Upload
aleo-saputra
View
223
Download
1
Embed Size (px)
Citation preview
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
1/35
BAB I
1.1 Latar Belakang
X-Ray Diffraction, salah satu teknik analisa untuk stuktur suatu mineral, garam,
logam, keramik, polymer bahkan senyawaan organik seperti DNA, vitamin dan drugs. ika
ingin mengetahui mineral apa sa!a yang terkandung dalam suatu bahan tambang dan
assosiasinya apa sa!a, teknik ini cukup tepat karena XRD bisa memberikan informasi
mengenai bentuk molekul dan berapa sudut kristalnya. XRD beker!a berdasarkan difraksi
sinar X yang dihamburkan oleh sudut kristal material yang dianalisa. Akan tetapi,
kelemahannya, XRD kurang tepat !ika digunakan untuk analisa "uantitatif #!umlah atau
kadarnya$. %alaupun banyak orang meng-klaim bahwa XRD bisa memberikan informasi
tentang &berapa kandungannya& namun masih kurang valid !ika dibandingkan dengan teknik
analisa lainnya di laboratorium. 'mumnya XRD digunakan untuk analisa !umlah yang
membutuhkan waktu cepat tapi tidak perlu akurat. Analisis XRD yang dilakukan
berhubungan dengan alat ukur yang lain misal (), *+( ataupun +(. engamatan dengan
XRD mengidentifikasikan fasanya, sedangkan mikroskop akan men!elaskan bagaimana
distribusi fasa yang teridentifikasi berdasarkan hasil XRD. *ehingga untuk keperluan
identifikasi material yang tidak diketahui, e.g. material baru hasil reaksi, maka cukup
dilakukan dua pengu!ian tsb
ambar / 0 1onsep Difraksi
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
2/35
2asil Analisa XRD nantinya berupa grafik antara intensitas dan sudut pengukuran
#3$. uncak-puncak difraksi menun!ukkan fasa yang harus diidentifikasi #dibahas pada
analisis kualitatif dan intepretasi hasil$.
ambar 3 0 4ontoh 2asil Analisa XRD
(ikroskop elektron adalah sebuah mikroskop yang mampu untuk melakukan
pembesaran ob!ek sampai 3 !uta kali, yang menggunakan elektro statik dan elektro magnetik
untuk mengontrol pencahayaan dan tampilan gambar serta memiliki kemampuan pembesaran
ob!ek serta resolusi yang !auh lebih bagus daripada
mikroskop cahaya. (ikroskop elektron ini
menggunakan !auh lebih banyak energi dan radiasi
elektromagnetik yang lebih pendek dibandingkan
mikroskop cahaya.
(ikroskop pemindai elektron #*+($ yang
digunakan untuk studi detail arsitektur permukaan sel
ambar 5 0 (icroscope +lectron
#atau struktur !asad renik lainnya$, dan obyek diamati secara tiga dimensi. 4ara
terbentuknya gambar pada *+( berbeda dengan apa yang ter!adi pada mikroskop optic dan
http://id.wikipedia.org/wiki/Mikroskophttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Elektro_statik&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Elektro_magnetik&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Mikroskophttp://id.wikipedia.org/wiki/Elektronhttp://id.wikipedia.org/wiki/Energihttp://id.wikipedia.org/wiki/Radiasihttp://id.wikipedia.org/wiki/Cahayahttp://id.wikipedia.org/wiki/Selhttp://id.wikipedia.org/wiki/Jasad_renikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Tiga_dimensihttp://id.wikipedia.org/wiki/Mikroskophttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Elektro_statik&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Elektro_magnetik&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Mikroskophttp://id.wikipedia.org/wiki/Elektronhttp://id.wikipedia.org/wiki/Energihttp://id.wikipedia.org/wiki/Radiasihttp://id.wikipedia.org/wiki/Cahayahttp://id.wikipedia.org/wiki/Selhttp://id.wikipedia.org/wiki/Jasad_renikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Tiga_dimensi7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
3/35
+(. ada *+(, gambar dibuat berdasarkan deteksi elektron baru #elektron sekunder$ atau
elektron pantul yang muncul dari permukaan sampel ketika permukaan sampel tersebut
dipindai dengan sinar elektron. +lektron sekunder atau elektron pantul yang terdeteksi
selan!utnya diperkuat sinyalnya, kemudian besar amplitudonya ditampilkan dalam gradasi
gelap-terang pada layar monitor4R#cathode ray tube$. Di layar 4R inilah gambar struktur
obyek yang sudah diperbesar bisa dilihat. ada proses operasinya, *+( tidak memerlukan
sampel yang ditipiskan, sehingga bisa
digunakan untuk melihat obyek dari sudut
pandang 5 dimensi.
