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Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
43
II. ETUDE BIBLIOGRAPHIQUE – CHOIX DES TECHNIQUES
ET DES MATERIAUX
Ce chapitre est consacré à l’étude bibliographique des différentes étapes du procédé
de fabrication des couches épaisses de PZT. Les techniques de dépôt et la préparation des
substrats feront l’objet des deux premières parties. Nous évoquerons ensuite brièvement les
diverses méthodes de synthèse des poudres. La quatrième partie de ce chapitre traite de la
fabrication des encres, en particulier, de la nature et de la compatibilité des constituants.
Quelques aspects de la rhéologie des pâtes sont également développés. La fabrication des
couches implique la connaissance des mécanismes de séchage, du déliantage et du frittage,
c’est pourquoi l’avant dernier paragraphe regroupe de nombreuses informations relatives
aux traitements thermiques. Nous évoquerons enfin le procédé de polarisation des films. A
chaque étape de la fabrication de la couche épaisse, nous indiquerons les choix
technologiques effectués dans le cadre de ce travail.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
44
II.1 LES TECHNIQUES DE DEPOTS
II.1.1 Introduction
De nombreuses méthodes ont été développées pour fabriquer des films minces et
épais déposés sur substrat. Nous appelons classiquement couche mince ou film mince les
dépôts céramiques d’épaisseur comprise entre quelques nanomètres et quelques
micromètres et couche épaisse ou film épais les dépôts supérieurs à 10 microns.
Les techniques de fabrication présentées dans ce chapitre reposent toutes sur le
même principe : le matériau actif (particules colloïdales ou poudres) est mis en suspension
dans un milieu liquide de viscosité variable ou dans un mélange gazeux. La couche épaisse
est déposée par méthode chimique ou physique. Certaines de ces méthodes de fabrication
s’étendent aux dépôts d’électrodes et de films polymères. Les méthodes de dépôt physique
utilisent généralement les propriétés d’étalement ou de projection des suspensions. Les
méthodes chimiques sont moins employées.
II.1.2 Electrophorèse
9 Généralités
Cette méthode utilise une suspension colloïdale de poudre de céramique ou des
poudres préparées par voie sol-gel[24][25]. Elle permet d’obtenir des épaisseurs de quelques
nanomètres à quelques microns.
9 Principe [26]
Le dépôt par électrophorèse combine deux techniques :
- l’électrophorèse : elle consiste à déplacer des particules chargées au sein d’une
suspension sous l’influence d’un champ électrique.
- le dépôt : il s’effectue sur l’une des électrodes par l’accumulation, la superposition
et la coagulation des particules en une masse dense. L’emploi d’électrodes
poreuses en graphite est recommandé pour éviter la formation d’Oxygène et
d’Hydrogène gazeux.
Le mécanisme du dépôt s’appuie sur la théorie de DLVO (cf. § II.4.1.3) qui
schématise les interactions d’énergie en fonction de la distance qui sépare deux particules.
La cinétique du dépôt dépend de l’agglomération de la double couche des particules qui
apparaît lors de l’application d’un champ électrique.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
45
Un inconvénient de cette technique concerne la vitesse de dépôt, très lente pour
atteindre des épaisseurs intéressantes. C’est pourquoi les épaisseurs de couches obtenues
par cette méthode dépassent rarement 1 micron.
II.1.3 Dépôts physiques par étalement
II.1.3.1 LE COULAGE EN BANDE
9 Généralités
Le coulage en bande est largement utilisé dans l'industrie des céramiques pour
fabriquer des condensateurs et des substrats notamment pour les circuits de la micro-
électronique. Il permet de réaliser des films simples comme des multicouches.
Cette méthode est peu coûteuse et facile à mettre en œuvre dans l'industrie
(fabrication des buzzers entre autres).
9 Principe [27]
La poudre est mise en suspension dans un véhicule organique. Celui-ci est composé
d'un solvant, d'un liant, d'un plastifiant et d'un dispersant dont les proportions sont ajustées
de manière à obtenir les propriétés d'étalement souhaitées. La formulation de la pâte est très
importante car le séchage dépend du choix et des proportions du véhicule organique. En
effet, le solvant doit s'évaporer rapidement mais la bande doit être sans défaut (absence de
bulle d'air et de fissure dans la couche) et conserver ses propriétés plastiques après le
séchage.
La pâte est étalée sur une surface de verre ou d'acier ou même de polymère
parfaitement lisse et plane. Elle est étalée avec une lame qui se déplace lentement à vitesse
régulière (10 cm/min) et à épaisseur constante, parallèlement à la surface de dépôt.
La bande obtenue se décolle facilement de la surface de dépôt après l'évaporation du
solvant, elle est souple et flexible. Avant les traitements thermiques, la bande est découpée
aux dimensions désirées et est parfois densifiée par pression.
Cette méthode permet la fabrication de matériaux d'épaisseurs comprises entre 5 et
500 µm.
II.1.3.2 LA TOURNETTE
9 Généralités
La tournette, couramment appelée « spin coater[28] » est utilisée pour déposer des
films de polymères, de résines et de suspensions diverses (céramique entre autre).
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
46
Cette technique est économique et simple. Elle permet la réalisation rapide des films
minces comme des films épais[29]. Cependant, la taille des substrats est limitée par celle du
plateau.
9 Principe
Maintenu sur un plateau circulaire par une aspiration au centre, le substrat reçoit un
dépôt de pâte. La rotation du plateau engendre une force centrifuge qui provoque
l’étalement. L'épaisseur de la couche peut varier de 10 nanomètres à plusieurs dizaines de
microns. Elle est contrôlée en ajustant la viscosité de l'encre, le temps de rotation et la
vitesse de rotation de plateau.
II.1.3.3 LA SERIGRAPHIE
9 Généralités
La sérigraphie est très répandue dans l’industrie (textile, papeterie, céramique,
électronique) car sa mise en œuvre est aisée. C’est une technique économique qui permet
de reproduire à l’infini un motif sur presque tous les types de supports. La sérigraphie est
utilisée en électronique pour réaliser des circuits hybrides, les électrodes de multicouches
(diélectrique et conducteur en sandwich) et des couches épaisses de diélectriques comme
de conducteurs.
9 Principe [27][30]
La poudre est mise en suspension dans un véhicule organique composé d’un solvant,
d’un liant d’un dispersant et d’un plastifiant.
Le substrat est posé sur une table aspirante au-dessus de laquelle est placé un
tamis. La pâte est déposée sur le tamis, puis étalée à l’aide d’une raclette. La pression
appliquée par la raclette fait passer la pâte à travers les mailles du tamis. La pâte nappe
ainsi le substrat.
La qualité de l’étalement dépend essentiellement des propriétés rhéologiques de
l’encre. Celle-ci doit être optimisée pour obtenir des couches uniformes.
L’épaisseur déposée dépend de nombreux paramètres : viscosité de l’encre, vitesse
de dépôt, lift-off (distance tamis-substrat), maillage et tension du tamis, pression appliquée
sur la raclette, dureté de la raclette etc... Les sérigraphieuses industrielles permettent
d’obtenir des couches parfaitement uniformes de quelques microns à quelques centaines de
microns d’épaisseur. La surface maximale actuellement sérigraphiée peut atteindre 5×8
pouces.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
47
II.1.4 Dépôt physique par projection d’un aérosol
9 Généralités
Ce type de dépôt est très utilisé par les Japonais[31][32][33] pour réaliser des actionneurs
possédant une structure bi ou tri-dimensionnelle. Cette technique s’utilise aussi bien pour les
dépôts de matériaux piézoélectriques que pour les dépôts d’électrodes. L’appareillage est
complexe et nécessite des réglages très fins pour obtenir de bons résultats. Le traitement
thermique est abaissé de 300°C à 700°C suivant le matériau. Les contraintes thermiques et
les fissures dues aux hautes températures sont ainsi minimisées. Ce type de dépôt est
particulièrement intéressant sur les aciers qui s’oxydent très vite à haute température.
L’épaisseur des couches varie de 1 à 50 µm et leur densité est plus élevée que celles des
films obtenus par les autres méthodes.
9 Principe
De l’Hélium et des particules de poudres ultra fines (<1µm) sont introduits dans une
chambre ou règne une pression de 500 Torrs environ. La mise en suspension est réalisée
mécaniquement par mélange et par vibration du produit obtenu. La suspension gazeuse
colloïdale, appelée aérosol, est introduite sous pression dans un tube fin (20µm). Un jet
continu de mélange gazeux sort de l’aiguille à très grande vitesse (subsonique : 900m/s).
L’aérosol est projeté sur le substrat placé dans la chambre de déposition. Pendant le dépôt,
la pression est de 0,1 à 1 Torr. En frappant la surface du substrat, l’énergie cinétique des
particules se transforme en chaleur, la température atteinte varie de 200 à 600°C. Cette
chaleur provoque une sorte de « frittage » des particules ainsi que leur densification, même
si un traitement thermique ultérieur donne aux couches leurs propriétés finales.
II.1.5 Fabrication de films épais par Rapid quenching
9 Généralités
Le principe de cette technique originale est dérivé de la métallurgie. Elle est
largement utilisée pour obtenir des films épais de métal amorphe. La technique ne permet
pas d'obtenir des couches directement sur substrat mais les épaisseurs des céramiques
produites les classent dans la catégorie des couches épaisses[34] plutôt que celles des
massives. C’est la seule méthode qui ne mette pas les particules en suspension.
9 Principe
La poudre est placée dans un mince tube vertical de platine porté à haute
température pendant quelques minutes (la matériau doit être dans la phase liquide).
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
48
L'extrémité supérieure du tube est reliée à une alimentation de gaz d'Azote. La pression du
gaz dans le tube induit la formation de gouttes à l'autre extrémité de celui-ci. Elles tombent
par gravité entre deux rouleaux qui tournent en sens inverse, les compriment et les mettent
en forme.
Après le traitement thermique, l’épaisseur des couches obtenues est comprise entre
30 et 20 µm.
9 Limite de la technique
Outre les problèmes liés à l'appareillage, il apparaît une fissure centrale dans les
couches de grandes épaisseurs. Les grains observés en bordure de cette cavité sont
perpendiculaires à celle-ci. Ils rappellent par leur forme les grains des films minces déposés
par épitaxie. La chaleur de conduction qui n’est pas correctement contrôlée et la
densification non uniforme au cours du pressage seraient à l’origine de ce phénomène.
II.1.6 Choix de la technique de dépôt et du matériel
II.1.6.1 TECHNIQUE CHOISIE
Le cahier des charges nous impose des épaisseurs de céramique variant de 50 à 100
µm. La réalisation de couches épaisses par sérigraphie nous semble la méthode la plus
intéressante et la mieux adaptée.
II.1.6.2 MATERIELS UTILISES
9 La sérigraphieuse
Nous avons choisi une sérigraphieuse commercialisée par la Société TIFLEX sous la
référence PRECIMA. Cette machine, entièrement manuelle, permet de maintenir les
échantillons par aspiration pendant les opérations (Figure 1).
Les tamis et racles utilisés proviennent également de chez TIFLEX.
Figure 1 : sérigraphieuse TILEX
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
49
9 Les racles
La qualité d’impression est directement liée aux caractéristiques de la raclette. Les
raclettes proposées possèdent des épaisseurs et des duretés variables (65 à 85° Shore)
suivant les applications :
- Une raclette souple (65°Shore) dépose plus d’encre qu’une racle dure (85°Shore).
- Une raclette à angle arrondi dépose plus d’encre qu’une raclette affûtée à angle
droit.
- Plus la raclette est inclinée, plus elle dépose d’encre.
- L’emploi d’une raclette dure est conseillé pour l’impression d’un motif fin.
Nous utiliserons des raclettes d’épaisseur 2,5 cm, de dureté faible (65-70°Shore) et
moyenne (70-75° Shore).
9 Les tamis
Dans l’industrie, le choix des tamis est fonction de différents critères :
- nature du support à imprimer
- type de l’encre
- définition d’impression souhaitée
- épaisseur du dépôt
- comportement du support à l’impression
- solidité de l’écran, consommation d’encre
- tension du tamis
- vitesse d’impression et temps de séchage.
Les tissus des tamis sont fabriqués à partir d’un fil de diamètre rigoureusement
constant. Le tissage est d’une grande régularité, gage d’une bonne qualité d’impression. Les
fils proposés sont des monofilaments ayant subi une stabilisation thermique. Ils sont plus
solides que les multibrins et résistent à l’eau, aux solvants, aux oxydants et aux produits
chlorés.
Les tissus choisis sont en polyester (Tergal®). Ils possèdent une bonne stabilité
dimensionnelle et ont une reprise d’humidité faible (0,4 %). La tension des fils est de 15 N.
