Application of Lean Sigma

8/20/2019 Application of Lean Sigma

1/98

NEF Sud - Formation SPSeptembre 1998 Process Control Rousset

P a g e

0 .

1

odule de formation aux concepts de base

Statistical Process Control

(Maîtrise Statistique des Procédés)S.P.C.


2/98


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0 .

Chapitre 1 : Pourquoi ?

Chapitre 2 : Technique de base du SPC

Chapitre 3 : De l'expression du besoin à la mise en

place du SPC

Chapitre 4 : Les bases de données

Chapitre 5 : Les outils du SPC

Sommaire du module


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0 .

!

Chapitre 1

Pourquoi "


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#

Sommaire

Pourquoi cette formation ? 1.3

Pourquoi standardiser l'usage du SPC ? 1.5u'est ce qu'un proc!d! ? 1."

Comment ma#triser un proc!d! ? 1.$

Pourquoi ma#triser un proc!d! ? 1.14

%!&nition du SPC 1.1"

nal(se d'un proc!d! 1.1)

*essources et mo(ens 1.1+

,a m!thode -PS 1.2/

,a m!thode 0Contrat fournisseur client0 1.21

,a m!thode - 1.22

,a m!thode C%C 1.23

,a m!thode 1.24

,a m!thodes 67*8 1.25

,es donn!es 1.2"


5/98NEF Sud - Formation SPSeptembre 1998 Process Control Rousset

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0 .

$

Pourquoi cette formation "

Parce que S- icroelectronics souhaite que tous les acteursconcern!s par la

ma#trise des proc!d!s 9S.P.C utilisent une m;me m!thode

dans les m;mes conditions quel que soit le site.

Pour d!



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0 .

%

Pourquoi cette formation "

Pour donner au@ acteurs de terrain les mo(ens de comprendrel impact du SPC sur la ma#trise des proc!d!s.

Pour faciliter l e@pression des Aesoins des 0clients0 du SPC et

leur permettre de poser les Aonnes questions au process

control du site.



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&

Pourquoi standardiser l'usage du SPC "

Pour r!pondre B une n!cessit! maeure de la strat!gie duCorporate anufacturing qui est de mettre en oeu



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(

u'est ce qu'un procédé "

C'est un ensemAle organis! de mo(ens et d'acti



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0 .

u'est ce qu'un procédé "

Mati*re Main d'-ure

MatérielMét/odes

n


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0 .

1 1

Comment maîtriser un procédé "

Méthode A l'approche traditionnelle

4e contr5le 6nal ou le tri détermine si les

produits sont conformes aux exigences.

Cela implique que la totalité des

ressources nécessaires pour produire lelot considéré (main d'-ure et mati*re

premi*re sont consommées pour produire

des produits conformes et des produits

non conformes.

Cette mét/ode permet ou gén*re despertes (scraps).



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0 .

1


Méthode ! l'approche basée sur le traitement statistiques

"S#P#C#$

n



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1 !


Méthode ! %ne approche basée sur le traitement statistique

Par la rec/erc/e de la meilleure maîtrise possible du procédé pourpr!


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1 #



"suite$

,a connaissance des ner les réglages

d'appré/ender et de diminuer les déries ; la qualité du produit est plusconstante

d'augmenter la performance et la stabilité des mac/ines

d'éleer le nieau de qualité des produits

de faire baisser le co?t de non qualité (moins de @scraps@+ moins detemps morts+ moins de contr5les+ etc)

de mieux anticiper la production future en assurant une plus grandesécurité et une meilleure 6abilité du fonctionnement du procédé.


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1 $



"suite$

,es statistiques 9S.P.C. sont des outils oAectifs qui anal(sent

des faits et des donn!es quantitati


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0 .

1 %

Pourquoi maîtriser un procédé "

Parce que de multiples ph!nomDnes


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1 &

Pourquoi maîtriser un procédé "

,e terme de 0ma#trise statistique0 9S.P.C. e@prime le fait

qu'a

disposer d'un s(stDme d'information permettant de mettre en

Eu


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1 (

8é6nition du S.P.C.

,e S.P.C. est une technique de pilotage des proc!d!s associant

des outils statistiques et la maniDre de les mettre en Eu


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1

:nal


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0 .

0

essource et mo


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0 .

1

essource et mo


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0 .

4a mét/ode 9.D.P.S.

,a m!thode -..P.S. est utilis!e pour traiter les proAlDmes

sporadiques :

elle s'attaque aux causes du probl*me+

elle prot*ge le client des conséquences du probl*me

elle met en -ure les solutions pour faire disparaître le probl*me

d'un faEon dé6nitie

elle permet de traiter aussi toutes les causes identi6ées lors del'anal


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!

