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Diffraction par les Matériaux PolycristallinsInstitut des Matériaux Jean Rouxel, Nantes, 19 - 23 septembre 2016
CARACTERISATIONS STRUCTURALES DES
MATERIAUX PAR
DIFFRACTION ELECTRONIQUE
Jean-Paul MORNIROLIUSTL & ENSCL, Cité Scientifique, Villeneuve d'Ascq, France
[email protected] (Lectures)
I - INTRODUCTIONDETERMINATIONS STRUCTURALES
Diffraction des RX, neutrons- poudres
- monocristauxdéterminations complètes
- système cristallin- mode de réseau de Bravais
- paramètres réticulaires- classe de Laue
- classe de symétrie- groupe spatial
- nature et position des atomes dans la maille
I - INTRODUCTIONDETERMINATIONS STRUCTURALES
Diffraction des électrons- lames minces
(échelles microscopique et nanoscopique en relation avec l'image)déterminations complètes
- système cristallin- mode de réseau de Bravais
- paramètres réticulaires- classe de Laue
- classe de symétrie- groupe spatial
(- nature et position des atomes dans la maille)
Rayons X cristal (réseau 3D) environ 0,1 nm pas : 0.2 nm
Diffraction
Röntgen 1895M. Von Laue 1912
cristal (réseau 3D)pas : 0,2 nm pas
(faiblement)
William Conrad RÖNTGEN1845 - 1923
Prix Nobel de Physique en 1901Max Theodor Felix von LAUE
1879 - 1960Prix Nobel de Physique en 1914
Diffraction des rayons X
Davisson et Germer 1927
Davisson et Germer
1927
Diffraction des électrons ? Les électrons sontdes particules chargées Electrons accélérés De Broglie (1924) onde associée environ 0,003 nm (pour 100 kV)
Diffraction
Davisson et Germer 1927
pas (fortement)
cristal (réseau 3D) pas : 0.2 nm
Louis de Broglie 1892 - 1987
J.J. THOMSON 1856 - 1940
Davisson et Germer 1927
Davisson et Germer
1927
Diffraction des électrons ? Les électrons sontdes particules chargées Electrons accélérés De Broglie (1924) onde associée environ 0,003 nm (pour 100 kV)
Diffraction
Davisson et GermerSir George Paget Thomson
1927
pas (fortement)
cristal (réseau 3D) pas : 0.2 nm
Clinton Joseph DAVISSON1881 - 1958
Lester Halbert GERMER1896 - 1971
C. L. DAVISSON L. H. GERMER
Sir George Paget THOMSON1882 - 1975
POINTS IMPORTANTS(points originaux)
- Très fortes interactions électrons cristal (104 -105 plus fortes que les interactions Rayons X cristal)
- Faisceaux diffractés intensescomportement dynamique
Avantages- diffraction à partir de très petits volumes
- temps d'exposition très courtsDésavantages- lames minces
- relaxation des conditions de Bragg- plusieurs faisceaux diffractés observés simultanément
POINTS IMPORTANTS(points originaux)
- très faible longueur d'onde associée(100x plus petite que celle des rayons X)
- angles de Bragg très petits(quelques dixièmes de degrés)
- cliché de diffraction concentré autour du faisceau transmis
Plusieurs techniques de diffractionNombreux paramètres expérimentaux
Echantillons plus ou moins complexesNombreuses informations
Expérience(s) pertinente(s)
La position des réflexionsest liée au réseau cristallin
L'intensité des réflexionsest liée au facteur de structure
(nature et position des atomes dans la maille élémentaire)
Depuis de nombreuses années :La diffraction électronique se fait dans unmicroscope électronique en transmission
J. B. Le POOLE
Ernst RUSKA 1906 -1988Inventeur du premier microscope électronique en transmission en 1933
Prix Nobel de physique en 1986
Echantillon
Faisceauincidentparallèle
Diaphragme d'airesélectionnée
Depuis de nombreuses années :La diffraction électronique se fait dans unmicroscope électronique en transmission avec un faisceau incident parallèleprincipalement :"Diffraction électronique en airesélectionnée" (SAED)Avantage : Cliché de "points" bonne résolution angulaire
Zone diffractante
Désavantages :- faible précision dans la mesure de la position des réflexions sur les clichés faible précision sur la mesure des paramètres réticulaires - taille minimale de la zone diffractante : 500 nm - variations d'épaisseur - variations d'orientation "Cliché moyen" + Effets dynamiques Intensités fortement affectées (en relation avec la nature et la position des atomes dans la maille élémentaire)
min. = 500 nm
Dans la plupart des cas : Peu d'informations cristallographiques (informations 2D) Système cristallin + réseau de Bravais Diffraction électronique :"Parent pauvre" de la diffraction (RX et neutrons)
Une solutionDiffraction électronique en faisceau convergentFaisceau incident convergent - d'angle 2 - de très faible taille : 2 nm peu ou pas de variations- d'épaisseur- d'orientation + Phénomènes dynamiques (mais utiles) Intensités utilisables4 variantes principales :- CBED (Convergent Beam Electron Diffraction) - Microdiffraction en mode conventionnel ou en mode précession- Clichés de Kossel-Möllensted- LACBED (Large Angle CBED)
min. = 1-2 nm
2
Diffraction en faisceau convergent CBED < 0,5°Utilisation limitée : - épaisseur adaptée- petits paramètres réticulairesTechnique +/- délicate- Paramètres réticulaires précis- Système cristallin- Réseau de Bravais- Classe de symétrie- Plans de glissement, axes hélicoïdaux à partir des lignes GM(Gjonnes et Moodie) --------------------------------------------Position des atomes dans la mailledéfauts, contraintes......