Le Tableau 1 regroupe à titre indicatif la correspondance entre l’épaisseur du dépôt et la
densité des fils par cm des tissus sélectionnés.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
50
Tableau 1 : Caractéristiques des tamis utilisés par TIFLEX
Désignation (fils/cm) Diamètre du fil (µm)Largeur de la maille
(µm)
Volume d’encre
déposée (cm3/m2)
12T
17T
27T
48T
150S
180S
260
180
120
70
31
27
250
157
102
53
9
6
220
159
96
53
11
8
T : fil de section standard
S : fil de faible section
9 Dépôt
La maîtrise de la sérigraphie et la mise au point des dépôts par sérigraphie a été
longue et a nécessité de nombreux essais pour obtenir des dépôts de qualité. La distance
entre le tamis et l’échantillon est fixe (3mm). Le substrat est placé au centre du tamis, la pâte
est déposée sur le tamis devant l’un des côtés de l’échantillon à raison d’un cm3 pour 3 cm2.
Le bon étalement de la pâte sur le substrat dépend du passage de la raclette. Un aller-retour
suffisent généralement avec une faible inclinaison de la raclette. Il est conseillé de maintenir
une pression constante sur la raclette pendant l’application. La vitesse du déplacement a été
estimée à 15 cm/s.
II.2 PREPARATIONS DES ECHANTILLONS
II.2.1 Les substrats
9 Les oxydes
Dans les applications des couches épaisses piézoélectriques, la littérature ne
mentionne que peu d’oxydes employés comme substrats. Le choix du substrat est
conditionné par :
- les contraintes fonctionnelles de l’objet à réaliser
- les conditions d’accrochage de la métallisation sur le substrat
- une bonne tenue à la température de frittage du film céramique
- une bonne résistance aux chocs thermiques
- un coefficient de dilatation proche de celui de la couche pour faciliter l’adhérence
de la couche sur le substrat
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
51
- une métallisation facile
- une diffusion faible de ses éléments dans l’électrode et dans la couche active
- une impédance acoustique faible pour faciliter l’étude de la couche.
Malheureusement toutes ces qualités sont rarement réunies en même temps et la
majorité des études est réalisée sur alumine. Ce matériau s’usine aisément, supporte très
bien les chocs thermiques et peut être métallisé par de nombreuses techniques. La
métallisation et le dépôt de couches épaisses piézoélectriques (BaTiO3, PZT, PLZT…) sur
alumine sont abondamment décrits dans la littérature et les principales techniques ont été
évoquées dans les paragraphes précédents.
Certaines études mentionnent d’autres substrats. Ainsi des équipes japonaises
sérigraphient des couches épaisses de PZT.[28] et de PZ-PT-PMN[36] sur des oxydes de
Zirconium métallisés à l’argent.
9 Le silicium
De nombreuses recherches ont été entreprises sur les films minces déposés sur
silicium orienté (100) ou non pour la fabrication de mémoires ferroélectriques, de micro-
pompes, de micro-moteurs et de capteurs.
Un inconvénient majeur du silicium est la réactivité importante du Silicium avec
l’oxyde de Plomb[38][39][40] à haute température. Le silicate de Plomb formé pollue les couches
épaisses et les altère totalement. Or, la majorité des matériaux piézoélectriques possédant
les caractéristiques requises pour les applications citées précédemment sont à base d’oxyde
de Plomb.
L’utilisation du Silicium passe donc par le dépôt d’une couche de passivation,
indispensable avant la métallisation. Les trois structures de passivation les plus communes
sont déposées par différentes méthodes thermiques :
- L’oxyde de Silicium SiO2 est de loin le plus utilisé. Sa croissance est réalisée sur
le silicium sous flux d’oxygène.
- La silice peut être également nitrurée (Si3N4) grâce à un mélange de silane et
d’azote.
- Une autre alternative est une bi-couche des deux précédentes (Si3N4-SiO2)
9 Les alliages
Malgré de grandes difficultés d’adhérence de la couche active et leur mauvaise tenue
aux traitements thermiques, certains aciers inoxydables réfractaires sont également utilisés
car ils ont l’avantage de servir à la fois de substrat et d‘électrode. Cependant, la température
des traitements thermiques subis par la couche épaisse et donc par le substrat limite encore
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
52
leur emploi. Néanmoins, sous certaines conditions, leur oxydation peut être totalement ou
partiellement évitée.
Le laboratoire des Matériaux de l’Ecole Nationale Supérieure de Toulouse et l’Equipe
Minéralogie et Cristallographie de l’Université Paul Sabatier de Toulouse [41][42]expérimentent
l’électrodéposition de l’alumine sur des aciers à base de Fe-Cr-Al et Fe-Cr mais cette
méthode peut s’adapter au dépôt d’autres matériaux. L’alliage reçoit un enduit de conversion
déposé par électrolyse à 60°C dans d’un bain d’acide sulfurique contenant du thiosulfate de
sodium, de l’alcool propargyl et un inhibiteur de corrosion. L’enduit est conducteur et poreux.
Il offre des conditions favorables pour la précipitation de l’alumine lors de l’électrophorèse
permettant ainsi une bonne adhésion de la couche épaisse. Même à haute température,
1000°C pendant plusieurs heures, l’enduit ralentit la cinétique de l’oxydation de l’acier.
II.2.2 Choix des substrats
9 L’alumine
L’alumine est le substrat principal de cette étude. Malgré une impédance acoustique
un peu élevée, l’alumine remplit toutes les conditions requises. Des tests effectués avec de
l’alumine à 96 et 99% de pureté n’ont pas montré de différences et pour des raisons de coût,
l’alumine à 96% de pureté a été sélectionnée.
L’alumine utilisée est commercialisée par HOECHST CERAMTEC sous la référence
RUBALIT® 708S et ses principales caractéristiques sont regroupées dans le Tableau 2. Les
substrats employés ont les dimensions suivantes : 25×12 mm.
L’alumine se découpe à la pointe diamant ou à l’aide d’une scie circulaire diamantée.
Elle peut également s’usiner au Laser. Avant utilisation, les plaques sont soigneusement
nettoyées à l’alcool aux ultrasons.
9 Le silicium
Le silicium utilisé a une épaisseur de 300 µm et il a une pureté de 99 %. Les
plaquettes sont polies sur une face. Deux types de couches de passivation ont été testés :
SiO2 et Si3N4. La métallisation s’effectue sur les couches barrières. La première solution a
été éliminée parce que des problèmes d’adhérence de la couche sur le silicium ainsi que des
problèmes de diffusion sont apparus. La nitruration du silicium donne en revanche une tenue
convenable de la couche sur le substrat.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
53
Tableau 2 : Caractéristiques de l’alumine
RUBALIT®708S Propriétés
Couleur Blanche
Dimensions 50 × 50 × 0.25 mm
Taille des grains 3 - 5 µm
Rugosité < 0,6 µm
Module d’Young 340 Gpa
Impédance acoustique 35,85 Mrayls
Conductivité thermique 20-100°C 24 W/m°K
Coefficient linéaire d’expansion 20-300°C
20-600°C
20-1000°C
6,8 × 10-6 /°C
7,3 × 10-6 /°C
8,0 × 10-6 /°C
Constante diélectrique 1 MHz
1 GHz
9.8
10
Facteur de dissipation (1 MHz) 0,3 × 10-3
Tension de claquage 20 kV/mm
Résistivité 200°C
400°C
800°C
1012 Ohm.cm
1011 Ohm.cm
109 Ohm.cm
II.2.3 Les électrodes
9 Critères de sélections
Les électrodes doivent répondre à différents critères :
- une bonne adhérence sur le substrat
- une bonne stabilité à la température de frittage
- pas de diffusion dans la couche épaisse
- si possible avoir un rôle de barrière pour éviter la diffusion d’éléments du substrat
vers la couche épaisse ou vice versa
- permettre la soudure de fils de connexion.
Différentes techniques de métallisation vont à présent être exposées en insistant sur
les substrats d’alumine et de silicium.
9 Sérigraphie de pâtes
Depuis les années 50, les pâtes de sérigraphie[30][43][44] sont élaborées par les
industriels de l’électronique (DU PONT DE NEMOURS ou CERDEC…). La rhéologie des
encres est ajustée très précisément obtenir un étalement uniforme (la résistance par carré
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
54
de l’électrode est proportionnelle à l’épaisseur), mais il est parfois possible de diluer la
préparation avec le solvant adapté pour réduire l’épaisseur de la métallisation.
L’encre doit remplir trois conditions :
- une fonction d’impression avant cuisson
- une fonction électrique et une fonction mécanique après cuisson
Elle comprend trois constituants essentiels :
- Un véhicule organique (solvants, résines...). Cette fraction organique représente
20% en poids, soit 60 à 80% en volume. Après la cuisson, l’épaisseur de
l’impression est réduite des 0 ou des ¾.
- Un matériau conducteur (Au, Ag, Pt, Pd…). Les poudres mises en œuvre ont, si
possible, des diamètres de l’ordre du micron pour imprimer des motifs fins. Elles
sont sphériques ou au moins sphéroïdales et compactes pour pouvoir adapter
l’empâtage et la rhéologie.
- Un matériau apte à rendre après cuisson le matériau actif solidaire du substrat.
Les frittes de verre (Borosilicates) et/ou les oxydes (oxyde de Cuivre, de
Cadmium, de Plomb, de Vanadium ou de Bismuth) contenus dans ces
préparations facilitent l’accrochage sur le substrat. La fritte de verre réagit avec
les phases secondaires plus ou moins vitreuses présentes aux joints de grains, ce
qui provoque des points d’accrochage mécanique entre la surface du substrat et
l’électrode. Les oxydes forment une couche intermédiaire entre l’alumine et le
métal. La Figure 2 décrit la nature des liaisons chimiques entre la métallisation et
le substrat.
Liaison métal–verre-Alumine Liaison métal-oxyde-Alumine
Figure 2 [44] : Liaison à l'interface alumine-électrode
La température de cuisson des métallisations varie de 700°C (pour des encres à
base d’Argent) jusqu’à 1350°C (pour des encres à base de Platine). Ces pâtes sont conçues
pour éviter que le retrait, engendré par la densification de la couche épaisse pendant le
frittage, perturbe l’adhérence de la couche. Elles permettent également l’accrochage entre le
substrat et la couche épaisse.
Point de scellement sur le substrat de la
fritte de verre réagie avec la phase vitreuseMétal
Alumine Alumine
Oxyde
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
55
n Les métaux purs
L’Or[45] et l’Argent[24][28][46][47], meilleur marché, sont tous les deux d’excellents
conducteurs, peu altérables, permettant la cuisson dans l’air. Ils ont l’inconvénient majeur
d’être assez solubles à la soudure au Sn-Pb. Ce problème peut être contourné en utilisant
des soudures spéciales (au Pb-In[44] pour l’Or). Les soudures sur l’Argent sont moins fragiles
tant qu’elles contiennent un peu d’Argent, mais la migration de l’Argent sous des tensions
continues en présence d’humidité pose de gros problèmes.
Le Platine, très coûteux, est également employé[24] [75] mais présente quelques
inconvénients sur l’alumine : l’équipe slovène de M. KOSEC[48] a étudié les films épais de
PLZT sur Al2O3 métallisés au Platine. Leur travail montre une diminution importante de la
stabilité de l’interface Platine-Alumine après le frittage des films épais. Le Plomb diffuse à
travers le Platine, réagit et sature l’Alumine. La croissance de cristaux de β-Alumine dégrade
l’interface substrat-électrode. Notons que la réaction entre l’alumine et le PLZT conduit
également à la formation de β-Alumine. La parade proposée par M. KOSEC est d’intercaler
un film épais de PLZT entre le substrat et l’électrode.
Le Platine diffuse de manière non négligeable dans les couches épaisses et est à
déconseiller surtout pour de longs traitements thermiques.
Le Cuivre est une électrode classique dans l’industrie. La pâte[49][50] est composée
d’oxyde de Cuivre (CuO). Elle est cuite sous atmosphère d’Azote avec un faible pourcentage
d’Oxygène et avec un peu d’Hydrogène. Les avantages de ces électrodes sont évidemment
liés au rapport coût/performance : le cuivre offre de très bonnes propriétés électriques et une
très bonne adhérence grâce aux fortes liaisons substrat-électrode. Ce métal non noble se
soude très bien mais il est incompatible avec le PZT.
Les encres à base de Palladium, de Nickel et d’Aluminium ne sont pas ou peu
utilisées comme électrodes dans les applications couches épaisses. Leurs performances
médiocres et leur oxydation importante pendant les traitements thermiques les rendent
difficiles à utiliser.
o Les alliages binaires et tertiaires
Même s’il fut l’un des premiers alliages binaires à être commercialisé, l’Argent-
Platine[43], malgré des qualités indéniables (insensible à l’oxydation, faiblement soluble à la
soudure au Sn-Pb), n’a pas connu l’essor escompté. Le Platine, même à taux important,
n’apporte pas les mêmes garanties que le Palladium pour éviter la migration de l’Argent.
Les systèmes Or-Platine[51], puis, Or-Palladium[58] se sont très rapidement
développés. Leur résistance à la soudure est convenable avec un avantage pour l’Or-
Platine. Leur stabilité décroît pendant le stockage et à des températures supérieures à
125°C. A titre d’exemple, dans le système Au/Pd, l’Etain forme un composé intermétallique
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
56
(Pd/Au)Sn3. Le Palladium est à présent aussi cher que le Platine mais la recherche
d’électrodes performantes a abouti à la mise au point d’alliages tertiaires Au-Pd-Pt [52] et Pt-
Pd-Ag meilleur marché.