4a mét/ode @Contrat fournisseur2client@

Cette m!thode est mise en Eu


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#

4a mét/ode H79

,a m!thode ..-. 9aA mpro


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$

4a mét/ode C.J.8.:.C.

,a m!thode C..%..C. est mise en Eu


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%

4a mét/ode H.M.J.:.

,a m!thode .... 9ailures odes and Jects nal(sis

permet d'identifer et de quanti&er les risques potentiels li!s B

un 0changement0.

Cette m!thode a pour oAectif de proposer et de mettre en

Eu


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&

4a mét/ode KL:3

,a m!thode 67*8 d!


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(

4es données

Collecte des données

l est n!cessaire d'ades !chantillonnages repr!sentatifs : c'est le plan

d'!chantillonnage.

Si l'!chantillonnage est repr!sentatif= les r!sultats seront


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0 .

4es données

(xploitation des données

,e S.P.C permet a


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Sommaire


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0 .

! 1

Sommaire

,'histogramme 2.3

,a loi normale 2.5

les indicateurs 2.)%!&nitions des limites de contrIle 2.+

,a carte de contrIle 2.$

,a carte de contrIle de Sheart 2.1/

7tilisation de la carte de contrIle de Sheart2.12

,imites d0utilisation de la carte de contrIle de

Sheart 2.13

,e concept de pr!


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!

4'/istogramme

,'histogramme est l'outil de Aase du SPC .

C'est la repr!sentation graphique de la distriAution des


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! !

4 /istogramme

,es distriAutions peu


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! #

4a loi 3ormale

étendue . / 0

mo+enne−

∞

3

σ

− 3

σ

∞

σ

1aleur à

mesurer

223456

273876

093:6

Aire /&

;n dit qu


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! $

4a loi 3ormale

limite de contr=lesupérieur %LC

limite de contr=lein>érieur LLC

0

mo+enne

−

∞

3

σ

− 3

σ

∞

√1aleu

r àmesu

rer

223456

27387

6093:6

Mo+enne

uelques formules et d!&nitions

(cart@t+peéchantillon

G QG1 R G2 RRGn

n

1 σ

(cart@t+ pe

9Gi L GT

n L 1s Q

iQ1Σ

n

9Gi L GT

nσ

Q Σ

(cart@t+pe population

√

4es indicateurs


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! %

4es indicateurs

ndice de capabilitéCp

CpQ

,argeur de spec.

tendue du process

,argeur de spec

"σ

Q

ndice de centra)eB

U Qo(enne L target

largeur de spec 2

ndice de capabilité corri)éeIndique la dispersion et lecentrage du process vis à vis dela spécifcation

CpU Q V1L WUW XCp

Dispersion d'un process machine

Qσ /

mo(enne

6 de hors contr=le indique la capacité àcontrôler le process

8é6nition des limites de contr5les


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! &

8é6nition des limites de contr5les

%LCLLC

0

,orsque les causes

sp!ciales ont !t!supprim!es= ladistriAution doit suiérieur

%LC %pper LimitControl ou

Limite de Contr=leSupérieur

4a carte de contr5le


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! (

4a carte de contr5le

7ne carte de contrIle est la repr!sentation graphique des

!

partir de donn!es rele

!chantillons.

%L

C

LLC

1aleur

1aleur

temps

YY

Y Y YY

cibl e

/ 1aleur

mesuréeY

Y

Y

YY

Y

Y

Y

Y YY

4a carte de contr5le S/eart


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!


,a carte de contrIle Sheart est Aas!e surl'!chantillonnage.lle peut ;tre trac!e B la main ou fournie par le s(stDmeC.

C'est un outil simple maiseFcace qui :

%LC

LLC

tar)et

Y Y

Y YY

Y

Y Y YY

Y

Y

utilise leslimites decontr5lesétablies

statistiquement

détectelesincidents

permet deréagir entemps réel

1

2 3



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# 0


l e@iste 2 t(pes de cartes de contrIle SZ[*-

Carte decontrIledes mo(ennes

%LC

LLC

G Y

Y

Y YY

YY Y

Y

Y Y Y

1

2 %LC

LLC /:

Y Y Y

Y

YY YY

YY Y

Carte decontrIledes !tendues

* Q Gma@ L Gmin

G QG1 R G2 RRGn

n

Ltilisation de la carte de contr5le S/eart


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# 1

Ltilisation de la carte de contr5le S/eart

7tiliser la carte de contrIle de Sheart pour une

am!lioration continuedu process en 3 phases :

cquisition des donn!es

assembler les données 9racer sur la carte de contr5le

ContrIle (e)calculer les limites temporaires desdonnées process 7denti6er les causes assignables de ariationet réagir pour

éiter qu'elles ne se reproduisent

nal(se et am!lioration uanti6er les causes communes de ariationet prendre

les actions pour les réduire


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4e concept de préision


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# !

p p

Hr\ce au@ m!thodes statistiques= il est possiAle de pr!


