12
Industriarako punta-puntako ezagutza eta instalazioak CIC energiGUNEren Zerbitzuak

Industriarako punta-puntako ezagutza eta instalazioakcicenergigune.com/uploads/publicaciones/documentos/CIC_eusk.pdf · Zenbait teknika eta ekipamendu erabiliz, material baten ezaugarri

  • Upload
    others

  • View
    12

  • Download
    0

Embed Size (px)

Citation preview

Page 1: Industriarako punta-puntako ezagutza eta instalazioakcicenergigune.com/uploads/publicaciones/documentos/CIC_eusk.pdf · Zenbait teknika eta ekipamendu erabiliz, material baten ezaugarri

Industriarako punta-puntako ezagutza eta instalazioakCIC energiGUNEren Zerbitzuak

Page 2: Industriarako punta-puntako ezagutza eta instalazioakcicenergigune.com/uploads/publicaciones/documentos/CIC_eusk.pdf · Zenbait teknika eta ekipamendu erabiliz, material baten ezaugarri

Energia metatzeko erabiltzen diren

materialen eta sistemen inguruan

ikertzen aritzen den nazioarteko

zentroa da CIC energiGUNE.

Erakunde publikoen eta energia

sektoreko enpresen babesa du, eta

enpresa horien behar industrialak

betetzea du helburua.

Page 3: Industriarako punta-puntako ezagutza eta instalazioakcicenergigune.com/uploads/publicaciones/documentos/CIC_eusk.pdf · Zenbait teknika eta ekipamendu erabiliz, material baten ezaugarri

3

“Empresei etengabeko hobekuntzan lan egin dezaten lagundu nahi diegu ” Nuria Gisbert - Zuzendaria

GURE BEREIZGARRIAK

• Ezagutza disruptiboaren sorkuntza.

• Euskal industriarentzako bazkide gakoa.

• Hemengo talentua nazioarteko maila goreneko zientzialariekin konbinatzen duen ikerketa-taldea.

• Maila goreneko instalazioa eta ekipamenduak.

Page 4: Industriarako punta-puntako ezagutza eta instalazioakcicenergigune.com/uploads/publicaciones/documentos/CIC_eusk.pdf · Zenbait teknika eta ekipamendu erabiliz, material baten ezaugarri

NOLA...

Lagundu dezakegu industriako arazo handienak konpontzen?Berrikuntza- eta kooperazio-espiritua motor duela, CIC energiGUNE erreferentzia da nazioarteko ikerketan energia metatzeko teknologien arloan.

Izan ere, CIC energiGUNEren misioa da zientzia arloko aitzindari izatea mundu mailan, metaketa-aplikazioetara bideratutako energiari lotutako materialak eta sistemak ikertzen, eta, aldi berean, erreferentzia izaten jarraitzea Euskadiko industriara teknologia eta ezagutza disruptiboa ekartzen.

Produktuetarako hobekuntzak lortzeko helburuarekin industrian behin eta berriro gertatzen diren benetako arazoei erantzutea izan dugukontuan katalogo hau egiteko.

Lankidetza irekirako prest agertzen da une oro, CICeko lantaldeak bezero bakoitzaren berariazko beharretara egokitu baitezake bere lana: soluzio horiek izan daitezke, besteak beste, berehala erabiltzeko soluzioak, emaitzak aztertzea eta haien inguruan aholkatzea barne; teknika bakoitzeko trebakuntza; edo, besterik gabe, ekipamendua erabiltzea (plataforma bakarrik).

01 Mikroskopia elektronikoa

02 Gainazal-analisia

03 Egoera solidoaren erresonantzia

magnetiko nuklearra

04 X izpien bidezko difrakzioa

05 Analisi termikoa

06 Karakterizatze orokorra

Konposizio analisia

Analisi estrukturalaeta morfologikoa

6 PLATAFORMA INDUSTRIAKO ARAZO HANDIENAK KONPONTZEN LAGUNTZEKO

Degradazioaakats-mekanismoatenperaturaren eraginak

Page 5: Industriarako punta-puntako ezagutza eta instalazioakcicenergigune.com/uploads/publicaciones/documentos/CIC_eusk.pdf · Zenbait teknika eta ekipamendu erabiliz, material baten ezaugarri

5

02

01

03

04

05

06

Page 6: Industriarako punta-puntako ezagutza eta instalazioakcicenergigune.com/uploads/publicaciones/documentos/CIC_eusk.pdf · Zenbait teknika eta ekipamendu erabiliz, material baten ezaugarri

