da E (fascio incidente) e da Z e ρ (campione)
BS Scarsa risoluzione spazialeCorso di Microscopia Elettronica a Scansione e Microanalisi EDS
P.L. Fabbri – M. Tonelli
Elettroni retrodiffusi (backscattered BS)Elettroni retrodiffusi (backscattered BS) Dipendenza dell’efficenza di scattering η (intensità) da Z
coefficiente η = ηBS/ ηin
ηBS= n. elettroni BSηin= n.elettroni incidenti
Forte dipendenza da Z (contrasto composizionale)Forte dipendenza da Z (contrasto composizionale)
Scarsa dipendenza da EScarsa dipendenza da E
Scarsa dipendenza dall’angolo di incidenza (scarso contrasto topografico)Scarsa dipendenza dall’angolo di incidenza (scarso contrasto topografico)
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Rivelatore retrodiffusiRivelatore retrodiffusi
Contrasto Z ( prevalentemente composizionale )
Per incidenza a 90°
η(Ψ)=ηncos(Ψ)
Cioè l’intensità maggiore è attorno alla direzione del fascio incidente
Elemento pesante
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Rivelatore retrodiffusiRivelatore retrodiffusi
Per aumentare il contrasto topografico
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Rivelatore per Elettroni SecondariRivelatore per Elettroni SecondariEverhart Thornley Detector (ETD)
Elemento pesante
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1. griglia ( -100/+300V )2. scintillatore3. guida ottica4. foto-moltiplicatore5. preamplificatore
La griglia attrae gli elettroni secondari -gli elettroni arrivano allo scintillatore e vengono
trasformati in fotoni - la guida ottica convoglia la radiazione luminosa al foto-moltiplicatore che la trasforma in segnale elettrico - il segnale viene amplificato e inviato al sistema di digitalizzazione della immagine.
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Contrasto ( prevalentemente morgfologico )
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Effetti delle variazioni dei principali parametri strumentaliEffetti delle variazioni dei principali parametri strumentali
Una serie di domande senza … risposta !Una serie di domande senza … risposta !
.... Quale Rivelatore ?
.... Quale tensione di accelerazione ?
.... Quale spot-size ?
.... Quale distanza di lavoro ?
.... Quale apertura finale ?
.... Quale HT ?.... Quale HT ?
HT
• Alta risoluzione• Alta risoluzione
• Nasconde morfologia superficiale• Danni da irraggiamento• Maggiori effetti di bordo• Maggiore accumulo di carica
• Nasconde morfologia superficiale• Danni da irraggiamento• Maggiori effetti di bordo• Maggiore accumulo di carica
• Bassa risoluzione• Bassa risoluzione
• Rivela morfologia superficiale• Meno danni da irraggiamento• Minori effetti di bordo• Riduce accumulo di carica
• Rivela morfologia superficiale• Meno danni da irraggiamento• Minori effetti di bordo• Riduce accumulo di carica
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SED 25KV
SED 5KV
.... Quale HT ?.... Quale HT ?
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… … Quale spot size ?Quale spot size ?
ProbeCurrent
• Migliore S/N ( Immagini piu’ nitide )
• Migliore S/N ( Immagini piu’ nitide )
• Bassa risoluzione • Maggiori danni da irraggiamento
• Bassa risoluzione • Maggiori danni da irraggiamento
• Peggiore S/N ( Immagini meno nitide )
• Peggiore S/N ( Immagini meno nitide )
• Alta risoluzione • Meno danni da irraggiamento
• Alta risoluzione • Meno danni da irraggiamento
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Miglior risoluzione ??
SPOT > Ip > S/N >>> Peggioramento della qualita’ della immagine
Spot 3
Spot 6
Slow Scan
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Correzione dell’astigmatismo
Astigmatismo parzialmente corretto.
Solo secondo la direzione verticale
Astigmatismo parzialmente corretto.
Solo secondo la direzione orizzontale
Astigmatismo corretto.
Lo spot e’ simmetrico nelle due direzioni.
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• Minimo Spot Size
• Peggiore S/N possibile
E’ necessario lavorare in scansione lenta su una piccola porzione della immagine ….
Fuoco - Astigmatismo
Astigmatismo - Fuoco
… per poi procedere alla acquisizione o alla fotografia usando una velocita’ di scansione sufficientemente bassa.
Massima risoluzione ?
0.5 µm.
0.5 µm.
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… … Quale distanza di lavoro ?Quale distanza di lavoro ?
WD
• Bassa risoluzione• Bassa risoluzione
• Maggiore profondita’ di campo • Maggiore profondita’ di campo
• Minore profondita’ di campo • Minore profondita’ di campo • Alta risoluzione
• Alta risoluzione
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WD: 9mm.
WD: 31mm.
