4.- Cuarta Semana Graficas de Control Por Variables-Atributos

7/23/2019 4.- Cuarta Semana Graficas de Control Por Variables-Atributos

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PROPORCION DE DEFECTUOSOS (p)

X - R

X - S

INDIVIDUALES

CAUSAS COMUNES

NUMERO DE DEFECTUOSOS (np)

NUMERO DE DEFECTOS (c)

PATRONES E SPECIALES

PRUEBAS

INDICE DE INESTABILIDAD St

PRECONTROL

DEFECTOS POR UNIDAD (u)

CAUSAS ESPECIALES

EL CONTROLESTADSTICO

DE LOSPROCESOS

CONTROL YREDUCCIN

DE LAVARIABILIDAD

INTERPRETACINDE CARTAS

CAUSAS DEVARIACIN

CARTAS DEVARIALBES

CARTAS DEATRIBUTOS

GESTION DE LACALIDAD TOTAL

CONTROL Y REDUCCIN DE LA VARIABILIDAD

Para controlar, mejorar y reducir la variabilidad en losprocesos, se requieren de tres actividades bsicas:

ESTABILIZAR LOSPROCESOS

MEJORAR ELPROCESO

MONITOREAR ELPROCESO

Lograr el control estadstico,mediante la identificacin yeliminacin de las causasespeciales.

Reduciendo la variacin debidaa causas comunes.

Para asegurar que las mejorasse mantienen y para detectaroportunidades adicionales a lamejora.

CAUSAS COMUNES Y ESPECIALES DEVARIACIN

Variacin por causas comunes o por azar:Es aquella que permanece da a da, lote alote y la aportan en forma natural las

condiciones de las 6Ms (Mano de Obra, Materiales,Maquinaria, Medicin, Mtodos y Medio ambiente).

Variacin por causas especiales oatribuibles:

Es causada por situaciones o circunstanciasespeciales que no son permanentes en elproceso.

CAUSAS COMUNES Y ESPECIALES DEVARIACIN

Se dice que un proceso esta bajocontrol estadsticoo estable cuandoeste trabaja solo con causas comunesde variacin, independ ientemente de

que su variabilidad sea mucha o poca,el desempeo del proceso es predecible

sobre el futuro inmediato.

Se dice que un proceso se encuentrafuera de control estadsticoo

inestable cuando presenta causasespeciales de variacin, estos procesos

son impredecibles sobre el futuroinmediato debido a las causas

especiales.

Errores en la actuacin de los procesos

ERROR 1

Reaccionar ante un cam bio o variacin(efecto o problema), como si provini era

de una causa especial, cuando en

realidad surge de algo mas profundoen el proceso, como son las causas

comunes de variacin.

ERROR 2

Tratar un efecto o cambio como siproviniera de causas comunes de

variacin, cuando en r ealidad se debe auna causa especial.


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EJEMPLO

Una lnea de produccin saca desperfectos o mellas en las latas.Obviamente este problema se debe causas comunes o especiales y laactuacin ser diferente en cada caso:

ERROR 1Comn

ERROR 2Especial

Cuando la lnea de montaje arroje unalata defectuosa, la reaccin del operarioser la de ajustar la maquinaria, pero elproblema esta en el material, por lo queel ajuste puede descomponer el sistemay empeorar las cosas, que llevara anuevos y mas graves problemas,mientras tanto, la verdadera fuente deinconveniente (material) pasainadvertida.

No hay nada que losoperarios p uedan hacerpor el problema. Solo laadministracin puedecambiar la poltica decompras.

Las latas salen melladas porque la administracin comprahojalata de menor calidad,quizs en un esfuerzo porreducir los costos. De lo que eloperario ni se entera, y laadministracin tampoco estaconciente del perjuicio

Creer que el problema es comn(hojalata de mala calidad) y no hacer losajustes necesarios a la maquina enforma oportuna.