Du fait de leurs performances et de leur coût modéré, les pâtes d’Argent-Palladium
sont les plus répandues pour la métallisation des substrats d’Alumine. L’argent et le
Palladium sont miscibles en toutes proportions comme le montre le diagramme de phases,
Figure 3.
Figure 3 [53] : Diagramme de phases de l’Argent Palladium
Palladium < 15% 20% < Palladium < 30%
Figure 4 [54] : Modèle de la migration de l’argent dans l’électrode de Ag-Pd avec Pd ≤15 % et
20 %≤Pd≤30 %
De nombreuses compositions sont disponibles, mais pour les applications en
électronique[54], le meilleur compromis est l’ajout de 5 à 40 % de Palladium. Par ailleurs,
l’équipe de J.C. LIN et Al. du Department of Mechanical Engineering de l’Université Centrale
Matrice d’Argent
PdO
Palladium soluble
Ag+
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
57
de Taïwan a montré que la migration de l’Argent dans l’électrode peut être limitée par l’ajout
de 15 à 40 % de Palladium. Le mécanisme est décrit Figure 4 : le Palladium, dissout dans la
matrice, s’oxyde à la surface de l’électrode en présence d’oxygène et forme une barrière
empêchant ainsi la migration des ions Ag+.
Il est intéressant de noter que la résistance des soudures sur l’Argent-Palladium est
comparable aux soudures sur l’Or-Platine.
Le Tableau 3 présente les principales électrodes et leurs températures de cuisson.
Tableau 3 :Températures de cuisson d’électrodes
Electrodes Température de cuisson °C
Ag 77 %-Pd 23 % 765 à 850
Au/Pd 900
Au 40 %-Pd 20 %-Pt 40 % 850 à 1350
Pt 1150
Ag 700
Les propriétés électriques des électrodes sont regroupées dans le Tableau 4.
Tableau 4 : Résistances de quelques électrodes [43] commercialisées par DU PONT DE
NEMOURS et résistances d’électrodes de Ru et RuO 2 pulvérisées
Conducteurs Résistivité (mΩ / ) Epaisseur après cuisson (µm)
Au 5 7
Ag 5 8
Cu 1.8 à 2 15
Ag-Pd 20 à 40 8 à 20
Pt-Au 80 15
Ag-Pt 25-40 15 à 20
Au-Pd 50 à 60 15 à 20
Ru 128 µΩ -
RuO2 370 µΩ -
9 Pulvérisation cathodique
Le principe de la pulvérisation[55][56] est de bombarder la surface de la cathode (en
métal ou oxyde à déposer) par les ions d’un gaz neutre, très souvent l’Argon. Le choc produit
une énergie cinétique communiquée aux particules éjectées de la cathode et qui viennent se
déposer sur le substrat. Les ions d’Argon Ar+ sont accélérés grâce à la différence de
potentiel entre la cathode et le substrat qui est à la masse. La pulvérisation se réalise sous
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
58
vide à une centaine de degrés. La plupart des bâtis de pulvérisation sont équipés d’une
cathode dite magnétron, il s’agit d’un aimant permanent placé dans la cathode qui permet
d‘appliquer un champ parallèle à la surface de celle-ci et donc de la cible. Les électrons de
cette région sont soumis à un champ électrique et à un champ magnétique perpendiculaires
entre eux. Leurs trajectoires s’enroulent autour des lignes de champ et augmentent
grandement la probabilité de chocs avec les atomes d’Argon et ainsi le taux d’ionisation de
ces derniers. Ce système permet de confiner un plasma très dense autour de la cible,
d’augmenter le taux de pulvérisation et d’abaisser les tensions de travail.
Tous les métaux (Platine, Titane, Palladium, Argent, Cuivre...) peuvent être déposés
par cette technique. Cette méthode se généralise depuis peu à la métallisation de substrats
pour des applications couches épaisses [69][32][70][29][33][25]. L’épaisseur des électrodes varie de
quelques nanomètres à quelques centaines de nanomètres.
C’est la méthode la plus utilisée pour métalliser le silicium[57][58] et les autres substrats
comme l’alumine et l’oxyde de Zirconium[59], destinés aux dépôts des films minces. Le
problème d’orientation cristalline ne se pose pas dans le domaine des couches épaisses,
mais il est intéressant de noter que, pour les films minces, la croissance préférentielle de
certaines phases du PZT ne se fait pas toujours sur silicium. Le recours à des couches
pulvérisées intermédiaires d’oxydes orientés (IrO2[61], MgO[60], RuO2
[62][63][64][65][66], RhOx,
SrRuO3[25]…) est alors nécessaire : elles confèrent l’orientation désirée. Certains de ces
oxydes sont conducteurs ou au moins semi-conducteurs.
Le Platine est le standard en matière d’électrode inférieure pulvérisée sur silicium
pour le PZT à cause de sa relative inertie chimique et parce qu’il est difficile à oxyder. Le
Platine adhère mal sur la silice ou sur le nitrure, une couche d’accrochage est donc
nécessaire. Le Titane, fortement réducteur, s’oxyde facilement sur la silice offrant ainsi une
forte adhérence. Les conditions de frittage, atmosphères, températures, pentes, influent sur
la tenue des électrodes. E. DEFAY [56] a montré que l’épaisseur du Titane doit être assez
faible par rapport à celle du Platine afin d’éviter la pénétration du Titane, son oxydation et sa
migration dans le film de PZT[67]. Il est bien connu que le Plomb est soluble dans le Platine
dès 700°C. A cette température, la phase cubique[68] PbPtx et la phase PbTi3O7 apparaissent.
Le métal noble diffuse jusqu’à la surface du film qui est ensuite dégradé pour former une
solution solide à base de Plomb et le Platine.
9 Evaporation sous vide
Il s’agit de vaporiser un fil du métal au-dessus du substrat. L’évaporation est réalisée
sous vide. Le fil de métal est porté à sa température de vaporisation en le reliant à un
générateur électrique. Cette méthode semble présenter moins d’intérêt que la pulvérisation,
tant au niveau de l’accrochage de l’électrode que des caractéristiques obtenues.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
59
9 Comparaison des méthodes de métallisation
L’équipe de Q. JIANG and Al.[36] compare les techniques de pulvérisation et
d’évaporation de l’Or et les sérigraphies de pâtes d’Argent sur des céramiques massives de
PLZT. La polarisation rémanente reste maximale même après 108 cycles avec l’électrode
pulvérisée. Dans le cas de la métallisation par évaporation, le vieillissement est très
important (25 %). Pour des céramiques métallisées à l’Argent, la polarisation rémanente
diminue de 10 % environ.
II.2.4 Choix des électrodes
9 Electrode inférieure
Le choix de la métallisation est conditionné par sa tenue aux traitements thermiques
et aux atmosphères de frittage des céramiques qui peuvent endommager et détruire
l’électrode. Le choix de la sérigraphie pour déposer les couches épaisses de PZT nous a
naturellement incité à utiliser cette technique pour métalliser les substrats d’Alumine.
Tableau 5 : Températures d’évaporation de différents métaux
Métaux Températures de fusion (°C)
Platine 1772
Titane 1668
Or 1064
Argent 962
Argent-Palladium (77/23) 1110
Or-Platine Variable suivant la composition
Or-Palladium-Platine Variable suivant la composition
La sélection de l’Argent-Palladium résulte de l’étude bibliographique. La pâte,
commercialisée par DU PONT DE NEMOURS (référence 4075), est très répandue dans
l’industrie de l’électronique et de la micro-électronique (électrodes internes sur les
multicouches de PZT[30][72], couches épaisses[73][72], couches minces). La pâte contient 54%
d’Argent, 16,3% de Palladium, 11% de frittes de verre et 18,7% de composés organiques. Le
pourcentage d’éléments conducteurs de la pâte est réparti ainsi : 77% d’Argent et 23% de
Palladium. Bon marché, le système Argent-Palladium possède grâce au Palladium, une
température de vaporisation élevée par rapport à la plupart des métaux traditionnellement
utilisés.
La littérature sur la métallisation du silicium est très riche. La méthode retenue est la
pulvérisation cathodique par le Platine (après le dépôt des couches barrières).
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
60
9 Electrode supérieure
Au vu de l’étude bibliographique et des techniques de dépôts mises en œuvre dans la
fabrication des couches épaisses, notre choix s’est porté sur une électrode d’Argent déposée
par sérigraphie. La pâte d’Argent est commercialisée par CERDEC (référence 7315) et
l’électrode est cuite dans un four à passage à 700°C pendant 15 minutes. Son épaisseur est
estimée inférieure à 10 µm.
II.3 SYNTHESE DE LA POUDRE
II.3.1 Etat de l’art
II.3.1.1 INTRODUCTION
Les propriétés des couches épaisses piézoélectriques dépendent de la qualité des
poudres utilisées. La synthèse de la poudre conditionne de nombreux paramètres. D’un point
de vue physique, le type de synthèse influe sur la taille des grains, leur distribution, leur
surface spécifique. Des différences interviennent aussi sur le plan chimique, car la
stœchiométrie de poudres n’est pas toujours ajustée.
Il existe deux grandes voies de fabrication des poudres : la voie solide et la voie
liquide.
II.3.1.2 VOIE SOLIDE
La synthèse par voie solide est le procédé industriel le plus largement employé. Il
repose sur la réaction à haute température d’un mélange d’oxydes ou de carbonates
pulvérulents, appelée chamottage par les céramistes.
Deux étapes sont essentielles dans ce type de synthèse[75][27] :
- La germination, c’est-à-dire la création d’une nouvelle phase, formée à partir de
deux particules solides.
- La propagation de la réaction ou diffusion de matière à travers cette nouvelle
phase.
Les paramètres influençant la réaction sont :
- La température et la durée de réaction. Elles doivent être ajustées et tenir compte
de la cinétique de la réaction pour synthétiser les bons produits.
- La granulométrie (taille, répartition, forme et surface spécifique des grains).
L’homogénéité de la poudre favorise les contacts interparticulaires et évite la
formation de phases parasites enrichies par l’espèce la plus réactive.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
61
- La nature et les proportions des matières premières. Le choix des espèces doit
être judicieux pour obtenir les produits désirés. L’utilisation des diagrammes de
phases permet de prévoir les réactions.
Ce procédé de fabrication est très économique. Les poudres obtenues ne sont pas
toujours homogènes et la réaction est parfois incomplète. Néanmoins, cette méthode par
calcination est très largement utilisée pour la synthèse de poudres. Celles-ci sont pressées
pour fabriquer des céramiques massives ou mélangées à des produits organiques pour
former une pâte qui sera étalée pour former des films épais.
II.3.1.3 VOIE LIQUIDE
La synthèse par voie liquide est très développée dans les laboratoires. Son intérêt est
d’obtenir des produits très homogènes. Les techniques diffèrent principalement par la façon
de réaliser :
- Le mélange de précurseurs à décomposer
- L’élimination du solvant avant ou pendant la calcination.
Les procédés les plus courants sont la synthèse sol-gel, la synthèse par co-
précipitation, la synthèse par décomposition d’hydroxydes et la synthèse hydrothermale.
9 Procédé sol-gel [75][76][77]
Ce procédé met en œuvre deux étapes distinctes détaillées Figure 5. Les matières
premières sont des alkoxydes (organométalliques) de formule générale M(OR)n où M est le
métal et R le groupe alkyl.
Les paramètres influençant la synthèse sol-gel sont :
- la nature du métal (coordinence, charge)
- la nature du solvant
- la nature de l’atmosphère réactionnelle
- la catalyse acido-basique
- la température de réaction
- le temps de réaction.
Ce procédé est très souple, car il est possible d’intervenir au cours du processus de
gélification pour modifier la sphère de coordination du précurseur par une substitution d’un
nouveau ligand. La géométrie du polymère peut ainsi être adaptée, linéaire pour la
fabrication de fibres ou ramifiée pour la synthèse des poudres. Le gel obtenu peut être
directement déposé par la tournette ou par pulvérisation, d’où l’intérêt de cette technique
pour l’élaboration de films minces.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
62
Formation du sol = suspension colloïdale
Réalisation du gel = Réseau tridimensionnel
Dispersion par hydrolyse des précurseurs organométalliques dans un solvant
Hydrolyse des alkoxydes en milieu acide
M(OR)n + xH2O M(OH)x (OR)n-x + xROH
Oxalation
M-OH + M-OH M-O-M + H2O
Alcoxolation
M-OH + R-OH M-O-M + R-OH
et
Figure 5 : Synthèse sol-gel
9 Co-précipitation d’oxalates et d’hydroxydes
Cette technique[78] a été développée au Laboratoire de Génie Electrique et
Ferroélectricité. Son principe repose sur la co-précipitation en milieu basique d’espèces
solubles dans l’eau.
