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1 Axel Pinz WS 2016/17 Optische Methoden 2 Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung Übersicht Allgemeine Übersicht, Licht, Wellen- vs. Teilchenmodell, thermische Strahler, strahlungsoptische (radiometrische) vs. lichttechnische (fotometrische) Größen Beschreibung radiometrische, fotometrische Größen Detektoren Geometrische Optik Bildgebende Verfahren Anwendungen Licht als elektromagnet. Welle, Interferenz, Kohärenz, Laser, Interferometrie, Anemometrie

Institut für Elektrische Meßtechnik und …...Detection of Light: From the Ultraviolet to the Submillimeter. Cambridge University Press 35 Axel Pinz WS 2016/17 Optische Methoden

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Axel Pinz WS 2016/17 Optische Methoden 2

Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung

Übersicht

• Allgemeine Übersicht, Licht, Wellen- vs. Teilchenmodell,

thermische Strahler, strahlungsoptische (radiometrische)

vs. lichttechnische (fotometrische) Größen

• Beschreibung radiometrische, fotometrische Größen

• Detektoren

• Geometrische Optik

• Bildgebende Verfahren

• Anwendungen

• Licht als elektromagnet. Welle, Interferenz, Kohärenz,

Laser, Interferometrie, Anemometrie

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung

Teilchen !

[Hecht]

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[Hecht]

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung

QED – QuantenelektrodynamikDualismus Welle-Teilchen

Photon

Ruhemasse 𝑚𝑃ℎ = 0

Quanten-, Photonenenergie: 𝑊𝑃ℎ = ℎ𝑓 (= ℎ𝜈)

Plank‘sches Wirkungsquant: ℎ = 6,626 ∙ 10−34Ws2

de-Broglie Wellenlänge: 𝜆 =ℎ

𝑝=𝑐

𝑓

Impuls: 𝑝 =𝑊𝑃ℎ

𝑐=ℎ𝑓

𝑐=ℎ

𝜆

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V(λ) – Spektraler Hellempfindlichkeitsgrad

für Tagsehen

“Relative sensitivity” = V()

Commission International de l‘Eclairage (CIE)

max. bei 555nm

[Foley et al., “Computer Graphics”]

Strahlungsphysikalische vs.

Lichttechnische Größen

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung

Strahlungsphysikalische

(radiometrische)

Lichttechnische Größen

(fotometrische)

[Hoffmann, TB d. Messtechnik]

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Strahlungsenergie (-menge), Strahlungsfluss …

Strahlungsenergie Qe Strahlungsfluss 𝛷𝑒 =𝑑𝑄𝑒

𝑑𝑡

Gesamte von einer Quelle Gesamte von einer Quelle

emittierte Energie emittierte Leistung

[Qe] = J = Ws [e] = W

Index e … „energetisch“

Strahlungsphysikalische/radiometrische Grundgrößen

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… je Wellenlänge

Spektrale Spektraler

Strahlungsenergie Qe Strahlungsfluss e

[Qe] = J/m = Ws/m [e] = W/m

Gesamte von einer Quelle emittierte

Energie Leistung

einer bestimmten Wellenlänge

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[Pedrotti et al.]

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Strahlstärke Ie

Fluss pro Raumwinkel

𝐼𝑒 =𝑑Φ𝑒𝑑Ω

[𝐼𝑒] =𝑊

𝑠𝑟

[Pedrotti et al.]

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung

Strahldichte Le

Strahlstärke der projizierten Quellenfläche (effektive

Senderfläche) senkrecht zur Beobachtungsrichtung

Sonderfall Lambert‘scher Strahler:

Strahldichte ist unabhängig vom Betrachtungswinkel

Sonderfall Kugelstrahler: Ie()= const.

𝐿𝑒 =𝑑𝐼𝑒

𝑑𝐴1 cos 𝜀=

𝑑2Φ𝑒𝑑Ω 𝑑𝐴1 cos 𝜀

𝐿𝑒 =𝑊

𝑠𝑟 𝑚2

𝐼𝑒 = 𝐼𝑒0 cos 𝜀 ⇒ 𝐿𝑒 =𝐼𝑒0𝐴1= const.

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[Pedrotti et al.]