ambar 6 0 *canning +lectrom (icroscope #*+($
Dari hasil analisa yang berupa gambar tersebut kemudian dilakukan identifikasi fasa agar
dapat diketahui fasa-fasanya . 7entuk indentifikasi tersebut dapat berupa 0
(enggunakan kartu 2anawalt
(enggunakan kartu D8
Search-Match
*alah satu bentuk identifikasi yaitu dengan search-match merupakan metode dengan
menggunakan software (atch. *oftware ini mengidentifikasi !enis ataupun komposisi kimia
dari suatu material yang diu!i berdasarkan ketinggian intensitas yang ditun!ukkan secara
visual oleh software (atch. 1arakter dasar yang terlihat0
9 osisi #3heta$
9 inggi kurva #intensitas$
9 :ebar dan bentuk puncak
http://id.wikipedia.org/wiki/CRThttp://id.wikipedia.org/wiki/3_dimensihttp://id.wikipedia.org/wiki/CRThttp://id.wikipedia.org/wiki/3_dimensi7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
4/35
2.1 Sinar X
*inar X ditemukan oleh Roentgen pada tahun /; ter!adi apabila satu berkas elektron bebas berenergi kinetik tinggi mengenai
logam. 7iasanya permukaan logam dengan nomor atom ? yang tinggi. empat dimana berkas
elektron itu menumbuk logam akan merupakan sumber sinar dengan daya tembus yang besar.
1 adalah katode yang dihubungkan dengan kutub negatif sumber tegangan tinggi.
1atoda dipanaskan dengan menggunakan filamen agar lebih mudah memancarkan elektron.
A merupakan anoda yang terbuat dari logam berat. Anoda dihubungkan dengan kutub
positif sumber tegangan tinggi. 7eda potensial yang tinggi #beberapa kilo volt sampai dengan
seratus kilo volt$ menyebabkan sesampainya di Anoda, elektron yang dipancarkan oleh
katoda memiliki energi kinetik yang sangat besar. +lektron-elektron inilah yang dalam
tumbukannya dengan Anoda menimbulkan pancaran sinar > oleh Anoda.
7aik katoda maupun anoda ditempatkan dalam tabung gelas yang divakumkan, agarper!alanan elektron dari katoda ke anoda tidak mendapat gangguan. Anoda A didinginkan
dengan air untuk menyalurkan kelebihan kalor yang timbul karena benturan berkas elektron
dengan permukaan andoa. ika pendinginan tak dilakukan suhu anoda akan terus meningkat
sampai ter!adi peleburan.
Roentgen melaporkan bahwa sinar X terbentuk di anoda apabila elektron yang
berenergi tinggi menumbuk permukaan anoda. 7agaimanakah mekanismenya @ 7agaimana
pula situasi fisiknya @
1eadaan fisiknya dapat digambarkan sebagai berikut 0
+lektron berenergi tinggi sampai di permukaan logam, dan kemudian meneruskan
per!alanannya di dalam logam. Dipandang dari elektron yang datang. ?at dapat
merupakan susunan ion-ion berat dan lautan elektron bebas.
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
5/35
nteraksi antara elektron yang datang dengan susunan ion maupun lautan elektron
logam adalah interaksi elektromagnetik. *ecara sederhana gaya interaksi yang ter!adi
dapat dinamakan gaya tumbukan, dan interaksi tersebut disebut tumbukan.
Dalam tumbukan tersebut elektron berenergi tinggi kehilangan energinya sedikit demisedikit, karena tumbukan itu ter!adi secara berangkai. +nergti elektron ini diubah
men!adi pancaran elektromagnet karena elektron mengalami perlambatan, dan
sebagian men!adi energi getar kisi ion dalam kristal. 7agian yang akhir ini
menyebabkan meningkatnya suhu anoda. 7agian yang pertama #pancaran
elektromagnet$ adalah sinar X.
an!ang gelombang sinar X tersebar meliputi spektrum yang bersifat kontinu karena
prosesnya beruntun. Artinya spektrum yang terlihat mencakup berbagai tumbukansekaligus secara suksesis setiap elektron kehilangan energinya melalui tumbukan-
tumbukan berangkai.