Les précurseurs des sites A et B de la structure pérovskite du PZT (acétate,
butoxydes, chlorures…) sont mélangés dans l’eau. Toutes ces espèces sont ensuite
précipitées à pH basique sous forme d’oxalates et d’hydroxydes.... Après les étapes
intermédiaires de décantation, rinçage et filtration, le précipité subit un broyage destiné à
casser les agglomérats. Cette étape permet également d’ajouter les espèces précipitables.
La poudre de PZT est obtenue par décomposition thermique du précipité. Les qualités
chimiques (stœchiométrie, homogénéité) et physiques (granulométrie, forme des grains) de
ces poudres sont bonnes. Les paramètres suivants ont une grande importance :
- contrôle du pH
- temps d’agitation
- ordre d’introduction des réactifs dans la solution d’acide oxalique.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
63
9 Synthèse hydrothermale [27]
Les précurseurs solides sont mélangés dans l’eau. Leur dissolution est réalisée sous
pression dans un autoclave (150 bars environ). Les oxydes hydratés obtenus réagissent
entre eux pour former la phase pérovskite insoluble. La cristallisation de la phase
stœchiométrique est réalisée à basse température (<350°C). Les poudres produites
possèdent une bonne homogénéité chimique et géométrique ; elles sont très peu
agglomérées ce qui facilite leur mise en suspension pour l’étalement des films épais.
Malheureusement, certains précurseurs, non solubles, ne peuvent pas être utilisés, ce qui
limite le choix des compositions des poudres. De plus, le maintien d’une pression est un
inconvénient majeur de ce procédé.
9 Décomposition d’hydroxydes
Les espèces mises en jeu sont des hydroxydes mélangés dans un solvant. Après
évaporation ou combustion du solvant, les hydroxydes sont décomposés thermiquement. La
méthode est limitée par :
- la solubilisation des hydroxydes, parfois impossible à obtenir dans un même
solvant
- l’élimination thermique difficile de certaines espèces contenues dans les
précurseurs.
II.3.2 Choix des techniques de synthèse
II.3.2.1 INTRODUCTION
Le laboratoire de Génie Electrique et Ferroélectricité a une grande expérience en
matière de synthèse de poudre de céramique piézoélectrique. Les deux modes de synthèse
mis en œuvre sont : la voie solide (calcination d’oxydes) et la voie liquide (co-précipitation
d’oxalates).
II.3.2.2 SYNTHESE VOIE SOLIDE
Les oxydes ou les carbonates sont mélangés 2 heures à 200 tr/min en milieu
alcoolique dans des jarres d’Agate à l’aide un broyeur planétaire. La réaction est réalisée à
950°C dans un creuset d’alumine pendant 6 heures avec une pente de montée en
température de 2°C/min. Le PZT alors formé est réduit en poudre au mortier puis il est broyé
dans des jarres d’Agate en milieu alcoolique avec un broyeur planétaire. La Figure 6 résume
le mode opératoire de la synthèse voie solide.
Ce procédé de fabrication présente l’avantage d’être rapide et simple à mettre en
œuvre. Aucune phase pyrochlore n’est présente dans la poudre : formées vers 700°C, elles
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
64
commencent à disparaître vers 850°C et n’existent plus à 950°C. Les poudres ont une
stœchiométrie convenable même si la réaction n’est complète qu’à 98 % et qu’un départ
d’oxyde de Plomb est possible. La distribution granulométrique des poudres est uniforme
après broyage.
II.3.2.3 SYNTHESE VOIE LIQUIDE : COPRECIPITATION D’HYDROXYDES ET D’OXALATES
Les acétates et les butoxydes des sites A et B de la pérovskite ABO3 sont mélangés
respectivement avec l’acide oxalique. L’ajout d’ammoniaque permet la précipitation des
oxalates. Après filtration, le précipité est décomposé à 600°C et la taille des grains est
ajustée par un second traitement thermique entre 700 et 900°C. La présence de phase
pyrochlore n’est pas décelée même à 600°C. Pour obtenir une granulométrie uniforme, la
poudre est broyée avec le broyeur planétaire. Le détail de la synthèse est indiqué Figure 7.
II.3.2.4 COMPOSITION DES POUDRES
Dans le cadre de ce travail, différents PZT ont été sélectionnés : deux PZT doux
(sld36 et sld31), un PZT dur (sld37) et un PZT intermédiaire (sld1). Leur composition figure
dans le Tableau 6.
Tableau 6 : Composition des poudres
Nom Composition
SLD1 Pb0,93 Sr0,07 (Zr0,455 Ti0,445 W0,036 Sn0,036 Mn0,028)O3
SLD37 Pb0,89 Ba0,06 Sr0,05 (Zr0,512 Ti0,472 Fe0,016)O3
SLD36 Pb0,92 Ba0,03 Sr0,05 (Zr0,52 Ti0,46 Nb0,02)O3
SLD31 Pb0,82 Sr0,12 Ba0,05 La0,01 (Zr0,56 Ti0,43 Sb0,01)O3
Toute l’étude sera faites à partir de la poudre (sld1). Sa composition a été choisie
principalement pour ses bonnes propriétés pour ce type de matériau (cf. § IV.5.1.2) et parce
qu’il est possible de la synthétiser en voie solide et en voie liquide.
Les autres compositions permettront d’étudier les variations de comportement des
couches en fonction des caractéristiques des PZT utilisés.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
65
Mélange des oxydes et carbonates
Calcination
950°C, pente 2°C/min, 6 heures
Broyage
3 heures à 200tr/min
Figure 6 : Synthèse voie solide
Mélange aqueux de toutes les espèces solubles des sites A et B
(butoxydes, acétates et chlorures)
Précipitation en milieu basique
Décomposition thermique
600°C, 2°C/min, 10 heures
Décantation, rinçage, filtration
Traitement thermique pour faire grossir les grains
700°C et 900°C, 3°C/min, 6 heures
Broyage
3 heures à 200tr/min
Broyage
Figure 7 : Synthèse voie liquide
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
66
II.4 ELABORATION DE L’ENCRE
II.4.1 Constituants [79][30]
La sérigraphie impose la mise en suspension du matériau piézoélectrique dans un
véhicule organique. Cette pâte est communément appelée encre. Comme les pâtes de
métallisation, sa composition est dérivée de celles des pâtes de sérigraphie utilisées en
métallisation. Quatre grandes familles de composés organiques sont utilisées : les solvants,
les liants, les dispersants et les plastifiants. Chacun possède un rôle particulier et influe sur
la dispersion, l’homogénéité et la viscosité des pâtes.
II.4.1.1 LA POUDRE
La poudre de PZT constitue le matériau actif. Les différentes méthodes de synthèse
s’appliquent à maîtriser non seulement la stœchiométrie des poudres mais aussi la
granulométrie et la forme des grains. L’écoulement d’une pâte est facilité par la suspension
de particules sphériques. A l’inverse, des particules sphéroïdales ou en aiguilles présentent
un écoulement perturbé et une dispersion plus difficile. La taille des particules est de
préférence comprise entre 1 et 3 µm. Des particules trop petites s’agglomèrent très
fortement entraînant une mauvaise dispersion de la poudre dans la pâte et des particules de
grandes tailles accélèrent la sédimentation et la porosité des couches.
II.4.1.2 LE SOLVANT
Il dissout le liant, assure la mouillabilité de la poudre et ajuste la viscosité de la pâte.
Il doit être miscible avec tous les constituants organiques mais ne doit pas réagir avec eux.
Différentes classifications sont proposées dans la littérature.
Les solvants vrais (méthyl-éthylcétone, acétate de buthyl, éthylglycol, pour n’en citer
que trois) permettent de mettre en solution le liant. Le solvant latent augmente la proportion
de liant mais ne le dissout pas. Le mélange solvant latent/solvant vrai est très répandu et se
comporte dans certaines limites comme un solvant vrai. Le solvant diluant, en général des
hydrocarbures aliphatiques ou aromatiques, abaisse simplement la viscosité.
Leur nature (cétones, esters, éthers-oxyde, alcools, hydrocarbures ou terpènes) varie
suivant l’utilisation. La taille de la chaîne carbonée est très importante pour choisir le solvant.
Les solvants légers ne s’emploient jamais seuls tandis que les solvants lourds ne s’utilisent
qu’en faibles quantités. Les solvants moyens sont les plus courants.
En plus de leur volatilité, les critères de toxicité, d’inflammabilité et de coût sont à
prendre en compte. Les solvants des pâtes de sérigraphie à base de matériaux
piézoélectriques sont le plus souvent le mélange azéotropique méthyléthyl cétone/éthanol,
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
67
l’α-terpinéol, exceptionnellement le toluène ou le cyclohexanone et des mélanges solvants
vrai/latent comme l’α-terpinéol/acétate de butyl carbytol.
II.4.1.3 LE DISPERSANT
Dans un fluide, les particules peuvent rester en suspension, décanter et/ou
s’agglomérer. Toute modification de l’état du milieu (par exemple, un simple cisaillement ou
la variation du pH en milieu aqueux) peut déséquilibrer la suspension en la faisant floculer.
Les dispersants sont des molécules longues. Possédant un groupement hydrophile et un
groupement lipophile, elles s’adsorbent à la surface des particules et assurent la stabilisation
de la suspension et la dispersion homogène des particules dans les encres.
Deux mécanismes interviennent dans la dispersion :
1. Les mécanismes[80] mis en jeu sont basés sur l’encombrement stérique des molécules
dispersantes et des particules (Figure 8) et sur leurs interactions physico-chimiques.
Dans le cas des systèmes possédant une constante diélectrique faible, la stabilisation
résulte de la répulsion stérique entre les molécules fonctionnelles adsorbées à la
surface des particules.
Figure 8 : Stabilisation par encombrement stérique
2. La théorie de DLVO (DERJAGUIN, LAUNEY, VERNEY, OVERBEEK) (Figure 9),
reposant sur le modèle de la double couche électrique (Figure 10), permet d'expliquer la
stabilisation de la dispersion de la poudre dans l'encre. Les particules sont soumises à
des répulsions électrostatiques et à l'attraction des forces de VAN DER WAALS. La
stabilité de la dispersion est contrôlée par la variation de l'énergie potentielle lorsqu'on
approche deux particules. Les forces de répulsion entre les particules résultent des
interactions au niveau de la double couche électrique qui entoure les particules
dispersées et les maintient dans l'état dispersé. La théorie de DLVO s'applique pour des
systèmes organiques et aqueux possédant une grande constante diélectrique.
ParticulesMolécules dispersantes
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
68
Figure 9 : Variation de l’énergie potentielle en fonction de la distance entre deux particules.
Figure 10 : Modèle de la double couche
Leur efficacité dépend de :
- Leur poids moléculaire. Des bas poids moléculaires abaissent fortement la
viscosité mais ne favorisent pas une grande stabilité. En revanche, les
dispersants à poids moléculaires élevés ont l’effet inverse.
- La nature chimique. Elle influe sur leur capacité d’adsorption à la surface de la
poudre.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
69
- Des proportions dans le mélange. Un surdosage abaisse le potentiel Zéta des
poudres et augmente la viscosité de la pâte. Leur pourcentage reste de
préférence inférieur à 5 % en masse dans le mélange.
Les deux dispersants les plus souvent cités dans la préparation des encres à base de
PZT sont les esters de phosphate et le (2-(2-butoxyéthoxy)-éthyl) acétate. Des études
approfondies [80][81]ont été menées sur les esters de phosphate, mais la présence de
phosphore résiduel après les traitements thermiques est un inconvénient, car les propriétés
des couches peuvent être affectées.
II.4.1.4 LE LIANT
Un des composants essentiel de la pâte est l’élément filmogène qui joue le rôle de
liant des autres particules. Ces substances macromoléculaires permettent l’étalement de la
pâte en un film continu. Elles minimisent les fissures, la porosité et les défauts à la surface
de la couche tout en maximisant la densité et la tension superficielle de la couche. Les liants,
rarement naturels, sont synthétisés à partir :
- de la polymérisation de composés vinyliques ou acryliques
- de la polycondensation de précurseurs donnant notamment des polyesters
- de la polyaddition conduisant à des époxydes ou à des polyuréthannes.
Le liant ajuste la viscosité de la pâte et confère aux films leur tenue. Les mécanismes
mis en œuvre lors du séchage s’appliquent aux dérivés de la cellulose, du caoutchouc, aux
molécules vinyliques et acryliques. En s’évaporant, les solvants laissent les molécules de
liants enchevêtrées. Leur cohésion est assurée par les liaisons intermoléculaires qui forment
un réseau tridimensionnel et parfois par leur réticulation grâce à une augmentation de la
température ou à un catalyseur.
Dans la fabrication des couches épaisses, les liants traditionnels sont des butyral
polyvinyliques, l’éthyl cellulose et plus rarement, des résines acrilyques. Ce sont des
poudres possédant un certain degré de polymérisation. L’éthyl cellulose est dispersé dans
des solvants très variés (alcools et/ou hydrocarbures aromatiques). Ce composé est très
stable et indécomposable jusqu’à sa température de fusion. Le point de fusion peut
néanmoins être abaissé par ajout d’huile minérale ou organique à chaîne longue. Sa
dégradation thermique est provoquée par oxydation thermique, au-dessus de 150°C, ou par
oxydation photochimique en présence d’ultraviolet. Sa compatibilité est très grande avec les
plastifiants et autres liants. Les films obtenus sont très flexibles et possèdent une bonne
tenue à la traction et aux alcalis.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
70
Les butyral polyvinyliques (PVB) constituent le groupe le plus important des acétals.