TEM: Transmission electron microscopy (transmisiozko mikroskopia elektronikoa) edx-TEM: Energy-dispersive X-ray spectroscopy coupled to a Transmission electron microscopy (energia dispertsibo bidezko X izpien espektroskopia, transmisiozko mikroskopia elektroniko bati lotua) SEM: Scanning electron microscopy (ekortze-mikroskopia elektronikoa) edx-SEM: Energy-dispersive X-ray spectroscopy coupled to a Scanning electron microscopy (energia dispertsibo bidezko X izpien espektroskopia, ekortze-mikroskopia elektroniko bati lotua) XPS: X-ray photoemission spectroscopy (X izpien bidezko fotoemisio-espektroskopia) UPS: Ultraviolet photoemission spectroscopy (izpi ultramore bidezko fotoemisio-espektroskopia) SAM: Scanning Auger microscopy (Auger ekortze-mikroskopia) FTIR: Fourier transform infra-Red spectroscopy (Fourier-en transformatu bidezko espektroskopia infragorria) RS: Raman spectroscopy (Raman espektroskopia) UV-Vis: Ultraviolet-visible spectroscopy (espektroskopia ikusgaia eta ultramorea) ssNMR: Solid-state Nuclear Magnetic Resonance (egoera solidoaren erresonantzia magnetiko nuklearra) pNMR: Paramagnetic solid-state Nuclear Magnetic Resonance (egoera solidoaren erresonantzia magnetiko nuklear paramagnetikoa) NMR: Nuclear Magnetic Resonance (erresonantzia magnetiko nuklearra) PXRD: Powder X-ray diff raction (X izpien bidezko hauts-difrakzioa) GI-PXRD: Grazing incidence powder X-ray diff raction (lur-arraseko intzidentzia duen X izpien bidezko hauts-difrakzioa) ATG-MS: Thermogravimetric Analyzer coupled with a Mass Spectrometry (analizatzaile termograbimetrikoa, masa-espektrometriari lotua) DSC: Diff erential Scanning Calorimetry (ekortze-kalorimetria diferentziala) EA: Elemental Analyzer (oinarrizko analizatzailea) ICP: Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (indukzioz lotutako plasma duen masa-espektrometria) GC-MS: Gas chromatography coupled to a Mass spectrometry (gas-kromatografi a, masa-espektrometria bati lotua)

Page 7: Industriarako punta-puntako ezagutza eta instalazioakcicenergigune.com/uploads/publicaciones/documentos/CIC_eusk.pdf · Zenbait teknika eta ekipamendu erabiliz, material baten ezaugarri

7

Mikroskopia elektronikoa (EM)

Gainazalak analizatzeko unitatea (SAU)

Erresonantzia magnetiko nuklearra (NMR)

X izpien bidezko difrakzioa (XRD)

Karakterizatze orokorreko zerbitzua (GCS)

TEM XPS ssNMR PXRD ATG-MS

edx-TEM UPS pNMR GI-PXRD DSC

SEM SAM NMR EA

edx-SEM FTIR ICP

RS FTIR

UV-Vis UV-Vis

GC-MS

“Nola” Ekipamendua eta teknikak:

KONPOSIZIO-ANALISIA

“Zer egin dezakegu” Zerbitzuak:- Konposizio kimikoaren analisia (globala, laginketa, sakonean profilatzea)- Bigarren mailako faseak, gehigarriak, dopatzaileak eta ezpurutasunak identifi katzea eta kuantifi katzea- Egoera heterogeneoan dauden materialak analiza ditzakegu: hautsa, koloideak, gelak, polimeroak, mikrokristalinoa, amorfoa, mintzak/ estaldurak, materia biguna, likidoak, organikoa eta inorganikoa

- Elikadura eta nekazaritza- Aeroespazioa- Automozioa- Biologia- Zeramika- Kimika- Petrokimika- Energia-metaketa- Meatzaritza eta metalurgia

- Eguzki-energia eta energia fotovoltaikoa- Pintura eta pigmentuak- Estaldurak eta itsasgarriak- Farmazia- Polimeroak eta konpositeak- Papera- Erdieroaleak eta mikroelektronika

- Berehala erabiltzeko soluzioak- Aholkularitza - Teknika jakin batzuetako trebakuntza- Plataforma bakarrik

“Zer eskaintzen dugu” Soluzioak:

“Norentzat” Industriak:

Konposizioa analizatzeko metodoak, besteak beste, material ezezagunen konposizioa identifi katzeko, konposizioko elementu susmagarri bat atzemateko eta materialak alderatzeko erabiltzen dira —eta oso erabilgarriak dira—.

