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次世代イオンビームの活用術 「多様なイオンによる高精度自在な照射技術の開発」 日本原子力研究開発機構(JAEA) 放射線高度利用施設部 ビーム技術開発課 神谷富裕 文部科学省「量子ビーム基盤技術開発プログラム」シンポジウム 2010225日、コンファレンススクエアM+

次世代イオンビームの活用術 - KEK · 2013. 8. 21. · プロセスの最適 化 ... 場補正コイルの必要性と最適計 測位置等の検討 20 January 20, 2010

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次世代イオンビームの活用術「多様なイオンによる高精度自在な照射技術の開発」

日本原子力研究開発機構(JAEA)

放射線高度利用施設部

ビーム技術開発課

神谷富裕

文部科学省「量子ビーム基盤技術開発プログラム」シンポジウム2010年2月25日、コンファレンススクエアM+

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Outline

• 背景

• 研究開発の概要

• これまでの成果

• 今後の展望

次世代のイオンビーム活用術

文部科学省「量子ビーム基盤技術開発プログラム」シンポジウム2010年2月25日、コンファレンススクエアM+

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研究開発の背景

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Accelerators in TIARA

AVF-Cyclotron

(K=110)

3 MV Tandem 3 MV Single

ended

400 kV ion

implanter

Variety of ion beams in TIARA

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イオンビーム応用(宇宙、バイオ)

ヒメイタビの新品種

耐放射線性(宇宙環境模擬)突然変異誘発(イオンビーム育種)

カーネーションの新品種

宇宙用デバイスの信頼性・寿命評価

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Nano-fabrication by single ionsEtch-pit membrane

f ~100 nm

Surface Section

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シングルイオンによるナノワイヤ形成

AFM image of nanowires based on SU-8 obtained by irradiation of 400 MeV Kr ions from the AVF cyclotron

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運転の概要

He-20MeV

LD1Ne-260MeV

HA1

Ne-260MeV

HX1

3h 3h 1h

コース切換

イオン種・エネルギー切

立上げ

マシンタイム配分

立上げ調整

サイクロトロンの運転

He-20MeV

立上げ調整

Ne-260MeV

ビーム輸送

系再立上

立上げ調整

900 A

700 A707 A

693 A

サイクロトロン磁場の設定(メインコイル励磁)

50A

RF立上げ

メインコイル励磁開始

ビーム入射

等磁性磁場形成(ビーム位相測⇔ 磁場分布調整)

1h

ビーム輸送

安定待ちサイクリング

2. TIARAサイクロトロンの概要

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研究開発の成果

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日本原子力研究開発機構 (幹事機関)

研究体制

研究責任者 神谷研究推進協議会

事務局

研究推進協議会(仮称)

大阪大学

福田

宇宙航空機構

久保山

放医研

古澤

大阪大学

放射線高度利用施設部TIARA

量子ビーム応用研究部門高崎地区

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システム開発原子力機構

磁場・熱・ビーム軌道解析 大阪大学

サイクロトロン

1.全体計画

原子力機構

イオン源

サイクロトロン磁場の迅速設定:ビーム位相、磁場の測定データから等時性磁場を形成するコイル電流を自動的に設定

ターゲット(個々の細胞など)を狙ってイオン種を迅速に切換えて高速シングルイオンヒット

マイクロビーム・

シングルイオンヒット

一般のビーム利用でも迅速切換え

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AVFサイクロトロン(930型)

Kb=110MeV

最大平均磁場=1.64T

引出し半径=923mm

加速高周波=11~22MHz

ハーモニクス=1, 2, 3 ディー電極数=2

重量=220t

2. TIARAサイクロトロンの概要

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研究開発の全体計画(H20~H24)

January 20, 201013

R&Dテーマ

H20年度(2008)

H21年度(2009)

H22年度(2010)

H23年度(2011)

H24年度(2012)