Les qualités des films contenant ce polymère (résistance à la traction, allongement à la
rupture, élasticité) et le point de fusion du PVB s’élèvent avec son poids moléculaire, c’est-à-
dire avec son degré de polymérisation. Le Tableau 7 compare les caractéristiques des films
de PVB possédant des polymérisations d’environ 450 et 750.
Tableau 7 : Caractéristiques pour des films de degré de polymérisation 450 et 750
Caractéristiques Degré de polymérisation 450 Degré de polymérisation 750
Point de ramollissement 145-150 °C 180-200°C
Résistance à la rupture 500 kg/cm2 600 kg/cm2
allongement 10 % 20 %
Le degré d’acétalisation exerce également une influence sur l’ensemble des
propriétés physiques et mécaniques du film. La solubilité de ces polymères varie suivant la
proportion des différents groupes acétate, butyral et hydroxyle. Ce polymère est soluble dans
l’eau lorsque les proportions d’alcool polyvinylique dépassent 48 % alors que son caractère
hydrophobe prédomine si les groupements butyral sont majoritaires. Il devient alors soluble
dans les solvants polaires (d’abord les alcools puis les cétones, esters et éthylèneglycol). En
revanche, il est insoluble dans les hydrocarbures aliphatiques. Les PVB sont compatibles
avec tous les plastifiants usuels sauf les plastifiants renfermant des chaînes alkyles longues
comme le phtalate de dinonyle. L’excellente adhérence sur la plupart des matériaux et la
souplesse de ces films justifient leur usage dans de nombreuses applications (peintures
entre autres). De plus, sa résistance chimique aux solutions alcalines et salines en font un
liant incontournable.
II.4.1.5 LE PLASTIFIANT
Lorsque le solvant s’élimine le film devient très souvent rigide, cassant, il perd alors
son adhérence sur le support. Le plastifiant corrige ces défauts pour obtenir après séchage
une couche adhérente, homogène et sans craquelure. De manière générale, le plastifiant
optimise la mouillabilité des particules et les propriétés des liants polymères en diminuant la
température de transition vitreuse ; il permet d'augmenter la compliance élastique en rendant
le film plus flexible.
Ce sont des composés macromoléculaires très peu volatils dont la tension de vapeur
est négligeable dans les conditions de préparation et de dépôt du film. Ils doivent être
neutres pour ne pas réagir avec les autres composants de la préparation. Ses critères de
pureté et ses caractéristiques sont la densité, l’indice de réfraction, le point de fusion et le
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
71
point d’ébullition sous quelques millimètres de Mercure. Leur constante diélectrique est
généralement élevée. Les phtalates et le polyéthylène glycol sont régulièrement mentionnés
dans la littérature traitant de la fabrication des couches épaisses piézoélectriques.
II.4.1.6 RECAPITULATIF
Le Tableau 8 regroupe les principaux composés par catégorie employés dans les
encres pour la sérigraphie des couches épaisses.
Tableau 8 : Récapitulatif des principaux composés organiques
Principaux composés
Solvant
Mélange azéotropique de méthyléthylcétone et d’éthanol (66/34)
α-terpinéol
Toluène
Ethanol
Trichloroéthylène
cyclohexanone
Mélanges α-terpinéol/acétate de butyl carbytol
DispersantEster de phosphate
(2-(2-butoxyéthoxy)-éthyl) acétate
Liant
Polyvinyl butyral (PVB)
Ethyl cellulose
Résines acrilyques (Méthyl méthacrylate…)
Plastifiant
Polyéthylène glycol (PEG)
Dibutyl phtalate
Dioctyl phtalate (DOP)
Butylbenzyl phtalate
II.4.2 Formulation
La combinaison des différents constituants de la pâte n’est pas faite au hasard. La
dispersion de la poudre dans l’encre et sa mouillabilité doivent être optimisées par le choix
des composés organiques. Une autre condition est la compatibilité des constituants entre
eux pour garantir la stabilité de la pâte. Les tables des paramètres de solubilité[82] et la
connaissance de la force entre les liaisons Hydrogène permettent d’établir le choix des
composés organiques (il est nécessaire d’avoir des paramètres de solubilité suffisamment
proches).
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
72
Leurs températures d’évaporation ainsi que la manière dont ils se dégradent (taux
résiduel de carbone) sont prises en compte pour obtenir des films épais sans défaut et
possédant des propriétés piézoélectriques convenables. Le Tableau 9 présente quelques-
unes des caractéristiques des composés organiques qui constituent le véhicule organique.
Tableau 9 : Caractéristiques de quelques composés organiques [82]
ComposésParamètres de
solubilitéLiaisons Hydrogène Point d’ébullition
Ethanol 12,7 Forte (18,7) 78°C
Méthyl éthyl cétone 9,9 Moyenne (7,7) 56°C
Toluène 8,9 Faible 111°C
Cyclo-hexanone 9,9 Moyenne 157°C
trichloroéthylène 8,6 Faible 72-88°C
terpène 8,1-8,6 Faible 150-220°C
Acétate de carbitol(Acétate d’éthoxyéthoxyéthyl)
8,5 Moyenne (9,4) -
Ethylène glycol 14,2 Forte 198
Polyéthylène glycol
300
9,03-9,42 Moyenne *
Polyéthylène glycol
400
8,9-9,04 Moyenne *
Polyéthylène glycol
600
8,81-8,54 Moyenne *
Dioctyl phtalate 7,18-8,23 Moyenne 386
Dibutyl phtalate 9,41 Moyenne 340
Glycérol 16,5 Forte (22) 290
Butyral polyvinylique 8,39 Moyenne à forte *
Méthyl méthacrylate 8,8 Moyenne *
Ethoxyethyl acétate 8,7 Moyenne (9,4)
Ethyl cellulose 8,5-10,1 Moyenne à forte *
Méthoxyethyl acétate 9,2 Moyenne *
*dépend du degré de polymérisation
Un point important à prendre en compte est la qualité et l’homogénéité de la structure
microscopique et macroscopique de l’encre pour obtenir un bon étalement. Le choix des
constituants et leurs proportions influent sur la viscosité de la pâte et donc sur l’impression.
Un étalement trop faible provoque l'apparition de bulles d'air qui entraînent des vides lors du
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
73
frittage. Un étalement trop grand multiplie l'apparition des fissures et des pores. Il s'agit de
trouver un bon compromis afin d'optimiser l'aspect des couches.
Deux principes se dégagent de l’étude bibliographique :
- La quantité de plastifiant est généralement inférieure à celle du liant. Si
l'étalement de l’encre est trop faible, il faut augmenter sa proportion. Si au
contraire il est trop grand, il faut la diminuer.
- La quantité de dispersant doit rester inférieure à 5 % massique pour les raisons
décrites précédemment.
La littérature cite souvent les constituants qui entrent dans la fabrication des pâtes de
sérigraphie, mais rarement des compositions précises. La proportion de poudre par rapport
au véhicule organique est comprise entre 60 et 90 %. Cependant, celles des encres pour le
coulage en bande sont divulguées depuis longtemps et figurent dans le Tableau 10. En effet,
même si la nature des constituants des pâtes employées pour le coulage en bande est
différente de celle des pâtes de sérigraphie , leurs proportions respectives sont
généralement identiques.
Tableau 10 : Proportions les plus courantes en pourcentage massique
Référence [91] [89] [90] [88] [80]
Poudre 59.8 35 77.2 60 67.39
Solvant 32.1 33 10.6 20 25.61
Dispersant 1 2 0.3 0.3 0.45
Liant 2.4 20 7.1 15.2 2.73
Plastifiant 4.7 10 4.8 4.5 3.82
II.4.3 Mélange
L’industrie et certains laboratoires[83][84] effectuent les mélanges de pâtes dans des
cuves équipées de mélangeurs à hélices ou avec des tricylindres lorsque la
désagglomération des poudres est difficile à réaliser. Globalement, l’étape préliminaire
consiste à dissoudre le liant dans le solvant. La poudre et le dispersant sont ensuite ajoutés.
Puis, la préparation est homogénéisée manuellement, aux ultrasons et/ou à l’aide d’un
tricylindre. Le mélange continu sur un appareil rotatif est conseillé pour dégazer la pâte et
conserver une suspension homogène. En effet, les poudres utilisées possèdent une grande
densité et l’encre a tendance à sédimenter.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
74
II.4.4 Choix des constituants et fabrication de l’encre
9 Constituants
L’étude bibliographique et l’expérience nous a conduit à tester les constituants
organiques suivants :
- le solvant : α-terpinéol
- le liant : polyvinylbutyral (PVB)
- le dispersant : (2-(2-butoxyéthoxy)-éthyl) acétate (BEEA) et l’ester de phosphate
commercialisé sous le nom de Beycostat C 213
- le plastifiant : polyéthylène glycol (PEG) et le dioctyl phtalate (DOP).
.WHUSLQéol Polyvinylbutyral Polyéthylène glycol
(2-(2-butoxyéthoxy)-éthyl) acétate Ester de phosphate Dioctyl phtalate
Figure 11 : Formule des composés organiques
9 Mélange
n Manuel
Le solvant et le liant sont mélangés séparément manuellement puis aux ultrasons. Ce
mélange est stable et peut être conservé plusieurs semaines dans un flacon soigneusement
fermé pour éviter l’évaporation du solvant.
O ( ) n
CH3 CH3 OH
CH3
)n ( CH2
CH3
O O
COOC8H17
COOC8H17
O O
O O
O
OH
OH RO P
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
75
Dans un premier temps, l’encre a été réalisée manuellement. Le dispersant est
mélangé à la poudre puis on ajoute le mélange solvant-liant (temps de mélange : 2 à 3
minutes). Le plastifiant est ajouté en dernier. L’encre est prête à être utilisée après un
second mélange de 2 à 3 minutes. L'encre est éventuellement passée aux ultrasons pendant
15 minutes afin de casser les agglomérats de particules.
Avant l'emploi, elle sera toujours agitée pour ré-homogénéiser le mélange ; l'encre
ainsi préparée est prête pour le dépôt sur le substrat.
o Mécanique
Afin de casser les derniers agglomérats et d’obtenir des préparations très
homogènes, l’utilisation d’un tricylindre s’est avérée indispensable. La suspension, fabriquée
selon n, est écrasée entre les rouleaux du tricylindre. Cette étape est rapide (1 à 2 minutes)
et plusieurs passages dans l’appareil peuvent être nécessaires pour certaines poudres
particulièrement difficiles à désagglomérer. L’encre est ensuite conservée sur un appareil
rotatif qui assure le dégazage et l’homogénéité du mélange. Ce dispositif permet aussi de
maintenir la pâte thixotropique dans un état de rhéologie constant.
II.5 TRAITEMENTS THERMIQUES
II.5.1 Séchage et Déliantage
L’étude présentée dans ce paragraphe découle des écrits référencés [30] et [85].
II.5.1.1 PHYSICO-CHIMIE
L’introduction d’additifs à la poudre est indispensable avant l’étape de mise en forme
des couches. Cependant, ces constituants organiques doivent être éliminés avant l’étape de
frittage durant laquelle s’opère la densification du film. La maîtrise du séchage et du
déliantage est délicate, car il est nécessaire d’éviter la formation de défauts et de minimiser
les résidus carbonés qui seraient préjudiciables au frittage et aux propriétés de la couche.
Les phénomènes qui interviennent dans l’élimination de la phase organique[85] sont
physiques (forces capillaires, diffusion et écoulement) et chimiques (pyrolyse ou calcination).
9 Les forces capillaires
A certaines températures, la viscosité et la tension de surface des composés
organiques permettent l’action de forces capillaires. La phase organique se trouve alors à
l’état liquide et se déplace vers la surface, des gros pores vers les petits pores de la
structure. Elle s’évapore si sa pression de vapeur est supérieure à celle qui règne dans
l’enceinte du four. La migration de la phase organique provoque une redistribution entre la
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
76
surface et l’intérieur du matériau. Un régime stationnaire s’établit à la température
d’évaporation tant que la surface est alimentée par la phase liquide. Cette période dépend
de :
- La quantité de phase liquide. L’effet capillaire se ralentit lorsque la phase liquide
n’est plus aussi importante, car elle doit parcourir une distance de plus en plus
grande pour atteindre la surface. Le mécanisme est ensuite stoppé par les forces
de frottements visqueux. Ce mécanisme est prépondérant dans le séchage des
films c’est à dire dans l’extraction du solvant.
- La température. Plus elle est élevée, plus l’extraction est rapide. En effet,
l’augmentation de la pression de vapeur du solvant, proportionnelle à la
température, accroît la cinétique d’évaporation.