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# #

,a carte de *oAerts d!tecte le d!faut potentiel d'un !quipement

a


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# $

p

Prochaine prévision

] tR1

utur

Prochaine prévision

] tR1

utur

Méthodes

EWMA E!ponatiall" Moving Average

Mo"enne #o$ile pondéréee!ponentielle#ent

R

Mesure

/=4 G t

Pr!sent

Mesure

/=4 G t

Pr!sent

%erni&re prévision

/=" ] t

Pass!

%erni&re prévision

/=" ] t

Pass!

/=4

/ E

,a derniDre pr!


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# %

Carte de .oberts / carte de Shehart "mesures$ E calcul (GMA"pré1isions$

%LC

LLC

Y^

R tar)et R

%LP

LLP

temps

E5

@ 5

E7

@

Gt ]t R 1

]t

;bHecti>s

pi!ger les d!calages de RL 1=5σ

agir a


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# &

%LC

LLC

Y

^

R

tar)

et R

%LP

LLP

E 5

@ 5

E

@

Y

YR

Y

R

Y R

Y R Y

hors limites de contr=le

hors limites de pré1ision

.*)les

hors limites de contrIle9Shehart

hors limites de pr!


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# (

LC4

JM:

MJ:3

JM:

4C4

LC4

4C4

∆ ,un- ∆ Waer- Etendue- Ecart.

t"pearte ,o$erts

LC4

MJ:3

4C4

/ 0A,

LC4

MJ:3

4C4

arte p- np et c

4es diGérentes cartes de contr5les standard (2)


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#

LC4

9


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$ 0

Principe

1 Teu de cartes unique pour plusieurs param*tres sur unéquipement(centrage+ S98)

4es mesures de diGérentes recettes apparaissent ensemble+c/ronologiquement sur la mFme carte de contr5le

4eur aleur n'est plus la aleur d'origine mais une aleur@normalisée@


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$ 1

Chapitre 3

l'expression du besoin = la mise en place du

Sommaire


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$

@pression d'un Aesoin de SPC 3.3

,es 1/ !tapes de la mise en place du SPC 3.4

*e


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$ !

7ou"elle station 7ou"eau pro)ess

FMEA 8quipement FMEA Pro)ess

iste param%tresiste des opérations

de mesure

Crit%res

Demande SPC meetingDemande SPC meeting

CréationCréation

C.angement surdemande ingénieur 9CD':

SPC paramétrage

''n*ormation opérateurs

Crit%res

CD'C.e)+ SPC

'n*ormationopérateurs

Paramétrage

Control Process

Crit%res

Création

Control Production

Spec

0120724

Spec

0120724

SPC

Atelier

Control Prod.

oui

non

SPC chart

Spec

0053179

Control Prod.

SPC

Spec

0043631

4es 10 étapes de la mise en place du SPC


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0 .

$ #

1 Jaluer les possibilités d'amélioration du process

2 Sélectionner l'équipe d'amélioration du process

3 8écrire compl*tement le process4 7denti6er les param*tres critiques du process

%!terminer comment fonctionne le process

4es 10 étapes de la mise en place du SPC


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$ $

5 8é6nir un plan d'éc/antillonnage du process

" Uéri6er la faisabilité (répétabilité et reproductibilité) dus


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$ %

Re"ue automatique Demande

Mensuel Anal$se SPC

Anal$se

Demande

CD'

Paramétrage

'n*ormation OP

Pro)ess

CD'

'n*ormation

OP

Modi*i)ationCarte de )ontr#le

Modi*i)ationCarte de )ontr#le

Atelier

C.e)+

Equipement

SPC

SPC

Control Prod.

;C


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$ &

Chapitre 4

4es bases de données

Sommaire


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$ (

rchitecture du s(stDme d'information 4.3

Strat!gie % 4.4

Con&guration du r!seau 4.5

anagement des donn!es 4."

:rc/itecture du s


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$

SJ39V1$ SP8

[or_stream WJ79X4JV

S4 :CCJSS

79S000YJ3JS7SW4:

*C,

*C,

U,

U8HZ-S

8H*S

8H*S

% [S

% SP8

*C,

*C,

*S

% P-

*C,

*C,

*S

% [S

SS CCSS J3YS :CCJSS S1 :CCJSS

H*PZCS S--S-C,8,`SS%-

[*S 8SHZ-

Stratégie 78J:


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% 0

7ne architecture commune pour un accDs standardis! :

%iJ!rentes sources de process- donnée de process (C:M s


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% 1

PP` :XP!0002&S biBpro$#0 Mb


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%

,es ser


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% !