Los trabajadores o lostcnicos pueden reducir oeliminar el problemaajustando o reemplazandolas partes afectadas delequipo.

El desperfecto es ocasionadopor un desgaste naturalrelativamente menor en lamaquinaria.

POSIBLES ERRORESACCINTIPO DE CAUSA

UTILIZANDO LAS CARTAS DECONTROL

CARTAS DE CONTROL

El objetivo bsico de una Carta de Control esobservar y analizar con los datos estadsticos la

variabilidad y el comportamiento de un proceso atravs del tiempo.

Las Cartas de Control permiten distinguir entrevariaciones por causas comunes y especiales, loque ayudara a caracterizar el funcionamiento delproceso y as decidir las mejores acciones decontrol y de mejora.

ELEMENTOS DE UNA CARTA DE CONTROL

Limite de Control Inferior

Tiempo

Limite de Control Superior

Lnea Central

VariacindeW

LIMITES DE CONTROL

Lo primero que debe quedar claro respecto a loslimites de una carta de control es que estos no sonlas especificaciones, tolerancias o deseos para el

proceso.Los limites se calculan a partir de la variacin de

los datos de la carta de control.

LCI =

Lnea Central =

LCS =

3s

+ 3s

Los limites de la carta de control estn dados por:


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LIMITES DE CONTROL

Para el calculo de los limites de control, sedebe proceder de forma que bajo

condiciones de control estadstico, los datosque se grafican en la carta tengan altaprobabilidad de caer dentro de taleslimites(99.73%).

Las cartas de control con las que setrabajaran son las conocidas como lascartas de control tipo Shewart.

TIPOS DE CARTAS DE CONTROL

Cartas de control para Variables:

Cartas de control para Atributos:

Diagramas que se aplican avariables o caractersticasde calidad de tipo continuo(pesos, voltajes, volmenes,longitudes, humedad, etc.)

Diagramas que se aplican alcontrol de caractersticas decalidad del tipo paso, no pasao donde se cuenta el numerode no conformidades que tienenlos productos analizados.

X(de promedios)

R(de rangos)

S (de desviacin estndar)

X (de medidas individuales)

p (proporcin de artculos defectuosos)

np(N de unidades defectuosas)

c(N de defectos)

u(N de defectos por unidad)

CARTAS DE CONTROL PARAVARIABLES

CARTA DE CONTROL X - R

Es un diagrama para variables que se aplican a procesomasivos, en donde en forma peridica se obtiene unamuestra o subgrupos de productos, se miden y se calculala media X, y el rango R para registrarlo en la

correspondiente carta.El campo ideal para la aplicacin de las cartas X-R escuando nos encontramos frente a un proceso de tipocontinuo.

X1R1 X2

R2 X3R3

SUBGRUPOS


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LIMITES DE CONTROL DE LA CARTA X

La carta X detecta cambios significativos en la media delproceso. Cuando la campana se desplaza, la carta lo detectamediante un punto fuera de sus limites.

PROCESO ESTABLE PROCESO INESTABLE CONTENDENCIA CENTRAL


Los limites de control de estas cartas estndeterminadas por la media y la desviacin estndar.

Donde:x :Media de las mediass x :desviacin estndar de las medias

x 3sx

x= x sx = s

n

Donde:X :Media de las mediass :desviacin estndar del proceson :tamao del subgrupo.


Como por lo general en un estudio inicial no se conoce s, estapuede estimarse de la siguiente manera:

s =R

d2

A2 =3

d2

nx = s

n

s=

R

d2

n3 3

d2 nR

= = A2 R

Con estas relaciones, los limites de c ontrolpara la carta X en un estudio inicial esta

dado por

LCI =

Lnea Central =

LCS =

X A2R

X

X + A2R

Cuando por algn medio ya se conocen

ys

, entonces los limites de control son

LCI =

Lnea Central =

LCS =

- 3s

n

+ 3s

n

LIMITES DE CONTROL CARTA R

La carta R detecta cambios significativos en la amplitud de ladispersin. Por ejemplo si la variabilidad aumenta (campanamas amplia), la carta R lo detecta mediante un o mas puntosfuera de su LCS.