磁場の短時間切換

【原子力機構】・磁場計測システム

【阪大】・3次元磁場解析

【原子力機構】・鉄心温度制御・主磁場立上げプロセスの最適化

【阪大】・3次元磁場・熱構造解析

【原子力機構】・磁場自動制御・主磁場立ち上げプロセスの最適化

【阪大】・3次元渦電流磁場解析

【原子力機構】・加速ビーム位相迅速計測

【阪大】・ビーム位相フィードバックシステム

【原子力機構】・等時性磁場自動形成

【阪大】・ビーム引出軌道最適化システム

M/Q分解能の向上

【原子力機構】・加速位相制御

【阪大】・M/Q高分解能化のためのトリムコイル磁場解析

【原子力機構】・ビームチョッピングシステム

【阪大】・M/Q分解能解析・軌道解析

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サイクロトロン磁場の短時間設定技術

原子力機構 14

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サイクロトロン磁場の短時間設定技術

目標:DB/B~1×10-5の精度で20分で設定

NMR1NMR2

制御PC補助コイル

電源PID

現在:励磁パターンのみで設定

+

安定待ち

・新たな励磁パターンの導入

励磁電流設定

・測定磁場 → +

アクティブ制御

【磁場勾配補償コイル】

N

S

S

N

プローブ

相殺

等時性磁場勾配

均一化

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X走査

Y走査

Z走査

サイクロトロンへの挿入口

図1-1X走査

Y走査

Z走査

サイクロトロンへの挿入口

X走査

Y走査

Z走査

サイクロトロンへの挿入口

図1-1

10MeV - H

320MeV - C

3. サイクロトロン磁場の短時間設定技術

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3. サイクロトロン磁場の短時間設定技術

-1 10-3

-5 10-4

0

5 10-4

1 10-3

10:30 10:35 10:40 10:45 10:50 10:55 11:00

090716_200A立ち上げ_比較

dB/B

Time

10:30CMM

0 => 200A

-1 10-3

-5 10-4

0

5 10-4

1 10-3

11:15 11:20 11:25 11:30 11:35 11:40 11:45

090716_400A立ち上げ_比較

dB/B

Time

11:15CMM

0 => 400A

-1 10-3

-5 10-4

0

5 10-4

1 10-3

12:15 12:20 12:25 12:30 12:35 12:40 12:45

090716_600A立ち上げ_比較

dB/B

Time

12:15CMM

0 => 600A

-1 10-3

-5 10-4

0

5 10-4

1 10-3

10:00 10:05 10:10 10:15 10:20 10:25 10:30

090716_900A立ち上げ_比較

dB/B

Time

10:00CMM

0 => 900A

-1 10-3

-5 10-4

0

5 10-4

1 10-3

13:00 13:05 13:10 13:15 13:20 13:25 13:30

090716_800A立ち上げ_比較

dB/B

Time

13:00CMM

0 => 800A

200 A

400 A

600 A

800 A

900 A

メインコイル電流を設定

5分

0

5

10

15

20

0 200 400 600 800 1000

励磁電流vs収束時間

収束

時間

(dB

/B

<1x1

0-4)

(min

.)

励磁電流 (A)

DB/B<10-4になるまでの時間

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ー サイクリングパターンの探索 -

サイクロトロン磁場の短時間設定技術

安定待ちサイクリング

・DB/B<10-5となる時間(895A) = 1分 (励磁開始から29

分)

低磁場: 11分 (39分)

従来サイクリングパターン

・DB/B<10-5となる時間(895A)= 2分 (励磁開始から3

分)

・108MeV-Heビーム強度は従来サイクリングの約70%

(磁場再現性~10-5)

直接立上げパターン(高磁場用)

・DB/B<10-5となる時間(176A) = 5分 (励磁開始から10

分)

・10MeV-Hビーム加速では磁場調整が必要

(磁場再現性~10-4)

減衰パターン(低磁場用)

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3次元磁場・熱・構造解析

19大阪大学

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H20年度の目標

• 磁極に近い領域での磁場分布の均一性評価とNMRプローブによる磁場測定に必要な磁場領域の探索

• トリムコイル磁場及びスパイラルセクター磁場による磁場勾配を踏まえたNMRプローブ計測用磁場補正コイルの必要性と最適計測位置等の検討

January 20, 201020

●サイクロトロン磁場の高精度計測のための3次元磁場解析技術の開発

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電磁石のモデル化とメッシュサイズ

●メッシュサイズ・上・下・側ヨーク: 5cm・ポール: 5cm・スパイラルセクター: 2cm・メインコイル部のAir: 5cm・トリムコイル部のAir: 2cm・ヒル&バレーギャップAir: 2cm