Chapitre 5

4es outils du SPC

Sommaire


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% #

,es diJ!rents !tats 5.3Comment lire un !tat ? 5.4

Zors contrIles 5.5

CpU 5.1/

-\ches de qualit! 5.14

Control Plan 5.1)

Cp et Cp_ des paramDtres critiques 5.24

CP 5.2"

nal(se des CP 5.3/

!ri&cation de la


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% $

,es donn!es recueillies par le s(stDme SP8 permettent

d'oAtenir des !tats qui constituent des outils de contrIle et desui


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0 .

% %

HORS REGLES SPC EQUIPEMENTS FAB SEMAINE 21 07:35 Friday May 22 1!!"

#U 20MA$1!!":0%:30:00 AU 22MA$1!!":0%:30:00

NBRE #E NBRE #E NBRE #E RUN RUN HORS RUN HORS & RUN HORS & RUN HORSOBS a'()i(r CONTROLES CONTROLES PRE*ISION CONTROLE PRE*ISION

1 +BL,G 112 1 0 0-! 0-02 %#IF#0 %+ % 0 !-+ 0-03 %#IFF 2++ 5 5 2-0 2-0

+ %MESU 2 0 0 0-0 0-05 C*# ++ 0 2 0-0 +-5% GRA* 257 11 13 +-3 5-1

7 IMPL 32 0 2 0-0 %-3" MAS. 77 % 5 7-" %-5

! METAL 120 2 2 1-7 1-710 S/#IFF 30" 11 5 3-% 1-%11 S/I2M 30" 3 % 1-0 1-!

12 T'a) !52 31 2! 3-3 3-0

PROCESS CONTROL ROUSSET -PINATON 4/6ar/a8/9r-;a;

8ate del'impressionde l'état3om de l'état

Semaineconcernée

Kours de lasemaine pris encompte dansl'état

:uteur et

référencesinformatiques del'état

XorsBcontr5les

Zors contrIles sur les !quipements

1


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0 .

% &

q p

Etat journalier et par se#aine

%isponi$les pour la a$rication- les acilities et

les #icro#odules

@emple : -ableau des résultats des /ors contr5les par

atelier

1

HORS REGLES SPC EQUIPEMENTS FAB SEMAINE 21 07:35 Friday May 22 1!!"

#U 20MA$1!!":0%:30:00 AU 22MA$1!!":0%:30:00

NBRE #E NBRE #E NBRE #E RUN RUN HORS RUN HORS & RUN HORS & RUN HORS

OBS a'()i(r CONTROLES CONTROLES PRE*ISION CONTROLE PRE*ISION

1 +BL,G 112 1 0 0-! 0-02 %#IF#0 %+ % 0 !-+ 0-0

3 6DIFF 2++ 5 5 2-0 2-0+ %MESU 2 0 0 0-0 0-0

5 C*# ++ 0 2 0-0 +-5% GRA* 257 11 13 +-3 5-17 IMPL 32 0 2 0-0 %-3

" MAS. 77 % 5 7-" %-5

! METAL 120 2 2 1-7 1-710 S/#IFF 30" 11 5 3-% 1-%11 S/I2M 30" 3 % 1-0 1-!12 T'a) !52 31 2! 3-3 3-0

PROCESS CONTROL ROUSSET -PINATON 4/6ar/a8/9r-;a;

XorsBcontr5les

I !1


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0 .

% (

Zors contrIles sur les !quipements

@emple : 8étail des /ors contr5les sur l'atelier %87HH

1

HORS REGLES SPC EQUIPEMENTS FAB SEMAINE 21 07:35 Friday May 22 1!!" +

#U 20MA$1!!":0%:30:00 AU 22MA$1!!":0%:30:00


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0 .

%

Zors contrIles sur les lots

Etat journalier et par se#aine

%isponi$les pour la a$rication- l3EW4- les acilities et

les #icro#odules

@emple : 9ableau des résultats des /ors contr5les par

atelier

2

LISTE #ES HORS CONTROLES PAR ATELIER:GRA*URE #IFFUSION------- RUN HORS REGLES SPC FAB SEMAINE 21

07:+1 M?day May 25 1!!" 50

#U 1%MA$!":0%:30:00 AU 23MA$!":0%:30:00

NBRE #E NBRE #E NBRE #E NBRE #E &RUN

RUN RUN HORS RUN HORS RUN NON &RUN HORS &RUN HORS NONOBS ATELIER CONTROLES CONTROLES PRE*ISION CONTROLE CONTROLE PRE*ISION CONTROLE

1 PHOTO 353! 17 2" 17 0-5 0-" 0-52 GRA*U 2!+2 53 "1 "" 1-" 2-" 3-0

3 #IFFU 2115 % 5 ! 0-3 0-2 0-+

+ #0 27" +! 27 1 17-% !-7 0-+

5 MET/I 15!2 7 10 3 0-+ 0-% 0-2

% TOTAL 10+%% 132 151 11" 1-3 1-+ 1-1

PROCESS CONTROL ROUSSET -PINATON @4/r?/a8/;(-;a;

XorsBcontr5les

Zors contrIles sur les lots2


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0 .