PROCESO ESTABLE PROCESO INESTABLE ENAMPLITUD DE VARIACION


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LIMITES DE CONTROL CARTA R

Los limites de estas cartas se determinan a partir dela media y la desviacin estndar de los rangos de

los subgrupos. Donde:R :Media de los rangossR :Desviacin estndar de los rangos

R 3sR

Como en el caso de las cartas X, para un estudio inicial, los limites de lacarta R estn dados por:

Lnea Central =

LCS = D4R

R

LCI = D3R

CARTA DE CONTROL X - S

Cuando una carta X-Rquiere tener mayor potencia paradetectar cambios pequeos en el proceso, se incrementa eltamao de subgrupo n. Pero si n >10, la carta de rangos,ya no es eficiente, para esto se recomienda utilizar la cartaX-S.

La carta de control X-Sse aplica a procesos masivos, enlos que se quiere tener una mayor potencia para detectarcambios pequeos. Generalmente cuando el tamao desubgrupos es de n >10.

LIMITES DE CONTROL CARTA S

Los limites de esta carta se determina a partir de lamedia y las desviacin estndar de S.

Donde:s :Media de S

s

s :Desviacin estndar de Ss 3ss

Lnea Central =

LCS =

LCI =

S +3 1 c4Sc4

S

Sc4

S - 3 1 c4

Cuando la carta X esta acompaada de la carta S, esta se calcula de la siguiente manera:

LCI =

Lnea Central =

LCS =

X

X + 3 Sc4 n

X - 3 Sc4 n

CARTAS INDIVIDUALES

Las cartas individuales son diagramas para variables detipo continuos que se aplica a procesos lentos y/o dondehay un espacio largo de tiempo entre una medicin y lasiguiente.

Los limites de control de una carta individual estn dadospor:

sx=

R

d2

x 3sx

x=XLC = R

1.128X 3


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CARTAS DE PRECONTROL

Son diagramas variables con doble especificacin endonde se grafican las mediciones individuales, utiliza lasespecificaciones como limites de control, y se aplica a

ciertos procesos y bajo circunstancias especificas.El precontrol es un semforo contra el cual se comparan,

en cada tiempo de inspeccin, los valores medidos en dosartculos consecutivos de la produccin.

Las zonas de operacin del semforo estn divididas en lassiguientes zonas.Zona verde = 0.8664Zona Amarilla = 0.1308Zona Roja = 0.0027

Para el precontrol se considera en cada tiempo deinspeccin una muestra de n = 2 artculos.

ROJO0.135%

AMARILLO6.54

VERDE86.64%AMARILLO

6.54%

ROJO0.135%

CARTAS DE PRECONTROL

El proceso solo califica cuando seobservan al menos 5 unidadesconsecutivas de la produccin en

zona verde.

LPCSLPCI

CONDICIN ACCINCORRECTIVA

1. DosUnidades en Zonaverde Continuar

2. Una enzona verdey una enAmarilla Investigary reiniciar

3. Dosunidades enzona amarilla Investigaryreiniciar

4. Una unidad en zona Roja InvestigaryreiniciarSe recomienda el uso delprecontrol a procesos cuta

capacidades sean de Cpk> 1.15

CONDICIN ACCINCORRECTIVA

1. DosUnidades en Zonaverde Continuar

2. Una enzona verdey una enAmarilla Continuar

3. Dosunidades enzona amarilla Parare investigar

4. Una unidad en zona Roja Parare invest igar

Una vez calificado el proceso,se procede con la siguientetabla:

METODOS Y FILOSOFIA DEL

CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS

INTRODUCCION AL CONTROL DEPROCESOS

PROCESOENTRADAS SALIDA

....FACTORES

INCONTROLABLES

FACTORESCONTROLABLES

z1 z2 z3 zn

x1 x2 x3 xn....