Cependant, au-delà d’une température seuil, les forces capillaires ne maintiennent
plus la saturation de la surface en phase liquide. L’interface vapeur-liquide est déplacée vers
l’intérieur de la céramique. L’augmentation des forces capillaires favorise un déliantage
rapide et homogène de la céramique tout en diminuant les contraintes.
A l’intérieur de la céramique, les composés se vaporisent et se décomposent en
molécules de faibles poids moléculaires. Ces espèces gazeuses s’éliminent alors en fonction
de la longueur du libre parcours moyen des particules gazeuses au sein du matériau, soit
par diffusion, soit par écoulement. Généralement, le libre parcours moyen augmente avec le
poids moléculaire des molécules ou lorsque la pression diminue.
9 La diffusion
Ce mécanisme est prépondérant si :
le rapport pores des moyen rayon
vapeur espècel' de moyen parcours libre est supérieur à 10. C’est la
fréquence des impacts moléculaires sur la paroi des pores et non la viscosité du gaz qui
contrôle l’extraction.
9 L’écoulement
Inversement, l’écoulement est conditionné par la fréquence des impacts entre les
molécules, il dépend de la viscosité du gaz. Dans ce cas, le rapport
pores des moyen rayonvapeur espècel' de moyen parcours libre
est inférieur à 10.
9 Pyrolyse des composés organiques
Les composés organiques sont généralement des polymères. Ils se décomposent à
des températures variables suivant leur nature. Trois grands types de mécanismes de
pyrolyse sont observés. Ils se produisent parfois simultanément :
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
77
- La scission de chaînes statiques. Les polyéthylènes et les paraffines suivent ce
mécanisme. La chaîne se rompt de manière aléatoire le long de la macromolécule
en produisant des composés liquides et gazeux. La proportion de composés
gazeux augmente avec la température.
- La dépolymérisation. Les polymères tels que le polyéthylène glycol et le
polyméthacrylate de méthyle se dépolymérisent aisément. Ils se fractionnent à
haute température et libèrent les molécules de monomères comme le montre la
Figure 12.
Figure 12 : Dépolymérisation du polyéthylèneglycol
- L’élimination de fragments latéraux. Les liaisons latérales sont plus faibles que les
liaisons du squelette carboné de la macromolécule. Deux phases cinétiques
coexistent au sein de la réaction. La première correspond à l’élimination des
groupements latéraux et la seconde aux cracking de la structure restante. Le
polybutyral de vinyle (PVB) se dégrade vers 250°C suivant le mécanisme décrit
Figure 13. La décomposition produit de l’eau et du butyraldéhyde.
CH2
CH CH
O O
CH
CH2
CH2
CH3
Polyvinylbutyral
CH CH CH
CH CH
H O OH H
CO
CH3
Alcool polyvinylique acétate de polyvinyle
CHO CH=CH2 + C3H7CHO + + H2O + CH3-COOH + CH=CH CH2=CH=CH +
( CH2 CH2 O-)n ( CH2 CH2 O )n-1 + CH CH
O
Figure 13 : Elimination des fragments latéraux du PVB vers 250°C
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
78
II.5.1.2 PARAMETRES INFLUENÇANT LE DELIANTAGE ET LE SECHAGE
9 Température de séchage
La pente de montée en température ne paraît pas être un paramètre déterminant
pour le séchage des films épais. La température et la durée du séchage sont choisies
respectivement en fonction de la température d’évaporation et de l’énergie interfaciale
vapeur-liquide du solvant à éliminer juste après le dépôt.
9 Température de déliantage
Au cours du déliantage, la cinétique d’élimination des composés organiques est
longue. La vitesse de montée en température est généralement d’une fraction de degré à un
degré par minute et la durée du déliantage est de plusieurs heures. Elle dépend des
dimensions de la pièce. Plus la pièce est grosse, plus le déliantage est long.
9 Stabilité des composés organiques
La stabilité des composés permet de déterminer la température optimale de
déliantage. Les diagrammes d’enthalpie libre standard (Figure 14) montrent que la plupart
des hydrocarbures sont instables pour des températures supérieures à 400°C.
Figure 14 : Enthalpie libre standard de quelques hydrocarbures
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
79
L’étude particulière du PVB par analyse thermogravimétrique (Figure 15) révèle une
décomposition totale du PVB sous balayage d’Argon :
- élimination de l’eau avant 250°C,
- départ de CO2 et de buthoxydes par oxydation pour des températures inférieures
à 350°C,
- dégagement d’hydrocarbures légers insaturés jusqu’à 500°C.
Figure 15 : Analyse thermogravimétrique du PVB sous Argon pour une montée de 5°C/min
La Figure 16 montre l’influence des oxydes contenus dans les films de PVB. La
calcination sous air des buthoxydes et du CO2 des films s’effectue sur des plages de
températures plus longues retardant ainsi la décomposition du PVB.
Figure 16 : Analyse thermogravimétrique de films contenant 2 % de PVB sous Air pour une
montée de 5°C/min
La Figure 17 montre que le taux de carbone résiduel diminue plus vite dans le cas de
films contenant des oxydes. La masse carbonée restant à 500°C est inférieure à 1 % ; un
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
80
traitement thermique à plus haute température est nécessaire pour éliminer complètement le
carbone résiduel dès 600°C sous Argon. Cependant, la présence d’oxyde empêche la
suppression totale des composés carbonés.
Figure 17 : Masse des films contenant 2 % PVB en fonction de la température de déliantage
sous Air pour une montée de 5°C/min
Les oxydes possédant un point isoélectrique pour un pH compris entre 6,4 et 6,9 ont
le plus faible taux résiduel de carbone (Figure 18). Les résidus de carbone pour des
températures supérieures à 1000°C sont négligeables (quelques ppm). Ils dépendent
essentiellement de la surface de l’oxyde et des liaisons carbone-oxyde.
Figure 18 : Masse de carbone résiduelle dans des films contenant 2 % PVB en fonction du
point isoélectrique pour une montée de 5°C/min, ∗ sous Air et + sous Argon.
La décomposition de la phase organique dépend:
- de la température de déliantage. Entre 500°C et 700°C, la présence des résidus
carbonés devient peu importante.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
81
- du type d’oxyde et de l’atmosphère.
- du point isoélectrique des oxydes à laquelle la quantité de carbone résiduelle peut
être reliée au-dessus de 1000°C.
La réactivité des oxydes peut être influencée par la structure de la surface, le nombre
de groupements hydroxyl, l’eau adsorbée et des impuretés. Ce qui affecte directement le
déliantage.
9 Caractéristiques de la poudre
Les propriétés de l’encre sont directement reliées aux caractéristiques de la poudre.
La structure du film cru dépend de la taille des grains, de leur distribution granulométrique et
de leur agglomération. Ces différences structurelles ont une importance capitale dans les
mécanismes de séchage et de déliantage.
L’empilement uniforme des grains de taille identique favorise la cinétique de tous les
mécanismes physiques décrits. Notons qu’une poudre trop fine augmente leur densification
lors du frittage, mais diminue la vitesse du déliantage. La présence d’agglomérats, favorisée
par de très petites particules et des régions de densité différente, est préjudiciable à
l’extraction des composés organiques. De plus, elle augmente la formation de défauts dans
la couche.
II.5.2 Choix des conditions opératoires de séchage et de déliantage
9 Séchage
Cette étape requiert les plus grandes précautions. Le film ne doit pas être souillé
avant et pendant le séchage pour éviter la formation de défaut. L’α-terpinéol s’évapore vers
60°C, le séchage des couches est donc réalisé à 60°C, pendant 20 minutes.
9 Déliantage
La Figure 19 montre que l’encre a bien le comportement prévu par l’étude
bibliographique précédente. Les composés carbonés s’éliminent pour des températures
inférieures à 500°C : la masse diminue de 20 %. Cette baisse correspond aux pics
exothermiques.
La même évolution est observée sur une couche séchée jusqu’à 500°C. Un pic
exothermique est observé entre 600 et 900°C, il correspond à l’oxydation puis à la réduction
de la métallisation d’AgPd.
D’autres analyses sont nécessaires pour interpréter l’évolution des courbes pour des
températures supérieures à 500°C.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
82
encre seule couche séchée
Figure 19 : TG-DSC d’une encre et d’une couche épaisse séchée sous air
Au vu de l’étude précédente et de l’analyse thermogravimétrique réalisée sur une
encre de composition A (cf. IV.3.1), les conditions de déliantage sont fixées à 500°C pendant
5 heures, avec une pente de montée en température d’1 °C /min.
II.5.3 Frittage
II.5.3.1 PHYSICO-CHIMIE[86] [87]
Le frittage est un phénomène de diffusion thermique des éléments entre les grains.
L’élimination des interfaces solide-vapeur autrement dit la réduction des pores conduit à la
formation d’interfaces solide-solide, c’est-à-dire à la création des joints de grains. Ce
phénomène s’accompagne d’une diminution des dimensions de la pièce correspondant à
une augmentation de la densité de la céramique. Dans le cas des couches épaisses, le
retrait s’effectue principalement dans une seule dimension, perpendiculaire à la surface du
substrat. Le frittage est souvent réalisé en phase solide. Cependant, la présence d’impuretés
et d’aides au frittage entraîne éventuellement la formation d’une phase liquide confinée aux
joints de grains. Ces phases secondaires peuvent être responsables de la baisse ou de
l’augmentation des caractéristiques du matériau. Les conditions thermodynamiques et
cinétiques expliquent le mécanisme de densification. Le bilan énergétique permet la
compréhension du frittage dans sa globalité, tandis que la mobilité atomique rend compte
des phénomènes locaux pendant le frittage.
9 Liaisons entre les particules et densification des couches
L’établissement de liens entre les grains de poudre en contact provoque l’apparition
de joints de grains.
Le premier mécanisme mis en jeu au cours du frittage est la diffusion surfacique de
matière. La Figure 20 schématise deux sphères en contact. Au voisinage du joint de grain
entre les sphères, il existe un excès de lacunes. Par contre loin du joint de grain à la
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
83
surfaces des sphères, on a un défaut de lacunes. Ce gradient de lacunes provoque un flux
de lacunes et donc un flux de matière. Les atomes excédentaires à la surface des sphères
migrent en surface de façon à combler les lacunes du joint de grain.
Figure 20 : origine du transfert de matière
D’après Kelvin, on a :
)R/1+R/1(RT
=PP
log 210
τ
P, P0 : tensions de vapeur des surfaces possédant respectivement les rayons de courbure
principaux R1 et R2
: volume molaire
τ : tension superficielle
R : constante
T : température
Les rayons de courbures sont négatifs si le centre du rayon est à l’extérieur grain. En
revanche, ils sont positifs si le centre du rayon est à l’intérieur du grain. Lorsque la somme
(1/R1+1/R2) est inférieur à zéro, la surface est concave (cas du contact entre deux grains),
dans le cas contraire ((1/R1+1/R2)>0), la surface est convexe. La diffusion de matière
s’effectue de la surface convexe vers la surface concave, ce qui entraîne une diminution de
la surface globale des particules.
La matière diffuse également en volume. Ce mécanisme est également basé sur la
présence de gradient de lacunes entre le voisinage des sphères loin du joint de grain et le
joint de grain. La matière diffuse cette fois dans le volume de la sphère, de la surface de la
sphère vers le joint de grain.
Lorsque la matière diffuse de manière intergranulaire (c’est une diffusion en volume),
le flux de matière s’effectue du centre du joint de grain vers sa périphérie (partie concave) :
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
les centres des particules se rapprochent progressivement. La densification du film
augmente, les grains grossissent et la porosité diminue. Dans les céramiques massives, le
retrait peut atteindre jusqu’à 15 % et la densité 99 %, ces valeurs sont rarement atteintes
dans le cas des couches épaisses.
Le déplacement des atomes peut aussi se faire un mécanisme d’évaporation-
condensation. A la surface des sphères, il existe un excès de pression, tandis qu’au joint de
grain, on a un défaut de pression : il s’établit un transfert d’atomes en phase gazeuse depuis
la surface de la sphère vers la surface du joint de grain.
La Figure 21 décrit les principaux flux de matière possible entre deux grains.
d
d
p
C
m
d
a
c
m
a : évaporation-condensation
b : diffusion surfacique
c : diffusion en volume
d et e : diffusion intergranulaire
84
Figure 21 : flux de matière entre deux grains
9 Adhérence du film sur le substrat
Lors du séchage et du déliantage, les films peuvent se décoller du substrat. Au cours
u frittage, il est nécessaire que la couche adhère fortement sur le substrat. La préparation
u substrat (nettoyage et éventuellement dépôt de couche d’accrochage) est indispensable
our permettre l’établissement de liaisons physico-chimique entre la couche et le substrat.
es liaisons impliquent inévitablement des diffusions d’éléments entre la couche, la
étallisation et le substrat. Le choix des électrodes est crucial si l’on veut éviter la
égradation des films due à ces diffusions (§II.2.3). Par ailleurs, l’utilisation de substrats
yant un coefficient de dilatation légèrement supérieur à celui de la couche épaisse est
onseillé. Lors du refroidissement, le film est comprimé latéralement et les contraintes
écaniques ainsi induites évitent les fractures au sein de la couche.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
85
II.5.3.2 PARAMETRES INFLUENÇANT LE FRITTAGE
9 Température
Le choix de la température joue un rôle déterminant dans le frittage. La maîtrise de la
pente et de la durée du frittage est également essentielle. Les divers mécanismes décrits
précédemment sont réalisés à différentes températures. A basse température,
l’établissement de contact interparticulaire est prépondérant ; une prolongation abusive de
celle-ci favorise les diffusions de surface (il n’y a pas de densification). Cela entraîne des
hétérogénéités dans la céramique, ce qui provoque des trous au cours de la densification.