& 0

J3YBCD8J

3om de l'atelier

Zors contrIles sur les lots

@emple : 8étail des /ors contr5les sur l'atelier 8iGusion

2

LISTE #ES RUN HORS REGLES SPC FAB 07:+1 M?day May 25 1!!" 53


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CpW

CpU sur les !quipements1


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0 .

&

ALL : 1 MESURE FLAG N (' (' $ (' . (' C

BRUT : 1 MESURE FLAG (' $ (' . (' CCRITIQUE : 1 MESURE FLAG . (' C

LISTE #ES C6. PAR ATELIER : GRA*URE #IFFUSIONIMPLANT

LISTE #ES C6. PAR ATELIER D 1-33 LISTE #ES C6. PAR ATELIER D 1

LISTE #ES #ECENTRAGES 1SIGMA

Ta8)(a d(; r;)'a'; EPR500 I?dia'(r; CP. PF05 d !" 0+ 05 1a !" 05 02

N8r d(

N8r d( N8r d( & CP. N8r d( & N8r d( & CP. & CP. N8r d( & CP

a'()i(r CP. CP. D 1 D 1 1DCP.D1-33 1DCP.D1-33 1-33DCP.D2 1-33DCP.D2 1-33 1-33 CP. 2

+BL,G 1 - - - - - - 1 100-0 1 100-0

%#IFF 17+ 1% !-2 ! 5-2 2+ 13-" 1+! "5-% 125 71-

%GEN +1 0 0-0 2 +-! " 1!-5 3! !5-1 31 75-

%MESU 3 1 33-3 2 %%-7 - - - - - -

C*# ++ 2 +-5 - - 3 %-" +2 !5-5 3! ""-

GRA* 15+ + 2-% " 5-2 21 13-% 1+2 !2-2 121 7"-

CpU sur les !quipements

Etat #ensuel

%isponi$les pour la a$rication- les acilities et les

#icro#odules@emple : 4iste des CpW par atelier

1Contenu desétatsC/oix des

états

CpW

CpU sur les !quipements1


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0 .

& !

CpU sur les !quipements

@emple : 8étail des CpW pour l'atelier 7mplantation

1

EPR500 Li;'( d(; CP. PF05

d !" 0+ 05 1+a !" 05 02


74/98


P a g e

0 .

& #

ALL : 1 RUN FLAG N (' (' $ (' . (' CBRUT : 1 RUN FLAG (' $ (' . (' C

CRITIQUE : 10 RUN FLAG . (' C

LISTE #ES C6. PAR ATELIER : GRA*URE #IFFUSIONIMPLANT -J LISTE #ES C6. PAR ATELIER D 1-33

LISTE #ES C6. PAR ATELIER D 1 LISTE #ES #ECENTRAGES 1SIGMA

Ta8)(a d(; r;)'a'; ENR!01 A?a)y;( d(; CP. d !" 0+ 05 1

a !" 05 02 N8r( d( ;'a'i?;: 5%2 N8r( d( r?;: 173+5

N8r d( N8r d( N8r d( & CP. N8r d( & N8r d( & CP. & CP. N8r d( & CP.

a'()i(r CP. CP. D 1 D 1 1DCP.D1-33 1DCP.D1-33 1-33DCP.D2 1-33DCP.D2 1-33 1-33 CP. 2 2

35 1 2-! 5 1+-3 21 %0-0 2! "2-! " 22-!

+BL,G 10 - - - - 2 20-0 10 100-0 " "0-0

%#IFF 1%% 3 1-" 20 12-0 %1 3%-7 1+3 "%-1 "2 +!-+

%GEN 1! - - - - - - 1! 100-0 1! 100-0

C*# +% - - 2 +-3 17 37-0 ++ !5-7 27 5"-7

CpU sur les lots

@emple : 8étail des CpW par

atelier

2 Etat #ensuel

%isponi$les pour la a$rication- les acilities et les

#icro#odulesContenu desétats

C/oix des états

CpW

CpU sur les lots2


75/98


P a g e

0 .

