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S Scanning E Electron M Microscopy Interazione fascio-campione Rivelatori per elettroni secondari e retrodiffusi Effetti delle variazioni dei principali parametri strumentali Corso di Microscopia Elettronica a Scansione e Microanalisi EDS P.L. Fabbri – M. Tonelli

S S canning E E lectron M M icroscopy Interazione fascio-campione Rivelatori per elettroni secondari e retrodiffusi Effetti delle variazioni dei principali

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SScanning

EElectron

MMicroscopy

Interazione fascio-campioneRivelatori per elettroni secondari e retrodiffusi

Effetti delle variazioni dei principali parametri strumentali

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Interazioni elettrone materiaInterazioni elettrone materia

Scattering Elastico

L’elettrone del fascio primario interagisce con il campo elettrico di un nucleo di un atomo del campione. Il risultato è un cambio di direzione senza una variazione significativa dell’energia dell’elettrone primario. La deflessione o le successive deflessioni subite possono comportare anche l’uscita dal compione. In questo caso si parla di elettrone retrodiffuso (BSE )

50 eV < E <= Ep

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Interazioni elettrone materiaInterazioni elettrone materia

Gli elettroni primari del fascio collimato colpiscono la superficie del campione e interagiscono con gli atomi del materiale del quale è composto.

L’elettrone del fascio primario interagisce con il campo elettrico di un elettrone di un atomo del campione. Il risultato è un trasferimento di energia all’atomo ed a una potenziale espulsione di un elettrone dall’atomo stesso. (Elettrone Secondario ) SE

E < 50 eV

Scattering Anelastico

Se l’elettrone rimosso viene rimpiazzato da un elettrone più esterno, si puo avere emissione di un fotone X caratteristico con energia uguale alla differenza ΔE dei due livelli energetici conivolti.

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Interazioni elettrone materiaInterazioni elettrone materia

Effetti misurabili delle interazioni elettrone - materia Effetti misurabili delle interazioni elettrone - materia

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Interazioni elettrone materiaInterazioni elettrone materia

~ 1 m

e- AugerE ~ 1-10 eV

e- secondari (SE)E ~ 10-100 eV

e- retrodiffusi(BSE) E ~10 keV

raggi X caratteristici

raggi X spettro continuo

superficie

Fascio incidente

SEM~0.5-50keV

Volume di interazioneVolume di interazioneProfonditProfonditá di provenienza dei vari prodotti delle interazioni elettrone materiaá di provenienza dei vari prodotti delle interazioni elettrone materia

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Volume di interazioneVolume di interazione

Fe – campione spesso

d= 10 nm.

E= 15 KvE= 5 KvE= 1 Kv

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Volume di interazioneVolume di interazione

Fe – campione spesso

d= 10nm.

E= 15 KvE= 5 KvE= 1 Kv

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E = 5 Kvd = 10 nm

C Fe Au

Volume di interazioneVolume di interazione

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E = 5 Kvd = 10 nm

C Fe Au

Volume di interazioneVolume di interazione

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Elettroni secondariElettroni secondari

• maggiore per angoli grandi tra fascio e superficie Contrasto topografico

• scarsa dipendenza da Z

•maggiore per E minore (a causa della minor penetrazione)

Efficenza (intensità) = SE/ in

SE= n. elettroni secondari

in= n.elettroni incidenti

Rivelatore

Bassa energia piccola profondità di uscita

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Elettroni secondari Elettroni secondari

SEI

SEIII

SEII

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Elettroni retrodiffusi (backscattered BS)Elettroni retrodiffusi (backscattered BS) Dipendenza del volume di provenienza da E (fascio incidente) e da Z e ρ (campione)

BS Scarsa risoluzione spazialeCorso di Microscopia Elettronica a Scansione e Microanalisi EDS

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Elettroni retrodiffusi (backscattered BS)Elettroni retrodiffusi (backscattered BS) Dipendenza dell’efficenza di scattering η (intensità) da Z

coefficiente η = ηBS/ ηin

ηBS= n. elettroni BSηin= n.elettroni incidenti

Forte dipendenza da Z (contrasto composizionale)Forte dipendenza da Z (contrasto composizionale)

Scarsa dipendenza da EScarsa dipendenza da E

Scarsa dipendenza dall’angolo di incidenza (scarso contrasto topografico)Scarsa dipendenza dall’angolo di incidenza (scarso contrasto topografico)