2.2 Analisa XRD
ambar = 0 7agan dari tabung Difraksi electron
ambar bagan tabung difraksi electron ditun!ukkan pada gambar 5 diatas. 1etika beroperasi,
electron gunmemancarkan aliran electron yang terus menerus yang dikontrol oleh akselerasi
anode didalamgun. 4ontoh !ika suatu arus dengan kecepatan 3=BB volts digunkan, berkas
electron akan memiliki energy kinetic rata-rata 3=BBeC.
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
6/35
7erkas electron kemudian ditembakkan kesuatu target dan akhirnya !atuh ke screen yang
dilapisi denganflourescent materialuntuk memperlihatkan !alur yang dilalui oleh elekteron.
Analisa dimulai ketika kecepatan arus sama dengan 3=BB C.
ambar 0 roduksi *inar-X
7erikut ini beberapa hal yang bisa dilakukan oleh XRD dalam proses identifikasi material 0
/. 8enomena kerusakan material di lapangan akibat lingkungan. 4ontoh 0 beberapa
proses korosi dapat diidentifikasi produk korosinya. *elain dengan +DX, produk
korosi diu!i dengan XRD secara terpisah. 7iasanya untuk pengamatan produk korosi,
sampel u!i diambil bagian terak kemudian digerus, sehingga sampel berbentuk serbuk.
ada contoh berikut, produk korosi yang berwarna putih dikikis untuk pengamatan
XRD.
3. engamatan raw material dan hasil rekayasa material bidang farmasi. 7eberapa
pengu!ian yang dilakukan adalah identifikasi terhadap ekstraksi obat yang dibuat
untuk mengetahui standar kelayakan medis, baik komposisi maupun senyawanya.
5. dentifikasi tanah dan lempung. 7eberapa pengu!ian tentang tanah yang telah
dilakukan misal, identifikasi terhadap hasil pencemaran, tanah disekitar semburan
lapindo ataupun identifikasi tanah kapur untuk bahan baku semen, dll
6. *tudi kelayakan tanah untuk !alan raya, di beberapa tempat tanah mengandung
komponen monmorilonite. *enyawa ini pada batas komposisi tertentu menyebabkan
tanah mengembang apabila terkena air, sehingga menyebabkan kerusakan apabila
terdapat bangunan di atasnya.
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
7/35
ambar E 0 ter!adinya difraksi
Atom-atom yang tersusun secara teratur pada bidang kristalografi tertentu menyebabkan
ter!adinya hamburan radiasi. elombang radiasi bagian bawah men!alani lintasan yang lebih
pan!ang daripada radiasi bagian atas. Agar ter!adi interferensi maksimum gelombang,
keduanya harus menyebabkan terpenuhinya syarat 7ragg 0
2d sin = n Braggs Law
2.3 Scanning lectr!n Micr!sc!"e #SM$
*+( merupakan salah satu !enis mikroskop yang bisa mendapatkan pembesaran
gambar yang melebih mikroskop optik biasa. 4ara terbentuknya gambar pada *+( berbeda
dengan apa yang ter!adi pada mikroskop optic dan +(. ada *+(, gambar dibuat
berdasarkan deteksi elektron baru #elektron sekunder$ atau elektron pantul yang muncul dari
permukaan sampel ketika permukaan sampel tersebut dipindai dengan sinar elektron.
+lektron sekunder atau elektron pantul yang terdeteksi selan!utnya diperkuat sinyalnya,
kemudian besar amplitudonya ditampilkan dalam gradasi gelap-terang pada layar monitor
4R#cathode ray tube$. Di layar 4R inilah gambar struktur obyek yang sudah diperbesar
bisa dilihat. ada proses operasinya, *+( tidak memerlukan sampel yang ditipiskan,
sehingga bisa digunakan untuk melihat obyek dari sudut pandang 5 dimensi.