& $

Cp su es o s

@emple : 8étail des CpW pour l'atelier %87HH

2 ENR!01 A?a)y;( d(; CP. d !" 0+ 05 +

a !" 05 02


76/98


P a g e

0 .

& %

LISTE #ES TACHES #E QUALITE PAR ATELIER:GRA*URE #IFFUSION-------

PLANNING TACHE #E QUALITE 15:53 Friday May 15 1!!" 1


77/98


P a g e

0 .

& &

TACHES #E QUALITE FAB #E SEMAINE 21

0%:50 M?day May 25 1!!" 30

MANQUANT & OBS ATELIER THEORIQUE CORRIGE CORRIGE

1 #0 110


78/98


P a g e

0 .

& (

TACHES #E QUALITE FAB SEMAINE 21 0%:50 M?day May 25 1!!" +0


79/98


P a g e

0 .

&

1

Date (orig.) Date (rev.)PROCSS PROC!"#$

C501&6 5SD$

'e Cotact*Phoe

+itio Date (,*+*)

5 * 27 * 199-

"/!CR

C52-&6"O/!R

Core ea,

P#R

C753DSCRP

C716 C753#

Spp8ier * P8at #pprova8 * Date Cto,er :a8it #pprova8 * Date

DP

P"06 RO;SS

Other #pprova8 Date Other #pprova8 * Date

Etat qui per#et de visualiser les étapes de a$rication d3un process@emple : Page 1 B Hic/e d'identi6cation du process

Control Plan

Process Control Plan1


80/98


P a g e

0 .

( 0

1

OC < OC#O=

OPR.< OPR#O=

P < P O" OPR#O=

PRO < PROD;CO= SP

R;= < SPC SP R;=

$S < SPC"C#O= CC' O

OC!DSC < DSCRPO= O" OC#O=

S:=O < S:;=C =;$R = OC#O=

=> < =>!COD? P O" $S;R

!OPR < DSCRPO= O" OPR#O=

CR < CRC O" $#S;R

' < ' C#R#CRSC "OR SPC"C RPOR=>

C < ' C#R#CRSC

< =O= ' C#R#CRSC? S#=D#RD

SPC!$= < $=$;$ SPC"C#O= #;

SPC!$# < $#$;$ SPC"C#O= #;

#R> < SPC"C#O= #R>

C < O/R $ CO=RO

;C < ;PPR $ CO=RO

=C < =O=@CO="OR$=> O C#>OR

=!/#"R < =;$R O" $#S;RD /#"RS R;=

=!SS < =;$R O" $#S;RS /#"R

C#RS < CO=RO C#RS P

RC$= < R=D C#R

RC$/ < CO=RO C#R O= $#=

/$/ < CO=RO C#R O= D# R;=

RC= < CO=RO C#R R#=> R;=

OC#P < O; O" CO=RO #CO= P#=

O < OC' OPR#O= = C#S O" O; O" CO=RO

C < CO$$= R:;RD? $#=D#OR O ;=OC' # O = C#S O" O;

O" CO=RO

R: < =DC#S " $#S;R S R:;RD

OD < =DC#S " C#R ODS O

@emple : Page B Ylossaire

Control Plan

Process Control Plan1


81/98


P a g e

0 .

( 1

1

@emple : Page ! B 8étail des étapes de fabrication

OC OPER &,P OC=DESC S47O E7> '6=OPER CR SPEC=M'7 SPEC=MA? &AR>E& C @C 7C 76=AF 76=S'&ES C;AR&S OCAP O C& RE4 ;OD

0110 MAR451 MES MAR4@A>E ASERB1 0010 R ES 5MA? MAR4! S MP10 Plaq5P = 15G H 5 500EI00 500EI00 05000EI00 500EI00 500EI00 o.ms 0 0 ? 2

MAR451 MES MAR4@A>E ASERB1 0010 R ES 5MA? MAR4! S MP10 Plaq5P = 15G H 5 500EI00 500EI00 05000EI00 500EI00 500EI00 o.ms 0 0 ? 2

AS ER PRO MAR4@A>E AS ER B 1 001

RCO7&A1 R@7 MAR4@A>E ASERB 1 000 DO J K 05000EI00 L500EI01 5000EI00 1 RCM RCM , ,

01 0 7 E& C1 0 PRO O ? ' 7' &' ABBBB 55 B1 0 00

O?'7G PRO O? '7'&'ABBBB55B1 0010 0CNmnN0N0- &CAN7

RO?'7G R@7 O? '7'&'ABBBB55B1 000 K 1500EI0 500EI0 5000EI0 150EI0 510EI0 A L &R7D &R7D , ,

RO?'7G R@7 O? '7'&'ABBBB55B1 000 &' 7 5GEI01

MO?'7G MES O? '7'&'ABBBB55B1 00L0 EP 1500EI0 500EI0 05000EI00 150EI0 510EI0 A MR6 0 0 ? ?