De plus, si la durée de frittage est exagérée, la croissance des grains est trop grande,
ce qui est défavorable aux propriétés mécaniques de la céramique.
D’un point de vue chimique, le frittage des PZT passe par une optimisation
rigoureuse des paramètres pour avoir une bonne cristallisation. Le but est de parfaire la
cristallisation du PZT et d’éliminer les phases pyrochlores (comme Pb2(ZrTi)2O3) qui
apparaissent vers 400°C et d’obtenir la phase pérovskite dès que la température dépasse
600°C.
9 Caractéristiques des poudres
L’utilisation de particules de très petites tailles accélère la cinétique du frittage (la
diffusion est plus facile). Par contre, la présence de petites particules favorisent la formation
d’agglomérats, qui peuvent être mal dispersée dans la pâte de sérigraphie, ce qui peut être
préjudiciable à l’homogénéité finale du film.
L’emploi de poudre de forte granulométrie est déconseillé : l’arrangement des grains
sera plus difficile et la porosité des couches plus élevée.
Les poudres possédant une granulométrie étroite et un faible diamètre moyen
(inférieur au micron) permettent de limiter la porosité des films et d’obtenir une bonne densité
de la couche.
La morphologie des poudres joue un rôle particulier. L’empilement est maximal pour
des poudres de granulométrie régulière.
9 Aides au frittage
Ces additifs, appelés parfois fondants, sont des oxydes. Leur teneur dans les
céramiques peut atteindre plusieurs pourcents en masse. A la température de frittage, leur
présence conduit éventuellement à la formation d’une phase liquide qui améliore le transfert
de matière et qui permet l’activation de la densification de la céramique tout en limitant la
croissance exagérée des grains.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
86
9 Atmosphère
L’atmosphère est liée à la nature du matériau à fritter. Pendant le frittage, la volatilité
de certains composants, comme le PbO dans les céramiques de PZT, nécessite la
saturation de l’atmosphère oxydante à l’aide de ces mêmes constituants pour conserver la
composition initiale du matériau.
9 Pression
La densification totale peut être obtenue par pression en frittant sous charge ou non.
L’avantage de cette technique est :
- La diminution du temps et de la température de frittage ; la structure de la
céramique est plus homogène.
- L’orientation préférentielle des grains sous la pression.
- L’absence presque totale de porosité.
Les deux type de pressage les plus courants sont :
- Le HIP (high temperature isostatic pressing) : la céramique est placée dans une
chambre contenant un liquide mis sous pression (>104 bars). Les températures de
frittage sont limitées par la présence de la phase liquide. Cette méthode est
difficile à utiliser pour densifier les couches épaisses car le film cru peut être
endommagé.
- Le pressage uniaxial : les pressions engendrées sont plus faibles que celles
obtenues dans les méthodes précédentes : 2000 bars à 1400°C. Cette technique
doit néanmoins être adaptée au frittage des couches épaisses. En effet, le contact
physique d’une surface peut polluer et endommager le film épais.
Ces techniques de frittage sont parfois employées pour densifier les céramiques
massives. La densification des films est une préoccupation constante mais nécessite une
mise en œuvre délicate. Lorsqu’il est réalisé, le pressage du film intervient bien sûr avant le
frittage. Une équipe Bordelaise du CNRS[91] parvient à densifier avant le frittage sous
pression uniaxiale (0,6 -1,4 Gpa) dans une matrice d’acier et isostatique (0,4 Gpa) en milieu
liquide des films de PZT ; elle obtient des films dont l’épaisseur a été diminuée de 40 %.
L’équipe de N.SETTER[92] densifie également les films épais sous pression uniaxiale (à 192
Mpa) : la porosité des couches obtenues est inférieure à 7 %.
II.5.3.3 TECHNOLOGIE
Le frittage est réalisé dans des fours dont les technologies sont variables suivant les
applications. Deux types d’appareil se distinguent : les fours par convection et les fours par
rayonnement thermique.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
87
9 Chauffage par convection
L’enceinte des fours conventionnels est en matériau réfractaire, le chauffage est
assuré par convection à l’aide de résistances. Une minuterie permet la programmation de la
température, des rampes de montée en température et de la durée du frittage. Un flux de
gaz peut circuler dans la chambre du four. Le Tableau 11 rassemble quelques paramètres
de frittage pour des films à base PZT cités dans la littérature.
Tableau 11 : Paramètres de frittage de films à base de PZT
Référence [29] [89] [84] [48] [28] [75]
Type de poudre SG SG Com VS VS VS
Epaisseur (µm) <5 12< 12 10 50 25
Température (°C) 700 700 850 1100 800-950 1100-1300
Durée 60 min 1h 15 min 2-8h 3h 2h
Pente (°C/min) - - - - - -
Référence [72] [75] [73] [45] [93]
Type de poudre VS VS VS VS VS
Epaisseur (µm) 60 25 40-180 70 -
Température (°C) 1050-1150 1100-1200 1050 1040 1000-1050
Durée 2h 2h 1h 8h 2h
Pente ‘°C/min) 3 - 3 - 3
SG : sol-gel VS ; voie solide Com : commerciale
Des technologies particulières ont été développées :
- Le four à passage. La température est différente suivant la position dans le four.
Les échantillons sont placés sur une rampe mobile dont le déplacement est
contrôlé.
- Le four tubulaire. Ce four est composé de deux parties : une partie chauffante,
mobile, montée sur rail, dotée d’un système de programmation et une enceinte
fixe, fermée, contenant l’échantillon et dont la température est contrôlée en
permanence. Le fonctionnement du four est simple : la chambre montée sur rail
est préchauffée, puis elle est déplacée au niveau de l’enceinte fixe. La
température de la chambre qui contient l’échantillon augmente jusqu’au palier.
L’atmosphère s’adapte facilement en fonction de l’échantillon grâce à l’enceinte
fermée.
9 Four de recuit rapide (RTA Rapid Thermal Annealing)
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
88
Depuis quelques années, cette technique suscite un grand intérêt. Ces fours ont
d’abord été mis au point pour le frittage des films minces, mais de nombreuses équipes
l’utilisent désormais dans le frittage des couches épaisses. Son originalité est d’apporter
l’énergie sous forme de rayonnement. Les pentes de montée en température sont très
courtes et la durée de frittage est réduite, de 10-2 secondes à quelques secondes, ce qui
permet de limiter la diffusion des électrodes dans le substrat et dans la couche. Les
températures de frittage sont du même ordre de grandeur que celles d’un traitement
thermique conventionnel. Le balayage de l’enceinte par des gaz est possible, mais le
maintien d’une atmosphère saturante de PbO n’est pas réalisable.
II.5.4 Choix des techniques de frittage
Le frittage a fait l’objet d’une étude approfondie dont la description et les résultats
figurent au chapitre IV et V. Nous nous contenterons ici de citer les techniques employées :
- Dans un four par convection :
- frittage classique sous atmosphère de PbO (four VECTSTAR FURNACES de
BIOBLOCK SCIENTIFIC)
- frittage rapide (four VECTSTAR FURNACES de BIOBLOCK SCIENTIFIC)
- frittage dans un four tubulaire (four PIROX CH 50)
- Dans un four RTA : frittage très rapide (four ADDAX à lampes halogène).
II.6 POLARISATION
II.6.1 Etat de l’art
Le premier chapitre a décrit la structure du matériau ferroélectrique. Dans une
céramique, tous les dipôles ne sont pas orientés spontanément dans le même sens. La
polarisation est un phénomène physique qui engendre l’orientation de ces dipôles. Les
conditions de polarisation dépendent de la nature du matériau. En règle générale, la
polarisation se fait dans un bain d’huile ou de xylène en appliquant un champ électrique aux
bornes de l’échantillon. Les couches épaisses supportent de forts champs (6 à 15 kV/mm). A
titre de comparaison, une céramique massive d’épaisseur 1 mm se polarise à 3 ou 4
kilovolts. Le temps de polarisation est variable d’une étude à l’autre (1 à 30 minutes).
II.6.2 Conditions opératoires
La polarisation s’effectue dans un bain d’huile porté à des températures comprises
entre 80 et 120 °C. Les dipôles s’orientent lorsqu’un champ de plusieurs kV/mm est appliqué
sur la couche pendant quelques minutes.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
89
Figure 22 : Schéma de l'appareillage de polarisation
II.7 CONCLUSION
Tous les stades de la fabrication des couches épaisses de PZT ont été décrits dans
ce chapitre. Cette étude souligne combien il est important de comprendre les phénomènes
physico-chimiques qui interviennent dans la fabrication des couches épaisses. En effet, leur
connaissance facilite grandement leur élaboration. En outre, il apparaît que la réalisation des
films épais est délicate et que chaque étape nécessite le plus grand soin.
bain d'huile
barreau aimanté
échantillon
électrodes de
polarisation
générateur de tension
agitateur magnétique
chauffant
affichage numérique de
la tension appliquée
bouton de réglage de
la tension appliquée
+ M/A
régulation de l'agitation
régulation de la température
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
90
II.8 REFERENCES BIBLIOGRAPHIQUES DU CHAPITRE II
[24] VAN TASSEL J., RANDALL C.A. Electrophoretic deposition and sintering of
thin/thick films. Journal of the European Society, 1999, vol 19, p 955-958.
[25] CROSS J.S., FUJIKI M., SAKAI T., TSUKADA M., KAMEHARA N. Characterization
of sol-gel PZT capacitors with SrRuO3 and Pt electrodes. Key Engineering Materials,
1999, vol 137-158, p 181-183.
[26] SARKAR P., NICHOLSON P.S. Electrophoretic deposition (EDP) : mecanisms,
kinetics and application to ceramics. Journal of the American Ceramic Society, 1996, vol
79, n°8, p 1987-2002.
[27] NIEPCE J.C., HAUSSONNE J.M . BaTiO3 : matériau de base pour le condensateur
céramique, Paris : Septima, 1994. 385p
[28] LAMPENSCHERF S., POMPE W. Mechanical behaviour of granular ceramic films
during drying. Zeitschrift für Metallkunde, 1998, vol 89, p 96-105.
[29] XUE B., CROSS L.E., RAVICHANDRAN D. Synthesis of Lead Zirconate Titanate
Stannate antiferroelectric thick films by sol-gel processing. Journal of the American
Ceramic Society, 1999, vol 82, n°2, p 306-312.
[30] CHABLE Y. Circuits hybrides à couches épaisses. Paris : Masson, 1993, 271 p.
[31] ICHIKI M., AKEDO J., SCHROTH A., MAEDA R., ISHIKAWA Y. X -Ray diffraction
and scanning electron microscopy observation of lead zirconate titanate thick film formed
by gas deposition method. Japanese Journal of Applied Physics, 1997, vol 36, p 5815-
5819.
[32] AKEDO J., LEBEDEV M. Microstructure and electrical properties of Lead Zirconium
Titanate (Pb(Zr52/Ti48)O3) thick films deposited by aerosol deposition method. Japanese
Journal of Physics, 1999, vol 38, p 5397-5401.
[33] ADACHI H., KURODA Y., IMAHASHI T., YANAGISSAWA K. Preparation of
piezoelectric thick film using a jet printing system. Japanese Journal of Applied Physics,
1997, vol 36, p 1159-1163.
[34] KANG S.G., KIM H., TAKAHASHI K., YUKINO K., TSUKIOKA M., OKAMURA F.P.
Preparation of modified lead zinc niobate compound thick films by rapid quenching.
Japanese Journal of Applied Physics, 1993, vol 32, p 4254-4257.
[35] KUBOTA T., TANAHA K., SAKABE Y. Formation of Pb(Zr, Ti)O3-Pb(Zn, Nb)O3
system piezoelectric thick films in low-temperature firing process. Journal of Japanese
Applied Physics, 1999, vol 38, p 5535-5538.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
91
[36] FUTAKUCHI T., MATSUI Y., ADACHI M. Preparation of PbZrO3-PbTiO3-Pb(Mg1/3 Nb
2/3)O3 thick films by screen printing. Japanese Journal of Applied Physics, 1999, vol 38, p
5528-5530.
[37] KOO S.M., ZHENG L.R., RAO K.V. BaRuO3 thin film electrode for ferroelectric lead
zirconate titanate capacitors. Journal of Material Research, 1999, vol 14, n°10, p 3833-
3836.