MODELO DE UN PROCESO


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Que es unProceso?

P R O V E E D O R E S

E N T R A D A S

P R O C E S O S

S A LID A S

C LIE N T E S

COMPONENTES DEUN PROCESO

Inspeccin Usuario

Producto Defectuoso

Desechos

ReprocesosAviso para actuar sobre el

proceso

Materias Primas

Inspeccin UsuarioMaterias

Primas

Producto Defectuoso

Desechos

Reprocesos

Ajustes constantes basados en muestreo selecti vo delproducto y del proceso.

ConcepcinTradicional

Concepcin CEP

EN TR A D ASP R OC ES OS

S ALID AS

AC TU A R Y

C OR R EG IR

OB SER VA R O

M ED IR

AN AL IZ AR Y

D EC ID IR

EVA LU AR Y

C O M P AR AR

PREVENCION Y DETECCIONCONTROL DE PROCESOS ( PREVENCION)

Asegura las caractersticas de los productos mediante elcontrol de las variables vitales del proceso productivo

PROCESOSSALIDAS

OBSERVAR Y

MEDIR

ACTUAR Y

CORREGIR

EVALUAR Y

COMPARAR

ANALIZAR Y

DECIDIR

SELECCION

BUENO

MALO

CONTROL DE PRODUCTO ( DETECCION)


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OBJETIVOS DEL CONTROL DEPROCESOS

Establecer tolerancias.

Determinar la capacidad del proceso. Mantener las caractersticas dentro de su tolerancia.

Vigilar y controlar la variacin.

CLASES

En la pieza misma

De una pieza a otra

De instante de tiempo aotro

CLASES

El equipo

Elmaterial

El entorno

Eloperario

Variacin a lo largo deltiempo

VARIACION

Variabilidad Causas

Aleatoria

No asignables

Comunes

No aleatoria o sistemticaAsignables

Especiales

CAUSAS DE LA VARIACION DE LA CALIDADCAUSAS FORTUITAS Y CAUSAS

ATRIBUIBLES

Variabilidad natural o ruido de fondo

Causas Naturales Otras causas de variabilidad

Causas Atribuibles


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Estado umbral Estado ideal

El proceso es predecible El proceso es predecible

Algunos productos no conformes 100% productos conformes

Estado de caos Estado al borde del caos

El proceso no es predecible El proceso no es predecible

Algunos productos no conformes 100% productos conformes

SE PRODUCEN ALGUNOS SE PRODUCEN 100%

PRODUCTOS NO CONFORMES PRODUCTOS CONFORMES

CUATRO POSIBILIDADES PARA UNPROCESO

MEJORADELPROCESO

ENTROPIA

MEJORAMIENTO DEL PROCESO UTILIZANDOCARTA DE CONTROL

PROCESO

ENTRADA SALIDA

Sistema de MedicinDetectar lacausa asignable

Identificar la causa deorigen del problema.

Implementar unaaccin correctiva.

Verificar y hacerseguimiento.

LMITES DE ESPECIFICACIN YLMITES DE CONTROL

Lmites de especificacin son los que permiten distinguirentre un producto bueno y uno malo. Condicionan la

satisfaccin del cliente.

Lmites de control son los que ponen en evidencia lascausas asignables y de variacin no aleatoria en losprocesos. Determinan la satisfaccin del proceso.

PROCESOS FUERA DE CONTROL


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GRFICAS DE CONTROL PORATRIBUTOS

Defecto: una caracterstica del producto que no cumple

con los requisitos d e la especificacin aplicable.

Unidad defectuosa: una unidad de producto quecontiene uno o ms defectos.

DEFECTO Y NO CONFORMIDAD

DEFECTO

Incumplimientode un requisitopara un usoprevisto NO

CONFORMIDAD

Incumplimientode un requisitoespecificado

si sisino no

Pregunta: La muestra tiene algn defecto?