CBED
0,1° - 1°
Microdiffraction en mode conventionnel ou en mode précession < 0,01°utilisation quasi-généralepetits cristaux : 2 nmTechnique aisée- Système cristallin- Réseau de Bravais- Classe de Laue- Plans de glissement et axes hélicoïdaux- Symboles d'extinction et de diffraction
0,01°
Microdiffractionen mode conventionnel
2
Microdiffractionen mode précession
PLANI - Introduction
II - Description rapide des techniques expérimentalesa - Diffraction avec un faisceau incident stationnaire
- Diffraction avec un faisceau incident parallèle(diffraction en aire sélectionnée)
- Diffraction avec un faisceau incident convergent(Convergent-Beam Electron Diffraction : CBED)
(Microdiffraction)b - Diffraction avec un faisceau incident mobile
- Précession électronique(Precession Electron Diffraction : PED)
III - Applications en cristallographie électroniqueIV - Conclusion
PLANI - Introduction
II - Description rapide des techniques expérimentalesa - Diffraction avec un faisceau incident stationnaire
- Diffraction avec un faisceau incident parallèle(diffraction en aire sélectionnée)
- Diffraction avec un faisceau incident convergent(Convergent-Beam Electron Diffraction : CBED)
(Microdiffraction)b - Diffraction avec un faisceau incident mobile
- Précession électronique(Precession Electron Diffraction : PED)
III - Applications en cristallographie électroniqueIV - Conclusion
Echantillon
Plan image
Zone illuminée
Objectif
D = 2fB
(hkl)
fhkl
Diffraction avec un faisceau parallèleCas le plus simple :Conditions "deux-ondes" exactesCliché de "points"dans le plan focal image
B (Angle de Bragg)
Plan focalimageFB (Angle de diffraction)
Axe optique
Diffraction de Fraunhofer
F
L 2B
Dhkl
Echantillon
Ecran
hklO F hklDhkl
Diffraction avec un faisceau parallèleInterprétation
Dhkl = L tg2B
= 2dhkl sinB
Dhkl = 2LB
= 2dhkl B
B = 2dhkl
Dhkl = 2L 2dhkl
dhkl = LDhkl dhkl = Cte / Dhkl
Echantillon
Plan image
Zone illuminée
Objectif
D = 2fB
(hkl)
f
hkl
Conditions "deux-ondes" approchées
- Géométrie inchangée- Intensité fortement modifiée
i<B (i>B)
Plan focalimage
F
hklFF
D = 2fB
D~2fB
~2B
f
O
Echantillon
Plan image
Zone diffractante
Plan focalimage
Lentille objectif
Diffraction avec un faisceau parallèleDiffraction en aire sélectionnée
B
f
O
Echantillon
Plan image
Zone diffractante
Plan focalimage
Diaphragme
Lentille objectif
Diffraction avec un faisceau parallèleDiffraction en aire sélectionnée
B
f
O
Echantillon
Plan image
Zone diffractante
Plan focalimage
Diaphragmed'aire sélectionnée
Objectif
Diffraction avec un faisceau parallèleDiffraction en aire sélectionnée
J. B. Le POOLE
Clichés en axe de zone [uvw]
Zone de Laue 0ZOLZ(informations 2D)Zone de Laue 1
FOLZ(informations 3D)
Clichés en axe de zone [uvw]
