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F-7761DE_C (2011-06)
Prozesstechnologische und werkstofftechnische Untersuchungen zur Zuverlässigkeit bleifreier Weichlötverbindungen in KFZ-Elektroniken
Andreas Herenz, Torsten Schmidt,
Petrik Lange, HELLA KGaA Lippstadt
Elektronik-Technologie-Forum Nord
am 30. / 31. Januar 2013 in Hamburg
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz2
Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZHella-Fertigungsstandorte weltweit
HEC
Plymouth, Michigan (USA)Development
HSL
Daegu (South Korea)Development & production
HAE
Xiamen (China)Production
CEDASA
Daganzu (Spain)Development & production
HER
Timisoara (Romania)Development & production
HIE
New Delhi (India)Production
HSE
Shanghai (China)Development & production
plant 2 Development (Lippstadt)
plant 4 (Hamm Bockum-Hövel)plant 5 (Recklinghausen)HFK (Bremen)Hella Aglaia (Berlin)
Enko Automotive (Schortens)HEDN (Neutraubling)Intedis (Würzburg)BHTC (Lippstadt)
Flora, Illinois (USA)Production
HEC
HJI
Tokyo (Japan)Customer Service Center
San Jose Iturbide (Mexico)Production (3 Q 2008)
HEM
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ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz3
Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZProduktentwicklung Fa. Hella, Lichtbereich (Beispiele)
Licht-Entwicklungen von Hella haben immer wieder entscheidendzum automobilen Fortschritt beigetragen.
Erster elektri-scher Schein-werfer
ErstesAbblend-licht
Asymme-trischeLicht-vertei-lung
H4-Halogen-licht
ErsterDE-Projek-tions-schein-werfer
Frei-form-reflektor
Xenon-Schein-werfer dererstenGenera-tion geht in Serie
Zulassungdes ersteneuropäi-schenHaupt-schein-werfersmit Kunst-stoffstreu-scheibe
ErsterBi-Xenon-Schein-werfergeht inSerie
Lichtleit-Techno-logie alsStyling-element
VARILIS®
Abbiege-licht und dyna-misches Kurven-licht
um 1908 1915 1957 1971 1983 1988 1992 1993 2003/0419991999 2000
LED alsSignal-funktionim Haupt-
schein-werfer
2005/06
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz4
Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZProduktentwicklung Fa. Hella, Elektronikbereich (Beispiele)
1984
Erste elektronische Klimaregelung (Porsche)
1989 1995 1997 1999 2003
Erstes ASR-System für frontgetriebene Fahrzeuge
Dynamische Leuchtweite-regelung für Xenon-Scheinwerfer
Integrierter Fahrpedal-sensor (Rückmeldung, Krafthysterese, Kick-down)
Erster intelligenter Steller für Turbolader
Erster Batteriesensor, eingebaut in den Bauraum der Polklemme
Elektronik-Entwicklungen von Hella tragen entscheidend zum automobilen Fortschritt bei.
2005
Erster Spurwechsel-Assistent auf Basis 24 GHz Radar Sensorik(Audi)
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ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz5
Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZAgenda
� Zeitliche Umstellung bleihaltiger auf bleifreie Lote
� Anforderungen an Lötverbindungen im KFZ-Bereich
� Hella-Produkte mit bleifreier Löttechnologie (Beispiele)
� Kritische Zustände von Lötstellen
� Analysemethoden zur Untersuchung
� Untersuchungsergebnisse an Beispielen und Diskussion
� Schlussfolgerungen
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz6
Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZBleifrei Roadmap
Com
poen
ts
1994 2006 2007 2008 2009 2010 2011 ... 2015 2016 2017... 2035
Connectors / other
Components active
PCB´s
Components passive
ELV2003
Annex II
Pb
Ele
ctro
nics
RoHSELV2008
Annex II
23.8.08
Leadfree Changeover
COP Parts at Hella
Pb
ELV2009
Annex II
Pb
Current PCB electronics
Type approved cars from 2016 must be leadfree soldered (min. ELV 2)
PCB electronics
Non PCB electronics / Electrics
Leaded Long-term Supply until 2035 about 10%Pb
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Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZTypische Anforderungen an die Elektroniken
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz7
**-40 to 85 / 105 / 125 /1 50 / 165°C (Zyklen / Schocks / Alterung)
**8-50h / xyz / 2Hz – 3KHz Sinus / 1G–40G + Temperatur
Lebensdauer: 3000 – 6000 hrs, 7500 Starts / Zyklen
Lebensdauer: 15 Jahre / 300.000 km
**PCT: power cycle testing
Langzeit-Feuchtetest 85 °C / 85 % r.F. und Kondensationstest 40 °C / 95 % r. F.