Alat *+( ada yang dilengkapi dengan +D* ada yang tidak. ika dilengkapi dengan
+D* #+nergy Dispersive *pectroscopy$ maka alat tersebut dapat untuk dipakai menganalisa
X
F
?
d
Incident radiation Reflected radiation
Transmitted radiation
/
3
X-ray Tube Detector
http://id.wikipedia.org/wiki/CRThttp://id.wikipedia.org/wiki/3_dimensihttp://id.wikipedia.org/wiki/CRThttp://id.wikipedia.org/wiki/3_dimensi7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
8/35
unsur kimia yang ada dipermukaan. Namun !ika akan mengaktifkan +D* biasanya
memerlukan pendingin berupa nitrogen cair yang dimasukkan pada kontainer yang telah
disediakan pada alat *+(-+D*. 7erikut ini gambar dari alat *+( tanpa +D* beserta
komputer untuk menampilkan dan memproses gambar yang dihasilkan.
ambar ; 0 *kema Alat *+(
2.% Search-Match
2asil analisa XRD yang berupa gambar tersebut dilakukan identifikasi fasa agar dapat
diketahui fasa-fasanya . 7entuk indentifikasi tersebut dapat berupa 0
(enggunakan kartu 2anawalt
(enggunakan kartu D8
Search-Match
*alah satu bentuk identifikasi yaitu dengan search-match merupakan metode dengan
menggunakan software (atch. *oftware ini mengidentifikasi !enis ataupun komposisi kimia
dari suatu material yang diu!i berdasarkan ketinggian intensitas yang ditun!ukkan secara
visual oleh software (atch. 1arakter dasar yang terlihat0
9 osisi #3heta$
9 inggi kurva #intensitas$
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
9/35
9 :ebar dan bentuk puncak
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
10/35
ambar < 0 7eberapa contoh sample yang dianalisa dengan serach-match
&!nt!h analisa Search-Match terhada" hasil "eng'(ian XRD
alc adalah kandungan
utama pada produk
kosmetik tertentu. ika
mengandung "uartG atau
mineral abrasive lainnya,
maka ini tidak cocok
digunakan sebagai aplikasi
kosmetik. Analisi kimia
tidak dapat membedakan
antara *i)3 sebagai "uartG
dan *i)3 sebagai alc.
Analisis difraksi sinar X sangat mudah dan dapat dipercaya untuk memastikan keberadaan
dan kuantitas dari "uartG. eaks #puncak$ pada X-ray diatas memperlihatkan !umlah minor
"uartG #warna coklat$, serta 4hlorite #2i!au$, hadir dalam alc #7iru$ ini. (elalui prosedur
khusus dan dengan menggunakan standar "uartG dan alc, !umlah "uartG secara kuantitatif
dapat ditentukan ke tingkat kurang dari /H.
XRD anal)sis "ada "r!d'k k!r!si lingk'ngan *a+S,3
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
11/35
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
12/35
XRD anal)sis "ada "r!d'k k!r!si lingk'ngan *a&l
No 1arakter nformasi dari (aterial nformasi dari nstrumen
/ osisi puncak #3heta$ 8asa kristalIidentifikasi
*truktur kristal
arameter kisi
Regangan seragam
1esalahan 3JB
1etidaktepatanpenempatan
sampel
3 inggi puncak #intensitas$ dentifikasi
1omposisi
2amburan tak-koheren
+>tinction
referred-orientation
5 :ebar dan 7entuk puncak 'kuran kristal #bukanpartikel atau grain$
Distribusi ukuran kristal
Regangan tak-seragam
Dislokasi, cacat kristal
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
13/35
M,D,L,I
'ntuk mencapai tu!uan analisa dengan baik, maka perlu dibuat perencanaan alur
analisa. Alur analisa ditun!ukkan dengan diagram alir analisa berikut ini 0
3.1 Diagra/ Alir analisa XRD
ida idak
*tart
*trat*tart
emilihan *ample #dalam hal ini
berupa keramik$
reparasi *pesimen 0
-*ampel0 *erbuk
elletI pelat
Dimensi sampel0
*erbuk 0 /-3 gram
elletI pelat 0 />/>B.=
Analisa XRD
*pesimen siap di '!i dalam
Difraktometer
*truktur mikro
terlihat !elas
Analisa *earch-(atch
Diketahui 8asa-
fasanya
+nd
*trat*tart
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
14/35
3.2 Diagra/ Alir analisa SM
ida idak
emilihan *ample #dalam hal ini
berupa keramik$
reparasi *pesimen 0
-*ampel0 *erbuk
Dimensi sampel0*erbuk 0 /-3 gram
Ditempel pada selotip
1arbon.