[38] HARRIS N., KOCH M., BEEBY S., WHITE N. M. EVANS A.G.R. Thick film printing of
PZT onto silicon for micromechanical applications. MME'98 : Ninth Micromechanics
Europe Workshop. Oslo : SINTEF, 1998. vol 1, p.78-81.
[39] AVILA R.E, VELILLA T.P., RETUERT P.J. Lower cristallization temperature of sol-
gel PbTiO3 on Ti/Pt Coated substrates. Journal of Materials Research, 1999, vol 14, n°6,
p 2369-2372.
[40] GLYNN-JONNES P., BEEBY SP., DARGIE P., PAPAKOSTAS T., WHITE NM., An
investigation into the effect of modified firing profites on the piezoelectric properties of
thick-film PZT layers on silicon. Measurement Science Technologie, 2000, vol 11, p 526-
531.
[41] ARIES L., ROY J., HAJJAJI S.E., ALBERICH L., HERNANDEZ P.V.,
COSTESEQUE P., AIGOUY T. Preparation and high-temperature behaviour of
electrolytic alumina film on Fe-Cr-Al stainless steel. Journal of Materials Science, 1998,
vol 33, p 429-433.
[42] CAUBEL Y., ARIES L. Deposition of ceramic thin films on stainless steel : conversion
coatings behaviour as buffer layers. Journal of Materials Science Letters, 1996, vol 15, p
1498-1501.
[43] MARC MONNERAYE. Les encres sérigraphiables en microélectronique hybride : les
matériaux et leur comportement. Acta Electronica, 1978, vol 21, n°4, p 263-281.
[44] LARRY J. R., ROSENBERG R. M., ULHER R. O. Thick film technology : an
introduction to the materials. IEEE Transaction on composants hybrids and
manufacturing technology, 1980, vol ChMT-3, n°2, p 211-225.
[45] BOBNAR V., KUTNJAK Z., LEVSTIK A., HOLC J., KOSEC M. AND AL. Correlation
between fatigue and piezoelectric properties in (Pb, La)(Zr, Ti)O3 thick films. Journal of
Applied Physics, 1999, vol 85, n°1, p 622-624.
[46] TANG F., CHINKOTA M., BROWN W.D., WANG J.T. The dielectric properties of the
piezoelectrics thick films. International Journal of Modern Physics B, 1998, vol 12, p
3412-3417.
[47] CHANG C.R., JEAN J.H. Effects of silver-paste formulation on camber development
during the cofiring of silver-based, low-temperature-cofiring ceramic package. Journal of
the American Ceramic Society, 1998, vol 81, n°11, p 2805-2814.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
92
[48] KOSEC M., HOLC J., MALIC B., BOBNAR V. Processing of high performance Lead
Lanthanum Zirconate Titanate thick films. Journal of the European Ceramic Society,
1999, vol 19, p 949-954.
[49] GEJIMA S., KAWAKITA K., KIMURA S. OKINAKA H. Characteristics of the thick
film capacitor using Pb(Mg1/3 Nb2/3 )O3-Ba(Ti0.9 Zr0.1)O3. Japanese Journal of Applied
Physics, sept.1991, vol 30, n°9B, p 2299-2302.
[50] TREPTOW A.W. A paste for screen printing and firing copper on ceramic bases.
Ceramics Bulletin, 1960, vol 39, n°9, p 453-455.
[51] MORTEN B., DE CICCO G., PRUDENZIATI M. Resonant pressure sensors based on
piezoelectric properties of ferroelectric thick films. Sensors and actuators A, 1992, vol 31,
p 153-158.
[52] SENGUPTA L.C., STOWELL S.NGO E., SENGUPTA S. Thick film fabrication of
ferroelectric phase shifter materials. Integrated Ferroelectrics, 1996, vol 13, p 203-214.
[53] KARAKAYA I., THOMPSON W.T. The Ag-Pd (Silver-Palladium) system. Bulletin of
alloy phase diagrams, 1988, vol. 9, n°3, p 237-242.
[54] LIN J.C., CHAN J.Y . On the resistance of Sylver migration in Ag-Pd conductive thick
films under humid environment and applied d.c. Field. Material Chemistry and physics,
1996, vol 43, p 256-265.
[55] BESSOT J.J. Dépôt par pulvérisation cathodique. Technique de l’ingénieur, 1985, vol
M, chap.1657, p 1-24.
[56] DEFAŸ EMMANUEL. Elaboration et caractérisation de couches minces
piézoélectriques de PbZrTiO3 sur silicium pour application aux micro-systèmes. Thèse
Electronique : Institut National des Sciences Appliquées de Lyon, 1999. 216 p.
[57] SONG-ZHITANG., REN-WEI., WU-XIAOQING., ZHANG-LIANGYING., YAO-XI.
Effect of bottom electrodes on structures and electrodes properties of PLT ferroelectric
thin films. ISAF '96 : Proceedings of the Tenth IEEE International Symposium on
Applications of Ferroelectrics. New York : NY,1996. 1034 pp. vol.2, p 1031-1034.
[58] ARAÙJO E.B., EIRAS J.A. Effect of substrat characteristics on dielectric properties
of PZT thin obtained from oxide precursors. Journal of Materials Science Letters, 1999,
vol 18, p 1679-1681.
[59] BROOKS K.G., KOHLI M., TAYLOR D.V., MAEDER T., REANEY I., KHOLKIN A.
MULRALT P., SETTER N. Sol-gel deposition of PZT thin films on ceramic ZrO2
substrates. ISAF '96 : Proceedings of the Tenth IEEE International Symposium on
Applications of Ferroelectrics. New York: NY, 1996. vol.2, p 611-614.
[60] SENZAKI J., MITSUNAGA O., UCHIDA T., UENO T., KUROIWA K. Fabrication of c-
axis oriented Pb(Zr, Ti)O3 thin film on Si (10) substrates using MgO intermediate layer.
Japanese Journal of Applied Physics,1996, vol 35, p 4195-4198.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
93
[61] CROSS J.S., FUJIKI M., TSUKADA M., MATSUURA K., OTANI S. Evaluation of
(PbLa)(ZrTi)O3 (PLZT) capacitors of different film thicknesses with Pt/SrRuO3 Top
electrodes. Japaneses Journal of Applied Physics, 1999, vol 38, p L448-L450.
[62] ATOH H., HIDEKAZU D. Ferroelectric properties of La0.5Sr0.5CoO3/Pb
(Zr0.4Ti0.6)O3/RuO2 capacitors. Japanese Journal of Applied Physics, 1999, vol 38, p
5308-5374.
[63] AL-SHAREEF H.N., BELLUR K.R., AUCIELLO O., KINGON A. Effects of electrodes
on the phase evolution and microstructure of Pb(Zr0.53Ti0.47)O3 films. Ferroelectrics,
1994, vol 152, p 85-90.
[64] AL-SHAREEF H.N., BELLUR K.R., KINGON, A.I.,AUCIELLO O. Influence of
platinum interlayers on the electrical properties of RuO2/Pb(Zr0.53Ti0.47)O3 RuO2 capacitor
heterostructures. Applied physics letters, 1995, vol 66, n°2, p 239-241.
[65] KAGA Y., ABE Y., KAWAMURA M., SASAKI K. Thermal stability of RuO2 thin films
and effects of annealing ambient on their reduction process. Japanese Journal of Applied
Physics, 1999, vol 38, p 3689-3692.
[66] TSAI M.S., TSEN T.Y. Effects of bottom electrodes on dielectric relaxation and defect
analysis of (Ba0.47Sr0.53)TiO3 thin film capacitors. Materials Chemistry and Physics,
1998, vol 57, p 47-56.
[67] MADSEN L. D. WEAVER L., LJUNGCRANTZ H., CLARK A.J. .Analysis of the
stress and interfacial reactions in Pt/Ti/SiO2/Si for use with ferroelectric thin films. Journal
of Electronic materials, 1998, vol 27,n°5, p 418-426.
[68] DI CRISTOFORO A, MENGUCCI P., MAJINI G., LECCABUE F., WATTS B.E.,
CHIORBOLI G. The crystallisation behaviour of Pb(ZrTi)O3 sol-gel films on Platinum
electrode. Materials Science and Engineering B, 1997, vol 47, p 263-268.
[69] KOCH M., HARRIS N., EVANS A.G.R., WHITE N.M., BRUNNSCHWEILER A. A
Novel micromachined pump based on thick film piezoelectric actuation. Sensor and
actuators A, 1998, vol 70, p 98-103.
[70] MAEDA R., WANG Z., CHU J., AKEDO J., ICHIKI M., YONEKUBO S. Deposition
and patterning technique for realisation of (Pb(Zr52/Ti48)O3) thick film micro actuator.
Japanese Journal of Applied Physics, 1998, vol 37, p 7116-7119.
[71] JIANG Q., SUBBARAO E.C., CROSS L.E. Effects of electrodes and electroding
methods on fatigue behaviour in ferroelectric materials. Ferroelectrics, 1994, vol 154, p
119-124.
[72] CABALLERO A.C., NIETO E., DURÀN P., MOURE C. Ceramic-electrode interaction
in PZT and PNN-PZT multilayer piezoelectric ceramics with Ag/Pd 70/30 inner electrode.
Journal of Materials Science, 1997, vol 32, p 3257-3262.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
94
[73] DROGUI P., GONNARD P., LEBRUN L., TROCCAZ M., BARBIER D. Lead
zirconate titanate thick films : electrical properties and characterization by a LDV
technique. ISAF’96 : Proceedings of the Tenth IEEE International Symposium on
Applications of Ferroelectrics. New York : NY, 1996. vol p.153-156.
[74] VECHEMBRE J., SETTER N., SAGALOWICZ L. Screen printing PZT layer-
fabrication and properties. Ferroelectrics, 1999, vol 224, n°1-4, p.145-152.
[75] REY S. Elaboration de céramiques piézoélectriques pour réseaux d’échographie.
Thèse Matériaux : Institut National de Sciences Appliquées,1992. 240 p.
[76] PIERRE A.C. Introduction aux procédés sol-gel, Paris : Septima, 1992. 199p.
[77] C. J. BRINKER, G. W. SCHERER, Sol-gel science : The physics and chemistry of
sol-gel processing, Academic Press, 1990
[78] EYRAUD L. EYRAUD P. GONNARD P. TROCCAZ M. Influence of the initial Lead
content on the properties of doped PZT ceramics prepared by wet or dry methods.
Ferroelectrics, 1981, vol 34, p 133-138.
[79] GRANDOUR P., PASTOUR P. Peintures et vernis. Paris :Herman, 1966. Vol 1, 944p.
[80] CANNON W.R., MIKESKA K. Dispersants for tape casting pure barium titanate.
Advances of Ceramics, 1985, vol 9, p 164-183.
[81] CHARTIER T, STREICHER E., BOCH P. Phosphate esters as dispersants for the
tape casting of alumina, Ceramic Bulletin, 1987, vol 66, n°11, p 1653-1655.
[82] J. K. SEARS, J. R. DARBY, The technology of plasticizers, Jon Wiley et Son: New
York, 1982. 1115 p.
[83] IOANNOU A.S., MASKELL W.C. Influence of substrate composition on the sintering
behaviour of zirconia thick films. Journal of Materials Science Letters, 1992, vol 11, p
623-1625.
[84] CHEN H.D., UDAYAKUMAR, K.R., CROSS L.E. Dielectric, ferroelectric, and
piezoelectric properties of lead zirconate titanate thick films on silicon substrates. Journal
of Applied physics, 1995, vol 7, n°7, p 349-3353.
[85] FERRATO M., CHARTIER T., BAUMARD J.F., COUDAMY G. Le déliantage des
céramiques. L’industrie Céramique, 1991, n°864, p656-661.
[86] CIZERON G. Le frittage. l’industrie céramique, 1968, n°611, p 713-729.
[87] HAUSSONNE JM . Les matériaux sol-gel et organométalliques pour couches minces,
Paris :Septima,1993. 177p.
[88] GRADER G.S., ZURI L. Tape casting slip preparation by in situ polymerisation.
Journal of the American Society, 1993, vol 76, n°7, p 1809-1814.
[89] BRAUN L., MORRIS J.R., CANNON, W.R. Viscosity of tape–casting slip. Journal of
the American Society, 1985, vol 64, n°5, p 727-729.
Chap. II : Etude bibliographique – choix des techniques et des matériaux
95
[90] CANNON W.R., MORIS J.R., MIKESKA K.R. Dispersants for non aqueous tape
casting. Advances of Ceramics, 1987, vol 19, p 161-174.
[91] LUCAT C., MENIL F., VON DER MÜHLL R. Thick film densification for pyroelectric
sensors Measurements of Science Technology., 1997, vol 8, p 38-41.
[92] VECHEMBRE J., SETTER N., SAGALOWICZ L. Screen printed PZT layer-
fabrication and properties. Ferroelectrics, 1999, vol 224, p 145-152.
[93] FERNANDEZ J.F., NIETO E., MOURE C., DURAN P. Processing of porous and
dense PZT thick films on Al2O3 substrates. ISAF '94: Proceedings of the Ninth IEEE
International Symposium on Applications of Ferroelectrics, New York : NY, 1994. p 49-
52.