Page 8: Industriarako punta-puntako ezagutza eta instalazioakcicenergigune.com/uploads/publicaciones/documentos/CIC_eusk.pdf · Zenbait teknika eta ekipamendu erabiliz, material baten ezaugarri

TEM: Transmission electron microscopy (transmisiozko mikroskopia elektronikoa) edx-TEM: Energy-dispersive X-ray spectroscopy coupled to a Transmission electron microscopy (energia dispertsibo bidezko X izpien espektroskopia, transmisiozko mikroskopia elektroniko bati lotua) SEM: Scanning electron microscopy (ekortze-mikroskopia elektronikoa) e-SEM: Environmental Scanning Electron Microscopy (ingurumena ekortzeko mikroskopia elektronikoa) edx-SEM: Energy-dispersive X-ray spectroscopy coupled to a Scanning electron microscopy (energia dispertsibo bidezko X izpien espektroskopia, ekortze-mikroskopia elektroniko bati lotua) XPS: X-ray photoemission spectroscopy (X izpien bidezko fotoemisio-espektroskopia) UPS: Ultraviolet photoemission spectroscopy (izpi ultramore bidezko fotoemisio-espektroskopia) SAM: Scanning Auger microscopy (Auger ekortze-mikroskopia) FTIR: Fourier transform infra-Red spectroscopy (Fourier-en transformatu bidezko espektroskopia infragorria) RS: Raman spectroscopy (Raman espektroskopia) ssNMR: Solid-state Nuclear Magnetic Resonance (egoera solidoaren erresonantzia magnetiko nuklearra) pNMR: Paramagnetic solid-state Nuclear Magnetic Resonance (egoera solidoaren erresonantzia magnetiko nuklear paramagnetikoa) NMR: Nuclear Magnetic Resonance (erresonantzia magnetiko nuklearra) XRD: X-ray diffraction (X izpien bidezko difrakzioa) STA: Simultaneous Thermal Analysis (aldibereko analisi termikoa) QMS: Quadrupole Mass Spectrometry (masa-espektrometria kuadripolarra) DSC: Differential Scanning Calorimetry (ekortze-kalorimetria diferentziala) LFA: Laser Flash Analysis (laser pultsuaren analisia) DIL: dilatometroa GC-MS: Gas chromatography coupled to a Mass spectrometry (gas-kromatografia, masa-espektrometria bati lotua)

Page 9: Industriarako punta-puntako ezagutza eta instalazioakcicenergigune.com/uploads/publicaciones/documentos/CIC_eusk.pdf · Zenbait teknika eta ekipamendu erabiliz, material baten ezaugarri

9

DEGRADAZIOA / AKATS-MEKANISMOA / TENPERATURAREN ERAGINAK

- Lehergailuak- Konposite-materialak- Metalurgia eta metalografia- Pintura eta pigmentuak

- Energia-metaketa- Materialak eta manufaktura- Farmazia- Ehunak eta zuntzak

Mikroskopia elektronikoa (EM)

Gainazalak analizatzeko

unitatea (SAU)

Erresonantzia magnetiko

nuklearra (NMR)

X izpien bidezko difrakzioa (XRD)

Analisi termikorako

plataforma (TA)

Karakterizatze orokorreko

zerbitzua (GCS)

TEM XPS ssNMR XRD STA GC-MS

edx-TEM UPS pNMR QMS

SEM SAM NMR DSC

e-SEM FTIR LFA

edx-SEM RS DIL

- Berehala erabiltzeko soluzioak- Arazoari buruzko aholkularitza- Teknika jakin batzuetako trebakuntza- Plataforma bakarrik

“Nola” Ekipamendua eta teknikak:

“Zer eskaintzen dugu” Soluzioak:

“Zer egin dezakegu” Zerbitzuak:- Egiturazko eta oinarrizko analisia- Materialaren ezaugarri termikoak analizatzea: berariazko beroa, difusibitatea eta eroankortasun termikoa- Tenperaturari lotutako gertaerak zehaztea, hala nola urtzea, lurruntze-puntuak edo bestelako fase-trantsizioak, entalpiak, masa-aldaketak eta kristalinotasun-maila- Degradazio batean askatutako gasa analizatzea- Degradazio edo akats batean, produktu osagarriak edo kutsatzaileak lagintzea

“Norentzat” Industriak:

Zenbait teknika eta ekipamendu erabiliz, material baten ezaugarri termiko nagusiak zehaztu daitezke, eta akats-mekanismoa edo degradazio-prozesua analiza daiteke.

