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データ
サンプルご提供:九州大学先導物質化学研究所 藤田克彦先生[Ref.]安部寛子他, 第70回応用物理学会学術講演会(2009年秋季 9p-ZE-5)
S* *
MeO
OC60
活性層(P3HT:PCBM)
p型n型
PEDOT:PSSITO電極
Al電極
太陽光
A
バルクへテロ接合部
50nm 50nm 50nm
■有機薄膜太陽電池の例(模式図)と材料
P3HT (p型半導体材料)ポリ-3-ヘキシルチオフェン
PCBM (n型半導体材料)フェニル-C61-酪酸メチルエステル
活性層(P3HT:PCBM)
ITO
C蒸着層S core loss 像 C core loss 像
写真1 低加速STEM像 写真2 STEM-EELS Sの分布像 写真3 STEM-EELS Cの分布像
■活性層のSTEM観察とEELS面分析
概要
低加速STEM観察とSTEM-EELS面分析により、バルクへテロ接合型太陽電池の活性層の混合状態の評価を行いました。評価にはITO上に活性層のみを成膜した試料を用いました。低加速STEM像(写真1)のコントラストはSTEM-EELS像のS, Cの元素分布(写真2, 3)と対応しており、バルクヘテロ構造を反映していることが確認できました。また、Sの分布に偏りが認められ、表面側にP3HTが偏析していることも示唆されました。
分析事例C0164 2009/10/14 2014/03/21
低加速STEM観察とEELS測定による有機材料の分布状態評価
測定法 :SEM・TEM・EELS製品分野 :太陽電池分析目的 :組成分布評価・形状評価
TEL : 03-3749-2525 E-mail : info@mst.or.jpURL : http://www.mst.or.jp/
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有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価
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