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Keysight E5061B ネットワーク・アナライザ 100 kHz 1.5 GHz/3 GHz 5 Hz 3 GHz

Keysight E5061B ネットワーク・アナライザオーダー情報 E5061B ネットワーク・アナライザテストセット・オプション1 50 メΩRF NAオプション

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Page 1: Keysight E5061B ネットワーク・アナライザオーダー情報 E5061B ネットワーク・アナライザテストセット・オプション1 50 メΩRF NAオプション

Keysight E5061B ネットワーク・アナライザ

100 kHz~ 1.5 GHz/3 GHz 5 Hz~ 3 GHz

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RF NAオプション E5061B-115/215/135/235:50 Ω E5061B-117/217/137/217:75 Ω

基本的なRF測定のための優れた性能を提供するエコノミー RFネットワーク・アナライザ

– 100 kHz~ 1.5 GHz/3 GHz

– 伝送/反射テストセットとSパラメータ・テストセット – 50 Ω/75 Ωのシステムインピーダンス

E5061BはLFからRFまでのさまざまな測定ニーズに対応

Keysight E5061Bは、業界標準のENAシリーズ ネットワーク・アナライザの1つです。E5061Bは、低周波から高周波までの電子コンポーネントや回路に対する、さまざまな測定ニーズに対応しています。E5061Bは、無線通信、航空宇宙/防衛、コンピューター、医療、自動車、CATVなどのさまざまな分野のアプリケーションに最適なソリューションです。E5061Bは、5 Hz~ 3 GHzの周波数ドメインデバイス解析のための新しい標準です。

1. オプション005インピーダンス解析機能は、RF NAオプション(E5061B-1x5/2x5/1x7/2x7)では使用できません。

LF-RF NAオプション E5061B-3L5

LFからRFまでの電子デバイスのネットワーク/インピーダンス測定のための幅広い機能を備えた汎用ネットワーク・アナライザ

– 5 Hz~ 3 GHz

– 50 Ω Sパラメータ・テストセット – ゲインフェーズ・テストポート(1 MΩ/50 Ω入力) – DCバイアス信号源 – インピーダンス解析機能(オプション005) 1

5 Hz 100 kHz 3 GHz

ネットワーク解析

インピーダンス解析

75 Ω

50 Ω

RF NAオプション

LF-RF NAオプション

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高度な測定機能をコンパクトな筐体に内蔵

表1. E5061Bの主な測定機能

RF NAオプション(E5061B-1x5/2x5/1x7/2x7)

LF-RF NAオプション (E5061B-3L5)

テスト周波数レンジ 100 kHz~ 1.5 GHz(オプション115/215/117/217)100 kHz~ 3 GHz(オプション135/235/137/237)

5 Hz~ 3 GHz

信号源出力レベル -45~+10 dBm(300 kHz~ 1.5/3 GHz)-45~+5 dBm(100 kHz~ 300 kHz)

-45~+10 dBm(5 Hz~ 3 GHz)

ダイナミックレンジ >120 dB(1 MHz~ 1.5/3 GHz、IFBW=10 Hz) >120 dB(1 MHz~ 3 GHz、IFBW=10 Hz)トレースノイズ 5 mdBrms(IFBW=3 kHz) 5 mdBrms(IFBW=3 kHz/オート)テストポート 伝送/反射(オプション1x5/1x7)、

Sパラメータ・テストポート(オプション2x5/2x7)Sパラメータ・テストポート(5 Hz~ 3 GHz)、

およびゲインフェーズ・テストポート(5 Hz~ 30 MHz)

75 Ωテストポート (オプション1x7/2x7) ×1 MΩ入力 × (ゲインフェーズ・テストポート、

1 MΩ // 30 pF)プローブパワー × DCバイアス信号源 × (0~±40 Vdc、最大100 mAdc、掃引可能)インピーダンス解析機能 × (オプション005)周波数安定度(CW確度) ±7 ppm±1 mHz(標準)、±1 ppm±1 mHz(オプション1E5)タイムドメイン/障害位置解析 (オプション010、タイムゲーティングおよびリターンロス解析機能あり)チャネル/トレース数 4チャネル/4トレースポイント数 1601ポイントIFBW 1 Hz~ 300 kHz、およびIFBWオートモード(オプション3L5のみ)校正機能 レスポンス、1ポートフル、2ポートフル1、エンハンスドレスポンス、アダプタ除去、