Page 10: Industriarako punta-puntako ezagutza eta instalazioakcicenergigune.com/uploads/publicaciones/documentos/CIC_eusk.pdf · Zenbait teknika eta ekipamendu erabiliz, material baten ezaugarri

TEM: Transmission electron microscopy (transmisiozko mikroskopia elektronikoa) edx-TEM: Energy-dispersive X-ray spectroscopy coupled to a Transmission electron microscopy (energia dispertsibo bidezko X izpien espektroskopia, transmisiozko mikroskopia elektroniko bati lotua) SEM: Scanning electron microscopy (ekortze-mikroskopia elektronikoa) edx-SEM: Energy-dispersive X-ray spectroscopy coupled to a Scanning electron microscopy (energia dispertsibo bidezko X izpien espektroskopia, ekortze-mikroskopia elektroniko bati lotua) AFM/STM: Atomic force / Scanning transmission microscopy (indar atomikoko / transmisiozko ekortze-mikroskopia) LEED: Low-energy electron diffraction (energia baxuko elektroien difrakzioa) SP: Stylus profiler (arkatz optikoa profilatzeko makina) FTIR: Fourier transform infra-Red spectroscopy (Fourier-en transformatu bidezko espektroskopia infragorria) RS: Raman spectroscopy (Raman espektroskopia) ssNMR: Solid-state Nuclear Magnetic Resonance (egoera solidoaren erresonantzia magnetiko nuklearra) pNMR: Paramagnetic solid-state Nuclear Magnetic Resonance (egoera solidoaren erresonantzia magnetiko nuklear paramagnetikoa) NMR: Nuclear Magnetic Resonance (erresonantzia magnetiko nuklearra) PXRD: Powder X-ray diffraction (X izpien bidezko hauts-difrakzioa) GI-PXRD: Grazing incidence powder X-ray diffraction (lur-arraseko intzidentzia duen X izpien bidezko hauts-difrakzioa) SAXS: X izpien bidezko angelutxikiko scatteringa DSC: Differential Scanning Calorimetry (ekortze-kalorimetria diferentziala) GAP: Gas adsorption porosimeter (N2 and CO2) (gasa adsorbatzeko porosimetroa (N2 eta CO2) MP: Mercury porosimeter (merkurio bidezko porosimetroa) HP: Helium pycnometer (helio bidezko piknometroa)

Page 11: Industriarako punta-puntako ezagutza eta instalazioakcicenergigune.com/uploads/publicaciones/documentos/CIC_eusk.pdf · Zenbait teknika eta ekipamendu erabiliz, material baten ezaugarri

11

ANALISI ESTRUKTURALA ETAMORFOLOGIKOA

“Zer egin dezakegu” Zerbitzuak:- Egitura kristalinoen analisia: egiturak karakterizatzea, kristalinotasun-maila (akatsak, desordena, klasto-tamaina), kristalino-orientazioa eta tokiko ingurune atomikoa eta fase-trantsizioak (tokian bertan eta tokitik kanpo)- Egiturazko analisia: solido amorfoena, polimeroena, gelena eta material erdisolidoena - Gainazalaren testuraren analisia: zimurtasuna, kristalino-orientazioa, eskala azpinanometrikoko topografia- Laginen analisi morfologikoa: filmen loditasuna, ale-tamaina, berariazko gainazaleko eremua, porositate irekia eta itxia, dentsitatea

Mikroskopia elektronikoa (EM)

Gainazalak analizatzeko

unitatea (SAU)

Erresonantzia magnetiko

nuklearra (NMR)

X izpien bidezko difrakzioa (XRD)

Analisi termikorako

plataforma (TA)

Karakterizatze orokorra (GCS)

TEM AFM/STM ssNMR PXRD DSC GAP

edx-TEM LEED pNMR GI-PXRD MP

SEM SP NMR SAXS HP

edx-SEM FTIR

RS

- Aeroespazioa- Automozioa- Mikroelektronika- Metalurgia eta metalografia- Energia metatzeko gailuak

- Farmazia- Beira- Polimeroak eta konpositeak- Pintura eta pigmentuak- Elikadura eta nekazaritza

- Berehala erabiltzeko soluzioak- Aholkularitza- Teknika jakin batzuetako trebakuntza- Plataforma bakarrik

“Nola” Ekipamendua eta teknikak:

“Norentzat” Industriak:

“Zer eskaintzen dugu” Soluzioak:

Analisi estrukturalak eta morfologikoak materialen egitura kristalino eta morfologikoaren ikuspegi orokorra ematen du, bai eta haien gainazalei buruzko informazioa ere.

Page 12: Industriarako punta-puntako ezagutza eta instalazioakcicenergigune.com/uploads/publicaciones/documentos/CIC_eusk.pdf · Zenbait teknika eta ekipamendu erabiliz, material baten ezaugarri

“Arazoa non, soluzioa han”

PLATFORM SERVICESParke Teknologikoa Albert Einstein, 4801510 Vitoria-Gasteiz (Euskadi) Telf: +34 945 297 [email protected]