01L0 7'&R PRO DEPO& 7'&R@REBB551 0010 0C PCD

R7'&R R@7 DEPO& 7'&R@REBB551 000 DOC7 7 05000EI00 5000EI01 05000EI00 76RE 1 &R7D &R7D , ,

R7'&R R@7 DEPO& 7'&R@REBB551 000 EP K G50EI0 150LEI0L 5000EI0 5LG0EI0 5L0EI0 A L L &R7D &R7D , ,

M7'&R MES DEPO& 7'&R@REBB551 00L0 EP G50EI0 150LEI0L 05000EI00 5LG0EI00 5L0EI0 A MR6 0 0 ? ?

7E&C10L PRO DEPO& 7'&R@REBB551 000

R7'&RDO R@7 DEPO& 7'&R@REBB551 000 DOC7 7 05000EI0 5000EI01 5000EI00 76RE 1 &R7D ,

01 LL ' 7SPE? PRO ' 7SP5 '7 SPE?BBBB5 1 0 01 0

Control Plan

,ien entre p!ration et quipement


82/98


P a g e

0 .

(

,ien entre p!ration et quipement

OPERATION, EQUIPMENT AND WORKSTATION ON PROCESS C5SH!"6#

!$%!! We&'e(&a), *a) +$

OPER EQPT =OR.STATION (K6'


83/98

Control Plan

quipment Control Plan1


84/98


P a g e

0 .

( #

1

:P < :;P$=

S#!DSC < S#O= DSCRPO=

P#R#$R < $#S;RD P#R#$R

P#R#$ ! DSC < $#S;RD P#R#$R DSCRPO=

=!$#S;R < =;$R O" $#S;R

"R: < "R:;=C O" $#S;R /'

CR < CRC O" $#S;R

' < ' C#R#CRSC "OR SPC"C RPOR=>

C < ' C#R#CRSC

< =O= ' C#R#CRSC? S#=D#RD

= < =O= S>="C#=

C#RS < CO=RO C#RS P

RC$= < R=D C#R

RC$/ < CO=RO C#R O= $#=

/$/ < CO=RO C#R O= D# R;=

RC= < CO=RO C#R R#=> R;=

C < O/R $ CO=RO

$#= < CO=RO $ C=R

;C < ;PPR $ CO=RO

OC#P < O; O" CO=RO #CO P#=

#R < /OR'SOP

S#;S < S#;S = C#S O" O; O" CO=RO

PROCD;R < PROCD;R = C#S O" O; O" CO=RO

@emple : Page B Ylossaire

Control Plan

quipment Control Plan1


85/98


P a g e

0 .

( $

1@emple : Page ! B 8étail des équipements d'un process

Cp et CpW des param*tres critiques par process

*!capitulatif des pourcentages1


86/98


P a g e

0 .

( %

REPARTITION #ES CP (' CP. #IFFUSION d : 15 MA$ 1!!" : 00:00:00 a 22 ay :00

N8r d( N8r d( N8r d( N8r d( & CP. CP. & CP. CP. & CP. N8r d( & CP.

CP. CP. D 1 D 1 1-33 1-33 1-5 1-5 CP. 2 2

117 1% 13-7 "+ 71-" 1-5 %%-7 +" +1

PROCESS CONTROL ROUSSET -PINATON 6/6/a8-;a;

1

CpW des param*tres critiques par process

%!tail par op!ration2


87/98


P a g e

0 .

( &

REF : SPEC U#CS 0055"!7 CP ET CP. #ES PARAMETRES CRITIQUES #IFFUSION

d 15 MA$ 1!!" :00:00:00 a 22 MA$ 1!!" :00:00:00

C75+>>> C!%3>>>A C717>>>A C753>>>$C5E11% C5H22% C5SF02% C5SH01%

6(ra'i? 6ara('(r CP CP. CP CP. CP CP. CP CP.

