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Materiali per Materiali per l’optoelettronica l’optoelettronica Docente: Mauro Mosca Docente: Mauro Mosca (www.dieet.unipa.it/tfl) (www.dieet.unipa.it/tfl) Ricevimento: alla fine della lezione o per appuntamento Università di Palermo – Facoltà di Ingegneria (DE A.A. 2014-15 A.A. 2014-15

Materiali per l’optoelettronica Docente: Mauro Mosca ( Ricevimento: alla fine della lezione o per appuntamento Università di Palermo

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Materiali per l’optoelettronicaMateriali per l’optoelettronica

Docente: Mauro MoscaDocente: Mauro Mosca

(www.dieet.unipa.it/tfl)(www.dieet.unipa.it/tfl)

Ricevimento: alla fine della lezione o per appuntamento

Università di Palermo – Facoltà di Ingegneria (DEIM)

A.A. 2014-15A.A. 2014-15

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Tabella periodica: III-V gruppoTabella periodica: III-V gruppo

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Dal GaAs al GaAsPDal GaAs al GaAsP

GaAs 870 nm

GaAsP ~3,6% mismatching reticolare

dislocazionisoluzione:buffer layer

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Sistemi GaAs, GaAsP, GaPSistemi GaAs, GaAsP, GaP

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Gap diretta e indiretta: ricombinazioneGap diretta e indiretta: ricombinazione

the transition must conserve the TOTAL wave vector of the system!

photon wavevector: 2

electron wave vector: between -a e +/a

≈ 0.5×10-6 m

a≈ 10-10 m

2aa phonon must

be createdor annihilated

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Gap diretta e indiretta: ricombinazioneGap diretta e indiretta: ricombinazione

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Impurità come centri di ricombinazioneImpurità come centri di ricombinazione

k spread enough (-/a; + /a) to allow a significant number of transitions without phonon assistance

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Transizioni sistema GaAsPTransizioni sistema GaAsP

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Sistema GaAsP:NSistema GaAsP:N

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Sistema GaAsP:NSistema GaAsP:N

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Sistema GaAsP:NSistema GaAsP:N

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Diagramma energia vs. parametro di magliaDiagramma energia vs. parametro di maglia

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Sistema AlGaAs/GaAsSistema AlGaAs/GaAs

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Diagrammi a bande AlGaAs/GaAsDiagrammi a bande AlGaAs/GaAs

problemi di affidabilità e degrado (ossidazione e idrolisi)- packaging- lower content of Al- lower layer thickness

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Sistema AlGaInP/GaAsSistema AlGaInP/GaAs

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Bandgap sistema AlGaInPBandgap sistema AlGaInP

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Linee di costante parametro di maglia e Linee di costante parametro di maglia e lunghezza d’onda di emissione (AlGaInP)lunghezza d’onda di emissione (AlGaInP)

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Sistema AlGaInNSistema AlGaInN

difficile da crescere(In tende a evaporare dalla superficie)

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DislocazioniDislocazioni

107-109 cm-2

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Efficienza luminosa di LED visibiliEfficienza luminosa di LED visibili

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Efficienza luminosa di LED visibiliEfficienza luminosa di LED visibili

alta sensibilitàdell’occhio umano

(lumen…)

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Flusso luminoso e prezzi di LEDFlusso luminoso e prezzi di LED

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LED basati su diversi sistemi materialiLED basati su diversi sistemi materiali

più difficili da crescere (alta % di In)

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Sistema AlGaInN (con fattore di bowing)Sistema AlGaInN (con fattore di bowing)

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Polarizzazione spontanea e Polarizzazione spontanea e piezoelettrica nei nitruripiezoelettrica nei nitruri

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Polarizzazione spontanea e Polarizzazione spontanea e piezoelettrica nei nitruripiezoelettrica nei nitruri

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Regione attiva sottile e spessaRegione attiva sottile e spessa

polarizzazione schermata da: a) forte drogaggio regione attiva

b) alta iniezione di corrente

blue shift

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Contatti ohmici ed effetti di polarizzazioneContatti ohmici ed effetti di polarizzazione

p-type GaN

InGaN thin cap

tunneling di lacune

tensione di soglia più bassa

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Drogaggio Drogaggio pp del GaN del GaN

low doping activation (Mg)

l’idrogeno fornisce gli elettroni agli accettori

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Dislocazioni nel GaNDislocazioni nel GaN

corindonewurtzite

GaN

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Dislocazioni cariche negativamenteDislocazioni cariche negativamente

+

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Ricombinazione nelle dislocazioniRicombinazione nelle dislocazioni

centri di ricombinazione!(non radiativi)

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Why high recombination efficiency?Why high recombination efficiency?States outside the bandgapStates outside the bandgap

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Why high recombination efficiency?Why high recombination efficiency?Cluster di InCluster di In

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Efficienza radiativa e pitch densityEfficienza radiativa e pitch density

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