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Pregunta: Cuntos defectos tiene la muestra ?

1 320 0

SELECCIN DEL TIPO DE GRFICO

(1 )min 3 , 1

P

i

p pLSC p

n

- +

pLCP

(1 )max 3 , 0

P

i

p pLIC p

n

- -

LMITES DE CONTROL DEL GRAFICO P

Decida el objetivo de la GC. Determine el tamao de la muestra y el intervalo de muestreo. Obtener los datos y registrarlos en forma adecuada.

Calcular la lnea central y los lmites de control Calcule los lmites de control revisados Implemente las grficas de control

GRFICA P

Un departamento de la Segur idad Social se encarga desupervisar que las recetas que confeccionan losfacultativos estn bien cumplimentadas. El

departamento recibe las recetas ordenadas por fecha deexpedicin en lotes de 50 y desea estab lecer un cr iter ioque le per mita detectar c undo resulta adecuadoinvestigar las posibles causas que producen recetas malcumplimentadas . Para ello, selecciona 20 lot es ycontabiliza el nmero de recetas defectuosas,considerando como tales aquel las que tengan algncampo incompleto. Los resultados fueron los siguientes


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Lote Defectuosas Lote Defectuosas

1 7 11 5

2 4 12 5

3 5 13 54 2 14 4

5 6 15 7

6 7 16 7

7 5 17 8

8 4 18 4

9 6 19 7

10 3 20 4

Realizar un grfico de control para la proporcin de recetas defectuosas

GRFICA P

proporcin de

piezas defectuosas

Sample

Proportion

191715131197531

0.25

0.20

0.15

0.10

0.05

0.00

_P=0.105

UCL=0.2351

LCL=0

P Chart of Defectuosas

Dentro de un proceso de moldeo de PVC las piezas elaboradaspueden presentar o no defectos superficiales. Cada da se toman 100piezas al azar de la lnea de produccin y se cuenta el nmero depiezas defectuosas.

Da No

Conformes

Fraccin

no

conformes

Da No

Conformes

Fraccin

no

conformes

1 9 16 92 16 17 5

3 5 18 6

4 6 19 4

5 7 20 11

6 9 21 3

7 3 22 1

8 9 23 3

9 10 24 0

10 4 25 4

11 7 26 6

12 10 27 1

13 6 28 6

14 6 29 5

15 7 30 4

GRAFICO DE CONTROL nP

3 (1 )np

LSC n p n p p + -

pnLCnp

3 (1 )npLIC n p n p p - -


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ccLSCc 3+

cLCc

ccLICc 3-

GRAFICO DE CONTROL ( C ) GRFICA C

Supongamos que el departamento desea establecer un criter io similaren base a l nmero de campos defec tuosos en las recetas . Para el lo ,cuenta el nmero de defectos en 12 lotes, obteniendo los siguientesresultados

Lote N de defectos1 20

2 28

3 22

4 23

5 22

6 15

7 43

8 19

9 16

10 28

11 24

12 25

GRFICA C

# de defectos encada lote

Sample

SampleCount

121110987654321

45

40

35

30

25

20

15

10

_C=23.75

UCL=38.37

LCL=9.13

1

C Chart of defectos

GRAFICO DE ( U )

i

U

n

uuLSC 3+

uLCU

i

Un

uuLIC 3-


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EJEMPLO

Supongamos ahora que los lotes de recetas contienen un nmero variablede stas y que los defectos observados en ellas fueron los siguientes:

Lote 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Nde recetas 45 46 54 53 34 52 55 43 45 56 55 50

Nde defectos 20 28 22 23 22 15 43 19 16 28 24 25

GRFICA U

Ejemplo: E l geren te de una empresa productora de gab ine tes parac om put ad or as s ol ic it a a s u o fi ci na d e Co nt ro l d e Cal id ad q ue s eanal ice e l nmero total de defec tos que se han encont rado en cadauno de los gabinetes inspeccionados.