オートポート延長 ECal(>300 kHz、RF 2ポートECalモジュール使用)

インピーダンス校正およびフィクスチャ補正(オプション3L5+005のみ)データ解析、データ処理 数式エディタ、VBAプログラミング、リミットテスト、Z変換

1. E5061B-115/135/117/137では使用不可

10.4インチLCD タッチスクリーン

ハンドラI/O 周辺機器ポート(USB、LAN、XGA出力)

外部トリガ入出力

GPIB

USBTMC高安定周波数基準 (オプション1E5)

ゲインフェーズ・ テストポート

(オプション3L5のみ)- LF OUT(信号源)- R(1 MΩ/50 Ω)- T(1 MΩ/50 Ω)

Sパラメータ・テスト ポート (オプション2x5/2x7/3L5)、または 伝送/反射テストポート (オプション1x5/1x7)

プローブパワー(オプション3L5のみ)

USB

コンパクトな筐体 (8753C ネットワーク・ アナライザとの比較)

E5061B

254 mm

498 mm

8753C

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RF NAオプション(100 kHz~ 1.5/3 GHz) E5061B-115/215/135/235:50 Ω、 E5061B-117/217/137/237:75 Ω

優れた性能を備えた高度なプラットフォーム

E5061B RF NAオプションは、高性能の1ポート/2ポート・ネットワーク解析をお求めやすい価格で提供します。この新しいE5061B

プラットフォームには、E5061/62Aの定評あるRF性能が受け継がれています。さまざまなテストセットオプションにより、テスト要件と予算に応じて最適な構成を選択できます。高度なデジタル処理機能と小型化された筐体により、携帯電話基地局用フィルター/アンテナ、MRIコイル、RFID、CATVコンポーネントなどのRFコンポーネントのテストのスループットと作業効率が向上します。

ケーブルのタイムドメイン解析

掃引速度の比較(201ポイント、2ポート校正、 最大IFBW)

(msec)0

Keysight E5061B (IFBW = 300 kHz)

Keysight E5061A (IFBW = 30 kHz)

Keysight 8753ES (IFBW = 6 kHz)

Keysight 8712/14ES (IFBW = 6.5 kHz)

50 100 150

RFフィルター測定のための広いダイナミックレンジ (F0=1.09 GHz、信号源=10 dBm、IFBW=10 Hz)

-120 dB

伝送/反射テストセット Sパラメータ・テストセット#115:1.5 GHz、50 Ω#135:3 GHz、50 Ω#117:1.5 GHz、75 Ω#137:3 GHz、75 Ω

#215:1.5 GHz、50 Ω#235:3 GHz、50 Ω#217:1.5 GHz、75 Ω#237:3 GHz、75 Ω

Port-2Port-1 Port-2Port-1

R1

T1 T2

R1

T1

R2

T2

Port-2Port-1 Port-2Port-1

R1

T1 T2

R1

T1

R2

T2

広い周波数レンジ

100 kHzまでの下限周波数レンジにより、LANフィルターや自動車用アンテナなどの、100 kHzレンジでの測定が必要なコンポーネントのテストが可能です。

タイムドメイン/障害位置解析 (オプションE5061B-010)

タイムドメイン/障害位置解析機能では、タイムゲーティング機能が使用きます。これにより、CATVケーブルのテスト時にテストフィクスチャに起因する不整合誤差を除去できます。

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DC-DCループゲイン測定

ループ利得

位相マージン

LF-RF NAオプション(5 Hz~ 3 GHz) E5061B-3L5

幅広いLF-RFネットワーク解析

E5061B-3L5 LF-RF NAオプションは、5 Hz~ 3 GHzの広い周波数レンジで汎用的なネットワーク解析機能を提供します。内蔵1 MΩ入力を含む幅広いLFネットワーク測定機能が、高性能RFネットワーク・アナライザにシームレスに統合されています。E5061B-3L5は、研究開発環境でのコンポーネント/回路評価に最適なソリューションです。

Sパラメータ・テストポート

E5061B-3L5の内蔵Sパラメータ・テストセットは、優れたダイナミックレンジ性能で5 Hz~ 3 GHzの周波数レンジをフルにカバーします。これにより、DC付近からRFレンジまでのさまざまなデバイスを評価できます。