Zone de Laue 0ZOLZ(informations 2D)Zone de Laue 1
FOLZ(informations 3D)
Clichés en axe de zone [uvw]
Echantillon monocristallinCliché de points
Echantillon polycristallinCliché d'anneaux
Clichés en axe de zone [uvw]
Formation d'images
claire
claire
claire
sombre
0,5 µm
Images en fond clair et en fond noir Images en haute résolution
620 220 220 620
620 220 220 620440 040 440
260 260
400 400
440 040 440260 260
Identification de phases
Relation d'orientation entre deux phases
[uvw]A[uvw]B
hklBhklA
cJoint de grains Zone
diffractante
A Bf
A B
220002
222
111
220002222
111
[110]A // [110]B(111)A // (111)B
PLANI - Introduction
II - Description rapide des techniques expérimentalesa - Diffraction avec un faisceau incident stationnaire - Diffraction avec un faisceau incident parallèle
(diffraction en aire sélectionnée) - Diffraction avec un faisceau incident convergent(Convergent-Beam Electron Diffraction : CBED)
(Microdiffraction)b - Diffraction avec un faisceau incident mobile
- Précession électronique(Precession Electron Diffraction : PED)III - Applications en cristallographie électronique
IV - Conclusion
DIFFRACTION EN FAISCEAU CONVERGENTHistorique
1939
MicaGottfried Möllenstedt
1912 - 1997
DIFFRACTION EN FAISCEAU CONVERGENTHistorique
John STEEDSBristol
Michiyoshi TANAKASendai
Ligne dedéfaut hkl
Ligned'excès hkl
B
E
BT
E'
(hkl)
A
B
D = 2fB
Ligne d'excès
Rayons en conditions
exactes de Bragg
Ligne de défaut
Diffraction avec un faisceau convergentConditions "deux-ondes" exactes
Trace (hkl)
B
E
BT
E'
(hkl)
A
B
D = 2fB
D = 2fB
Ligne d'excès
Ligne de défaut
Diffraction avec un faisceau convergentConditions "deux-ondes" approchées
Trace (hkl)
A
Lignes finesobservées avec des
réflexions faibles(grands indices hkl,
grande distance d'extinction ggrand angle de Bragg)Réflexions éloignéesdu centre du cliché
Frangesobservées avec des
réflexions fortes(petits indices hkl,
faible distance d'extinction gpetit angle de Bragg)Réflexions proches du centre du cliché
Nature des lignes d'excès et de défaut
Lignes HOLZ(Interactions 3D)
Franges(Interactions 2D)
Lignes d'excèssur un cercle
Diffraction avec un faisceau convergentCliché en axe de zone [uvw]
CRISTAL32 classes de symétrie
ECHANTILLON31 types
CLICHE CBED31 classes
de diffraction
IDENTIFICATION DE LA CLASSE DE SYMETRIE
Observation des lignes de Gjonnes and Moodie
IDENTIFICATION DES PLANS DE GLISSEMENT ET DES AXESHELICOIDAUX
Axe hélicoïdal e-
Faisceau incident
Plan deglissement // e-
m
m
MESURE PRECISE DES PARAMETRES RETICULAIRES(mesure de déformations et contraintes)
Cliché CBED (disque transmis) d'un échantillon de Silicium
(a= 5.4307 Angstroems). Axe de zone <230>.
Cliché réalisé avec un microscope Tecnai à 200 kV.