Analisa *+(
*pesimen siap di '!i dalam
Alat *+(
dentifikasi
1ristal
Analisa *earch-(atch
Diketahui 8asa-
fasanya
+nd
*trat*tart
*tart
*trat*tart
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
15/35
A*ALISA DAA DA* 0MBA+ASA*
%.1 +asil Analisa XRD
/. :angkah pertama buka software (atchK 'ntuk menganalsa hasil XRD.
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
16/35
3. *elan!utnya buka menu 8ile L mport L Diffraction data
5. ilih file yang akan dianalisa
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
17/35
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
18/35
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
19/35
. 1lik start search pada toolbar untuk melakukan proses matching
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
20/35
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
21/35
;. 1lik pada icon :up untuk melihat dengan lebih !elas bagian peak tertentu # 5 peak
tertinggi$
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
22/35
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
23/35
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
24/35
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
25/35
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
26/35
/B. Dari hasil search match diketahui bahwa fasa yang teridentifikasi yaitu BaFe12O19
*elain untuk mengetahui fasa pada suatu sample, dari data - data yang ada di XRD kita
!uga dapat mengetahui ukuran kristal dari sampel kita, yang dalam hal ini ialah 7arium 2eksa
8errit. 7erikut ini cara penghitungan ukuran kristal pada 7arium 2eksa 8errit.
Diket :
'ntuk peak tertinggi #dengan ntensitas relatif /BBB$, diperoleh data - data sebagai berikut.
8%2( #7$ B,/=//B
3J 53,/;B, maka J 53,/;I3 /,B
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
27/35
Dimana, t 'kuran 1ristal ............................................................# $
O an!ang gelombang ....................................................# $
7 8%2( # 8ull %idth at 2alf (a>imum$ dalam .........B
J7 *udut Difraksi.............................................................B
(aka, dari data - data di atas dapat diketahui ukuran kristal untuk peak tertinggi.
adi ukuran kristal pada peak tertinggi untuk 7arium 2eksa 8errit ialah . Dengan
cara yang sama maka dapat dihitung ukuran - ukuran kristal untuk peak - peak yang lainnya.
%.2 +asil Analisa SM
*aat emperatur sintering dinaikkan dari yang awalnya E=BB4 men!adi
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
28/35
antar kristal. erlihat !uga bahwa muncul serabut-serabut tipis pada serbuk, hal ini bisa sa!a
disebabkan oleh proses oksidasi serbuk saat dilakukannnya preparasi sampel pengu!ian *+(.
erlihat !uga baik pada saat temperatur sintering E=BB4 maupun
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
29/35
#b$
embentukan 7a8e/3)/
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
30/35
#a$
#b$
?A8 (ethod *tandardless Quantitative Analysis8itting 4oefficient 0 B.3;36+lement #keC$ (ass
H
+rror
H
Atom
H4 B.3EE /
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
31/35
) B.=3= /.6B B.// 3.;3Na /.B6/ ;.EB B./6
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
32/35
ion NaMtidak mudah dihilangkan meskipun setelah proses sintering dalam temperatur E=B o4.
1ristal serbuk barium heksaferit pada temperatur agonal dibanding bentuk kristal serbuk barium heksaferit pada
temperatur E=Bo4.
ael %..erbandingan hasil pengu!ian +DX pada serbuk barium heksaferit rasio 8eI7a /3
setelah sintering E=Bo4 dan
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
33/35
6.1 4esi/"'lan
7erdasarkan hasil pengu!ian dan analisis data yang telah dilakukan maka dapat ditarik
kesimpulan sebagai berikut 0
/. (aterial keramik yang dianalisa dengan metode *earch-(atch ini berupa 7a8e/3)/agonal, memilikicell parameter a=.;
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
34/35
3. Dipahami fungsi dan hubungan pengu!ian XRD, dan *+( dengan identifikasi fasa
*earch-match sehingga analisa yang dilakukan benar dan valid.
DA7AR 05SA4A
:apakko, 1 3BB3. Metal Mine Rock and Waste Characteriation !ools, (inesotaDepartemen of Natural Resources, '*.
*huGo ) dan )samu *'+, Method for "roducing #ranular Metal$ %" &%uropean"atent'/6B=
7/22/2019 90754859 Analisa Sampel Keramik Dengan Menggunakan Sem Dan Xrd Search Match
35/35
http://journal.eng.ui.ac.id/data//4._bambangok_.pdf