𝐼𝑒 = 𝐼𝑒0 cos

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung

Strahlcharakteristik

Richtungsabhängigkeit der Strahlstärke Ie():

• Kugelstrahler

• Lambert- (Cosinus-)strahler

• Keulencharakteristik

(Öffnungswinkel: Abfall von Ie auf 50%)

𝐼𝑒 = 𝐼𝑒0 cos 𝜀

𝐼𝑒 =Φ𝑒

4𝜋 sr= const.

𝐼𝑒 = 𝐼𝑒(𝜀)

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Axel Pinz WS 2016/17 Optische Methoden 2

Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung

Spezifische Ausstrahlung Me

Strahlungsflussdichte einer Quelle die den Strahlungsfluss

de,H vom Flächenelement dA1 in den Halbraum strahlt:

𝑀𝑒 =𝑑Φ𝑒,𝐻𝑑𝐴1

[𝑀𝑒]=𝑊

𝑚2

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Axel Pinz WS 2016/17 Optische Methoden 2

Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung

Bestrahlungsstärke Ee , Bestrahlung He

Strahlungsflussdichte auf einer Empfängerflache dA2:

über einen Zeitraum:

𝐸𝑒 =𝑑Φ𝑒𝑑𝐴2

[𝐸𝑒]=𝑊

𝑚2

𝐻𝑒 = ∫ 𝐸𝑒𝑑𝑡 [𝐻𝑒]=𝑊𝑠

𝑚2

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[Pedrotti et al.]

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[Pedrotti et al.] Wie misst man strahlungsphysikalische Größen?

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Strahlungsdetektion

• Wechselwirkung Photon/Strahlung Detektor• Photonendetektion, Beispiel Photodiode

• Schwarzkörper Absorption, Beispiel Bolometer

• Immer nur in einem bestimmten Energiebereich!

• Spektrale Empfindlichkeit berücksichtigen!

z.B.: 𝜆1

𝜆2

𝐸𝑒𝜆𝑑𝜆

z.B.: 𝜆1

𝜆2

𝜂(𝜆)𝐸𝑒𝜆𝑑𝜆

z.B. Quanteneffizienz (), z.B. für Silizium

()

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Beispiel Photodiode

[Hoffmann, TB d. MT]

Im Sperrbetrieb (III. Quadrant):

Sperrstrom streng proportional zu

Bestrahlungsstärke und Fläche

Lineare KL (I/Ee)

𝐸𝑒 ∝ 𝐼

𝐻𝑒 ∝ ∫ 𝐼 𝑑𝑡

BS520E0F von Sharp

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Beispiel Bolometer

a. Absorber Ee Erwärmung d. Membran T

b. Widerstandsänderung R

[Hoffmann, TB d. MT]

Ee

Perfekt schwarze Membran: Allgemein:

Spektrale Albedo ρ()=0 Ee(1-ρ())

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung

Strahlungsphysikalisch Lichttechnisch

Viele wellenlängen-abhängige Gewichtungen:

(), ρ(), …, V()

[Foley et al.,

“Computer Graphics”]

Spektraler Hellempfindlichkeitsgrad

für Tagsehen

“Relative sensitivity” = V()

Lichtstrom 𝜙 = 𝐾𝑚 ∫380𝑛𝑚780𝑛𝑚

𝑉(𝜆)𝜙𝑒𝜆𝑑𝜆

𝐾𝑚 = 683 lm/W … fotometrisches Strahlungsäquivalent

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[Pedrotti et al.]

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Radiometrie Fotometrie

Allgemein: Fotometrische Größe, z.B. 𝜙,𝜙𝑣, 𝜙𝑣𝑖𝑠Index „visible“ für „sichtbares“ Licht

Fotometrische Größe = K() Radiometrische Größe

𝐾 𝜆 = 𝐾𝑚𝑉 𝜆 mit 𝐾𝑚 = 683lm

W

Es gibt die gleiche Berechnung auch für Nachtsehen:

𝐾′ 𝜆 = 𝐾′𝑚𝑉′ 𝜆 mit 𝐾′𝑚 = 1699lm

W

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[Pedrotti et al.]

Nachtsehen Tagsehen

650

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[Pedrotti et al.]0,2

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung

Praxis-Beispiel: 3D-PITOTI Projekt (1)

Benötigt der Scanner eine Abdunkelung?

Kann unter Tageslicht-Bedingungen gearbeitet werden?