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Rivelatore retrodiffusiRivelatore retrodiffusi

Contrasto Z ( prevalentemente composizionale )

Per incidenza a 90°

η(Ψ)=ηncos(Ψ)

Cioè l’intensità maggiore è attorno alla direzione del fascio incidente

Elemento pesante

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Rivelatore retrodiffusiRivelatore retrodiffusi

Per aumentare il contrasto topografico

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Rivelatore per Elettroni SecondariRivelatore per Elettroni SecondariEverhart Thornley Detector (ETD)

Elemento pesante

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1. griglia ( -100/+300V )2. scintillatore3. guida ottica4. foto-moltiplicatore5. preamplificatore

La griglia attrae gli elettroni secondari -gli elettroni arrivano allo scintillatore e vengono

trasformati in fotoni - la guida ottica convoglia la radiazione luminosa al foto-moltiplicatore che la trasforma in segnale elettrico - il segnale viene amplificato e inviato al sistema di digitalizzazione della immagine.

12

3

45

Contrasto ( prevalentemente morgfologico )

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Effetti delle variazioni dei principali parametri strumentaliEffetti delle variazioni dei principali parametri strumentali

Una serie di domande senza … risposta !Una serie di domande senza … risposta !

.... Quale Rivelatore ?

.... Quale tensione di accelerazione ?

.... Quale spot-size ?

.... Quale distanza di lavoro ?

.... Quale apertura finale ?

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.... Quale HT ?.... Quale HT ?

HT

• Alta risoluzione• Alta risoluzione

• Nasconde morfologia superficiale• Danni da irraggiamento• Maggiori effetti di bordo• Maggiore accumulo di carica

• Nasconde morfologia superficiale• Danni da irraggiamento• Maggiori effetti di bordo• Maggiore accumulo di carica

• Bassa risoluzione• Bassa risoluzione

• Rivela morfologia superficiale• Meno danni da irraggiamento• Minori effetti di bordo• Riduce accumulo di carica

• Rivela morfologia superficiale• Meno danni da irraggiamento• Minori effetti di bordo• Riduce accumulo di carica

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SED 25KV

SED 5KV

.... Quale HT ?.... Quale HT ?

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… … Quale spot size ?Quale spot size ?

ProbeCurrent

• Migliore S/N ( Immagini piu’ nitide )

• Migliore S/N ( Immagini piu’ nitide )

• Bassa risoluzione • Maggiori danni da irraggiamento

• Bassa risoluzione • Maggiori danni da irraggiamento

• Peggiore S/N ( Immagini meno nitide )

• Peggiore S/N ( Immagini meno nitide )

• Alta risoluzione • Meno danni da irraggiamento

• Alta risoluzione • Meno danni da irraggiamento

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Miglior risoluzione ??

SPOT > Ip > S/N >>> Peggioramento della qualita’ della immagine

Spot 3

Spot 6

Slow Scan

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Correzione dell’astigmatismo

Astigmatismo parzialmente corretto.

Solo secondo la direzione verticale

Astigmatismo parzialmente corretto.

Solo secondo la direzione orizzontale

Astigmatismo corretto.

Lo spot e’ simmetrico nelle due direzioni.

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• Minimo Spot Size

• Peggiore S/N possibile

E’ necessario lavorare in scansione lenta su una piccola porzione della immagine ….

Fuoco - Astigmatismo

Astigmatismo - Fuoco

… per poi procedere alla acquisizione o alla fotografia usando una velocita’ di scansione sufficientemente bassa.

Massima risoluzione ?

0.5 µm.

0.5 µm.

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… … Quale distanza di lavoro ?Quale distanza di lavoro ?

WD

• Bassa risoluzione• Bassa risoluzione

• Maggiore profondita’ di campo • Maggiore profondita’ di campo

• Minore profondita’ di campo • Minore profondita’ di campo • Alta risoluzione

• Alta risoluzione

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WD: 9mm.

WD: 31mm.

WD

WD

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… … Quale diaframma finale ?Quale diaframma finale ?

DiaframmaFinale

• Alta corrente sul campione• Miglior rapporto S/N ( Immagini pu’ nitide )

• Alta corrente sul campione• Miglior rapporto S/N ( Immagini pu’ nitide )

• Bassa risoluzione• Minore profondita` di campo

• Bassa risoluzione• Minore profondita` di campo

• Bassa corrente sul campione• Peggiore S/N ( Immagini meno nitide )

• Bassa corrente sul campione• Peggiore S/N ( Immagini meno nitide )

• Alta risoluzione• Maggiore profondita` di campo

• Alta risoluzione• Maggiore profondita` di campo

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APT= 600µm.