** Bleifrei-Validierung
Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZHella Elektronikprodukte mit bleifreiem Lötprozess (Auswahl)
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz8
Level SensorsRotary Electronic Actuator
EM SensorCentral Modules
Throttle body assemblies Light Control Modules
Chassis Electronics
Headlamp ECU
Solid State Relays
Inductive Sensors
20 years experience, more than 40 Mio. Parts
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Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZ Kritische Zustände gilt es zu verhindern
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz9
Wicking-Effekt: Lot wird am Bauteil-Anschluss hochgezogen
Whisker Ausbläser
Pad & fillet lifting
Rissbildung Schrumpfspalten
Delaminationen in Bauteilen PCB -Deformation
Sn-Schmelze auf Kontakte(bleiferi pin in paste)
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Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZAnalysemethoden
Umfassendes analytisches Equipment, Methoden & Untersuchungen
e.g. SEM, EDX, DSC, FTIR, Mikrohärte, Zugversuche, Ultrasonic, Röntgen, Rheometrie, Benetzungswaage, Profilometer etc.
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz
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Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZAnalysemethoden (Favoriten)
� Anfertigung von metallografischen Schliffen (Präparation)� Lichtoptische Untersuchungen (Draufsicht+ Schliffe)� Elektronenmikroskopische Untersuchungen und Analysen� Röntgenografische Untersuchungen
11 ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz
Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZDendritenbildung im Wellenlötprozeß (gemeinsame Untersuchungen mit Lötanlagenhersteller)
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Nadelbildung (Dendriten) durch Fe-Auflösung und Sn/Fe-Phasenbildung im Bleifreilot (höhere Temperatur, höherer Sn-Gehalt)
� Wörthmann-Welle mit Lochmaske für eine ruhige Wellenbewegung bei einer Bleifreilötung aus („resistenten“) Material
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz
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Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZIntermetallische Phasenbildung im Lotbad (gemeinsame Untersuchungen mit Lotlieferant)
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� Sn/Cu-Phasenausscheidungen am Tiegelboden (agglomerierte „Dendriten-Nadeln“), besonders bei Verwendung von SnCu-Loten beobachtet (flüssiges Lot ist „übersättigt“): kann Lotpumpe schädigen!
� Ursache: zu hoher Cu-Konzentration im Lot, Empfehlung: Lotbadkontrolle, bei Wartung überprüfen
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz
Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZSchliffpräparation für Pad- und Fillet Lifting (Testlötungen mit Welle)
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Wird besonders bei der Wellenlötung beobachtet. Ursachen sind: � falsche Abkühlung, Empfehlung: 2…6 K/s� zu viel Pb oder Cu durch Ablegierung im Lot, Empfehlung: Lotbadkontrolle
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz
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Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZSchliffpräparation Sn-Vermischung mit Lot (gezielte Untersuchungen im Rahmen einer Diplomarbeit)
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Beim bleifreiem Reflowlöten handelt es sich um ein „statisches“ Lotdepot. Ist die Sn-Schicht auf den Bauteil-anschlüssen zu dick (> 25 µm*) ), kann es zu nicht gelösten Sn-Rückständen auf der Beschichtung kommen, die besonders bei galv. Schichten zu Schwachstellen in den Lötstellen führen.
*) Untersuchungen bei Hella: DA Julia Götz
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz
Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZSchliffpräparation Bleiseigerung in Test-Lötstellen (REM – LM)
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Bei „Mischlötungen“ kann es zur sog. Bleiseigerung kommen: (unter Verwendung von bleifreiem Lot)Bei 3…5 M.-% Pb im Lot bzw. in der Lötstelle scheidet bei der Erstarrung Pb in den Sn-Mischkristall-Korngrenzen aus.
Links: Lot aus einer Wellenlötanlage im erstarrten Zustand mit o. g. Pb-Anteil (SEM-Aufnahme: Pb hell)Rechts: Lotdepot einer Reflowlötstelle im Zusammenhang mit einer verbleiten HAL-Lp (lichtopt. Aufn.: Pb dunkel)
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz
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Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZSchliffpräparation Bleiseigerung in der Test-Lötstelle (bleifreies BT/ Bleilot)
� Bleifreies Lotdepot im Bauteil in Verbindung mit einer bleihaltigen Lötung
� Blei seigert in den Korngrenzen der Sn-Kristallite
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz17
Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZSchliffpräparation „Leeching“ im bleifreien Wellen-Nachlötprozess (Qualifikation eines Nachlötprozesses)
Bei bleifreier Wellenlötung wird mit Temperaturen bis 300 °C (Mini-Welle) gelötet. Dabei kommt es bei Mehrfachlötungen (Nachlöten) oft zum partiell vollständigem Ablösen des Cu!