●Potential & Element Type・上・下・側ヨーク: Total / Linear・ポール: Total / Linear・スパイラルセクター: Total / Linear・メインコイル部のAir: Reduced / Linear

・トリムコイル部のAir: Reduced / Quadratic

・ヒル&バレーギャップAir: Reduced / Quadratic

21

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方位角方向の磁場分布の比較

0

5000

10000

15000

20000

25000

0 50 100 150 200 250 300 350

260 MeV 20Ne7+

Bmod() at R = 70 cm and Z = -6.25 cm

Bm

od

(G)

theta (deg)

AVF (Azimuthally Varying Field)

【特徴】・4回対称

・スパイラル・セクターもしくはバレーの中心線付近が均一

0 1

1

( , ) ( ) ( )sin ( )cosn

n

B r B r A r n B r n

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H20年度の成果のまとめ

23

● NMRプローブの設置に最適なΔ B/B~1/10,000程度の磁場均一性が得られる領域は、方位角方向にはスパイラル・セクター磁極の中心線付近に位置し、半径が大きくなるに従ってその均一な平坦な領域は拡大することを確認

●半径方向の磁場分布は、加速に必要な等時性磁場の形成に依存し磁場勾配を持つものの、比較的磁場勾配の小さな領域はR=650~800mm

→ 原子力機構が実施したNMRプローブの計測可能置の探索結果と矛盾しない

●高精度磁場測定を実現するために必要とされる磁場補正コイルの磁場補正量は、50G以上

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H21年度の目標

• 主コイル及びトリムコイルからの熱伝導による磁極・鉄心構造の非線形的な変化等を解析

• 短時間で磁場を安定化させ、磁場分布の再現性を高めるための電磁石励磁法や磁極・鉄心温度制御法などを検討

January 20, 201024

●ビーム切替時の磁場の高安定化と再現性向上のための迅速励磁・制御法の開発

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Opera-3D/TEMPO による熱伝導・温度分布解析

●計算条件・JAEA AVFサイクロトロンで実施した安定化対策に基づき、メインコイル及びトリムコイルからの熱伝導による磁極・鉄心温度変化を計算

・熱源は、メインコイルとトリムコイルC11とし、単位体積当たりの発熱量をパラメータとして設定

・メインコイル(銅製)定温板(銅製の水冷ジャケット、厚さ8mm)との間隔は2mm定温板は上下ヨーク面に直接接触磁極側面とメインコイル内側面の間隔は10.5mm計算コードで扱えるのは対流効果のみ輻射熱による伝熱量は対流効果に上乗せして模擬銅表面から空気への熱伝達率を使用(ただし設定値は可変)

・トリムコイルC11(銅製)セクター磁極との間隔は1mm設定パラメータはメインコイルと同様

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磁極・鉄心の温度分布発熱量・メインコイル 10W/m3

・トリムコイルC11 5W/m3

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下ヨーク上面での温度分布

Y = 0 cm

Z = -42 cm

Y = 60 cm Y = 100 cm

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磁極温度の時間変化

24

25

26

27

28

29

30

31

32

0 20 40 60 80 100

Pole Temperature at Z = -20.5 cm Heat source Main coil 10 W/m3 Trim coil 5 W/m3

T (deg) 10minT (deg) 20minT (deg) 30minT (deg) 40minT (deg) 50minT (deg) 60min

Tem

pera

ture

(℃

)

X (cm)

発熱量・メインコイル

10W/m3

・トリムコイルC11

5W/m3

Y = 0 cm

Z = -20.5 cm

Page 29: 次世代イオンビームの活用術 - KEK · 2013. 8. 21. · プロセスの最適 化 ... 場補正コイルの必要性と最適計 測位置等の検討 20 January 20, 2010

シングルイオンヒット技術

29原子力機構

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予め決められた位置にシングルイオンヒットさせるシステムを構築

CR-39

4. シングルイオンヒット技術

スキャナX

スキャナY

ターゲット

3. 次の照射位置へのトリガー

1. 全照射位置データの送信

4. 照射回数を数えて全照射が完了したらビームをStop

2. ヒットを検出

DAC

WE BUS

Ether I/F

PC

Counter

CFD

Amp.