APT= 100µm.

WD

WD

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… … Quale rivelatore ?Quale rivelatore ?

SED

SED - BSD

BSD

SED + BSD

Si K

Al K

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Effetti di bordo

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Effetti di bordo - Rimedi -

25 KV Tilt=30

25 KV Tilt=02 KV Tilt=30

Variando il tilt possono essere ridotti gli effetti di bordo

Solo la riduzione della energia degli elettroni permette di ridurre fino ad eliminare gli effetti di bordo.

Anche il charge-up e’ ridotto

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E’ buona norma verificare il corretto metodo do fissaggio del campione al supporto, prima di ricorrere ad “abbondanti metallizazioni “.

E’ importante effettuare tentativi con diversi metodi e materiali di fissaggio.

Accumulo di carica - Rimedi -

SI

SI

NO

NO

campioni massivi

fibre

polveri

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Danni da irraggiamento

La perdita di energia degli elettroni primari produce calore che, se non adeguatamente dissipato, puo’ danneggiare il campione. Il danno dipende fortemente da :

• HT e corrente

• Area scandita

• Tempo di scansione

• Conducibilita’ termica

I campioni piu’ sensibili sono i polimeri e i campioni biologici in genere a causa della loro bassa conducibilita’ termica

PRECAUZIONI

• Abbassare la HT e la corrente

• Aumentare l’ area scandita

• Ridurre il tempo di scansione

• Aumentare lo spessore della metallizzazione

Se, possibile, effettuare la ottimizzazione della immagine in un campo contiguo a quello di interesse.

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BSD / SED / HT - informazioni di bulk

BSD 25Kv BSD 12Kv

SED 12KvSED 25Kv

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Per capire meglio….Per capire meglio….Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”

Una croce tracciata, con un pennarello indelebile, su un vetrino da microscopio ricoperto da 10 nm di oro. Quindi il tutto è stato ricoperto con altri 10nm di oro tramite sputtering.

Quale dei due tratti è stato fatto Quale dei due tratti è stato fatto per primo ?per primo ?

11

22Secondo quale direzione sono Secondo quale direzione sono state tracciate queste due linee?state tracciate queste due linee?

??????

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Per capire meglio….Per capire meglio….Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”

Vediamo se una immagine BSE ci dice qualcosa di più.

Qualche dubbio sulle conclusioni Qualche dubbio sulle conclusioni raggiunte?raggiunte?

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Per capire meglio….Per capire meglio….Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”

SE1SE1 + + SE2SE2 + + BSEBSE

BSEBSE

In entrambi i casi buona parte del In entrambi i casi buona parte del segnale proviene dal bulksegnale proviene dal bulk

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Per capire meglio….Per capire meglio….Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”

Qualche dubbio sulle conclusioni Qualche dubbio sulle conclusioni raggiunte prima?raggiunte prima?

Una immagine a bassa tensione dovrebbe aumentare il peso delle informazioni provenienti dagli strati più esterni

22

11

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Per capire meglio….Per capire meglio….Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”

Una croce tracciata, con un pennarello indelebile, su un vetrino da microscopio ricoperto da 10 nm di oro. Quindi il tutto è stato ricoperto con altri 10 nm di oro tramite sputtering.

La struttura è perfettamente nota quindi possiamo fare delle ipotesi e andarle a verificare.

22

111122

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Per capire meglio….Per capire meglio….Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”

Vediamo di verificare prendendo immagini ad HT crescente

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Per capire meglio….Per capire meglio….Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”

Vediamo di verificare prendendo immagini ad HT crescente

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Per capire meglio….Per capire meglio….Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”Usare campioni “semplici” e di struttura “nota”

Vediamo di verificare prendendo immagini ad HT crescente

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La qualita’ del risultato dipende da …..

• Condizioni generali dello strumento

• Scelta opportuna del campione

• Corretta preparazione del campione

• Scelta delle condizioni operative più opportune per :

Ottenere le informazioni volute

Ridurre gli effetti di disturbo indesiderati

BSD ? 25Kv !?!

2 Kv ????

SED ?

HELP !!!!

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Grazie per l’attenzioneGrazie per l’attenzione