Muestra Tamao N de defectos Muestra Tamao N de defectos

1 6 3 14 5 8

2 5 2 15 7 0

3 4 0 16 4 2

4 8 1 17 6 4

5 7 4 18 3 3

6 4 3 19 6 5

7 3 2 20 6 0

8 5 4 21 7 2

9 7 1 22 4 1

10 6 0 23 5 9

11 4 2 24 5 3

12 6 3 25 5 2

13 3 2

En b ase a esta informaci n, se d esea d etermi nar si l os datoscorresponden a un proceso controlado.

GRFICA U

# de defectos por

unidad en cada lote Sample

SampleCountPerUnit

252321191715131197531

2.0

1.5

1.0

0.5

0.0

_U=0.504

UCL=1.456

LCL=0

1

1

U Chart of defec

Tests performed with unequal sample sizes

ANLISIS DE LA CAPACIDAD DEL PROCESO

Es la aptitud del proceso para producir

productos dentro de los limites de lasespecificaciones de calidad.

ANALISIS DE LACAPACIDAD DE

PROCESO

Distribucin de frecuencia eHistograma

Graficas de Control


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ANALISIS DE CAPACIDAD DEL PROCESOUTILIZANDO HISTOGRAMA

PASOS:

Escoger la maquina omquinas

Seleccionar las condicionesde operacin

Seleccionar un operador

Monitoreo

ESTIMACIN DE LA CAPACIDAD DEL PROCESO

3x S

ANALISIS DE CAPACIDAD DEL PROCESOUTILIZANDO GRAFICO DE PROBABILIDAD NORMAL

50 P

84 50 P P -

Estimacin de la media del proceso

Estimacin de la variabilidad del proceso

METODOS EN ANALISIS DE CAPACIDAD

HISTOGRAMAS

Mnimo 50 a 100 observaciones

Proceso: comprobacin grfica de comportamiento

normal

DIAGRAMAS DE CONTROL

Requisito: proceso bajo control

Analiza la capacidad potencial

Anl is is de la Capac idad del Proceso

42

c

SSGrafico

d

RRGrafico

Estimacin de la variabilidad del proceso

Distribucin Normal

General S Desviacin estndar de todos los datos

Es muy buena si el proceso esta bajocontrol (incluye la variacin entre muestras)

Estimacin de la media del proceso

x


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Anlisis de la Capacidad del Proceso

WW 3

3

Amplitud delintervalo

Limites naturalesdel proceso

Extremos del intervaloen el que toma valores X

Lmites e controlExtremos del intervalo enel que toma valores elestadstico W

Lmite deespecificacin

6

LIE-LSELmites determinadosexternamente, sin tener encuenta la variabilidad delproceso

Cp: ndice de Capacidad Potencial del Proceso.

Mide qu tan potencialmente capaz es el proceso paracumplir las especificaciones.

Capacidad de Proceso

LSE - LIE

6 * s(x)Cp =

^

Valor ms grande del Cp, ES MEJOR.

^ La extensin real del proceso (6s) debe ser menor paradecir que el proceso es potencialmente capaz.

s(x) = desviacin terica de la poblacin^

LSE = Lmite super ior de especificacinLIE = Lmite inferior de especificacin

Donde:

3s 3s

LSELIE

x


LSELIE

3s 3s

x

LSELIE

3s 3s

x LSELIE

3s 3s

x

Estimacin de la proporcin de no conformidades


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El ndice Cpk pueden interpretarse como la capacidad delproceso hasta el lmite de especificacin ms prximo ala media.