RCONTA15 EP> 2-2+7%5 0-3!"1% 2-2+7%5 0-3!"1% 2-2+7%5 0-3!"1% 2-2+7%5 0-%!"1%

R#SOGO1 EP> 2-07!73 1-""1++R#SOGO2 EP> 1-7!53% 1-++7!%

RNITR%1 EP 1-23+"+ 0-!"5+%RNITR%+ EP 2-!%!%% 2-!370" 2-!%!%% 2-!370" 2-!3!%% 2-!3703 2-!%!%% 2-!370"

RNITR%5 EP +-"%%"0 +-++%03 +-"%%"0 +-++%03RNSG%21 EPPRO# 1-%0+"! 1-57"1" 1-%0+"! 1-57"1" 1-%0+"! 1-57"1"RO>CS72 EP 1-05"2" 1-030%5 1-05"2" 1-030%5 1-05"2" 1-030%5 1-05"2" 1-030%5

RO>EP%% EP 1-711+3 1-70723 1-711+3 1-70723RO>EP71 EP 1-25752 1-11720

RO>GR7+ EP 1-271%5 1-0"27" 1-271%5 1-0"27"RO>GR75 EP 1-03"71 0-7!"27

SGS THOMSON PROCESS CONTROL ROUSSET 6/6/a8-;a;

@emple : 8étail par opération pour l'atelier de

8iGusion

DC:P (Dut of Control :ction Plan)

CP sur les !quipements (actions en cas de /ors de contr5les)1


88/98


P a g e

0 .

( (

LISTE #ES OCAP PAR ATELIER:GRA*URE #IFFUSION-------

E*ALUATION #U NOMBRE OCAP POTENTIELS EP10 d : 0+ MAI 1!!"

1+:52 M?day May + 1!!" 7

N8r( T'a) & R(a)i;( OBS a'()i(r R(a)i;( A'()i(r A'()i(r

1 +BL,G 3! +3 !0-%!"

2 %#IFF +1 "% +7-%7+

3 %GEN ! %7 13-+33

+ %MESU - 33 -

5 %TEST - 1 -

% C*# 7% "0 !5-000

7 #IFF 1 1 100-000

" GRA* !7 1+% %%-+3"

Etat #ensuel

%isponi$les pour la a$rication et les acilities

@emple : 9ableau des réalisation d'DC:P

par atelier

3ombre d'DC:Préalisés


CP sur les !quipements (actions en cas de /ors de contr5les)1


89/98


P a g e

0 .

(

E*ALUATION #U NOMBRE OCAP POTENTIELS EP10 d : 0+ MAI 1!!"

1+:52 M?day May + 1!!" !


90/98


P a g e

0 .

0

1 ETAT SEPARE POUR CHAQUE ATELIER :GRA*URE #IFFUSION-------

R(;( OCAP OL10 6ar a'()i(r d : 0+ MAI 1!!"

1+:52 M?day May + 1!!" 1+!

N8r( T'a) & R(a)i;( AREA a'()i(r R(a)i;( A'()i(r A'()i(r

PF0% +BL,G 12 20 %0-0000

PF0% %#IFF 1+++ 2!0! +!-%3!1

%GEN - 1+" -

PF0% C*# 3+3 552 %2-1377

PF0% GRA* 110% 2!%" 37-2%+2

PF0% MAS. 1%7"+ 2%317 %3-77%3

Etat #ensuel

%isponi$les pour la a$rication (2 état séparé pour

chaque atelier)

@emple : 9ableau des réalisations des DC:P

par atelier


CP sur les lots (actions en cas de /ors de contr5les)2


91/98


P a g e

0 .

1

OCAP POTENTIELS OL10 METAL d : 0+ MAI 1!!"

1+:52 M?day May + 1!!" 151


92/98


P a g e

0 .

T4( SAS Sy;'(

0":11 M?day May 25 1!!" 21


93/98


94/98

eue des limites de contr5le

*e


95/98


P a g e

0 .

$

15:3" T(;day May 12 1!!" +


96/98


P a g e

0 .

%

LISTE PAR ATELIER:GRA*URE #IFFUSION-------

CONTROL LIMITS *ALI#IT$ CHEC. !712 12:5" T(;day F(8rary 3 1!!" 15%

& RE*ISION & RE*ISION & CHART CONFORM CONFORM #ATE #ATE CENTRING & CENTRING *ARIABILIT$ *ARIABILIT$

OBS NUMBER LIMITS LIMITS % MONTH % MONTH PROBLEMS PROBLEMS PROBLEMS PROBLEMS

1 1%"0! 1+1+7 "+ "5! 5 !3+ % 1122 7

SGS THOMSON PROCESS CONTROL ROUSSET @6r/;a;)/)10-;a;

Etat #ensuel

%isponi$les pour la a$rication- l3EW4 et le

#icro#odule

@emple : 9ableau récapitulatif du nombre de cartes

= reoir

eue des limites de contr5le

*e


97/98


P a g e

0 .

&

CONTROL LIMITS RE*IE= NEE#E# !712 12:5" T(;day F(8rary 3 1!!" 15!


98/98


P a g e

0 .

(

CONTROL LIMITS TIME E>EE#E# !712 12:5" T(;day F(8rary 3 1!!" 20+

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