Pre-Amp.

SSD

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241Amからのα線を用いたオフライン実験を実施

実験装置の構成

・シンチレータ: ZnS(Ag)

・イメージインテンシファイア: 浜松ホトニクス C8600-03

・冷却CCDカメラ: 浜松ホトニクス C4480

結果

・α線源からの5.5MeVのαによるスポットを確認

・シンチレータの前に設置したCuメッシュの明瞭な影を観察(下図 b、c)

シングルイオンヒット位置のリアルタイム検出技術

4. シングルイオンヒット技術

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シングルイオンヒット技術

32大阪大学

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Copyright by SII-NT

The Finest “Beam”: Atom

“Atom”

Atomos: ATOMOS

INDIVISIBLE

The Finest “Beam”: AtomFabrication by Single Particle

Possible or Impossible ?

Focusing !

33

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Ion Beams

Ultra-high LET(Linear Energy Transfer)Beam

Ion Beams Core

Penumbra

Ion Track

Particle

Crosslinks

How to Prepare Nanowires 34

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Figure. Correlation between rcc values estimated

experimentally and those calculated using the eq.

Shape of Macromolecules

12/13

2 ln400

)('

c

p

r

reNxGLETr

0

5

10

15

0 5 10 15

rcc (nm, Observed)

r cc

(nm

, C

alc

ula

ted

)

0

5

10

15

0 5 10 15

rcc (nm, Observed)

r cc

(nm

, C

alc

ula

ted

)

PMPS1

PMPS2

PMPS3

PMPS4

PMPS5

PMPS1

PMPS2

PMPS3

PMPS4

PMPS5

Shape of Macromolecules

0

5

10

15

0 5 10 15

rcc (nm, Observed)

r cc

(nm

, C

alc

ula

ted)

PMPS1

PMPS2

PMPS3

PMPS4

PMPS5

12/1

2 ln400

)('

c

p

r

re

A

mkxGLETr

35

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Figure. AFM micrographs of

nanowires with ultra-high

aspect ration based on SU-8

produced by SPNT. Images

(a) – (c) were observed in the

films of SU-8 at ~10 mm

thick after irradiation of 400

MeV Kr ion beam at the

fluence of 1.0×108 ions cm-2.

500 nm

(a)

500 nm

(a)

2 mm

(b)

2 mm

(b)

4 mm

(c)

4 mm

(c)

Aspect Ratio = 800

36

Fig. AFM micrographs of nanowires with ultra-high

aspect ration based on SU-8 produced by SPNT. Images

(a) – (c) were observed in the films of SU-8 at ~12 mm

thick after irradiation of 400 MeV Ar ion beam at the

fluence of 1.0×108 ions cm-2. Development was carried

out in diacetonealcohol for 10 min.

2 mm 1 mm

0

5

10

15

20

0 500 1000 1500 2000 2500 3000

Heig

ht

/ nm

Displacement / nm

Fig. Cross-sectional profiles of the nanowires

on Si substrate based on SU-8 produced by

SPNT. The profile was measured at the

position indicated by an arrow in the

corresponding micrograph.

Photoresist Polymer SU-8

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Formation Process

DevelopmentIrradiation Isolation

PCS(hydrophobic)

PHS(hydrophlic)

PMPS(hydrophobic)

Selective self-condensation

by solvent affinity

Ion

(Single particle trajectory)

37

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今後の展望

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技術開発

研究利用の為の照射システム構築

Page 40: 次世代イオンビームの活用術 - KEK · 2013. 8. 21. · プロセスの最適 化 ... 場補正コイルの必要性と最適計 測位置等の検討 20 January 20, 2010

利用研究の展開

400 nm4 mm