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz18
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Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZSchliffpräparation Au-Schichten und deren Phasenbildung (Muster)
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� Bildung von Sn/Au-Phasen im Lotdepot der Reflow-Lötstelle: kann Lötstelle verspröden!� Ursache: zu dicke Au-Beschichtung von Lötkontakten� Empfehlung: Au-Schichtdicke < 0,5 µm
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz
Lot und Sn/Au-IMP
Au
Cu
Au5Sn
Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZBildung von Dendriten-Nadeln aus den Lötstellen nach Mehrfachlötungen
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� Sn/Cu-Phasenbildung in Form von Dendriten beim Reflowlöten: kann zu Kurzschlüssen führen!� Ursachen: zu langes Löten oder Mehrfachlötungen, Empfehlung: Lötparameter optimieren
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz
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Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZSn-Whisker (Untersuchungen im Rahmen einer Diplomarbeit)
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Fotos: Tobias GötteFa. Hella KGaA (DA 2005)
Whisker bilden sich besonders auf Reinzinn-Oberflächen, meistens in Verbindung mit mechanischen Spannungen.Sie sind deshalb auf den unbenetzten verzinnten Anschlussgebieten zu erwarten. Bleifreie Lote zeigen keine Whisker.Die Abbildungen zeigen verschiedene Whiskertypen: gerade Nadelwhisker, gekrümmte Whisker, „Schachtelhalm-Whisker“ Empfehlung: Sn-Schichten entspr. ZVEI- Vorgabe
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz
Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZKristallografische Kornorientierung im Lot (REM, EBSD)
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Quelle:1-3: „LiVe“, W. Scheel,
K.Wittke, M. Nowottnick,
4: Eigene Aufnahme
Symbolische Darstellung von Gefügeuntersuchungen mit EBSD an Lötstellen.Das Gefüge bildet sich beim Erstarrungsprozess aus: Schnelles Abkühlen ergibt ein feines Gefüge, langsames Abkühlen
ein gröberes Gefüge (opt. 3…6 K/s).Im Verlauf der Lebensdauer ändert sich das Gefüge entsprechend der Belastung: Kriterien sind Korngröße,
Verspannungen und Orientierung der Kristallite
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz
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Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZRöntgen-Durchstrahlaufnahme und LM-Abbildung (Qualifikation Bauteil-Lieferant)
23 ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz
Röntgen-Durchstrahl-Aufnahme und dazugehörige lichtoptische Aufnahme einer Lötstelle auf der Leiterplatte einer abgefallenen Induktivität (lichtoptische Aufnahme ist etwas gekippt!)
Untersuchungen an bleifreien Lötverbindungen für KFZZusammenfassung
o Im Vortrag werden die Zeitschiene der Bleifreiumstellung sowie die Zuverlässigkeitsanforderungen von KFZ-Elektroniken aufgezeigt (incl. Status Hella).
o Zur Absicherung stabiler bleifreier Lötstellen sind prozesstechnische und werkstoffanalytische Untersuchungen unabdingbar:
• Materialanpassung in den Lötanlagen für bleifreies Lot und höhere Temperaturen• Optimierung der Prozessparameter (Vorheizung, Lötzone, Abkühlung)• Analytische Voraussetzungen für Absicherung der Zuverlässigkeit von bleifreien Lötstellen:
− Metallografie, incl. Lichtmikroskopie und Elektronenmikroskopie (SE, BSE, EdX)− Röntgenografische Analysemethoden (Röntgenfluoreszenz, Röntgen-Durchstrahlung)− Topografie (FRT)− IR-Spektroskopie
o Anhand von typischen Beispielen werden Abstell-Maßnahmen und Vorgehensweisen dazu erläutert:
• Dendritenbildung und Phasenausscheidungen im Lotbad• Pad- und Fillet Lifting, Schrumpfspalte in Lötstellen• Mischlötungen (Bauteilanschluss-Beschichtungen), Bleiseigerung• Optimierung Nachlötprozess• Löten von Goldanschlüssen• Whiskerbildung auf Rein-Zinnschichten
o Fazit: Die bleifreie Löttechnologie hat uns viele neue Fehlerbilder beschert aber alles ist beherrschbar ,
wenn Prozessgrenzen und Materialspezifikationen beachtet werden!
ETFN am 30. / 31. Januar 2013 A. Herenz24