MESURE PRECISE DES PARAMETRES RETICULAIRES(mesure de déformations et contraintes)
Comparison avec un cliché simuléSimulation dynamique (Logiciel "JEMS" - Pierre Stadelmann)
MESURE D'EPAISSEUR DE LAMES MINCES
s = 0
s
Conditions "deux ondes"
PLANI - Introduction
II - Description rapide des techniques expérimentalesa - Diffraction avec un faisceau incident stationnaire - Diffraction avec un faisceau incident parallèle
(diffraction en aire sélectionnée) - Diffraction avec un faisceau incident convergent(Convergent-Beam Electron Diffraction : CBED)
(Microdiffraction)b - Diffraction avec un faisceau incident mobile- Précession électronique
(Precession Electron Diffraction : PED)III - Applications en cristallographie électronique
IV - Conclusion
CBED
Plan focal image
Ecran
CLICHE DE DISQUES
CLICHE DE DISQUES
Faisceau incidentpresque parallèle and focalisé
(cône plein)Convergencedu faisceau
environ 0.01°
MICRODIFFRACTIONen mode conventionel
Plan focal image
Ecran
CLICHE DE 'POINTS'
CLICHE DE 'POINTS'
PLANI - Introduction
II - Description rapide des techniques expérimentalesa - Diffraction avec un faisceau incident stationnaire - Diffraction avec un faisceau incident parallèle(diffraction en aire sélectionnée)
- Diffraction avec un faisceau incident convergent(Convergent-Beam Electron Diffraction : CBED)
(Microdiffraction)b - Diffraction avec un faisceau incident mobile- Précession électronique
(Precession Electron Diffraction : PED)III - Applications en cristallographie électronique
IV - Conclusion
PRECESSION ELECTRONIQUE- Roger VINCENT et Paul MIDGLEY, Bristol, 1994
-
But : mesure des intensités diffractées (déterminations de structures)
PRECESSION ELECTRONIQUE- Roger VINCENT et Paul MIDGLEY, Bristol, 1994
- Spinning Star de Nanomegas, 2004- Lille : premier équipement en France, 2005
Plusieurs avantages par rapport aux techniques conventionnelles- les clichés de précession sont moins dynamiques (le faisceau incident n'est jamais dirigé selon l'axe de zone)
les conditions 'deux ou quelques faisceaux' ou 'rangée systématique' sont rencontrées durant le mouvement de précession.
(les parcours de double diffraction sont fortement réduits :identification des réflexions cinématiquement interdites)
- le nombre de réflexions présentes dans les zones de Laue est plus élevé- les intensités diffractées sont intégrées
(le cliché est toujours bien aligné)
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Axe optique
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Condenseur
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Axe optique
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Condenseur
Cliché de diffraction
EchantillonAxe de zone [uvw]
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Axe optique
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Condenseur
Cliché de diffraction
Faisceau incidenten rotation angle de precesion
Diffraction en aire sélectionnée(SAED)
MicrodiffractionNanodiffraction
Bobines de déflection pré-échantillon
Echantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Axe optique
Faisceau incidenten rotation angle de precesion
Diffraction en aire sélectionnée(SAED)
MicrodiffractionNanodiffraction
Bobines de déflection pré-échantillon
Echantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Axe optique
Faisceau incidenten rotation angle de precesion
Bobines de déflection pré-échantillon
Echantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Faisceau incidenten rotation angle de precesion
Bobines de déflection pré-échantillon
Echantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Faisceau incidenten rotation angle de precesion
Bobines de déflection pré-échantillon
Echantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Faisceau incidenten rotation angle de precesion
Bobines de déflection pré-échantillon
Echantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Faisceau incidenten rotation angle de precesion
Bobines de déflection pré-échantillon
Echantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Faisceau incidenten rotation angle de precesion
Bobines de déflection pré-échantillon
Echantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Faisceau incidenten rotation angle de precesion
Bobines de déflection pré-échantillon
Echantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Faisceau incidenten rotation angle de precesion
Bobines de déflection pré-échantillon
Echantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Faisceau incidenten rotation angle de precesion
Bobines de déflection pré-échantillon
Echantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Faisceau incidenten rotation angle de precesion
Bobines de déflection pré-échantillon
Echantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Faisceau incidenten rotation angle de precesion
Bobines de déflection pré-échantillon
Echantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Faisceau incidenten rotation angle de precesion
Bobines de déflection pré-échantillon
Echantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Faisceau incidenten rotation angle de precesion
Bobines de déflection pré-échantillon
Echantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Faisceau incidenten rotation angle de precesion
Bobines de déflection pré-échantillon
Echantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Faisceau incidenten rotation angle de precesion
Bobines de déflection pré-échantillon
Echantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
CONE INCIDENT(vide) 2
Angle de précessionEchantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Bobines de déflection pré-échantillon
Faisceau transmis
Cercle transmis
Transmitted circle
CONE INCIDENT(vide)
Bobines de déflection pré-échantillon
Cliché de diffraction
Plans conjuguésen
mode diffraction
PRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Cliché de diffraction
Echantillon
Faisceau diffracté hkl
Cercle transmis
Transmitted circle
Cercle diffracté hkl
hkl diffracted circle
Faisceau transmis
Cercle transmis
Transmitted circle
CONE INCIDENT(vide)
Bobines de déflection pré-échantillonPRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Ecran
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Echantillon
CLICHE D'ANNEAUX
CLICHE D'ANNEAUX
CONE INCIDENT(vide)
Bobines de déflection pré-échantillonPRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Anneaux plus ou moins superposés
Echantillon
Ecran
Intensité transmise en fonction de l'orientation
Anneaux plus ou moins superposésCLICHE D'ANNEAUX
CLICHE D'ANNEAUX
CONE INCIDENT(vide)
Bobines de déflection pré-échantillonPRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Echantillon
Ecran
Intensité diffractée hkl en fonction de l'orientationpar rapport aux plans (hkl)
Intensité transmise en fonction de l'orientation
Ecran
Anneaux plus ou moins superposésCLICHE D'ANNEAUX
CLICHE D'ANNEAUX
CONE INCIDENT(vide)
Bobines de déflection pré-échantillonPRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
Echantillon
Bobines déflectrices post échantillon
Déflectionssynchroniséeset opposées
Suppressionde la
superposition
Intensité transmise en fonction de l'orientation
Ecran CLICHE DE POINTS
CONE INCIDENT(vide)
Bobines de déflection pré-échantillonPRECESSION ELECTRONIQUE
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
CLICHE D'ANNEAUXPlan focal
Echantillon
Intensité diffractée hkl en fonction de l'orientation
(intensité intégrée le long de l'anneau hkl)
hkl circle
hkl spot
Bobines déflectrices post échantillon
Déflectionssynchroniséeset opposées
Intensité transmise en fonction de l'orientation
Ecran CLICHE DE POINTS
CONE INCIDENT(vide)
Bobines de déflection pré-échantillonPRECESSION ELECTRONIQUE
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
CLICHE D'ANNEAUXPlan focal
Echantillon
Effet de l'anglede précession
Bobines déflectrices post échantillon
Déflectionssynchroniséeset opposées
Ecran CLICHE D'ANNEAUX
CONE INCIDENT(vide)
Bobines de déflection pré-échantillon
EchantillonPRECESSION ELECTRONIQUE
Plan focal
Lentille intermédiaire
Plan image
Plan objet
Objectif
CLICHE D'ANNEAUX
PRECESSION ELECTRONIQUE- Trajets des électrons
- Interprétation- PRINCIPALES APPLICATIONS
- Cristallographie électronique- Symétries 'Idéales'
- Décalages FOLZ/ZOLZ- Différences de périodicité FOLZ/ZOLZ- Identification des réflexions interdites
- Détermination du groupe spatial (PED + CBED)- Défauts cristallins - Macles
- Application de routine- Orientations cristallographiques
Partiesuivante
PRECESSION ELECTRONIQUE- Trajets des électrons
- Interprétation- PRINCIPALES APPLICATIONS
- Cristallographie électronique- Symétries 'Idéales'
- Décalages FOLZ/ZOLZ- Différences de périodicité FOLZ/ZOLZ- Identification des réflexions interdites
- Détermination du groupe spatial (PED + CBED)- Défauts cristallins - Macles
- Application de routine- Orientations cristallographiques
Identification de macles dans la coésite
D. Jacob, Lille Sans précession
Grain A
Macle
Grain B
Identification de macles dans la coésite
Avec précession
Grain A
Macle
Grain B
Identification de macles dans la coésite
Avec précession
Grain A
Macle
Grain B
<110><101>
PRECESSION ELECTRONIQUE- Trajets des électrons
- Interprétation- PRINCIPALES APPLICATIONS- Cristallographie électronique
- Symétries 'Idéales' - Décalages FOLZ/ZOLZ
- Différences de périodicité FOLZ/ZOLZ- Identification des réflexions interdites
- Détermination du groupe spatial (PED + CBED)- Défauts cristallins - Macles
- Application de routine- Orientations cristallographiques
Sans précession
Application de routineOrientation parfaite d'un cliché selon un axe de zone
Avec précession
Application de routineOrientation parfaite d'un cliché selon un axe de zone
Sans précession
Application de routineOrientation parfaite d'un cliché selon un axe de zone
Application de routineOrientation parfaite d'un cliché selon un axe de zone
Avec précession
PRECESSION ELECTRONIQUE- Trajets des électrons
- Interprétation- PRINCIPALES APPLICATIONS
- Cristallographie électronique- Symétries 'Idéales'
- Décalages FOLZ/ZOLZ- Différences de périodicité FOLZ/ZOLZ- Identification des réflexions interdites
- Détermination du groupe spatial (PED + CBED)- Défauts cristallins - Macles
- Application de routine- Orientations cristallographiques