SETS, March 2006Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Test hochintegrierter Schaltungen

Test hochintegrierter Schaltungen

Übung 7

Test hochintegrierter Schaltungen 2

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (PPSFP)

1 0 1

0 1 1

0 1 1

0 0 1

1 0 0

1 0 1

Gutsimulation

Test hochintegrierter Schaltungen 3

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (PPSFP)

1 0 1

0 1 1

0 0 0

0 0 0

1 0 0

1 0 0

Fehlersimulation

1 0 1

Muster 1 erkennt beta →Fault-Dropping, wenn weitere Muster existieren

Test hochintegrierter Schaltungen 4

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (PPSFP)

1 0 1

0 1 1

0 0 1

0 0 1

1 1 1

1 1 1

Fehlersimulation

1 0 1

Muster 2 erkennt alpha →Fault-Dropping, wenn weitere Muster existieren

Test hochintegrierter Schaltungen 5

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Parallel Fault)

1 1 1

0 0 0

0 0 0

0 0 0

1 1 1

1 1 1

Kein Fehler erkannt

Test hochintegrierter Schaltungen 6

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Parallel Fault)

0 0 0

1 1 1

1 0 1

0 0 0

0 0 1

0 0 1

alpha erkannt

Fault-Dropping ist erst möglich, wenn alle Fehler des Pakets erkannt wurden

Test hochintegrierter Schaltungen 7

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Parallel Fault)

1 1 1

1 1 1

1 0 1

1 0 1

0 0 1

1 0 1

beta erkannt

Test hochintegrierter Schaltungen 8

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Deductiv)

{a/0}1

0{b/1} {b/1,d/1}

{b/1,e/1}

{b/1,e/1,g/1}

{b/1,d/1,f/0}

0

1

1

{d/1,e/1,f/0,g/1,h/0}

Test hochintegrierter Schaltungen 9

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Deductiv)

{a/1}0

1{b/0} {b/0,d/0}

{b/0,e/0}

{a/1,g/1}

{b/0,d/0,f/1}

0

0

0

{a/1,g/1,b/0,d/0,f/1,h/1}

Test hochintegrierter Schaltungen 10

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Deductiv)

{a/0}1

1{b/0} {b/0,d/0}

{b/0,e/0}

{a/0,b/0,e/0,g/0}

{b/0,d/0,f/1}

1

0

1

{a/0,e/0,g/0,h/0}

Test hochintegrierter Schaltungen 11

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Cuncurrent)

u

u

u

u

u

a

b d

e g

f

h

0u

0

a/0u1

u

b/1u1

u

e/1uu

1

g/1

10

b/110

d/1u0

f/0

u

u1

g/1u

u0

g/0

01

b/001

d/0u1

f/1

1u

u

a/1u0

u

b/0u0

0

e/0uu

0

g/0Lokale Fehlerlisten

Test hochintegrierter Schaltungen 12

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Cuncurrent)

1

0

0

1

1

a

b d

e g

f

h

00

0

a/011

1

b/111

1

e/110

1

g/1

10

b/110

d/100

f/0

1

11

h/11

10

h/0

01

b/001

d/001

f/1

10

0

a/110

0

b/010

0

e/010

0

g/0Events an den Eingaben

Test hochintegrierter Schaltungen 13

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Cuncurrent)

1

0

0

1

1

a

b d

e g

f

h

11

1

b/111

1

e/110

1

g/1

10

b/110

d/100

f/0

0

10

h/0

Converge

Test hochintegrierter Schaltungen 14

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Cuncurrent)

1

0

0

1

1

a

b d

e g

f

h

11

1

b/111

1

e/110

1

g/1

10

b/110

d/100

f/0

0

10

h/0

Diverge

1

01

b/11

11

e/1

0

00

d/10

00

f/01

11

g/1

Test hochintegrierter Schaltungen 15

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Cuncurrent)

1

0

0

1

1

a

b d

e g

f

h

11

1

b/111

1

e/110

1

g/1

10

b/110

d/100

f/0

Converge

0

00

d/10

00

f/0 Erkannte Fehler

0

10

h/0

Test hochintegrierter Schaltungen 16

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Cuncurrent)

0

1

0

0

1

a

b d

e g

f

0

11

100

000

001

1

01 01 11

a/1 b/0 e/0 g/1

b/0 d/0 f/1

0

11

b/01

01

a/11

01

g/1

0

11

d/00

11

f/10

01

h/1

Test hochintegrierter Schaltungen 17

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Cuncurrent)

1

1

1

0

1

a

b d

e g

f

h

01

010

010

011

0

01 01 11

a/0 b/0 e/0 g/0

b/0 d/0 f/1

0

00

e/00

00

g/01

00

h/00

00

a/0

Test hochintegrierter Schaltungen 18

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Differential)

u

u

u

u

u

u u

Test hochintegrierter Schaltungen 19

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Differential)

1

1

1

1

1

0 u

Events an den Eingaben

Zustand G0:0 Ausgabe G0:1

Test hochintegrierter Schaltungen 20

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Differential)

1

1

0

0

1

0 u

Zustand G0:0 Ausgabe G0:1

Event durch FehlerinjektionFehler erkannt

Fault-Dropping möglich

Kein Unterschied

Test hochintegrierter Schaltungen 21

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Differential)

1

1

1

1

1

1 u

Event durch Fehlerinjektion und Entfernung

Zustand G0:0 Ausgabe G0:1

Zustand Diff. Alpha0-Beta0: 1

Fehler nicht erkannt

Test hochintegrierter Schaltungen 22

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Differential)

0

1

0

0

1

0 0

Event durch Fehlerentfernung und Eingaben

Zustand G0:0 Ausgabe G0:1

Zustand Diff. Alpha0-Beta0: 1

Zustand G1:0 Ausgabe G0:0

Restore G0

Test hochintegrierter Schaltungen 23

Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik

Aufgabe 14 (Differential)

0

1

0

1

1

1 1

Event durch Fehlerinjektion

Zustand G0:0 Ausgabe G0:1

Zustand Diff. Alpha0-Beta0: 1

Zustand G1:0 Ausgabe G0:0

Restore Alpha0

Fehler erkannt