WD
WD
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… … Quale diaframma finale ?Quale diaframma finale ?
DiaframmaFinale
• Alta corrente sul campione• Miglior rapporto S/N ( Immagini pu’ nitide )
• Alta corrente sul campione• Miglior rapporto S/N ( Immagini pu’ nitide )
• Bassa risoluzione• Minore profondita` di campo
• Bassa risoluzione• Minore profondita` di campo
• Bassa corrente sul campione• Peggiore S/N ( Immagini meno nitide )
• Bassa corrente sul campione• Peggiore S/N ( Immagini meno nitide )
• Alta risoluzione• Maggiore profondita` di campo
• Alta risoluzione• Maggiore profondita` di campo
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APT= 600µm.
APT= 100µm.
WD
WD
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… … Quale rivelatore ?Quale rivelatore ?
SED
SED - BSD
BSD
SED + BSD
Si K
Al K
Effetti di bordo
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Effetti di bordo - Rimedi -
25 KV Tilt=30
25 KV Tilt=02 KV Tilt=30
Variando il tilt possono essere ridotti gli effetti di bordo
Solo la riduzione della energia degli elettroni permette di ridurre fino ad eliminare gli effetti di bordo.
Anche il charge-up e’ ridotto
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E’ buona norma verificare il corretto metodo do fissaggio del campione al supporto, prima di ricorrere ad “abbondanti metallizazioni “.
E’ importante effettuare tentativi con diversi metodi e materiali di fissaggio.
Accumulo di carica - Rimedi -
SI
SI
NO
NO
campioni massivi
fibre
polveri
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Danni da irraggiamento
La perdita di energia degli elettroni primari produce calore che, se non adeguatamente dissipato, puo’ danneggiare il campione. Il danno dipende fortemente da :
• HT e corrente
• Area scandita
• Tempo di scansione
• Conducibilita’ termica
I campioni piu’ sensibili sono i polimeri e i campioni biologici in genere a causa della loro bassa conducibilita’ termica
PRECAUZIONI
• Abbassare la HT e la corrente
• Aumentare l’ area scandita
• Ridurre il tempo di scansione
• Aumentare lo spessore della metallizzazione
Se, possibile, effettuare la ottimizzazione della immagine in un campo contiguo a quello di interesse.
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BSD / SED / HT - informazioni di bulk
BSD 25Kv BSD 12Kv
SED 12KvSED 25Kv
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Per capire meglio….Per capire meglio….Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”
Una croce tracciata, con un pennarello indelebile, su un vetrino da microscopio ricoperto da 10 nm di oro. Quindi il tutto è stato ricoperto con altri 10nm di oro tramite sputtering.
Quale dei due tratti è stato fatto Quale dei due tratti è stato fatto per primo ?per primo ?
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22Secondo quale direzione sono Secondo quale direzione sono state tracciate queste due linee?state tracciate queste due linee?
??????
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Per capire meglio….Per capire meglio….Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”
Vediamo se una immagine BSE ci dice qualcosa di più.
Qualche dubbio sulle conclusioni Qualche dubbio sulle conclusioni raggiunte?raggiunte?
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Per capire meglio….Per capire meglio….Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”
SE1SE1 + + SE2SE2 + + BSEBSE
BSEBSE
In entrambi i casi buona parte del In entrambi i casi buona parte del segnale proviene dal bulksegnale proviene dal bulk
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Per capire meglio….Per capire meglio….Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”
Qualche dubbio sulle conclusioni Qualche dubbio sulle conclusioni raggiunte prima?raggiunte prima?
Una immagine a bassa tensione dovrebbe aumentare il peso delle informazioni provenienti dagli strati più esterni
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Per capire meglio….Per capire meglio….Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”
Una croce tracciata, con un pennarello indelebile, su un vetrino da microscopio ricoperto da 10 nm di oro. Quindi il tutto è stato ricoperto con altri 10 nm di oro tramite sputtering.
La struttura è perfettamente nota quindi possiamo fare delle ipotesi e andarle a verificare.
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111122
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Per capire meglio….Per capire meglio….Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”
Vediamo di verificare prendendo immagini ad HT crescente
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Per capire meglio….Per capire meglio….Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”
Vediamo di verificare prendendo immagini ad HT crescente
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Per capire meglio….Per capire meglio….Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”
Vediamo di verificare prendendo immagini ad HT crescente
La qualita’ del risultato dipende da …..
• Condizioni generali dello strumento
• Scelta opportuna del campione
• Corretta preparazione del campione
• Scelta delle condizioni operative più opportune per :
Ottenere le informazioni volute
Ridurre gli effetti di disturbo indesiderati
BSD ? 25Kv !?!
2 Kv ????
SED ?
HELP !!!!
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Grazie per l’attenzioneGrazie per l’attenzione