ゲインフェーズ・テストポート

ゲインフェーズ・テストポートは、5 Hz~ 30 MHzのLFアプリケーションのためのダイレクト・レシーバー・アクセスを提供します。内蔵

1 MΩ入力により、増幅器やDC-DCコンバーターの制御ループのインサーキットプロービング測定が容易に行えます。レシーバーポートでは、グランドループに関連する測定誤差を除去することにより、増幅器のCMRR/PSRRやPDNのmΩ単位のインピーダンスの正確な測定が可能です。

DCバイアス信号源

E5061B-3L5には内蔵DCバイアス信号源があり、最大±40 VdcのDC

電圧を、ポート1またはLF OUTポートのAC信号に重畳させることができます。また、Sパラメータ・テストポートでのDUTの測定中に、LF

OUTポートにDC電圧のみを供給することもできます。

ゲインフェーズ・テストポートによるDC-DCコンバーターのループ利得測定

ATT ATT

Zin Zin

Port-2Port-1T R LF out

R1

T R

T1

R2

T2

Zin = 1 MΩ/50 ΩATT = 20 dB/0 dB

Sパラメータ・テストポート (5 Hz ~ 3 GHz、 50 Ω)

ゲインフェーズ・テストポート(5 Hz~ 30 MHz)

Sパラメータ・テストポートによる広帯域S21測定

-120 dB

100 Hz 1 GHz

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LF-RF NAオプション(5 Hz~ 3 GHz) E5061B-3L5+005 インピーダンス解析オプション

NAとZAをワンボックスで実現

E5061B-005は、E5061B-3L5 LF-RFネットワーク・アナライザにインピーダンス解析(ZA)ファームウェアを追加します。このオプションを使えば、キャパシタ、インダクター、共振子などの電子部品のインピーダンスパラメータを測定できます。NA

機能とZA機能を組み合わせることにより、汎用研究開発ツールとしてのアナライザの用途がさらに広がります。ファームウェアは、フィクスチャ補正や等価回路解析などの基本的なZA機能をサポートしています。E5061B-3L5に内蔵されたDCバイアス信号源を使用して、DCバイアスインピーダンス測定も可能です。

広いアプリケーションカバレージ

E5061B-005は、Sパラメータ・テストポートまたはゲインフェーズ・テストポートを使用して、反射法、シリーズスルー法、シャントスルー法によるインピーダンス測定をサポートしています。これらの方法はそれぞれ、低~中、中~高、およびmΩ単位のきわめて小さなインピーダンスの測定に適しています。適切な測定方法を選択することにより、さまざまなコンポーネントを評価できます。

テストフィクスチャ

ポート1反射法とゲインフェーズ直列スルー法では、キーサイトの7 mmコネクタ/4TP(4端子対)コンポーネント・テストフィクスチャを使用できます。また、ゲインフェーズ・テストポートを使用した、シリーズスルー法では従来からKeysight LCRメータ用にラインアップされた4端子対(4TP)コンポーネント・テストフィクスチャが使用できます。

16201A ターミナルアダプターと16092A 7 mmタイプフィクスチャを使用した反射法

16047E 4TPタイプフィクスチャを使用したゲインフェーズ・ テストポートでのシリーズスルー法

シャントスルー法によるPDNインピーダンス測定 (100 Hz~ 1 GHz)