• Labor-Anordnung:

• Tageslicht (Fenster)

• Pico-DLP mit 100 lm

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Praxis-Beispiel: 3D-PITOTI Projekt (2)

Benötigt der Scanner eine Abdunkelung?

Kann unter Tageslicht-Bedingungen gearbeitet werden?

• Tageslicht:• Solarkonstante gerade ausserhalb der Atmosphäre: Ee = 1355 W/m2

• Erdoberfläche, Sonne im Zenith: Ee = 1120 W/m2

• Wikipedia: Evis,Tageslicht = [1 … 100.000 lx]

• Mitteleuropa, Mittag: Sommer: Evis = 70.000 lx Winter: Evis = 6.000 lx

• Im Schatten (kein direktes Sonnenlicht), Sommer: Evis = 10.000 lx

[Bergmann, Schäfer, Experimentalphysik]

• W/m2 lx ? ( KmV(λ))

• DLP mit 100 ANSI Lumen lx ? (lx = lm/m2)

~20 × 15cm = 0,03 𝑚2⟹ 100lm /0,03𝑚2 = 3.000 lx

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung

Praxis-Beispiel: 3D-PITOTI Projekt (3)

Benötigt der Scanner eine Abdunkelung?

Kann unter Tageslicht-Bedingungen gearbeitet werden?

Tageslicht + DLP

Tageslicht

- =

Nein !

Ja !

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung

Praxis-Beispiel: 3D-PITOTI Projekt (4)

Stand Okt. 2014: Statt DLP-Projektor High-power LEDs

Custom Illumination, 220 LEDs, up to 165.000lx !!

Tageslicht +

LED-Beleuchtung

Tageslicht

- =

Direktes Sonnenlicht möglich!

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[Pedrotti et al.] Wie misst man lichttechnische Größen?

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Beleuchtungsstärke Luxmeter

𝐸 =𝑑Φ

𝑑𝐴Bekannte Empfängerfläche A

Si-Photodiode, Farbfilter mit V()-Charakteristik 𝐸 ∝ 𝐼

Luxmeter im

EMT-Bildmesslabor

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Lichtstrom Fotometerkugel nach Ulbricht

„Ulbrichtkugel“

Indirekter, gesamter im Inneren der Kugel erzeugter

Lichtstrom: 𝐸𝑖𝑛𝑑 = 𝜙𝐶𝑘 Ck … Kugelkonstante

[Hoffmann, TB d. MT]

Kalibrierung d. Kugelkonstanten

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung

Zum Abschluss

Strahlungsphysikalische Lichttechnische Größen

Si-Einheiten W lm … Lumen

W/sr cd … Candela = lm/sr

W/m2 lx … Lux = lm/m2

Lichttechnische Si-Basiseinheit: Candela

Und noch ein Gewicht …

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung

“Responsivity” – Relative spektrale Antwort

Einfach: 𝑅 𝜆 =𝑈(𝜆)

𝜙𝜆Vollständig: 𝑅 𝜆, 𝑓 =

𝑈(𝜆,𝑓)

𝜙𝜆(𝑓)

U … Spannung am Detektor f … Abtastfrequenz

[Jähne et al.]

“cutoff wavelength”

[5] Rieke, G. H., (1994). Detection of Light: From the Ultraviolet to the Submillimeter. Cambridge University Press

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung

Detektoren

• Photonen-Detektoren• Innerer Photoeffekt

• Valenz Leitungsband

• Thermische Detektoren• Alles wird absorbiert T

𝑅 𝜆 =𝜂(𝜆)𝜆𝑞𝐺

ℎ𝑐𝑊𝑃ℎ =

ℎ𝑐

… Photonenenergie

𝑞 … Ladung des Elektrons

𝐺 … “photoconductive gain”

𝑅 𝜆 =𝑈𝑑𝑎𝑟𝑘−𝑈𝑙𝑖𝑔ℎ𝑡

𝜙𝑒𝜆=

𝑆

𝜙𝑒𝜆≈ 𝑐𝑜𝑛𝑠𝑡

Photonen-Detektor

Thermischer Detektor

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Institut für Elektrische Meßtechnik und Meßsignalverarbeitung

Optische Methoden in der Messtechnik

2VO 438.041 WS

2LU 438.019 WS

Axel Pinz

Christoph Feichtenhofer, Thomas Höll

Vorbesprechung 13.10, 16:00, SR EMT