LSELIE

3s

3s

x

x - LIE LSE - x

Cp

Especificaciones

unilaterales bilaterales

0.25 226628 453255

0.50 66807 133614

0.60 35931 718610.70 17865 35729

0.80 8198 16395

0.90 3467 6934

1.00 1350 2700

1.10 484 967

1.20 159 318

1.30 48 96

1.40 14 27

1.50 4 7

1.60 1 2

1.70 0.17 0.34

1.80 0.03 0.06

2.00 0.0009 0.0018

PORCIONCAIDA DELPROCESO

INDICE DE CAPACIDAD DEL PROCESO PARA UNPROCESO FUERA DEL CENTRO

min ,3 3

pk

LSE LIEC

- -

NOTA:

Laigualdadsecumplesi y solosi e lproceso est centrado.

Entremayor es la diferencia,mayor esel descentramiento

Cpk: ndice de Capacidad Real del Proceso.Mide qu tanto el proceso cumple las especificaciones.

Considera la posicin del proceso con respecto a lasespecificaciones

Valor ms grande del Cpk, ES MEJOR.

Situacin ideal. Cuando las fluctuaciones pueden

ser suficientemente controladasde manera que la caractersticaquede centrada con respecto alas especificaciones.

Sistema que asume un universoesttico (causas fundamentalesestables)

Sistema que considera que nadapuede ser controlado porsiempre en una situacin ideal.

Se ha tomado por convenio elvalor de 1.5 de descentramientocon respecto a la especificacin

0 2s1s 3s 4s 6s5s-5s-6s -4s-3s -1s-2s

LIE LSE

0 2s1s 3s 4s 6s5s-5s-6s -4s-3s -1s-2s

LIE LSE

6s

4.5s

1.5s

3.4Dpmo

0.001Dpmo

0.001Dpmo

SIN CAMBIO

CON CAMBIO



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Relacin entre nivel sigma, Cp y Cpk

NIVEL Cp

1s 0.33

2s 0.67

3s 1.00

4s 1.33

5s 1.67

6s 2.00

Cpk

-0.17

0.17

0.50

0.83

1.17

1.50


6s

4s

Cp = 1.33Cpk = 1.33 Cp = 2.0

Cpk = 2.0

LSELIE

1.5s

1.5s

LSELIE

0.006% (porambos lados) o60 Dpmo

0.62% o6210 Dpmo

0.002 Dpmo(por amboslados)

3.4 Dpmo

Cp = 1.33Cpk = 0.83 Cp = 2.0

Cpk = 1.5

PROCESOMAS

ROBUSTO

PROCESO CUATRO SIGMA PROCESO SEIS SIGMA


38 62

s=2

5044 56

LIE LSECp = 2Cpk = 2

Cp = 2Cpk = 1.5

Cp = 2Cpk = 1

Cp = 2Cpk = 0

Cp = 2Cpk = -0.5

53

56

62

65

Cr: ndice de capacidad recproco

Es el porcentaje del intervalo de especific acinutilizado por el proces o, en otras palabras, es elporcentaje de las especi ficaciones que es usado por lavariacin del proceso.

Si el Cp=1.5 ent onces Cr =66.67% l ueg o el p ro cesoutiliza el 66.67% del ancho de las especificaciones.Ntese que el Cr no considera procesos centrados.

Cr=(1/Cp)x100


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Cpm : Indice de capacidadmodificado

Similar al Cp, excepto que el sigma es calculado

usando el valor nominal (Target) en lugar de la media.Nos indica que tan bueno es el sistema para producirdentro de especificaciones.

Cuanto mayor sea el Cpm tenemos mayor posibilidadde que el sistema pudiera producir productos entre lasespecificaciones y el valor nominal

ANLISIS DE CAPACIDAD DEL PROCESO:ATRIBUTOS

El grfico est bajo control estadstico

Proporcin de Disconformes:

No hay u n v al or es tabl ec id o, per o s e r ec om iend a c om oaceptable un 98 99% p ara imperfecciones no muyimportante y 99.9% para importantes

N de Disconformidades:

No hay valor estable

P-1

u

Capacidad del Proceso:Proporcin de elementos Conformes

Capacidad d el Proceso:Razn de Ocurrencias deDisconformidades por unidad

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4.- Cuarta Semana Graficas de Control Por Variables-Atributos