IZI

Cs Ls

位相

ゲインフェーズ直列スルー法による共振子測定

IZI

位相

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オーダー情報

E5061B ネットワーク・アナライザテストセット・オプション1

50 ΩRF NAオプション E5061B-115 伝送/反射テストセット、

100 kHz~ 1.5 GHz、50 Ωのシステム・ インピーダンス

E5061B 215 Sパラメータ・テストセット、 100 kHz~ 1.5 GHz、50 Ωのシステム・ インピーダンス

E5061B-135 伝送/反射テストセット、100 kHz~ 3 GHz、50 Ωシステム・ インピーダンス

E5061B-235 Sパラメータ・テストセット、 100 kHz~ 3 GHz、50 Ωのシステム・ インピーダンス

75 ΩRF NAオプション E5061B-117 伝送/反射テストセット、

100 kHz~ 1.5 GHz、75 Ωのシステム・ インピーダンス

E5061B-217 Sパラメータ・テストセット、 100 kHz~ 1.5 GHz、75 Ωのシステム・ インピーダンス

E5061B-137 伝送/反射テストセット、 100 kHz~ 3 GHz、75 Ωのシステム・ インピーダンス

E5061B-237 Sパラメータ・テストセット、 100 kHz~ 3 GHz、75 Ωのシステム・ インピーダンス

LF-RF NAオプション E5061B-3L5 LF-RFネットワーク・アナライザ、

DCバイアス信号源付き、5 Hz~ 3 GHz

インピーダンス解析オプション(E5061B-3L5) E5061B-005 LF-RFネットワーク・アナライザ用

インピーダンス解析オプション2

E5061B-720 50 Ω抵抗セット追加3

その他のオプション E5061B-1E5 高安定タイムベース E5061B-010 タイムドメイン/障害位置解析 E5061B-020 標準ハードディスクドライブ4

E5061B-810 キーボード追加 E5061B-820 マウス追加 E5061B-1CM ラックマウントキット E5061B-1CN フロントハンドルキット E5061B-1CP ラックマウント/フロントハンドルキット E5061B-1A7 ISO 17025準拠校正 E5061B-A6J ANSI Z540準拠校正

アクセサリネットワーク解析用メカニカル校正キット

85032E/F N型、50 Ω校正キット 85033E 3.5 mm 50 Ω校正キット 85036B/E N型、75 Ω校正キット 85039B F型、75 Ω校正キットECalモジュール5

85092C N型50 Ω 2ポートRF ECalモジュール、 300 kHz~ 9 GHz

85093C 3.5 mm 50 Ω 2ポートRF ECalモジュール、 300 kHz~ 9 GHz

85096C N型75 Ω 2ポートRF Ecalモジュール、 300 kHz~ 3 GHz

85099C F型75 Ω 2ポートRF ECalモジュール、 300 kHz~ 3 GHz

N4431B 50 Ω 4ポートRF ECalモジュール、 9 kHz~ 13.5 GHz

パワースプリッター(ゲインフェーズ・テストポート用) 11667L BNC型パワースプリッター、DC~ 2 GHz

インピーダンス解析用ターミナルアダプターおよび校正キット 16201A 7 mmターミナル・アダプターキット 16195B 7 mm校正キット6

(OPEN/SHORT/LOAD、低損失C) 85031B 7 mm校正キット6

(OPEN/SHORT/LOAD)7 mmテストフィクスチャ 16092A テストフィクスチャ、500 MHz、SMD

およびリード付きDUT用 16192A SMDテストフィクスチャ、2 GHz

16196A/B/C/D SMDテストフィクスチャ、3 GHz

16197A SMDテストフィクスチャ、3 GHz

4端子対テストフィクスチャ 16047E テストフィクスチャ、リード付きDUT用 16034E/G/H SMDテストフィクスチャ

1. 9種類のテストセット・オプションの内の1つを選択する必要があります。2. オプション005は、E5061B RF NAオプション(1x5/2x5/1x7/2x7)では使

用できません。3. テストフィクスチャ位置での校正用。ゲインフェーズ直列スルー法に必要。4. E5061B用のハードディスクオプションはオプション020のみです。

E5061Bをオーダーする際には、このオプションを選択する必要があります。5. ECalモジュールは300 kHzまたは9 kHzより下の周波数レンジでは使用で

きません。6. 16201Aの7 mmコネクタ位置での校正用。

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myKeysight

www.keysight.co.jp/find/mykeysightご使用製品の管理に必要な情報を即座に手に入れることができます。

www.axiestandard.org

AXIe(AdvancedTCA® Extensions for Instrumentation and Test)は、AdvancedTCA®を汎用テストおよび半導体テスト向けに拡張したオープン規格です。Keysightは、AXIeコンソーシアムの設立メンバです。

www.lxistandard.org

LXIは、Webへのアクセスを可能にするイーサネットベースのテストシステム用インタフェースです。Keysightは、LXIコンソーシアムの設立メンバです。

www.pxisa.org

PXI(PCI eXtensions for Instrumentation)モジュラ測定システムは、PCベースの堅牢な高性能測定/自動化システムを実現します。

www.keysight.com/go/quality

Keysight Technologies, Inc.DEKRA Certified ISO 9001:2008 Quality Management System

契約販売店

www.keysight.co.jp/find/channelpartnersキーサイト契約販売店からもご購入頂けます。お気軽にお問い合わせください。

© Keysight Technologies, 2013 - 2015Published in Japan, July 10, 20155990-6794JAJP0000-00DEPwww.keysight.co.jp

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